CN104730409B - 一种检测显示芯片漏电的方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种检测显示芯片漏电的方法及装置，涉及电子领域，能够解决现有技术中因为检测设备的限制而存在漏检，导致显示芯片返修率较高的问题。具体方案为：获取显示芯片输出的第一模拟信号，对第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，通过调节移位寄存器的值对第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，如果移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定显示芯片漏电。本发明用于检测显示芯片漏电。
Description
技术领域
本发明涉及电子领域，尤其涉及一种检测显示芯片漏电的方法及装置。
背景技术
对于电脑、电视等包含显示屏的电子设备，其内部都包含有显示芯片，用于对图像信号进行处理，然后在显示屏上显示图像。
现有技术中，显示芯片出厂时，会进行漏电检测，检测需要搭建基台，费用昂贵。因为检测设备费用昂贵，而且受检测设备自身的限制，有很大程度上会漏检，而且显示芯片批量生产时，只会对生产出的显示芯片做抽样检测，这样，因为存在漏检，使得显示芯片返修率较高。
发明内容
本发明的实施例提供一种检测显示芯片漏电的方法及装置，能够解决现有技术中因为存在漏检，导致显示芯片返修率较高的问题。
为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
第一方面，一种检测显示芯片漏电的方法，包括：
获取显示芯片输出的第一模拟信号，所述第一模拟信号设定的电平值是恒定的；
对所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，所述第一采样值是数字信号的码值；
通过调节移位寄存器的值对所述第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的所述第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，所述第一标准值为所述第一模拟信号设定的电平值对应的数字信号的码值为；
如果所述移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定所述显示芯片漏电。
第一方面，一种检测显示芯片漏电的装置，包括：
获取单元，用于获取显示芯片输出的第一模拟信号，所述第一模拟信号设定的电平值是恒定的；
采样单元，用于对所述获取单元获取的所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，所述第一采样值是数字信号的码值；
调节单元，用于通过调节移位寄存器的值对所述第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的所述第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，所述第一标准值为所述第一模拟信号设定的电平值对应的数字信号的码值；
判断单元，用于当所述移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值时，确定所述显示芯片漏电。
本发明实施例提供的一种检测显示芯片漏电的方法及装置，获取显示芯片输出的第一模拟信号，对第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，如果所述第一采样值与第一标准值差值的绝对值大于或等于第一阈值，则确定显示芯片漏电，解决了现有技术中因为检测设备的限制而存在漏检，导致显示芯片返修率较高的问题。
本发明实施例提供的检测显示芯片漏电的方法，获取显示芯片输出的第一模拟信号，对第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，通过调节移位寄存器的值对第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，如果移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定显示芯片漏电，因为每个显示芯片都需要进行offset(移位)校正，这样就不会产生漏检，而且，因为与offset校正结合在一起，没有产生额外昂贵的费用，在显示芯片出厂前就对所有的显示芯片进行了漏电检测，也降低了返修率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种检测显示芯片漏电的方法流程示意图；
图2为本发明另一实施例提供的一种检测显示芯片漏电的方法流程示意图；
图3为本发明实施例提供的一种信号采样示意图；
