CN104783819A - 散射校正方法及装置 - Google Patents
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Abstract
散射校正方法及装置，所述方法包括：获取待扫描对象的第一投影图像；建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型；根据所建立的所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，获取所述待扫描对象的散射图像；当所述散射图像与所述第一投影图像的几何位置一致时，从所述第一投影图像中去除所述散射图像，得到散射校正后的投影图像。上述的方案可以更加准确地获取所述待扫描对象的散射图像，更加简单易行。
Description
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域，特别是涉及一种散射校正方法及装置。
背景技术
散射线是光束通过媒质时，部分光束将偏离原来方向而分散传播的光线。在使用放射源照射被拍摄物体获取图像时，散射线成为影响成像质量的重要因素，严重影响图像的对比度，使得图像模糊，严重影响图像的使用价值。
现有技术中，为了消除散射线对成像质量的影响，通常采用等效水模校正法来消除散射线的影响。这种方法使用蒙卡特罗模拟建立的模型是水模型，所得到的散射图像不够准确，并且需要对图像进行反卷积运算，存在着实现过程复杂、去除散射线的效果不佳的问题。
发明内容
本发明实施例解决的是如何简单易行地去除散射线对于图像成像的影响，提高成像的质量。
为解决上述问题，本发明实施例提供了一种散射校正方法，所述方法包括：
获取待扫描对象的第一投影图像；
建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型；
根据所建立的所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，获取所述待扫描对象的散射图像；
当所述散射图像与所述第一投影图像的几何位置一致时，从所述第一投影图像中去除所述散射图像，得到散射校正后的投影图像。
可选地，所述方法还包括：当获取所述第一投影图像和散射图像的几何位置不一致时，对所述散射图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，并从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像。
可选地，所述当获取所述第一投影图像和所述散射图像的几何位置不一致时，对所述散射图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，并从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像，包括：
将所述第一投影图像与所述散射图像进行图像配准，得到所述散射图像与所述第一投影图像之间的偏移量；
根据所得到的偏移量，将所述散射图像与所述第一投影图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像；
从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像。
可选地，所述根据所述待扫描对象的密度分布信息和采集第一投影图像时所使用的放射源和探测器的信息，采用蒙特卡罗模拟工具建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，包括：
获取所述待扫描对象的密度分布信息；
获取所述放射源发射的粒子的相空间分布信息；
获取所述探测器的结构和物理参数信息；
将获取的所述待扫描对象的密度分布信息、所述放射源发射的粒子的相空间分布信息和所述探测器的结构和物理参数信息，分别输入所述蒙特卡罗模拟工具，分别建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型。
可选地，所述根据所述待扫描对象的密度分布信息和采集第一投影图像时所使用的放射源和探测器的信息，采用蒙特卡罗模拟工具建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，还包括：根据采集所述第一投影图像时所使用的放射源的信息，实时更新输入所述蒙特卡罗模拟工具中的放射源发射的粒子的相空间分布信息。
可选地，所述根据所建立的所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，获取所述待扫描对象的散射图像，包括：
采用所述探测器的模型获取所述放射源的模型发射粒子时产生的散射线的能量分布；
根据所获取的所述散射线的能量分布，计算得到所述待扫描对象的和散射图像。
可选地，所述根据所获取的所述散射线的能量分布，计算得到所述待扫描对象的散射图像，包括：
