CN104765691B - 液晶模组的修正代码判断方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种液晶模组的修正代码判断方法，包括：1、在上位机上层应用软件的缺陷代码文件夹内编辑与当前液晶模组生产线对应的液晶模组修正代码初始化文件；2、在液晶模组缺陷等级判定界面中，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果选择对应的液晶模组缺陷等级；3、在液晶模组缺陷等级判定界面中，对液晶模组修正代码初始化文件解析，从析出液晶模组缺陷等级对应的多个修正代码；4、用户根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果选择待测液晶模组检测结果所对应的修正代码。本发明能减少上位机程序的代码量。

Description

液晶模组的修正代码判断方法
技术领域
本发明涉及液晶模组测试技术领域，具体地指一种液晶模组的修正代码判断方法。
背景技术
目前，由于不同产线或者不同类型的液晶模组的修正代码判断模式各不相同，每个产线，每个类型的液晶模组均需要特定的修正代码及上位机程序与之对应，上位机程序内部代码需要根据宏定义实现不同修正代码的兼容，代码量巨大，维护不方便；不同产线对应特定版本上位机程序，不方便管理；并且应用环境多，上位机程序需要频繁改动。
发明内容
本发明的目的就是要提供一种适用于各种产线的液晶模组的修正代码判断方法，解决目前为了应对产线差异而频繁修改上位机程序的问题，灵活兼容各种产线的修正代码判断模式需求，减少上位机程序的代码量。
为实现此目的，本发明所设计的液晶模组的修正代码判断方法，它包括如下步骤：
步骤1：在上位机上层应用软件的缺陷代码文件夹内编辑与当前液晶模组生产线对应的液晶模组修正代码初始化文件，该液晶模组修正代码初始化文件的编辑过程遵循标准液晶模组修正代码初始化文件格式；
步骤2：在上位机上层应用软件的液晶模组缺陷等级判定界面中，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果选择对应的液晶模组缺陷等级；
步骤3：在上位机上层应用软件的液晶模组缺陷等级判定界面中，上位机上层应用软件对步骤1中生成的液晶模组修正代码初始化文件进行解析，从液晶模组修正代码初始化文件中解析出步骤2的液晶模组缺陷等级所对应的多个修正代码，并将该修正代码给用户供用户选择；
步骤4：用户根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果在步骤3解析出的多个修正代码中选择待测液晶模组检测结果所对应的一个修正代码。
本发明的有益效果：
1.减少了上位机程序代码量；
以前的修正代码信息是在上位机上层应用程序中以添加代码方式实现，每当增加新的修正代码信息，就要在上位机上层应用程序中以添加代码，而本发明只需在液晶模组修正代码初始化文件中完成新不良液晶模组修正代码的修改，无需修改上层应用程序代码，减少了代码量。
2、减少了上位机程序版本数量，方便管理；
以前的修正代码信息是在上位机上层应用程序中以添加代码方式实现，每当增加新的修正代码信息，就要在上位机上层应用程序中以添加代码，而本发明只需在液晶模组修正代码初始化文件中完成新不良液晶模组修正代码的修改，无需修改上层应用程序代码，减少版本数量，方便了上位机程序的管理。
3、初始化文件可扩展性强。
本发明如果需要其他形式的修正代码信息，只需在液晶模组修正代码初始化文件里添加新的键值，在上层添加对应的解析方式即可。而现有技术的方案不具备可扩展性。
附图说明
图1为本发明的应用环境的设备结构框图。
图2为本发明中的液晶模组修正代码初始化文件。
图2中，[A]、[S]、[Q]和[F]分别表示液晶模组修正代码初始化文件的节，即缺陷等级；
Length表示修正代码个数元素(即长度)，Revision表示修正代码，Length＝3表示修正代码个数元素有三个(分别是C、L、N)，Length＝2表示修正代码个数元素有两个(分别是C、N)，Length＝1表示修正代码个数元素有一个，修正代码为0
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细说明：
本发明所基于的设备如图1所示，包括依次连接的液晶模组制造执行系统服务器、上位机、图形发生器和液晶模组。本方案可以通过人工自定义编辑修正代码初始化文件，把以前上位机程序内部所做的工作移到外部初始化文件，快速修改修正代码，灵活便捷。本发明的方案为上位机通过网络连接图形发生器和液晶模组制造执行系统服务器(MES，manufacturing execution system)，用户通过外部文本编辑工具(UltraEdit或windows自带的记事本工具)根据现有的规定格式编辑液晶模组修正代码初始化文件，实现线上模式下的修正代码判定功能，上位机程序通过解析用户自定义编辑的修正代码初始化文件，把适合当前产线的修正代码显示给用户，供用户选择，不再由上位机程序内部写入，降低了上位机程序的代码量。
液晶模组的修正代码判断方法的具体方法，包括如下步骤：
步骤1：用户在上位机上层应用软件的缺陷代码(DefectCode)文件夹内编辑与当前液晶模组生产线对应的液晶模组修正代码初始化文件(如图2所示)，该液晶模组修正代码初始化文件的编辑过程遵循标准液晶模组修正代码初始化文件格式(对于不同的液晶模组生产线和不同类型的液晶模组只需按现有方式编辑对应的液晶模组修正代码初始化文件即可，无需修改上层应用程序代码，减少了代码量)；
步骤2：用户在上位机上层应用软件的液晶模组缺陷等级判定界面中，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果选择对应的液晶模组缺陷等级，即图2中的[A]、[S]、[Q]和[F]；
步骤3：在上位机上层应用软件的液晶模组缺陷等级判定界面中，上位机上层应用软件对步骤1中生成的液晶模组修正代码初始化文件进行解析，从液晶模组修正代码初始化文件中解析出步骤2的液晶模组缺陷等级所对应的多个修正代码(即修正代码是上述液晶模组缺陷等级的子集)，并将该修正代码给用户供用户选择；
步骤4：用户根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果在步骤3解析出的多个修正代码中选择待测液晶模组检测结果所对应的一个修正代码；
步骤5：上位机记录步骤4中用户选择的修正代码，并将步骤4中用户选择的修正代码上传给液晶模组制造执行系统服务器，该液晶模组制造执行系统服务器用于存档所有液晶模组的测试数据，并跟踪液晶模组的生产进度，库存情况和工作进度。
上述技术方案中，所述步骤5中上位机将步骤4中用户选择的修正代码通过数据包协议上传给液晶模组制造执行系统服务器。
上述技术方案中，所述液晶模组修正代码初始化文件的文件名为RevisionCode.ini，其中，RevisionCode为缺陷代码，.ini是Initialization File的缩写，即初始化文件。
上述技术方案中，所述液晶模组修正代码初始化文件包含多个节(section)，每个节对应一个液晶模组缺陷等级，如图2所示。
上述技术方案中，所述液晶模组修正代码初始化文件的每个节均包括修正代码个数元素(即长度)和修正代码元素，如图2所示。
本说明书未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