图4为本发明实施例提供的一种检测显示芯片漏电的装置结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种检测显示芯片漏电的方法，可选的，该显示芯片可以是电视机的显示芯片或者电脑的显示芯片，对此，本发明不做限制。参照图1所示，本实施例提供的一种检测显示芯片漏电的方法包括以下步骤：
101、获取显示芯片输出的第一模拟信号。
第一模拟信号设定的电平值是恒定的。
优选的，第一模拟信号属于YUV信号(色差信号)，可选的，第一模拟信号设定的电平值为0电平。或者可选的，第一模拟信号属于RGB(红绿蓝)信号，第一模拟信号设定的电平值为0电平。
102、对第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值。
第一采样值是数字信号的码值。因为第一模拟信号设定的电平值是恒定的，所以经过模数转换后得到的第一采样值也应该是恒定的，但是由于产品质量及误差等原因，第一采样值并不准确，可以进行多次采样求取平均值。例如：对第一模拟信号采样并进行模数转换得到N个采样值，N为大于或等于2的整数；计算N个采样值的平均值并将N个采样值的平均值作为第一采样值。
103、通过调节移位寄存器的值对第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值。
其中，第一标准值为第一模拟信号设定的电平值对应的数字信号的码值。优选的，第一阈值可以为0，即通过对第一模拟信号进行移位调节，使得第一采样值等于第一标准值。
104、如果移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定显示芯片漏电。
如果显示芯片漏电，就会使得第一模拟信号的电平值大于第一模拟信号设定的电平值，调节移位寄存器，就是要降低第一模拟信号的电平值，使得第一模拟信号的电平值与其设定的电平值一致，如果芯片漏电过大，使得第一模拟信号的电平值超出设定的电平值过多，导致调节移位寄存器也不能将第一模拟信号的电平值降低至设定的电平值，则证明该显示芯片为不合格产品。因此，移位寄存器改变的值越大，证明显示芯片漏电越大，如果移位寄存器改变的值大于预设阈值，就可以认为显示芯片漏电，此处定义的显示芯片漏电指的是显示芯片漏电过大影响信号质量，为不合格产品，当然有些显示芯片漏电很小，不影响信号质量，是允许的误差，对这类显示芯片只需通过offset(移位)校正就可以保证正常工作，可以不视为漏电。
结合步骤101，当第一模拟信号属于YUV(色差)信号，第一模拟信号设定的电平值为0电平时，可选的，在VESA(Video Electronics Standards Association，视频电子标准协会)标准中，当第一模拟信号属于YUV信号中的Y信号时，第一标准值为64，当第一模拟信号属于YUV信号中的U信号或V信号时，第一标准值为512。
值得说明的是，本发明中所说的预设阈值，需要根据具体情况进行设定，优选的，可以对多个样本芯片进行测试，测试出多个样本芯片移位寄存器改变的值，再求出其平均值作为预设阈值，对预设阈值的确定方法，本发明不做限制。
通过上述方式，本实施例提供的检测显示芯片的方法，在对显示芯片进行offset(移位)校正的过程中，检测了显示芯片是否漏电，如果确定显示芯片漏电，则确认该显示芯片不合格。因为每个显示芯片都需要进行offset校正，这样就不会产生漏检，而且，因为与offset校正结合在一起，没有产生额外昂贵的费用，在显示芯片出厂前就对所有的显示芯片进行了漏电检测，也降低了返修率。
本发明实施例提供的检测显示芯片漏电的方法，获取显示芯片输出的第一模拟信号，对第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，通过调节移位寄存器的值对第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，如果移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定显示芯片漏电，则确定显示芯片漏电，因为每个显示芯片都需要进行offset(移位)校正，这样就不会产生漏检，而且，因为与offset校正结合在一起，没有产生额外昂贵的费用，在显示芯片出厂前就对所有的显示芯片进行了漏电检测，也降低了返修率，能够解决现有技术中因为存在漏检，导致显示芯片返修率较高的问题。
基于上述图1对应的实施例，本发明另一实施例提供一种检测显示芯片漏电的方法，参照图2所示，包括以下步骤：
201、获取显示芯片输出的第二模拟信号。
第二模拟信号包括一个高电平和一个低电平。高电平与低电平的差值即为第二模拟信号的幅度值。
优选的，第二模拟信号属于YUV信号(色差信号)，第二模拟信号可以是YUV信号中的Y信号、U信号或V信号。或者可选的，第二模拟信号也可以属于RGB(红绿蓝)信号。
202、对第二模拟信号采样并进行模数转换得到第一幅度值。
