CN104620096A - 用于检测特别是折射缺陷的方法和装置 - Google Patents

用于检测特别是折射缺陷的方法和装置 Download PDF

Info

Publication number
CN104620096A
CN104620096A CN201380039170.4A CN201380039170A CN104620096A CN 104620096 A CN104620096 A CN 104620096A CN 201380039170 A CN201380039170 A CN 201380039170A CN 104620096 A CN104620096 A CN 104620096A
Authority
CN
China
Prior art keywords
container
image
periodic patterns
light source
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201380039170.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104620096B (zh
Inventor
奥利维耶·科勒
F·德鲁埃
M·勒孔特
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MSC&SGCC SAS
Original Assignee
MSC&SGCC SAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=46963918&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=CN104620096(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by MSC&SGCC SAS filed Critical MSC&SGCC SAS
Publication of CN104620096A publication Critical patent/CN104620096A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104620096B publication Critical patent/CN104620096B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8829—Shadow projection or structured background, e.g. for deflectometry
    • G01N2021/8832—Structured background, e.g. for transparent objects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/04—Batch operation; multisample devices
    • G01N2201/0484—Computer controlled
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/062—LED's

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明涉及一种用于光学检验透明或半透明容器(3)的在线方法，所述容器(3)在光源(7)与用于拍摄所述容器的图像并用于分析所拍摄图像的图像拍摄系统(9)之间行进。所述方法包括如下步骤：·借助于所述光源(7)来照射每个容器(3)，所述光源(7)沿着至少第一变化方向(D)在周期为T1的周期性图案(71)中呈现光强度变化；·对于每个容器(3)，拍摄在所述光源前方行进且沿着所述行进路径占据N个不同相应位置的所述容器的大于或等于三的N个图像；·在拍摄连续图像之间，在所述周期性图案(71)的变化方向(D)上，产生所述容器与所述周期性图案之间的相对位移；·对于属于所述容器的至少一组点，在相同容器的至少N-1个图像中确定并应用几何转换，以便使得在相同容器的所述N个连续图像中属于所述容器的像素一致；·对于每个容器(3)，使用所述容器的所述N个对准图像，构造相位图像；以及·分析所述相位图像，以便从中至少推断出折射光的缺陷的存在或者构成所述容器的材料的分布的质量。