其中，En为到达第(i,j)个像素的第n个粒子的能量，i、j分别为所述像素的横向标号和纵向标号；K(En)为探测器的能量响应曲线；Φij为经过探测器后的散射图像的信号值；N为第(i,j)个像素的总粒子数。
可选地，在从所述投影图像中去除所述散射图像之前，还包括：将所得到的散射图像进行平滑处理。
可选地，所述第一投影图像为扫描所述待扫描对象得到的图像。
本发明实施例中的一种散射校正装置，所述装置包括：
第一获取单元，适于获取待扫描对象的第一投影图像；
建模单元，适于根据所述待扫描对象的密度分布信息和采集第一投影图像时所使用的放射源和探测器的信息，采用蒙特卡罗模拟工具建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型；
第二获取单元，适于根据所建立的所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，获取所述待扫描对象的散射图像；
第一校正单元，适于当所述散射图像与所述第一投影图像的几何位置一致时，从所述第一投影图像中去除所述散射图像，得到散射校正后的投影图像；
第二校正单元，适于当获取所述第一投影图像和散射图像的几何位置不一致时，对所述散射图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，并从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像。
可选地，所述第二校正单元包括：
配准子单元，适于将所述第一投影图像与所述散射图像进行图像配准，得到所述散射图像与所述第一投影图像之间的偏移量；
位置校正子单元，根据所得到的偏移量，将所述散射图像与所述第一投影图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像；
散射校正子单元，从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像。
可选地，所述建模单元包括：
第一获取子单元，适于获取所述待扫描对象的密度分布信息；
第二获取子单元，适于获取所述放射源发射的粒子的相空间分布信息；
第三获取子单元，适于获取所述探测器的结构和物理参数信息；
建模子单元，适于将获取的所述待扫描对象的密度分布信息、所述放射源发射的粒子的相空间分布信息和所述探测器的结构和物理参数信息，分别输入所述蒙特卡罗模拟工具，分别建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型。
可选地，所述建模单元还包括：更新子单元，适于根据采集所述第一投影图像时所使用的放射源的信息，实时更新输入所述蒙特卡罗模拟工具中的放射源发射的粒子的相空间分布信息。
可选地，所述第二获取单元包括：
第四获取子单元，适于采用所述探测器的模型获取所述放射源的模型发射粒子时产生的散射线的能量分布；
计算子单元，适于根据所获取的所述散射线的能量分布，计算得到所述待扫描对象的所述散射图像。
可选地，所述装置还包括：平滑处理单元，适于在从所述投影图像中去除所述散射图像之前，将所得到的散射图像进行平滑处理。
可选地，所述第一投影图像为扫描所述待扫描对象得到的图像。
与现有技术相比，本发明的技术方案具有以下的优点：
通过建立待扫描对象的真实模型，对于放射源照射所述真实模型产生的散射线的估算更加准确，且不用对获取的散射图像进行复杂的运算，因此，可以更加准确地获取所述待扫描对象的散射图像，更加简单易行。
进一步地，由于将采用蒙特卡罗模拟工具获取扫描对象的散射图像与第一投影图像进行几何位置校正，使得所述散射图像与所述第一投影图像的几何位置保持一致，从而可以使得在将所述散射图像从所述第一投影图像中去除时得到的散射校正后的图像更加准确。
进一步地，由于在采用蒙特卡罗模拟工具获取扫描对象的散射图像的过程中使用的放射源与采集第一投影图像所使用的放射源相同，可以更加真实地反映放射源在使用过程中的变化，可以更加准确地获取待扫描对象的散射图像。
进一步地，由于在将在从所述投影图像中减去所述散射图像之前，将所得到的散射图像进行平滑处理，可以有效消除散射图像的噪声，从而使得获取的散射校正的投影图像的质量更高。
附图说明
图1是本发明实施例中的一种散射校正方法的流程图；
图2是本发明实施例中的另一种散射校正方法的流程图；
图3是本发明实施例中的一种散射校正装置的结构示意图；
图4是本发明实施例中的一种建模单元的结构示意图；
图5是本发明实施例中的一种第二获取单元的结构示意图；
图6是本发明实施例中的一种第二校正单元的结构示意图。
具体实施方式
为解决现有技术中存在的上述问题，本发明实施例采用的技术方案通过建立待扫描对象的真实模型，对于放射源照射所述真实模型产生的散射线的估算更加准确，且不用对获取的散射图像进行复杂的运算，可以更加准确地获取所述待扫描对象的散射图像，且简单易行。
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。