第一幅度值为第二模拟信号的幅度值在第二模拟信号转换为数字信号后对应的数字信号的码值，第二模拟信号的幅度值为第二模拟信号包括的高电平与低电平的差值。优选的，可以通过ADC(Analog to digital converter，模数转换器)对第二模拟信号采样并进行模数转换。
可选的，如图3所示，图3中第二模拟信号的高电平为0.6V，低电平为0.1V，当然，此处只是举例说明，高电平和低电平的具体取值可以自行设定。在获取第二模拟信号后，先进行模式识别，确定第二模拟信号的HS(Horizontal Sync，行同步)周期，即为第二模拟信号的采样周期(采样脉冲的周期)，如图3所示的采样脉冲，采样周期与第二模拟信号的周期一致，在一个采样周期中，采样周期的高电平段不采样，待第二模拟信号的电平稳定后，在采样周期的低电平段进行采样。
可选的，可以进行多次采样，例如，对第二模拟信号采样并进行模数转换得到M1个高电平值和M2个低电平值，M1和M2均为大于或等于2的整数；计算M1个高电平值的平均值与M2个低电平值的平均值之差得到第一幅度值。
203、如果第一幅度值与第二标准值差值的绝对值大于第二阈值，则对第二模拟信号进行幅度调节，使得调节后得到的第一幅度值与第二标准值差值的绝对值小于或等于第二阈值。
可选的，在VESA标准中，YUV信号经过采样和模数转换后对应的码值是64-960，对应的模拟信号的幅度值为0.7V，结合图3所示的第二模拟信号，其幅度值为0.5V，可以计算出第二标准值应该是(960-64)×5/7＝640，比较第一幅度值和第二标准值的大小，调节第二模拟信号的幅度(gain)值，使得调节后得到的第一幅度值趋近于640，这就对显示芯片输出信号的幅度(gain)值进行了校正。
优选的，对显示芯片输出信号的幅度(gain)值校正之后，再对显示芯片的移位(offset)值进行校正，这样，校正出的移位(offset)值较为准确。本实施例提供的检测显示芯片漏电的方法还包括：
204、获取显示芯片输出的第一模拟信号。
第一模拟信号设定的电平值是恒定的。
优选的，第一模拟信号属于YUV(亮度色度)信号，第一模拟信号设定的电平值为0电平。或者可选的，第一模拟信号属于RGB(红绿蓝)信号，第一模拟信号设定的电平值为0电平。
205、对第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值。
优选的，可以通过ADC对第一模拟信号采样并进行模数转换。
第一采样值是数字信号的码值。因为第一模拟信号设定的电平值是恒定的，所以经过模数转换后得到的第一采样值也应该是恒定的，但是由于产品质量及误差等原因，第一采样值并不准确，可以进行多次采样求取平均值。例如：对第一模拟信号采样并进行模数转换得到N个采样值，N为大于或等于2的整数；计算N个采样值的平均值并将N个采样值的平均值作为第一采样值。
206、通过调节移位寄存器的值对第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值。
其中，第一标准值为第一模拟信号设定的电平值对应的数字信号的码值。对第一模拟信号进行移位调节，就是将第一模拟信号上下移动。
结合步骤204，当第一模拟信号属于YUV信号，第一模拟信号为0电平时，可选的，在VESA标准中，当第一模拟信号属于YUV信号中的Y信号时，第一标准值为64，当第一模拟信号属于YUV信号中的U信号或V信号时，第一标准值为512。或者，当第一模拟信号属于RGB信号，第一模拟信号为0电平时，第一标准值为0。
207、如果移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定显示芯片漏电。
优选的，本实施例提供的检测显示芯片的方法可以与色彩优化流程结合，色彩优化包括自动增益(Auto gain)和自动移位(Auto offset)两个步骤，自动增益对应步骤201-203，自动移位对应步骤204-206。优选的，可以对YUV信号中Y信号、U信号和V信号每一路信号都进行检测，这样，在进行色彩优化流程的同时，完成了检测显示芯片是否漏电，因为每个芯片都要进行色彩优化，这样不会存在漏检，而且没有产生额外昂贵的费用，在显示芯片出厂前就对所有的显示芯片进行了漏电检测，也降低了返修率。
本发明实施例提供的检测显示芯片漏电的方法，获取显示芯片输出的第一模拟信号，对第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，通过调节移位寄存器的值对第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，如果移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定显示芯片漏电，则确定显示芯片漏电，因为每个显示芯片都需要进行offset(移位)校正，这样就不会产生漏检，而且，因为与offset校正结合在一起，没有产生额外昂贵的费用，在显示芯片出厂前就对所有的显示芯片进行了漏电检测，也降低了返修率，能够解决现有技术中因为存在漏检，导致显示芯片返修率较高的问题。