Description

用于检测特别是折射缺陷的方法和装置
技术领域
本发明涉及诸如例如瓶或罐的透明或半透明容器的在线检验的技术领域，以便确定这种容器所呈现的特性，用于质量控制的目的。
背景技术
特别地，本发明试图检验容器，以便检测呈现折射或偏转光的特性的容器的任何缺陷，诸如例如：折痕、橘皮皱、划痕、微褶皱等类型的缺陷。在下面的说明中，这种缺陷被称为折射性缺陷或折射缺陷。
在通过诸如挤-吹或吹-吹工艺的常规方法的中空玻璃容器的工业制造中，即使对于诸如圆柱形瓶子的简单形状的物品，也可能经常观察到玻璃的厚度在容器的壁中局部地变化。在成型过程中，与模具接触的外表面通常呈现所期望的形状。其结果是，玻璃的分布的变化以及因此壁的厚度的变化引起内表面的变形。当这些变化较小时，它们对容器的强度或外观没有影响。而有时，材料的不良分布导致外观很糟糕，或者更糟的是甚至某些地方可能没有玻璃。人们认为玻璃的良好分布是厚度均匀的分布，使得内表面和外表面自始至终几乎是平行的。在常规方法中，通过测量玻璃的厚度来表征和检测玻璃的不良分布，其中这种测量通常是局部测量或者点测量。
在现有技术中，已经提出各种解决方案来检测光的折射中的缺陷。例如，专利FR 2794241提出一种不会引起容器转动的适于检测折射性缺陷的机器。
这种机器包括被设计为将用于检验的容器送至检验站的传送器。检验站具有位于传送器的一侧的摄像头，其适于拍摄容器的图像。检验站还具有位于传送器的另一侧的光源，并且该光源与用于限定光强度的器件相关联，光强度以低于检测缺陷所需速率的变化速率，以周期性的方式在光源的黑暗端与明亮端之间的空间中连续地变化。由于透镜效果，容器的折射中的缺陷向摄像头提供具有压缩形式的一部分光源。这种光源的压缩图像具有更严重的强度变化，通过增大其对比度增强了对折射性缺陷的检测。
在实践中，当缺陷具有低折射能力时，该技术不能检测折射光的缺陷。
通过示例的方式，专利US 5004909中描述了另一种已知技术，它提出了用于检验容器的壁的一种装置，该装置包括用于穿过被旋转驱动的容器来观察光图案的摄像头，该光图案由交替的白色和黑色条纹组成。分析白色和黑色条纹的变形，以便检测折射光的缺陷的存在。
在实践中，发现该技术对构成容器的材料的分布是非常敏感的。在玻璃以非均匀但可以接受的方式分布的情况下，由内表面中的斜面引起的折射具有使图案变形的效果，使得在图像中实际上不能识别、测量或分析图案。因此，利用这种技术，看似不能区分容器中的折射性缺陷与容器的壁厚的不规则性。
从专利申请FR 2907553还已知一种包括光源的方法和装置，该光源被控制为产生均匀的第一类照明以及由带有不连续空间变化的交替黑暗区域和明亮区域组成的第二类照明。该装置还具有用于拍摄物品的图像的器件，由第一类照明和第二类照明进行照射物品，以便分别检测具有高对比度的缺陷和具有低对比度的缺陷。
尽管这种装置能够使用单一光源来检测两类缺陷，但是主要因为使用第二类照明仅拍摄一个图像，所以发现该装置难以检测一些类别的折射性缺陷。使用均匀光源来检测具有高对比度的缺陷。此外，使用当光源呈现为具有明显边缘并且从而具有不连续变化的交替黑色和白色条纹时获得的单个图像来检测具有低对比度的缺陷。在该图像中，分析条纹状图案的明显边缘的变形以及由折射性缺陷产生的局部对比度。当容器具有厚度变化并且因此玻璃为不良分布时，图案的变形是相当大的，并且不再能够有效地检测出低对比度的缺陷。
专利申请FR 2958040描述了一种用于检测光学组件中缺陷的存在和高度的方法和设备，其通过产生穿过光学组件透射的周期性光图案、通过在穿过该组件的透射过程中获取周期性图案的连续图像，在每次获取时连续图像的相位均被位移，从连续图像计算相位图像、以及分析所述相位图像，以便从中推断出缺陷的存在。
在实践中，因为该技术需要被检验物品停留较长时间以便能够获取多个图像，所以该技术不适合于以高速率在光源与系统之间行进的透明或半透明容器的在线检验。
发明内容