图1示出了本发明实施例中的一种散射校正方法的流程图。如图1所示的散射校正方法，可以包括：
步骤S101：获取待扫描对象的第一投影图像。
在具体实施中，所述第一投影图像可以为扫描所述待扫描对象得到的图像。
步骤S102：建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型。
在具体实施中，可以采用蒙特卡罗模拟工具建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型。其中，所述蒙特卡罗模拟工具可以包括EGSnrc、MCNP、Geant4、DPM、VMC、VMC++或者其他蒙特卡罗模拟工具，以及其他的基于蒙特卡罗原理设计的模拟工具。
步骤S103：根据所建立的所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，获取所述待扫描对象的散射图像。
在具体实施中，所述散射图像为蒙特卡罗模拟产生的放射源的模型照射所述待扫描对象的模型时所获取的待扫描对象的模型的图像。
在具体实施中，为了得到更加准确得到经过散射校正后的所述待扫描对象的投影图像，将所述散射图像与所述第一投影图像进行几何位置校正，本发明实例中的散射校正方法，可以包括：
步骤S104：判断所述散射图像与所述第一投影图像的几何位置一致是否一致。
当判断结果为是时，可以执行步骤S105；反之，则可以执行步骤S106。
步骤S105：从所述第一投影图像中去除所述散射图像，得到散射校正后的投影图像。
在具体实施中，当所述散射图像与所述第一投影图像几何位置一致时，便可以直接从所述第一投影图像中减去所述散射图像，从而得到散射校正后的所述待扫描对象的投影图像。
步骤S106：对所述散射图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，并从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像。
在具体实施中，当所述散射图像和第一投影图像的几何位置不一致时，可以以所述第一投影图像的几何位置作为参考位置，对所述散射图像进行几何校正，得到与所述第一投影图像的几何位置一致的散射图像，然后，便可以从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像的几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的图像。
由于将第一投影图像与通过蒙特卡罗模拟工具得到的散射图像的几何位置进行了统一，因此，在将所述经过第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像时，可以使得所得到散射校正的投影图像更加准确。
图2示出了本发明实施例中的另一种散射校正方法的流程图。如图2所示的散射校正方法，可以包括：
步骤S201：获取待扫描对象的第一投影图像。
在具体实施中，所述待扫描对象可以为病人，所述第一投影图像可以为扫描所述病人得到的图像。
步骤S202：获取所述待扫描对象的密度分布信息、放射源发射的粒子的相空间分布信息和所述探测器的结构和物理参数信息。
在具体实施中，所述待扫描对象的密度分布信息，可以通过首先获取所述待扫描对象的图像，再通过图像-密度转换公式或表格得到；例如：针对CT图像，可采用CT-密度转换公式或表格；针对光学图像，可采用灰度-密度转换公式或表格；针对MR图像，可采用MR-密度转换公式或表格。
在具体实施中，所述放射源发射的粒子的相空间分布信息可以包括各个粒子的类型、能量、空间坐标和动量等信息。
在具体实施中，所述粒子的相空间分布信息可以存储在相应的相空间文件中。
步骤S203：将获取的所述待扫描对象的密度分布信息、所述放射源发射的粒子的相空间分布信息和所述探测器的结构和物理参数信息，分别输入所述蒙特卡罗模拟工具，分别建立所述待扫描对象的模型、所述放射源的模型和所述探测器的模型。
在具体实施中，蒙特卡罗模拟工具在获取所述待扫描对象的密度分布信息、所述放射源发射的粒子的相空间分布信息和所述探测器的结构和物理参数信息时，便可以创建所述待扫描对象的模型、所述放射源的模型和所述探测器的模型。
在具体实施中，在获取第一投影图像时，使用的放射源发射的粒子的相空间分布信息并不是一成不变的，而随着时间的推移会产生相应的变化。因此，为了创建更加精确的放射源的模型，可以根据获取第一投影图像的过程中所使用的放射源发射的粒子的相空间分布信息，实时更新输入所述蒙特卡罗模拟工具的相空间分布文件，以使得使用蒙特卡罗模拟工具所创建的放射源的模型发射的粒子的相空间分布信息，与获取第一投影图像时使用的放射源发射的粒子的相空间分布信息保持一致，从而可以使得所创建的放射源的模型更加准确。