Claims (6)

1.一种液晶模组的修正代码判断方法，其特征在于，它包括如下步骤：
步骤1：在上位机上层应用软件的缺陷代码文件夹内编辑与当前液晶模组生产线对应的液晶模组修正代码初始化文件，该液晶模组修正代码初始化文件的编辑过程遵循标准液晶模组修正代码初始化文件格式；
步骤2：在上位机上层应用软件的液晶模组缺陷等级判定界面中，根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果选择对应的液晶模组缺陷等级；
步骤3：在上位机上层应用软件的液晶模组缺陷等级判定界面中，上位机上层应用软件对步骤1中生成的液晶模组修正代码初始化文件进行解析，从液晶模组修正代码初始化文件中解析出步骤2的液晶模组缺陷等级所对应的多个修正代码，并将该修正代码给用户供用户选择；
步骤4：用户根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果在步骤3解析出的多个修正代码中选择待测液晶模组检测结果所对应的一个修正代码。
2.根据权利要求1所述的液晶模组的修正代码判断方法，其特征在于：所述步骤4后还包括步骤5：上位机记录步骤4中用户选择的修正代码，并将步骤4中用户选择的修正代码上传给液晶模组制造执行系统服务器。
3.根据权利要求2所述的液晶模组的修正代码判断方法，其特征在于：所述步骤5中上位机将步骤4中用户选择的修正代码通过数据包协议上传给液晶模组制造执行系统服务器。
4.根据权利要求1所述的液晶模组的修正代码判断方法，其特征在于：所述液晶模组修正代码初始化文件的文件名为RevisionCode.ini。
5.根据权利要求1所述的液晶模组的修正代码判断方法，其特征在于：所述液晶模组修正代码初始化文件包含多个节，每个节对应一个液晶模组缺陷等级。
6.根据权利要求5所述的液晶模组的修正代码判断方法，其特征在于：所述液晶模组修正代码初始化文件的每个节均包括修正代码个数元素和修正代码元素。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104793372B (zh) * 2015-05-12 2018-01-19 武汉精测电子技术股份有限公司 不同产线液晶模组的缺陷等级判定方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1639854A (zh) * 2002-03-21 2005-07-13 应用材料有限公司 生产线后端数据挖掘与处理工具数据挖掘的相关性
CN1746909A (zh) * 2004-09-11 2006-03-15 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 产线作业管控系统及方法
CN1755785A (zh) * 2004-09-29 2006-04-05 精工爱普生株式会社 显示控制装置和方法
CN101055607A (zh) * 2006-04-11 2007-10-17 国际商业机器公司 优化布线器设置以提高集成电路产量的方法
CN101461063A (zh) * 2006-08-01 2009-06-17 株式会社岛津制作所 基板检查及修正装置、以及基板评估系统
JP2014174513A (ja) * 2013-03-13 2014-09-22 Seiko Epson Corp 電気光学装置の製造方法、電気光学装置の調整装置および表示装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1639854A (zh) * 2002-03-21 2005-07-13 应用材料有限公司 生产线后端数据挖掘与处理工具数据挖掘的相关性
CN1746909A (zh) * 2004-09-11 2006-03-15 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 产线作业管控系统及方法
CN1755785A (zh) * 2004-09-29 2006-04-05 精工爱普生株式会社 显示控制装置和方法
CN101055607A (zh) * 2006-04-11 2007-10-17 国际商业机器公司 优化布线器设置以提高集成电路产量的方法
CN101461063A (zh) * 2006-08-01 2009-06-17 株式会社岛津制作所 基板检查及修正装置、以及基板评估系统
JP2014174513A (ja) * 2013-03-13 2014-09-22 Seiko Epson Corp 電気光学装置の製造方法、電気光学装置の調整装置および表示装置

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