因此，本发明试图通过为透明或半透明容器的在线检验提出新颖的技术来弥补先前技术的缺点，该技术适于独立于材料分布的均匀性来至少检测折射光的缺陷。
本发明的另一个目的是为了具有高可靠性地至少检测折射光的缺陷、以及至少还确定构成容器的材料的分布的质量的目的，提出能够检验以高速率在线移动的容器。
为了实现这种目的，本发明的方法提供对透明或半透明容器的在线检验，所述容器以高速率沿着确定路径F1在光源与图像拍摄系统(其用于拍摄容器的图像并且用于分析所拍摄的图像)之间行进，以便确定容器的特性。
根据本发明，执行以下步骤：
·借助于所述光源来照射以高速行进的每个容器，所述光源沿着至少第一变化方向在周期为T1的周期性图案中呈现光强度变化；
·对于每个容器，拍摄在所述光源前方行进且沿着所述行进路径占据N个不同相应位置的所述容器的大于或等于三的N个图像；
·在拍摄连续图像之间，在所述周期性图案的变化方向上，产生所述容器与所述周期性图案之间的相对位移；
·对于属于所述容器的至少一组点，在相同容器的至少N-1个图像中确定并应用几何转换，以便使得在相同容器的所述N个连续图像中属于所述容器的像素一致；
·对于每个容器，使用所述容器的所述N个对准图像，构造相位图像；以及
·分析所述相位图像，以便从中至少推断出折射光的缺陷的存在或者构成所述容器的材料的分布的质量，作为所述容器的特性。
下面说明书中使用术语“相位图像”是指图像，即像素值的二维表，所述值表示N个连续图像当中像素的灰度变化的相位。作为折射效应的结果，穿过容器的光被偏转，并且这引起所述相位的位移。因此，相位图像包含量化穿过光的容器的折射力的信息。
同样地，在下面的说明书中，术语“强度图像”表示图像，即像素值的二维表，所述值表示光强度值。取决于它们的性质和它们的颜色，光强度图像包含量化由穿过光的容器吸收的信息。
当然，实际上，折射可以影响强度图像，但是不能准确地测量这种影响。
本申请提供的优点在于：使得容器的材料的分布能够被表征为由不平行的壁的内表面和外表面产生的折射的分布和强度，换句话说，能够表征为最终的棱镜效果、或者真正地更精确地说，表征为容器的各对内表面和外表面之间的斜率(slope)。
本发明的检验方法还包括结合一个和/或多个以下额外特性：
·对于每个容器，使用容器的N个对准图像以构造强度图像，并且分析强度图像，以便从中推断出吸收光的缺陷的存在和/或所述容器的容积，作为容器的特性；
·为了分析相位图像，确定变化的速度和/或幅值并且将所述速度和/或幅值与阈值相比较，以便确定折射光的缺陷的存在或者构成容器的材料的分布的质量；
·在不同的实施方式中：
·借助于光源来照射待检验的每个容器，所述光源在不同于所述第一变化方向的第二变化方向上在周期为T2的周期性图案中呈现光强度变化；
·对于每个容器，拍摄在所述光源前方行进并且沿着所述行进路径占据N个相应不同位置的所述物品的大于或等于三的N个额外图像；
·在拍摄连续图像之间，沿着周期为T2的周期性图案的所述第二变化方向，产生所述容器与所述周期性图案之间的相对位移；
·对于每个容器，使用所述物品的所述N个对准图像以构造第二相位图像；以及
·分析所述第二相位图像，以便确定折射光的缺陷的存在或者构成所述容器的材料的分布的质量，作为所述容器的特性。
·所述周期性图案的所述周期T1、T2以及所述拍摄图像的发生被选择为，使得沿着周期性图案的变化方向的所述容器和所述周期性图案的多个相对位移是该图案的周期的相等分数；
·通过所述容器相对于保持静止的所述周期性图案行进，获得所述周期性图案与所述容器之间的相对位移；
·通过使得所述周期性图案在拍摄连续图像之间移动，获得所述周期性图案与所述容器之间的相对位移；
·根据所述容器相对于所述图像拍摄系统行进的位置触发所述图像的拍摄和/或所述照射图案的位移，以便获得预先定义的位移；
·将周期性图案选择为呈现的所发射光的等级沿着所述变化方向变化的函数为正弦函数；
·将所述周期性图案定位为，使得在平行于所述容器的行进方向的至少一个方向上发生光强度的变化；以及
·选择直线型周期性图案。