由于不同的放射源发射的粒子产生的散射线的分布会具有一定的差异，散射线所产生的待扫描对象的散射图像也会存在差异，通过在采用蒙特卡罗模拟工具创建所述放射源的模型时，不断更新所述相空间分布文件，可以使得使用蒙特卡罗模拟工具所创建的放射源的模型发射的粒子的相空间分布信息与获取第一投影图像时使用的放射源发射的粒子的相空间分布信息保持一致，从而可以获取更加准确的散射图像。
步骤S204：采用所述探测器的模型获取所述放射源的模型发射粒子时产生的散射线的能量分布。
在具体实施中，采用蒙特卡罗模拟工具所创建的所述探测器的模型，可以用于获取所述放射源的模型发射粒子时产生的散射线的能量分布。其中，可以使用探测器的模型的所在平面统计记录所述放射源的模型发射粒子时产生的散射线的能量分布，统计记录方式可以采用现有技术中的网格化统计的方式，并区分原射线和散射线，以提高所获取的能量分布的准确性。
步骤S205：根据所获取的所述散射线的能量分布，计算得到所述待扫描对象的散射图像。
在具体实施中，可以通过如下的公式计算得到所述待扫描对象的散射图像：
其中，En为到达第(i,j)个像素的第n个粒子的能量；K(En)为所述探测器的能量响应曲线；Φij为经过所述探测器后的散射图像的信号值；N为第(i,j)个像素的总粒子数。
在具体实施中，为了获取更加准确的经过散射校正后的投影图像，如图2所示的散射校正方法，还可以包括：
步骤S206：判断所述散射图像与所述第一投影图像的几何位置是否一致。
在具体实施中，为了可以在从所述第一投影图像中减去所述投影图像时，可以将散射图像与所述第一投影图像之间的几何偏移量(平移量或者转动量)考虑进去，可以首先判断所述散射图像与所述第一投影图像的几何位置是否一致。
当判断结果为是时，可以直接执行步骤S209～步骤S210；反之，则可以先执行步骤S207。步骤S207：将所述散射图像与所述第一投影图像的坐标位置进行图像配准，得到所述散射图像与所述第一投影图像之间的偏移量。
在具体实施中，当判断所述散射图像与所述第一投影图像的坐标位置不一致时，可以采用图像配准方法，将所述散射图像与所述第一投影图像进行配准，得到将散射图像与所述第一投影图像之间的几何偏移量。
在具体实施中，所述图像配准方法可以包括刚性图像配准方法和非刚性图像配准方法。
步骤S208：根据所得到的偏移量，对所述散射图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像；
在具体实施中，可以根据所得到的所述散射图像与所述第一投影图像之间的几何偏移量，以所述第一投影图像的几何位置作为参考位置，对所述散射图像进行几何校正。
在具体实施中，为了进一步提高所得到的经过散射校正的投影图像的准确性，如图2所述的散射校正方法，还可以包括：
步骤S209：将所得到的散射图像进行平滑处理。
在具体实施中，为了消除统计涨落带来的图像噪声，可以将所得到的散射图像进行平滑处理。
步骤S210：从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像。
在具体实施中，由于将第一投影图像与通过蒙特卡罗模拟工具得到的散射图像的几何位置进行了统一，可以使得所得到的散射校正的投影图像更加准确。
图3示出了本发明实施例中的一种散射校正装置，所述散射校正装置300可以包括第一获取单元301、建模单元302、第二获取单元303，其中：
所述第一获取单元301，适于获取待扫描对象的第一投影图像。
所述建模单元302，适于建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型。
所述第二获取单元303，适于根据所述建模单元所建立的所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，获取所述待扫描对象的散射图像。
所述第一校正单元304，适于当所述散射图像与所述第一投影图像的几何位置一致时，从所述第一投影图像中去除所述散射图像，得到散射校正后的投影图像。
在具体实施中，为了进一步提高所得到的经过散射校正的投影图像的准确性，如图3所示的散射校正装置还可以包括第二校正单元305，其中：
所述第二校正单元305，适于当获取所述第一投影图像和散射图像的几何位置不一致时，对所述散射图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，并从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像。
在具体实施中，为了更进一步提高所得到的经过散射校正的投影图像的准确性，图3所述的散射校正装置300还可以包括平滑处理单元306，其中：
所述平滑处理单元306，适于在从所述投影图像中去除所述散射图像之前，将所得到的散射图像进行平滑处理。
图4示出了本发明实施例中的一种建模单元的结构示意图。如图4所示的建模单元400，可以包括第一获取子单元401、第二获取子单元402、第三获取子单元403和建模子单元404，其中：
所述第一获取子单元401，适于获取所述待扫描对象的密度分布信息。
所述第二获取子单元402，适于获取所述放射源发射的粒子的相空间分布信息。
