CN104751414B - 一种数据处理方法和电子设备 - Google Patents

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CN104751414B CN201310729189.3A CN201310729189A CN104751414B CN 104751414 B CN104751414 B CN 104751414B CN 201310729189 A CN201310729189 A CN 201310729189A CN 104751414 B CN104751414 B CN 104751414B
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Abstract

本发明公开一种数据处理方法和电子设备。所述数据处理方法包括:在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两个基准条纹光中每个基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同;检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息;基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息;根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。

Description

一种数据处理方法和电子设备
技术领域
本发明涉及电子技术领域,尤其涉及一种数据处理方法和电子设备。
背景技术
三维扫描是集光、机、电和计算机技术于一体的高新技术,主要用于对物体空间外形和结构及色彩进行扫描,以获得物体表面的空间坐标。三维扫描技术被广泛应用于工业、医疗、教育、文物保护等诸多方面。三维扫描的重要意义在于能够将实物的立体信息转换为计算机能直接处理的数字信号,为实物数字化提供了相当方便快捷的手段。
光学三维扫描系统是将等间隔等宽度多根条纹光投射到物体表面,摄像头同步采集图像,然后对图像进行计算,并利用相位稳步极线实现两幅图像上的三维空间坐标(X、Y、Z),从而实现对物体表面三维轮廓的测量。
但是在本申请的发明人在实现本申请技术方案的过程中,至少发现上述现有技术存在如下技术问题:
当物体的深度越大时,所述摄像头上采集的图片上与条纹光对应条纹图像变形量越大,在对所述图片上变形量较大的条纹图像进行识别时,容易产生错位识别或者错误识别,从而影响物体的立体图像的深度恢复。
发明内容
本申请提供一种数据处理方法和电子设备,解决了现有技术中在获得投射到深度较大的物体的条纹光的图片时,对所述图片上与条纹光对应条纹图像进行识别容易产生错位识别或者错误识别,从而影响物体的立体图像的深度恢复的技术问题,达到便于识别所述图片上的条纹光顺序和位置信息,提高所述物体的立体图像的深度恢复的技术效果。
本申请提供一种数据处理方法,所述方法包括:
在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两个基准条纹光中每个基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同;
检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息;
基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息;
根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。
优选地,所述基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息,具体包括:
从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息;
根据所述基准条纹图像信息和所述初级条纹信息,确定所述多根初级条纹光的条纹顺序,并获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹位置信息。
优选地,所述获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹位置信息,具体为:
获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光在所述第一图像上的每个点的坐标数值。
优选地,所述根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像的深度恢复,具体为:
根据所述条纹顺序和所述坐标数值,对所述待测物体的立体图像的深度恢复。
优选地,在所述至少两根基准条纹光包括M根第一基准条纹光和N根第二基准条纹光,所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度不同,所述M和N为大于等于1的整数时,所述从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息,具体为:
从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息、与所述M根第一基准条纹光对应的第一基准条纹图像信息和与所述N根第二基准条纹光对应的第二基准条纹图像信息。
优选地,所述根据所述基准条纹图像信息确定所述多根初级条纹光的条纹顺序,具体为:
根据所述第一基准条纹图像信息确定所述第二基准条纹光的顺序;
根据所述第二基准条纹图像信息确定所述初级条纹光的顺序。
本申请还提供一种电子设备,所述电子设备包括:
图像采集单元,用于在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两个基准条纹光中每个基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同;
检测单元,用于检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息;
获取单元,用于基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息;
执行单元,用于根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。
优选地,所述基准条纹光的宽度大于所述初级条纹光的宽度。
优选地,在所述至少两根基准条纹光的数目大于3时,所述至少两根基准条纹光中的每相邻的两个基准条纹光之间的初级条纹光的数目相同。
优选地,所述至少两根基准条纹光中的相邻的两根基准条纹光之间的间距大于等于第一预设值。
优选地,所述获取单元具体用于:从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息;根据所述基准条纹图像信息确定所述多根初级条纹的条纹顺序,并获取所述条纹位置信息。
优选地,所述获取单元具体用于获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光在所述第一图像上的每个点的坐标数值。
优选地,所述执行单元具体用于根据所述条纹顺序和所述坐标数值,对所述待测物体的立体图像的深度恢复。
优选地,所述至少两根基准条纹光包括M根第一基准条纹光和N根第二基准条纹光,所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度不同,其中,所述M大于等于1,所述N大于等于2。
优选地,所述获取单元具体用于:从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息、与所述M根第一基准条纹光对应的第一基准条纹图像信息和与所述N根第二基准条纹光对应的第二基准条纹图像信息。
优选地,所述获取单元还具体用于:根据所述基准条纹图像信息确定所述多根初级条纹光的条纹顺序。
优选地,所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度大于所述初级条纹光的宽度。
优选地,所述第一基准条纹光的宽度大于所述第二基准条纹光的宽度。
优选地,所述相邻的两根第二级基准条纹光之间的间距大于等于第一预设值。
本申请有益效果如下:
上述数据处理方法通过将条纹机构光设置为包括宽度不同的初级条纹光和基准条纹光,使得在获得条纹机构光投影到待测物体上的第一图像后,尤其是在条纹结构光投射到深度较大的物体时,所述条纹结构光的变形量较大,在识别所述条纹图像时,能够很容易地识别出与初级条纹光宽度不同的基准条纹光,再根据基准条纹光确定所述初级条纹光的条纹顺序,从而避免对第一图像上的条纹图像识别时产生错位识别或者误识别,解决了现有技术中在获得投射到深度较大的物体的条纹光的图片时,对所述图片上的条纹光识别容易产生错位识别或者错误识别,从而影响物体的立体图像的深度恢复的技术问题,达到便于识别所述图片上的条纹光顺序和位置信息,提高所述物体的立体图像的深度恢复的技术效果。
附图说明
图1为本申请第一较佳实施方式数据处理方法的流程图;
图2为本申请第一较佳实施方式中第一图片的示意图;
图3为本申请第一较佳实施方式中另一个第一图片的示意图;
图4为本申请第二较佳实施方式电子设备的结构示意图。
具体实施方式
本申请实施例通过提供一种数据处理方法和电子设备,解决了现有技术中在获得投射到深度较大的物体的条纹光的图片时,对所述图片上与条纹光对应条纹图像进行识别容易产生错位识别或者错误识别,从而影响物体的立体图像的深度恢复的技术问题,达到便于识别所述图片上的条纹光顺序和位置信息,提高所述物体的立体图像的深度恢复的技术效果。
本申请实施例中的技术方案为解决上述技术问题,总体思路如下:
一种数据处理方法,所述方法包括:
在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两个基准条纹光中每个基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同;这里需要解释的是,当使用红外光或者可见光的情况下可以使用编码其他规则,颜色等其他实现方式
检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息;