对于每个容器以及基于容器的N个对准图像，本发明的方法还包括构造所谓的“强度”图像以及分析强度图像，以便从中推断出吸收光的缺陷的存在，和/或以便推断出容器的容积，作为容器的特性。为了计算强度图像，属于容器的每个点有必要考虑N个对准图像中每个图像的一致像素的N个灰度值，以及然后例如通过N个值的最大数并且优选地总和或平均数来确定最终的强度。以这种方式获得的图像的强度主要取决于所述容器对光的吸收。因此，可正确地确定诸如内容物或灰尘的光吸收缺陷。这个强度图像等同于利用均匀光源获得的图像，即，无需周期性图案，正如用于检验透明容器常规地所使用的。因此，以优化的方式，本发明使得可以通过分析相位图像来确定与折射相关联的特性，以及通过分析强度图像来确定与吸收相关联的特性。
本申请还提供一种用于透明或半透明容器的在线检验的装置，以便确定容器的特性，所述装置包括：用于传送容器的传送器件，使得它们穿过检验站(5)，所述检验站(5)由放置在行进中的容器的一侧的至少一个光源(7)以及布置在容器的另一侧用于拍摄容器的图像的至少一个图像拍摄系统(9)组成，以及用于分析所拍摄图像的单元。
根据本发明：
·光源沿着至少第一变化方向呈现具有周期为T1的周期性图案的光强度变化；
·图像拍摄系统，被适配为拍摄放置在所述光源前方的每个容器的大于或等于三的N个图像，且在拍摄连续图像之间沿着所述周期性图案的变化方向产生所述容器与所述周期性图案之间的相对位移；以及
·控制和处理单元包括：
·用于在相同容器的至少N-1个图像中确定并应用几何转换的器件，以便使相同容器的所述N个连续图像中所述容器的像素一致，如此进行对准；
·用于从容器的N个对准图像中计算至少一个相位图像的器件；以及
·用于分析相位图像的器件，以便从中推断出折射光的缺陷的存在或者构成容器的材料的分布的质量，作为容器的特性。
本发明的检验装置还包括结合一个和/或多个以下额外特性：
·控制和处理单元还包括：用于从第一图像拍摄系统获得容器的N个对准图像中计算出至少一个强度图像的器件、以及用于分析强度图像的器件，以便从中推断出吸收光的缺陷的存在和/或所述容器的容积，作为容器的特性；
·为了检测修改光的偏振状态的缺陷，所述检验装置包括：
·滤波器，介于容器与光源之间以在第一偏振方向上线性地偏置光或者在圆形偏振的第一方向上圆形地偏置光；
·第二图像拍摄系统，被适配为拍摄放置在所述光源前方的每个容器的大于或等于三的N个图像；
·滤波器，介于容器与第二图像拍摄系统之间，用于在正交于第一方向的偏振方向上线性地偏振光或者在与第一方向相反的圆形偏振方向上圆形地偏振光；以及
·控制和处理单元包括：
·用于在来自第一图像拍摄系统的相同容器的至少N-1个图像中确定并应用几何转换的器件，以便使相同容器的所述N个连续图像中所述容器的像素一致，如此进行对准；
·用于从来自第二图像拍摄系统的容器的N个对准图像中计算出至少一个强度图像的器件；以及
·用于分析强度图像的器件，以便从中推断出修改光的偏振状态的缺陷的存在，作为容器的特性；
·光源的周期性图案是静止的，使得通过所述容器相对于所述周期性图案行进来获得所述周期性图案与所述容器之间的相对位移；
·在拍摄连续图像之间位移光源的周期性图案，以便获得周期性图案与容器之间的相对位移；
·所述光源的所述周期性图案被定位为使得沿着平行于所述容器的行进方向的至少一个方向发生光强度的变化；
·所述光源被适配为呈现周期性图案，所述周期性图案呈现的所发射光的等级沿着变化方向的变化的函数为正弦函数；
·图像拍摄系统与同步器件相关联，以便根据容器相对于所述光源的所述周期性图案的位置来触发所述图像拍摄系统；以及
·所述控制和处理单元控制所述光源使得在给定方向上位移所述周期性光图案，用于拍摄每个图像。
附图说明
从下文参照附图的描述中可见各种其他特性，附图示出本发明的实施例，作为非限制性示例。
图1是实施根据本发明的方法的检验机器的平面图。
图2至图4是根据本发明的光源的正视图，分别呈现竖直的、倾斜的和水平的光强度的变化。
图5至图7是具有静止的周期性图案的光源的图像的示例，这些图像是通过直线移动的容器连续地拍摄的。
图8示出被应用对准操作的三个图像的示例。
图9A示出被展开并且然后被微分(differentiated)用于揭示折射光的缺陷的相位图像的示例。
图9B示出图9A所示的图像的、并且沿着该图像的列(如附图标记14表示)所取的信号的值。
图9C示出使用高通滤波器处理如图9B所示的信号的结果。
具体实施方式
