CN104733341A - Led晶粒的抽测方法和系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种LED晶粒的抽测方法和系统，包括：从已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒中抽选出初始晶粒，所述待测试LED晶粒来自至少一个晶圆；对初始晶粒以及与初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，所述扫描的LED晶粒包括来自任一晶圆的至少一个LED晶粒；对扫描的LED晶粒进行测试，以判断LED晶粒是否满足标准。本发明提供的抽测方法和系统，只需对初始晶粒以及与初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，从而大大缩短了扫描时间，提高了抽测效率，并且减少了制造成本和人力成本；此外，由于扫描的LED晶粒包括来自任一晶圆的至少一个LED晶粒，因此，大大降低了漏检的几率，提高了抽测的准确率。

Description

LED晶粒的抽测方法和系统
技术领域
本发明涉及测试技术领域，更具体地说，涉及一种LED晶粒的抽测方法和系统。
背景技术
由于当前的LED(Light-Emitting Diode，发光二极管)芯片还很难满足光电特性一致性的要求，因此，在LED晶粒进行封装之前，必须对其进行严格的分选和测试。其中，在对LED晶粒进行分类挑选之后，还需采用点测设备对LED晶粒进行抽测，以确保各晶粒的电性和光学特性与分类挑选的要求一致，同时保证LED产品出货的品质。
现有的一种抽测检验方法是：对所有LED晶粒进行坐标全扫描，再进行矩阵抽测，例如，7x7抽测(25颗抽1颗)或10x10抽测(100颗抽1颗)。图1为待抽测的LED晶粒的排列示意图，如图1所示，这些LED晶粒分别来自晶圆1～晶圆10。在进行7x7矩阵抽测时，必须对所有晶粒进行全扫描，然后再从25颗晶粒中抽出1颗晶粒(图1中加大加粗的数字代表抽出的1颗晶粒)进行电学和光学性能的测试。
但是，这种矩阵抽测的方式中，全扫描的时间远远大于真正测试的时间，从而使得抽测的效率较低。另外，根据LED晶粒分类挑拣的排列方法，如图1所示，进行7x7矩阵抽测时来自晶圆3、7、10的晶粒并未被抽测到，也就是说，矩阵抽测漏检的几率很大。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种LED晶粒的抽测方法和系统，以解决现有的矩阵抽测方式中抽测效率较低以及漏检几率较大的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种LED晶粒的抽测方法，包括：
从已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒中抽选出初始晶粒，所述待测试LED晶粒来自至少一个晶圆；
对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，所述扫描的LED晶粒包括来自任一所述晶圆的至少一个LED晶粒；
对所述扫描的LED晶粒进行测试，以判断所述LED晶粒是否满足标准。
优选的，所述已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒是指：
所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，其中，M和N为正整数，且来自同一晶圆的所述LED晶粒沿行的方向排列，来自不同晶圆的所述LED晶粒沿列的方向排列。
优选的，所述与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒包括与所述初始晶粒同一列的LED晶粒。
优选的，所述已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒是指：
所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，其中，M和N为正整数，且来自同一晶圆的所述LED晶粒沿列的方向排列，来自不同晶圆的所述LED晶粒沿行的方向排列。
优选的，所述与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒包括与所述初始晶粒同一行的LED晶粒。
优选的，所述初始晶粒为所述M行N列矩阵中心区域的LED晶粒。
一种LED晶粒的抽测系统，包括：
抽选模块，用于从已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒中选出初始晶粒，所述待测试LED晶粒来自至少一个晶圆；
扫描模块，用于对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，所述扫描的LED晶粒包括来自任一所述晶圆的至少一个LED晶粒；
测试模块，用于对所述扫描的LED晶粒进行测试，以判断所述LED晶粒是否满足标准。
优选的，当所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，且来自不同晶圆的所述LED晶粒沿列的方向排列时，所述扫描模块对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一列的LED晶粒进行扫描。
优选的，当所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，且来自不同晶圆的所述LED晶粒沿行的方向排列时，所述扫描模块对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一行的LED晶粒进行扫描。