基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息;
根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。
一种电子设备,所述电子设备包括:
图像采集单元,用于在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两个基准条纹光中每个基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同;
检测单元,用于检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息;
获取单元,用于基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息;
执行单元,用于根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。
上述数据处理方法及电子设备通过将条纹机构光设置为包括宽度不同的初级条纹光和基准条纹光,使得在获得条纹机构光投影到待测物体上的第一图像后,尤其是在条纹结构光投射到深度较大的物体时,所述条纹结构光的变形量较大,在识别所述条纹图像时,能够很容易地识别出与初级条纹光宽度不同的基准条纹光,再根据基准条纹光确定所述初级条纹光的条纹顺序,从而避免对第一图像上的条纹图像识别时产生错位识别或者误识别,解决了现有技术中在获得投射到深度较大的物体的条纹光的图片时,对所述图片上的条纹光识别容易产生错位识别或者错误识别,从而影响物体的立体图像的深度恢复的技术问题,达到便于识别所述图片上的条纹光顺序和位置信息,提高所述物体的立体图像的深度恢复的技术效果。
为了更好的理解上述技术方案,下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
实施例一
如图1所示,为本申请第一较佳实施方式数据处理方法的流程图。所述数据处理方法包括以下步骤:
步骤110,在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两个基准条纹光中每个基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同。
条纹结构光通常为平行光,该平行光中包括宽度不同的初级条纹光和基准条纹光,其中,所述初级条纹光的宽度可以比所述基准条纹光的宽度大,也可以比所述基准条纹光的宽度小,具体可以根据需要设置。在本实施方式中,所述初级条纹光的宽度小于所述基准条纹光的宽度。
另外,所述至少两个基准条纹光之间可以有初级条纹光,也可以没有初级条纹光。在所述至少两个基准条纹的数目大于等于3,且两根基准条纹光之间有初级条纹光时,每相邻的两个基准条纹光之间的初级条纹光数目可以相同,也可以不同,在本实施方式中,每相邻的两个基准条纹光之间的初级条纹光数目相同。
又,可以直接根据需要设定所述至少两个基准条纹光之间距离,如设定所述至少两个基准条纹光的相邻两个基准条纹光之间的距离大于等于第一预设值,第一预设值可以为1cm,3cm,5cm,20cm,50cm等任意数值。
具体地,所述待测物体可以为任意需要部分或者全部被获取立体图像的物体,可通过图像采集装置如摄像头等获取所述第一图像。
步骤120,检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息。
在具体实施方式中,待获得所述第一图像后,检测第一图像上所述条纹结构光的图像条纹信息,具体包括所述初级条纹和所述基准条纹的顺序信息、位置信息、坐标信息等。也就是说,要先检测出第一图像上那些是所述条纹结构光的条纹图像信息,那些不是,提取所述条纹结构光的条纹图像信息后,执行以下步骤。
步骤130,基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹和至少两根基准条纹的条纹顺序以及条纹位置信息。
在具体实施方式中,可以从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息;根据所述基准条纹图像信息和所述初级条纹信息,确定所述多根初级条纹的条纹顺序,并获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹位置信息。
也就是说,在步骤120检测出条纹结构光的条纹图像信息之后,执行步骤130,识别所述条纹图像信息中那些是基准条纹光的基准条纹图像信息,那些是初级条纹光的初级条纹图像信息,根据基准条纹光的基准条纹图像信息和初级条纹光的初级条纹图像信息,可以确定所述多个初级条纹光的顺序关系,和获得所述初级条纹光和基准条纹光的条纹位置信息。具体地,所述条纹位置信息可以为所述多根初级条纹和至少两根基准条纹在所述第一图像上的每个点的坐标数值,也就是说,获取所述初级条纹光和基准条纹光的条纹位置信息,具体为:获取所述多根初级条纹和至少两根基准条纹在所述第一图像上的每个点的坐标数值。
步骤140,根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。