从图1可以看出，本发明的检验机器1包括沿着箭头F1指示的路径(即，所示示例中的直线水平行进方向)用于传送透明或半透明容器3的传送器件2。以高速率竖立或站立地传送容器3，即，通常以每分钟50至600件物品的速率，即以可能高达1.2米每秒(m/s)的速度来传送。因此，使得容器3以高速率在检验站5前方连续地经过。
检验站5具有放置在传送器件2的一侧的至少一个光源7以及布置在传送器件2的另一侧的用于拍摄容器的图像的至少一个图像拍摄系统9，在第一实施例中具体为一个这种器件。因此，如图1可以更清楚地看出，当传送每个容器3时，使得每个容器3在光源7与系统9(其与光源7相关联来拍摄容器3的图像)之间行进。
图像拍摄系统9包括至少一个摄像头11，其具有物镜12并且被连接至控制和图像处理单元13。控制和处理单元13用于拍摄和分析容器的图像以便从中推断出容器的至少一个特性。如下详细描述地，此控制和处理单元13使得能够推断出折射光的缺陷的存在和/或构成容器的材料的分布的质量，作为容器的特性。
有利地，摄像头11被适配为在容器3的整个高度上拍摄其图像。为了这个目的，光源7具有的发光表面有足够大尺寸以向对应于待检验的容器的区域(并且特别是容器的壁的整个高度)的观察视野的至少一部分反光。应该理解地是检验站5可以具有结合有光源的多个图像拍摄系统，以便在容器于检验站5的前方行进的同时能够在容器的圆周的全部或部分上实施检验。
根据本发明的特性，光源7呈现被适配为穿过容器3透射的光强度变化的周期性图案71。因此可以通过透射穿过容器3看到周期性图案71。在至少第一变化方向D上，光源7呈现周期为T1的周期性光强度图案。通过图2至图4的示例示出的光源的周期性图案71对应于所发射光的强度的空间变化。因此，光源7的各个点发射或多或少的光。
光源7的光强度的变化(或总体对比度)可以至少沿着第一变化方向从光的黑暗水平延伸至预定明亮水平。沿着这个第一方向的光强度的变化是周期性函数，例如准正弦函数，并且优选地为正弦函数。可以使用非正弦周期性函数，尽管这样具有相位计算更复杂和/或需要获取更大数量的N个图像，并且因此使得本发明对于行进中的透明或半透明容器的在线检验使用更昂贵的缺点。
根据优选的实施例特性，周期性图案7呈现沿着变化方向D的光强度的正弦变化。通过示例的方式，并且如图4和图5所示，方向D是水平的并且平行于轴x，并且应用下列公式，光源的强度值或亮度值沿着方向x在最小值L0-A与L0+A之间变化：
其中：
L(x)是在横坐标位置x处发射的光的强度；
L0是平均强度；
A是变化的幅值；
ω是角频率；
是x＝0处的相位。
在图2、图3和图4所示的示例中，周期性光图案71呈现直线光条纹的结构。在图2和图4中，光源7呈现周期性图案中的光，光的强度具有沿着方向D的最大变化并且在垂直于直线光条纹延伸方向的方向上没有变化。在这些实施例中，周期性图案呈现沿着变化方向D为正弦曲线的光强度的变化。因此，光源7具有由连续的明亮和黑暗交替的直线线条或条纹构成的光强度图案71。
在下面的描述中，相对于参考系0、x、y中的水平和竖直方向考虑光强度变化方向D。在图2所示的示例中，光源7的光变化方向D对应于当为竖直(轴y)时为最大值的光强度变化，使得沿着水平方向(轴x)的光源的光强度是恒定的。在图3所示的示例中，光源7的光强度变化方向D为相对于水平方向(轴x)的倾斜角度α。在图4所示的示例中，光源7的光强度变化方向D被示为平行于轴x，使得在竖直方向(轴y)上光源7的光强度是恒定的。
在图2至图4所示的示例中，光源7呈现平行于单个方向的光条纹的阵列。应该观察到，可以设想到光源7在多个方向上呈现条纹。因此，光源7可以呈现诸如曲线形状、同心圆、人字形等其他形状的条纹。假设由于图案被定向的方式，检测是各向异性的，那么光图案的这种复杂性在对物品的各个不同区域适应检测敏感性方面显示了优势。
本质上，根据容器中待确定的特性的特征的函数、以及容器的形状的函数选择光源7，从下面的说明书中可以理解。
根据本发明的有利特性，应该观察到检验站5可以具有多个光源，这些光源呈现在不同方向上延伸的光强度变化的周期性图案。