优选的，所述抽选模块从所述M行N列矩阵的中心区域抽选出所述初始晶粒。
与现有技术相比，本发明所提供的技术方案具有以下优点：
本发明所提供的LED晶粒的抽测方法和系统，从已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒中抽选出初始晶粒，再对初始晶粒以及与初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，所述扫描的LED晶粒包括来自任一晶圆的至少一个LED晶粒，然后对扫描的LED晶粒进行测试，以判断LED晶粒是否满足标准。本发明提供的抽测方法和系统，只需对初始晶粒以及与初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，从而大大缩短了扫描时间，提高了抽测效率，并且减少了制造成本和人力成本；此外，由于扫描的LED晶粒包括来自任一晶圆的至少一个LED晶粒，因此，大大降低了漏检的几率，提高了抽测的准确率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为现有的一种LED晶粒抽测原理图；
图2为本发明的一个实施例提供的一种LED晶粒的抽测方法流程图；
图3为本发明的一个实施例提供的一种LED晶粒的抽测原理图；
图4为本发明的一个实施例提供的另一种LED晶粒的抽测原理图；
图5为本发明的另一个实施例提供的一种LED晶粒的抽测系统结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明提供了一种LED晶粒的抽测方法，该方法的流程图如图2所示，包括：
S201：从已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒中抽选出初始晶粒，所述待测试LED晶粒来自至少一个晶圆；
在对LED晶粒进行分类挑选之后，分选设备会按照设定的方式对LED晶粒进行排序。本实施例提供的已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒如图3所示，这些待测试LED晶粒来自至少一个晶圆，本实施例中仍以待测试LED晶粒来自晶圆1～晶圆10进行说明，但是本发明并不仅限于此。
如图3所示，待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，M和N为正整数，且M和N的具体数值由待测试LED晶粒的实际数量决定，其中，来自同一晶圆的所述LED晶粒沿行的方向排列，来自不同晶圆的所述LED晶粒沿列的方向排列。
具体地，在对待测试的LED晶粒进行排列时，会先将来自晶圆1的LED晶粒从左往右排满第一行，然后从右往左排满第二行，以此类推，奇数行按照从左往右的方式依次排列，偶数行按照从右往左的方式依次排列，当来自晶圆1的LED晶粒排列完成后，按照该次序依次排列来自晶圆2的LED晶粒，以此类推，直到将来自10个晶圆的LED晶粒全部排布完成。当然，在其他实施例中，还可以按照奇数行从右往左，偶数行从左往右的方式进行排列，本发明并不仅限于此。
或者，在其他实施例中，来自同一晶圆的LED晶粒沿列的方向排列，来自不同晶圆的LED晶粒沿行的方向排列。如图4所示，来自晶圆1的LED晶粒从上往下排满第一列，然后从下往上排满第二列，即奇数列按照从上往下的方式依次排列，偶数列按照从下往上的方式依次排列，直到来自10个晶圆的LED晶粒全部排布完成。当然，在其他实施例中，还可以按照奇数列从下往上，偶数列从上往下的方式进行排列，本发明并不仅限于此。
从已按照上述预设方式进行排列的LED晶粒抽选初始晶粒时，优选从上述M行N列矩阵的中心区域抽选LED晶粒，抽选出的LED晶粒可以是一个，也可以是多个，当然，在考虑到抽测效率的前提下，优选为一个。
S202：对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，所述扫描的LED晶粒包括来自任一所述晶圆的至少一个LED晶粒；
如图3或4所示，与初始晶粒同一轴向的LED晶粒包括与初始晶粒同一列的LED晶粒，即图3虚线框中的LED晶粒，其中加黑加大的数字4代表初始晶粒；或者包括与初始晶粒同一行的LED晶粒，即图4虚线框中的LED晶粒，其中加黑加大的数字4代表初始晶粒。
在对初始晶粒以及与该初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描时，先将承载有矩阵排列的LED晶粒的载片盘移动至初始位置，以确保初始晶粒在点测设备的扫描镜头下，其中初始位置优选为载片盘的中心位置即矩阵的中心区域，然后点测机台在载片盘的固定位置做单一轴向的单行扫描，产生单行LED晶粒的绝对值坐标。其中，在对单行LED晶粒进行扫描时，需要确定单一轴向的最大扫描距离和测试距离，以确保单一轴向的LED晶粒可全部测试。
S203：对所述扫描的LED晶粒进行测试，以判断所述LED晶粒是否满足标准。
根据扫描产生的绝对值坐标对扫描的LED晶粒进行测试，获得与每个绝对值坐标对应的LED晶粒的电学和光学参数，并将这些电学和光学参数与标准参数值进行比较，以判断LED晶粒是否满足出货标准，如果满足，则LED晶粒合格，可以进行后续的封装，如果不合格，则不再对该LED晶粒进行后续的封装。
本实施例提供的LED晶粒的抽测方法，只需对初始晶粒以及与初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，从而大大缩短了扫描时间，提高了抽测效率，并且减少了制造成本和人力成本；此外，由于扫描的LED晶粒包括来自任一晶圆的至少一个LED晶粒，因此，大大降低了漏检的几率，提高了抽测的准确率。