在获得所述条纹顺序和所述条纹位置信息之后,就可以进行深度恢复了,具体地,可以采用现有技术中的方式对待测物体的立体图像进行恢复,如:根据所述条纹变形量进行换算即可获得所述待测物体的深度值,根据深度值即可对图像进行深度恢复。
具体地,在获得所述条纹顺序和所述坐标数值之后,可根据所述条纹顺序和所述坐标数值,对所述待测物体的立体图像的深度恢复。也就是说,在确定所述条纹顺序和坐标数值后,可以得知具体条纹上的具体坐标数值,根据该坐标数值可以计算出该条纹的变形量,根据该变形量进行换算,即可获得所述待测物体的深度值,根据深度值即可对图像进行深度恢复。
以下以所述条纹结构光包括6条初级条纹光C和2条基准条纹光J,举例详细说明所述数据处理方法的具体步骤。所述2条基准条纹光J的宽度相同,但与所述6条初级条纹光C的宽度不同。在所述条纹结构光投射到待测物体上时,所述条纹结构光发生变形,因此,获得如图2所示条纹结构光发生变形后的第一图片。
在获得第一图片之后,识别图片上那些图像信息是与所述条纹结构光对应的条纹结构光图像的条纹图像信息,对条纹图像信息进行提取;然后,识别出条纹图像信息中那些是6条初级条纹光C的图像信息,那些是2条基准条纹光J的图像信息,根据2条基准条纹光J的图像信息,就可以很容易地得知相邻的初级条纹光的条纹顺序,对应获得初级条纹光的条纹位置信息如坐标数值等。最后,就可以根据条纹顺序和条纹位置信息,就能得知所述6条初级条纹光C和2条基准条纹光J每根条纹光的每个坐标点的变形量,根据所述条纹变形量进行换算即可获得所述待测物体的深度值,根据深度值即可对图像进行深度恢复。
上述数据处理方法通过将条纹机构光设置为包括宽度不同的初级条纹光和基准条纹光,使得在获得条纹机构光投影到待测物体上的第一图像后,尤其是在条纹结构光投射到深度较大的物体时,所述条纹结构光的变形量较大,在识别所述条纹图像时,能够很容易地识别出与初级条纹光宽度不同的基准条纹光,再根据基准条纹光确定所述初级条纹光的条纹顺序,从而避免对第一图像上的条纹图像识别时产生错位识别或者误识别,解决了现有技术中在获得投射到深度较大的物体的条纹光的图片时,对所述图片上的条纹光识别容易产生错位识别或者错误识别,从而影响物体的立体图像的深度恢复的技术问题,达到便于识别所述图片上的条纹光顺序和位置信息,提高所述物体的立体图像的深度恢复的技术效果。
在上述实施方式中,所述至少两个基准条纹光的宽度相同,在其他实施方式中,所述至少两个基准条纹光的宽度可以不同,也就是说,所述至少两个基准条纹光可以不仅为一个等级,也可以为不同的等级,以下进行详细说明。
在具体实施方式中,在所述至少两根基准条纹光包括M根第一基准条纹光和N根第二基准条纹光,所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度不同,所述M和N为大于等于1的整数时,所述从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息,具体为:
从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息、与所述M根第一基准条纹光对应的第一基准条纹图像信息和与所述N根第二基准条纹光对应的第二基准条纹图像信息。
所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度可以小于所述初级条纹光的宽度,也可以大于所述初级条纹光的宽度。在本实施方式中,为了便于更快速的能查找到所述第一基准光和所述第二基准光,将所述第一基准光和所述第二基准光的宽度设置为大于所述初级条纹光的宽度。另外,所述第一基准条纹光的宽度大于所述第二基准条纹光的宽度。所述相邻的两根第二级基准条纹光之间的间距大于等于第一预设值。
进一步地,所述根据所述基准条纹图像信息确定所述多根初级条纹光的条纹顺序,具体为:
根据所述第一基准条纹图像信息确定所述第二基准条纹光的顺序;
根据所述第二基准条纹图像信息确定所述初级条纹光的顺序。
以下以所述条纹结构光包括6条初级条纹光C、1条第一基准条纹光J1和2条第二基准条纹光J2,举例详细说明所述数据处理方法的具体步骤。
所述第一基准条纹光J1的宽度大于所述第二基准条纹光J2的宽度,所述第二基准条纹光J2的宽度大于所述6条初级条纹光C的宽度。在所述条纹结构光投射到待测物体上时,所述条纹结构光发生变形,因此,获得如图3所示条纹结构光发生变形后的第一图片。
在获得第一图片之后,识别图片上那些图像信息是与所述条纹结构光对应的条纹结构光图像的条纹图像信息,对条纹图像信息进行提取;然后,识别出条纹图像信息中那些是6条初级条纹光C的图像信息,那些是第一基准条纹光J1的图像信息,那些是2条第二基准条纹光J2的图像信息,根据第一基准条纹光J的图像信息,就可以很容易地得知所述2条第二基准条纹光J2的条纹顺序,对应获得2条第二基准条纹J2的条纹位置信息如坐标数值等。根据2条第二基准条纹J2的图像信息,就可以很容易地得知所述6条初级条纹光C的条纹顺序,对应获得所述6条初级条纹光的条纹位置信息如坐标数值等。最后,就可以根据条纹顺序和条纹位置信息,就能得知所述6条初级条纹光C和2条第二基准条纹光J2以及第一基准条纹光J1中每根条纹光的每个坐标点的变形量,根据所述条纹变形量进行换算即可获得所述待测物体的深度值,根据深度值即可对图像进行深度恢复。