控制和处理单元13控制摄像头11以便对放置在光源7前方的每个容器3拍摄N个图像，其中N大于或等于3。对于所拍摄的每个图像，容器3沿着其行进路径F1占据不同的位置。假定容器3正在摄像头11前方连续不断地行进，那么在容器3沿着其行进路径F1占据不同的位置的同时由摄像头获取连续的图像。
根据本发明的特性，在获取两个连续图像之间，沿着周期性图案71的变化方向D，在容器3与周期性图案71之间产生相对位移。如下面说明书描述地，容器3与周期性图案71之间的相对位移不一定需要垂直于条纹。
在第一变型实施方式中，特别地如图5至图7所示的，通过容器3在保持静止的周期性图案71前方行进来获得容器3与周期性图案71之间的相对位移。在这个优选实施方式中，在拍摄两个图像之间，使用容器3由于传送器件2导致的自然行进，以沿着周期性图案的方向在容器3与光源7的周期性图案71之间产生相对空间位移。
在图5至图7所示的示例中，所使用的周期性光图案71是图4所示的图案。相对于容器3来定位周期性图案71，以便呈现平行于容器3的行进方向F1的光图案71的光强度变化方向。在图5至图7所示的示例中，假定容器3的行进路径被认为是水平的并且发生在周期性图案71的变化方向D上，那么认为容器3与光图案71之间的相对位移是水平的。图5至图7示出当容器在检验站5前方行进时，连续地拍摄的相同容器的三个图像I1、I2和I3。在图5至图7中，由其轮廓或包络线C来呈现容器3。
分别在图5至图7中示出的图像I1、I2和I3的对比分析使得观察到在保持静止的周期性图案71前方，沿着容器的行进方向F1容器3从一个图像被位移至下一个图像。假定容器的行进方向为F1，在图5至图7的三个连续图像中(向右)位移容器3的轮廓C。
应该理解地是，随着容器3沿着水平行进路径行进，可以设想到使用具有不同于图4所示的图案的周期性图案71的光源7。因此，可以规定使用诸如图3所示的光源7。在这个示例中，同样地，相对于容器3来定位周期性图案71，以便呈现平行于容器3的行进方向F1的光图案71的光强度变化方向D。因此，在拍摄两个图像之间，沿着图3所示的周期性图案的变化方向D，在容器3与周期性图案之间产生相位位移。
相反地，如果当容器沿着行进方向F1行进时这种光源是静止的，那么不能使用图2所示的光源7。在拍摄两个连续图像之间，在周期性图案的变化方向上在容器3与周期性图案71之间没有相对位移。图2所示的光源7具有沿着容器3的行进方向F1为恒定的光强度。有必要将光源的周期性图案71定位为使得在容器3的行进方向上周期性光图案71具有光强度的周期性变化。
在第二变型实施方式中，通过在拍摄两个图像之间位移周期性图案71，并且通过容器3在周期性图案71前方行进，在周期性图案的变化方向上产生容器3与周期性图案71之间的相对位移。在第二变型实施方式中，在光源前方平移容器3，并且在拍摄两个图像之间位移周期性图案71。
当沿着水平方向(轴x)发生周期性图案71的移动时，可以使用如图3所示的光源。图3所示的光源可以与沿着轴x或沿着轴y的周期性图案的位移一起使用。
当然，可以设想到在不同于水平轴的行进方向上位移周期性图案71，使得可以使用如图2所示的光源7。因此，当光源71的行进方向F2为沿着竖直方向(轴y)(即，平行于周期性图案变化的方向)时，可以使用如图2所示的光源7。
可以由任何合适的器件来移动光源7的周期性图案。因此，可以规定开通和切断点光源，诸如发光二极管(LED)。同样地，可以使用放置在均匀光源前方的液晶显示器(LCD)类显示器并且在其上产生周期性光图案71，或者使用视频投影仪以照射或者背光照射屏幕。
控制和处理单元13使用摄像头11以在穿过每个容器3的透射中获取容器的至少三个并且优选地五个图像，在拍摄连续的图像之间在容器与周期性图案之间具有相对位移，这个位移在周期性图案变化的方向D上。因此，对每个容器3，控制和处理单元13具有至少三个图像，其中周期性图案71相对于容器在相位上位移。
对于属于容器的至少一组点，控制和处理单元确定并且对相同容器的至少N-1个这些图像应用几何转换，以便使相同容器的N个连续图像中属于该容器的像素一致。
然后控制和处理单元13基于容器3的N个图像，为每个容器3构造单个图像，例如以专利EP 1980843中描述的方式构造。当然，对于每个容器3，使用各种技术从容器的N个图像可以计算出相位图像。