基于上述图1和图2对应的实施例，本发明实施例提供一种检测显示芯片漏电的装置，用于执行上述图1和图2对应的实施例中所描述的检测显示芯片漏电的方法，参照图4所示，该检测显示芯片漏电的装置40包括：获取单元401、采样单元402、调节单元403及判断单元404。
其中，获取单元401，用于获取显示芯片输出的第一模拟信号，第一模拟信号设定的电平值是恒定的。
采样单元402，用于对获取单元401获取的第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，第一采样值是数字信号的码值。
调节单元403，用于通过调节移位寄存器的值对第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，第一标准值为第一模拟信号设定的电平值对应的数字信号的码值。
判断单元404，用于当移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值时，确定显示芯片漏电。
可选的，该采样单元402包括模数转换子单元4021和计算子单元4022。
可选的，在第一种应用场景中，
获取单元401，还用于获取显示芯片输出的第二模拟信号，第二模拟信号包括一个高电平和一个低电平。
采样单元402，还用于对获取单元401获取的第二模拟信号采样并进行模数转换得到第一幅度值，第一幅度值为第二模拟信号的幅度值在第二模拟信号转换为数字信号后对应的数字信号的码值，第二模拟信号的幅度值为第二模拟信号包括的高电平与低电平的差值。
调节单元403，还用于当第一幅度值与第二标准值差值的绝对值大于第二阈值时，对第二模拟信号进行幅度调节，使得调节后得到的第一幅度值与第二标准值差值的绝对值小于或等于第二阈值。
进一步可选的，模数转换子单元4021，用于对第二模拟信号采样并进行模数转换得到M1个高电平值和M2个低电平值，M1和M2均为大于或等于2的整数。
计算子单元4022，用于计算M1个高电平值的平均值与M2个低电平值的平均值之差得到第一幅度值。
另外，可选的，第二模拟信号属于色差YUV信号，或者，第二模拟信号属于红绿蓝RGB信号。
可选的，在第二种应用场景中，
模数转换子单元4021，用于对第一模拟信号采样并进行模数转换得到N个采样值，N为大于或等于2的整数。
计算子单元4022，用于计算N个采样值的平均值并将N个采样值的平均值作为第一采样值。
另外，可选的，第一模拟信号属于YUV信号，第一模拟信号为0电平。
当第一模拟信号属于YUV信号中的Y信号时，第一标准值为64，当第一模拟信号属于YUV信号中的U信号或V信号时，第一标准值为512。
或者，第一模拟信号属于RGB信号，第一模拟信号为0电平，第一标准值为0。
本发明实施例提供的检测显示芯片漏电的装置，获取显示芯片输出的第一模拟信号，对第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，通过调节移位寄存器的值对第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，如果移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定显示芯片漏电，则确定显示芯片漏电，因为每个显示芯片都需要进行offset(移位)校正，这样就不会产生漏检，而且，因为与offset校正结合在一起，没有产生额外昂贵的费用，在显示芯片出厂前就对所有的显示芯片进行了漏电检测，也降低了返修率，能够解决现有技术中因为存在漏检，导致显示芯片返修率较高的问题。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理包括，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (12)
1.一种检测显示芯片漏电的方法，其特征在于，包括：
获取显示芯片输出的第一模拟信号，所述第一模拟信号设定的电平值是恒定的；
对所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，所述第一采样值是数字信号的码值；
通过调节移位寄存器的值对所述第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的所述第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，所述第一标准值为所述第一模拟信号设定的电平值对应的数字信号的码值；
如果所述移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值，则确定所述显示芯片漏电。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取显示芯片输出的第一模拟信号之前，还包括：
获取所述显示芯片输出的第二模拟信号，所述第二模拟信号包括一个高电平和一个低电平；