上述数据处理方法通过将条纹机构光设置为包括宽度不同的初级条纹光和基准条纹光,使得在获得条纹机构光投影到待测物体上的第一图像后,尤其是在条纹结构光投射到深度较大的物体时,所述条纹结构光的变形量较大,在识别所述条纹图像时,能够很容易地识别出与初级条纹光宽度不同的基准条纹光,再根据基准条纹光确定所述初级条纹光的条纹顺序,从而避免对第一图像上的条纹图像识别时产生错位识别或者误识别,解决了现有技术中在获得投射到深度较大的物体的条纹光的图片时,对所述图片上的条纹光识别容易产生错位识别或者错误识别,从而影响物体的立体图像的深度恢复的技术问题,达到便于识别所述图片上的条纹光顺序和位置信息,提高所述物体的立体图像的深度恢复的技术效果。
实施例二
基于同样的发明构思,本申请还提供一种电子设备200。如图4所示,为本申请第二较佳实施方式电子设备200的结构示意图。所述电子设备200包括图像采集单元210、检测单元220、获取单元230和执行单元240。
图像采集单元210用于在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两个基准条纹光中每个基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同。
检测单元220用于检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息。
获取单元230用于基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息。
执行单元240用于根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。
具体地,所述基准条纹光的宽度大于所述初级条纹光的宽度。
具体地,在所述至少两根基准条纹光的数目大于3时,所述至少两根基准条纹光中的每相邻的两个基准条纹光之间的初级条纹光的数目相同。
具体地,所述至少两根基准条纹光中的相邻的两根基准条纹光之间的间距大于等于第一预设值。
具体地,所述获取单元具体用于:从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息;根据所述基准条纹图像信息确定所述多根初级条纹的条纹顺序,并获取所述条纹位置信息。
具体地,所述获取单元具体用于获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光在所述第一图像上的每个点的坐标数值。
具体地,所述执行单元具体用于根据所述条纹顺序和所述坐标数值,对所述待测物体的立体图像的深度恢复。
具体地,所述至少两根基准条纹光包括M根第一基准条纹光和N根第二基准条纹光,所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度不同,其中,所述M大于等于1,所述N大于等于2。
具体地,所述获取单元具体用于:从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息、与所述M根第一基准条纹光对应的第一基准条纹图像信息和与所述N根第二基准条纹光对应的第二基准条纹图像信息。
具体地,所述获取单元还具体用于:根据所述基准条纹图像信息确定所述多根初级条纹光的条纹顺序。
具体地,所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度大于所述初级条纹光的宽度。
具体地,所述第一基准条纹光的宽度大于所述第二基准条纹光的宽度。
具体地,所述相邻的两根第二级基准条纹光之间的间距大于等于第一预设值。
上述电子设备通过将条纹机构光设置为包括宽度不同的初级条纹光和基准条纹光,使得在获得条纹机构光投影到待测物体上的第一图像后,尤其是在条纹结构光投射到深度较大的物体时,所述条纹结构光的变形量较大,在识别所述条纹图像时,能够很容易地识别出与初级条纹光宽度不同的基准条纹光,再根据基准条纹光确定所述初级条纹光的条纹顺序,从而避免对第一图像上的条纹图像识别时产生错位识别或者误识别,解决了现有技术中在获得投射到深度较大的物体的条纹光的图片时,对所述图片上的条纹光识别容易产生错位识别或者错误识别,从而影响物体的立体图像的深度恢复的技术问题,达到便于识别所述图片上的条纹光顺序和位置信息,提高所述物体的立体图像的深度恢复的技术效果。
尽管已描述了本发明的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (18)

1.一种数据处理方法,所述方法包括:
在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两根基准条纹光中每根基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同;
检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息;
基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息;
根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。