本发明的另一个实施例提供了一种LED晶粒的抽测系统，该系统的结构示意图如图5所示，包括抽选模块501、扫描模块502和测试模块503，其中，抽选模块501用于从已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒中选出初始晶粒，所述待测试LED晶粒来自至少一个晶圆；扫描模块502用于对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，所述扫描的LED晶粒包括来自任一所述晶圆的至少一个LED晶粒；测试模块503用于对所述扫描的LED晶粒进行测试，以判断所述LED晶粒是否满足标准。
本实施例中已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒可以为图3所示的矩阵，也可以为如图4所示的矩阵，当然，本发明并不仅限于此。
如图3所示，当所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，且来自不同晶圆的所述LED晶粒沿列的方向排列时，所述扫描模块502对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一列的LED晶粒进行扫描。
如图4所示，当所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，且来自不同晶圆的所述LED晶粒沿行的方向排列时，所述扫描模块502对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一行的LED晶粒进行扫描。此外，优选的，抽选模块501从所述M行N列矩阵的中心区域抽选出所述初始晶粒。
本实施例提供的LED晶粒的抽测系统，只需对初始晶粒以及与初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，从而大大缩短了扫描时间，提高了抽测效率，并且减少了制造成本和人力成本；此外，由于扫描的LED晶粒包括来自任一晶圆的至少一个LED晶粒，因此，大大降低了漏检的几率，提高了抽测的准确率。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种LED晶粒的抽测方法，其特征在于，包括：
从已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒中抽选出初始晶粒，所述待测试LED晶粒来自至少一个晶圆；
对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，所述扫描的LED晶粒包括来自任一所述晶圆的至少一个LED晶粒；
对所述扫描的LED晶粒进行测试，以判断所述LED晶粒是否满足标准。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒是指：
所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，其中，M和N为正整数，且来自同一晶圆的所述LED晶粒沿行的方向排列，来自不同晶圆的所述LED晶粒沿列的方向排列。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒包括与所述初始晶粒同一列的LED晶粒。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒是指：
所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，其中，M和N为正整数，且来自同一晶圆的所述LED晶粒沿列的方向排列，来自不同晶圆的所述LED晶粒沿行的方向排列。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒包括与所述初始晶粒同一行的LED晶粒。
6.根据权利要求3或5所述的方法，其特征在于，所述初始晶粒为所述M行N列矩阵中心区域的LED晶粒。
7.一种LED晶粒的抽测系统，其特征在于，包括：
抽选模块，用于从已按照预设方式进行排列的待测试LED晶粒中选出初始晶粒，所述待测试LED晶粒来自至少一个晶圆；
扫描模块，用于对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一轴向的LED晶粒进行扫描，所述扫描的LED晶粒包括来自任一所述晶圆的至少一个LED晶粒；
测试模块，用于对所述扫描的LED晶粒进行测试，以判断所述LED晶粒是否满足标准。
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，当所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，且来自不同晶圆的所述LED晶粒沿列的方向排列时，所述扫描模块对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一列的LED晶粒进行扫描。
9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，当所述待测试LED晶粒排列成M行N列的矩阵，且来自不同晶圆的所述LED晶粒沿行的方向排列时，所述扫描模块对所述初始晶粒以及与所述初始晶粒同一行的LED晶粒进行扫描。
10.根据权利要求8或9所述的系统，其特征在于，所述抽选模块从所述M行N列矩阵的中心区域抽选出所述初始晶粒。
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