对所述第二模拟信号采样并进行模数转换得到第一幅度值，所述第一幅度值为所述第二模拟信号的幅度值在所述第二模拟信号转换为数字信号后对应的数字信号的码值，所述第二模拟信号的幅度值为所述第二模拟信号包括的高电平与低电平的差值；
如果所述第一幅度值与第二标准值差值的绝对值大于第二阈值，则对所述第二模拟信号进行幅度调节，使得调节后得到的所述第一幅度值与所述第二标准值差值的绝对值小于或等于所述第二阈值。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述第二模拟信号采样并进行模数转换得到第一幅度值，包括：
对所述第二模拟信号采样并进行模数转换得到M1个高电平值和M2个低电平值，M1和M2均为大于或等于2的整数；
计算所述M1个高电平值的平均值与所述M2个低电平值的平均值之差得到所述第一幅度值。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，
所述第二模拟信号属于色差YUV信号，或者，所述第二模拟信号属于红绿蓝RGB信号。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，包括：
对所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到N个采样值，N为大于或等于2的整数；
计算所述N个采样值的平均值并将所述N个采样值的平均值作为所述第一采样值。
6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，
所述第一模拟信号属于YUV信号，所述第一模拟信号为0电平；
当所述第一模拟信号属于所述YUV信号中的Y信号时，所述第一标准值为64，当所述第一模拟信号属于所述YUV信号中的U信号或V信号时，所述第一标准值为512；
或者，所述第一模拟信号属于RGB信号，所述第一模拟信号为0电平，所述第一标准值为0。
7.一种检测显示芯片漏电的装置，其特征在于，包括：
获取单元，用于获取显示芯片输出的第一模拟信号，所述第一模拟信号设定的电平值是恒定的；
采样单元，用于对所述获取单元获取的所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到第一采样值，所述第一采样值是数字信号的码值；
调节单元，用于通过调节移位寄存器的值对所述第一模拟信号进行移位调节，使得调节后得到的所述第一采样值与第一标准值差值的绝对值小于或等于第一阈值，所述第一标准值为所述第一模拟信号设定的电平值对应的数字信号的码值；
判断单元，用于当所述移位寄存器改变的值大于或等于预设阈值时，确定所述显示芯片漏电。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，
所述获取单元，还用于获取所述显示芯片输出的第二模拟信号，所述第二模拟信号包括一个高电平和一个低电平；
所述采样单元，还用于对所述获取单元获取的所述第二模拟信号采样并进行模数转换得到第一幅度值，所述第一幅度值为所述第二模拟信号的幅度值在所述第二模拟信号转换为数字信号后对应的数字信号的码值，所述第二模拟信号的幅度值为所述第二模拟信号包括的高电平与低电平的差值；
所述调节单元，还用于当所述第一幅度值与第二标准值差值的绝对值大于第二阈值时，对所述第二模拟信号进行幅度调节，使得调节后得到的所述第一幅度值与所述第二标准值差值的绝对值小于或等于所述第二阈值。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述采样单元包括模数转换子单元和计算子单元；
所述模数转换子单元，用于对所述第二模拟信号采样并进行模数转换得到M1个高电平值和M2个低电平值，M1和M2均为大于或等于2的整数；
所述计算子单元，用于计算所述M1个高电平值的平均值与所述M2个低电平值的平均值之差得到所述第一幅度值。
10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，
所述第二模拟信号属于色差YUV信号，或者，所述第二模拟信号属于红绿蓝RGB信号。
11.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述采样单元包括模数转换子单元和计算子单元；
所述模数转换子单元，用于对所述第一模拟信号采样并进行模数转换得到N个采样值，N为大于或等于2的整数；
所述计算子单元，用于计算所述N个采样值的平均值并将所述N个采样值的平均值作为所述第一采样值。
12.根据权利要求7-11任一项所述的装置，其特征在于，
所述第一模拟信号属于YUV信号，所述第一模拟信号为0电平；
当所述第一模拟信号属于所述YUV信号中的Y信号时，所述第一标准值为64，当所述第一模拟信号属于所述YUV信号中的U信号或V信号时，所述第一标准值为512；
或者，所述第一模拟信号属于RGB信号，所述第一模拟信号为0电平，所述第一标准值为0。
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