2.如权利要求1所述的数据处理方法,其特征在于,所述基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息,具体包括:
从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息;
根据所述基准条纹图像信息和所述初级条纹图像信息,确定所述多根初级条纹光的条纹顺序,并获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹位置信息。
3.如权利要求2所述的数据处理方法,其特征在于,所述获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹位置信息,具体为:
获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光在所述第一图像上的每个点的坐标数值。
4.如权利要求2所述的数据处理方法,其特征在于,在所述至少两根基准条纹光包括M根第一基准条纹光和N根第二基准条纹光,所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度不同,所述M和N为大于等于1的整数时,所述从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息,具体为:
从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息、与所述M根第一基准条纹光对应的第一基准条纹图像信息和与所述N根第二基准条纹光对应的第二基准条纹图像信息。
5.如权利要求4所述的数据处理方法,其特征在于,所述根据所述基准条纹图像信息确定所述多根初级条纹光的条纹顺序,具体为:
根据所述第一基准条纹图像信息确定所述第二基准条纹光的顺序;
根据所述第二基准条纹图像信息确定所述初级条纹光的顺序。
6.一种电子设备,所述电子设备包括:
图像采集单元,用于在条纹结构光投射到一待测物体时,获取包含所述待测物体的第一图像,其中,所述条纹结构光包括多根初级条纹光和至少两根基准条纹光,所述至少两根基准条纹光中每根基准条纹光的宽度与所述多根初级条纹光中每根初级条纹光的宽度不同;
检测单元,用于检测所述条纹结构光在所述第一图像上对应的条纹图像信息;
获取单元,用于基于所述条纹图像信息,获得所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光的条纹顺序以及条纹位置信息;
执行单元,用于根据所述条纹顺序和所述条纹位置信息,对所述待测物体的立体图像进行深度恢复。
7.如权利要求6所述的电子设备,其特征在于,所述基准条纹光的宽度大于所述初级条纹光的宽度。
8.如权利要求6所述的电子设备,其特征在于,在所述至少两根基准条纹光的数目大于3时,所述至少两根基准条纹光中的每相邻的两个基准条纹光之间的初级条纹光的数目相同。
9.如权利要求6所述的电子设备,其特征在于,所述至少两根基准条纹光中的相邻的两根基准条纹光之间的间距大于等于第一预设值。
10.如权利要求6所述的电子设备,其特征在于,所述获取单元具体用于:
从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息;
根据所述基准条纹图像信息确定所述多根初级条纹的条纹顺序,并获取所述条纹位置信息。
11.如权利要求10所述的电子设备,其特征在于,所述获取单元获取所述条纹位置信息包括:
获取所述多根初级条纹光和至少两根基准条纹光在所述第一图像上的每个点的坐标数值。
12.如权利要求11所述的电子设备,其特征在于,所述执行单元具体用于根据所述条纹顺序和所述坐标数值,对所述待测物体的立体图像的深度恢复。
13.如权利要求10所述的电子设备,其特征在于,所述至少两根基准条纹光包括M根第一基准条纹光和N根第二基准条纹光,所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度不同,其中,所述M大于等于1,所述N大于等于1。
14.如权利要求13所述的电子设备,其特征在于,所述获取单元从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息和与所述至少两根基准条纹光对应的基准条纹图像信息,包括:
从所述条纹图像信息中识别出与所述多根初级条纹光对应的初级条纹图像信息、与所述M根第一基准条纹光对应的第一基准条纹图像信息和与所述N根第二基准条纹光对应的第二基准条纹图像信息。
15.如权利要求14所述的电子设备,其特征在于,所述获取单元根据所述基准条纹图像信息确定所述多根初级条纹光的条纹顺序,包括:
根据所述第一基准条纹图像信息确定所述第二基准条纹光的顺序;
根据所述第二基准条纹图像信息确定所述初级条纹光的顺序。
16.如权利要求13所述的电子设备,其特征在于,所述第一基准条纹光和所述第二基准条纹光的宽度大于所述初级条纹光的宽度。
17.如权利要求16所述的电子设备,其特征在于,所述第一基准条纹光的宽度大于所述第二基准条纹光的宽度。
18.如权利要求13所述的电子设备,其特征在于,相邻的两根第二基准条纹光之间的间距大于等于第一预设值。
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