所述第三获取子单元403，适于获取所述探测器的结构和物理参数信息。
所述建模子单元404，适于分别将所获取的所述待扫描对象的密度分布信息、所述放射源发射的粒子的相空间分布信息和所述探测器的结构和物理参数信息，输入所述蒙特卡罗模拟工具，分别建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型。
在具体实施中，建模单元400还可以包括：更新子单元405，适于根据采集所述第一投影图像时所使用的放射源的信息，实时更新输入所述蒙特卡罗模拟工具中的放射源发射的粒子的相空间分布信息。
图5示出了本发明实施例中的一种第二获取单元的结构示意图。如图5所示的第二获取单元500，可以包括第四获取子单元501和计算子单元502，其中：
第四获取子单元501，适于采用所述探测器的模型获取所述放射源的模型发射粒子时产生的原射线的能量分布。
计算子单元502，适于根据所获取的所述散射线的能量分布，计算得到所述待扫描对象的散射图像。
图6示出了本发明实施例中的一种第二校正单元的结构示意图。如图6所述的第二校正单元600，可以包括配准子单元601、位置校正子单元602和散射校正子单元603，其中：
所述配准子单元601，适于将所述第一投影图像与所述散射图像进行图像配准，得到所述散射图像与所述第一投影图像之间的偏移量；
所述位置校正子单元602，根据所得到的偏移量，将所述散射图像与所述第一投影图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像；
所述散射校正子单元603，从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：ROM、RAM、磁盘或光盘等。
以上对本发明实施例的方法及系统做了详细的介绍，本发明并不限于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。
Claims (17)
1.一种散射校正方法，其特征在于，包括：
获取待扫描对象的第一投影图像；
建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型；
根据所建立的所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，获取所述待扫描对象的散射图像；
当所述散射图像与所述第一投影图像的几何位置一致时，从所述第一投影图像中去除所述散射图像，得到散射校正后的投影图像。
2.根据权利要求1所述的散射校正方法，其特征在于，还包括：当获取所述第一投影图像和散射图像的几何位置不一致时，对所述散射图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，并从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像。
3.根据权利要求2所述的散射校正方法，其特征在于，所述当获取所述第一投影图像和所述散射图像的几何位置不一致时，对所述散射图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，并从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像，包括：
将所述第一投影图像与所述散射图像进行图像配准，得到所述散射图像与所述第一投影图像之间的偏移量；
根据所得到的偏移量，将所述散射图像与所述第一投影图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像；
从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像。
4.根据权利要求1-3任一项所述的散射校正方法，其特征在于，所述建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，包括：
获取所述待扫描对象的密度分布信息；
获取所述放射源发射的粒子的相空间分布信息；
获取所述探测器的结构和物理参数信息；
将获取的所述待扫描对象的密度分布信息、所述放射源发射的粒子的相空间分布信息和所述探测器的结构和物理参数信息，分别输入蒙特卡罗模拟工具，分别建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型。
5.根据权利要求4所述的散射校正方法，其特征在于，所述建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，还包括：根据采集所述第一投影图像时所使用的放射源的信息，实时更新输入所述蒙特卡罗模拟工具中的放射源发射的粒子的相空间分布信息。
6.根据权利要求5所述的散射校正方法，其特征在于，所述根据所建立的所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，获取所述待扫描对象的散射图像，包括：
采用所述探测器的模型获取所述放射源的模型发射粒子时产生的散射线的能量分布；
根据所获取的所述散射线的能量分布，计算得到所述待扫描对象的所述散射图像。
7.根据权利要求6所述的散射校正方法，其特征在于，所述根据所获取的所述散射线的能量分布，计算得到所述待扫描对象的散射图像，包括：
其中，En为到达第(i,j)个像素的第n个粒子的能量，i、j分别为所述像素的横向标号和纵向标号；K(En)为探测器的能量响应曲线；Φij为经过探测器后的散射图像的信号值；N为第(i,j)个像素的总粒子数。
8.根据权利要求7所述的散射校正方法，其特征在于，在从所述投影图像中去除所述散射图像之前，还包括：将所得到的散射图像进行平滑处理。
9.根据权利要求1所述的散射校正方法，其特征在于，所述第一投影图像为扫描所述待扫描对象得到的图像。
10.一种散射校正装置，其特征在于，包括：
第一获取单元，适于获取待扫描对象的第一投影图像；
建模单元，适于建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型；
第二获取单元，适于根据所建立的所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型，获取所述待扫描对象的散射图像；
第一校正单元，适于当所述散射图像与所述第一投影图像的几何位置一致时，从所述第一投影图像中去除所述散射图像，得到散射校正后的投影图像。
11.根据权利要求10所述的散射校正装置，其特征在于，第二校正单元，适于当获取所述第一投影图像和散射图像的几何位置不一致时，对所述散射图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，并从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像。
12.根据权利要求10所述的散射校正装置，其特征在于，所述第二校正单元包括：
配准子单元，适于将所述第一投影图像与所述散射图像进行图像配准，得到所述散射图像与所述第一投影图像之间的偏移量；
位置校正子单元，根据所得到的偏移量，将所述散射图像与所述第一投影图像进行几何位置校正，得到与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像；
散射校正子单元，从所述第一投影图像中去除与所述第一投影图像几何位置一致的散射图像，得到散射校正后的投影图像。
13.根据权利要求10-12任一项所述的散射校正装置，其特征在于，所述建模单元包括：
第一获取子单元，适于获取所述待扫描对象的密度分布信息；
第二获取子单元，适于获取所述放射源发射的粒子的相空间分布信息；
第三获取子单元，适于获取所述探测器的结构和物理参数信息；
建模子单元，适于将获取的所述待扫描对象的密度分布信息、所述放射源发射的粒子的相空间分布信息和所述探测器的结构和物理参数信息，分别输入蒙特卡罗模拟工具，分别建立所述待扫描对象、所述放射源和所述探测器的模型。
14.根据权利要求13所述的散射校正装置，其特征在于，所述建模单元还包括：更新子单元，适于根据采集所述第一投影图像时所使用的放射源的信息，实时更新输入所述蒙特卡罗模拟工具中的放射源发射的粒子的相空间分布信息。
15.根据权利要求14所述的散射校正装置，其特征在于，所述第二获取单元包括：
第四获取子单元，适于采用所述探测器的模型获取所述放射源的模型发射粒子时产生的散射线的能量分布；
计算子单元，适于根据所获取的所述散射线的能量分布，计算得到所述待扫描对象的所述散射图像。
16.根据权利要求15所述的散射校正装置，其特征在于，还包括：平滑处理单元，适于在从所述投影图像中去除所述散射图像之前，将所得到的散射图像进行平滑处理。
17.根据权利要求10所述的散射校正装置，其特征在于，所述第一投影图像为扫描所述待扫描对象得到的图像。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201410427644.9A CN104783819B (zh) | 2014-08-27 | 2014-08-27 | 散射校正方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN104783819A true CN104783819A (zh) | 2015-07-22 |
| CN104783819B CN104783819B (zh) | 2017-10-03 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN104783819B (zh) |
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| PB01 | Publication | ||
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