为了计算容器的相位图像，对于形成容器的部分的每个点，有必要考虑N个图像中(例如，如果N＝3，则在I1、I2和I3中)每个图像的一致像素的N个值，并且然后从N个图像中取出N个灰度值来确定容器的至少每个点的相位，所述值由周期性图案与容器之间的相对位移来修改，并且所计算的相位值取决于来自容器的该点的光线的偏转或折射。
应该观察到只要容器3正在移动并且在拍摄N个图像的同时摄像头的视野恒定，则容器3位于连续拍摄的N个图像的不同位置并且因此由于物品通过视野行进而被位移。对于容器的每个点，为了获得在N个图像中拍摄的N个像素值，使N个连续图像中属于该容器的所述像素一致是适宜的。因此，本发明在相同容器的至少N-1个图像中试图定位容器或者其轮廓C，并且然后确定并应用几何转换，以便使相同容器的N个连续图像中属于该容器的像素一致。
图8示出用于描述对准或使属于相同容器的并且在三个连续图像I1、I2和I3中找到的像素一致的示例。图8的左手部分中示出的三个图像I1、I2和I3的对比分析揭示了容器的轮廓C或者容器的给定点P被位移至图像I1、I2和I3的右侧。换句话说，在图像I1、I2和I3中点P的坐标是不同的。
图8的右手部分示出在对准或者使属于容器的像素一致的操作R之后的三个图像。这个操作使得以轮廓C为中心并且因此使得点P在三个图像I1、I2和I3中对准，使得点P的坐标相同。
因此，控制和处理单元13具有在相同容器的至少N-1个图像中用于确定并应用几何转换的器件，以便使在相同容器的N个连续图像中属于容器的像素一致。
一旦完成对准，对于容器的每个点，在N个图像中其灰度的变化是已知的并且对应于图案的相对位移。因此，可以计算容器的每个点的相位。所述的几何转换包括至少一个平移位移。对于每个图像，所述几何转换可以是预定的，或者可以基于图像中容器的位置被计算出。
所述的几何转换可以被应用于整个图像I上、应用于包括容器的图像的可选地为矩形的区域、或者只真正应用于属于容器的像素，即应用于由容器的轮廓C限定的图像的区域，如图5至图7所示。
当图像之间容器的物理移动是已知的时，用于对准图像的一个解决方案是校准图像中像素的移动并且根据此移动的值来平移位移图像。
另一个解决方案包括自动地检测N个图像中容器上的固定兴趣点(例如，它们的边缘)并且包括确定能够使得这些兴趣点对准的几何转换，并且然后将相同的转换应用至整个容器或至整个图像。
从已经获取且对准的相同容器的N个图像，如上所述计算相位图像。对于每个容器，控制和处理单元13具有由相位位移分开的N个图像，相位位移优选为恒定的。将相位计算算法单独地应用至容器的每个点。从可用的多个算法中选择哪个特定的相位计算算法具体取决于容器、周期性图案、计算的速度、期望的精确度等。
可以观察到，在试图为每个容器构造相位图像的操作之后，可以设想实施展开相位的可选操作。由于光源7的周期性，获得的相位也是周期性的，使得它的值唯一地限定在-π与π之间。可以设想到展开相位是为了消除2π的跳跃，为了获得绝对相位。图9A示出所述经微分的绝对相位图像的示例。
其后，控制和处理单元13分析每个相位图像，并且更确切地来说，分析相位变化，以便从中推断出容器3的至少一个特性。在第一变型实施方式中，相位图像的分析包括确定相位图像中信号的变化的速度和/或幅值并且包括将速度和/或幅值与阈值相比较，以便确定是否存在折射光的缺陷或者以便确定构成容器的材料的分布的质量。可以使用各种已知方法实施每个相位图像的处理。例如，可以规定通过将图像的每个点的相位与相邻点的相位进行比较，来检测局部相位变化(或位移)。另一个技术包括计算每个点处的相位变化斜率以及包括将每个点处的结果与阈值进行比较。沿着一个或多个合适的方向可以计算这个变化斜率。
如果相位变化是快速的并且幅值大于给定阈值，那么可以从中推断出容器的至少一个特性，即折射光的缺陷的存在。如果相位变化是慢速的并且幅值大于给定阈值，那么可以从中推断出容器的至少一个其他特性，即构成容器的材料的分布。
在第二变型实施方式中，对相位图像进行频率分析，使得可以根据其空间频率的函数选择变化并且因此检测光折射缺陷的存在并且甚至可以通过使用高频率的幅值评价玻璃表面的质量，并通过使用低频率的幅值评价材料分布的质量。
在折射缺陷以及玻璃分布的效果下，相位变化直接取决于通过容器对光的偏转或折射。
图9A示出被展开并且然后被微分用于揭示折射光的缺陷的相位图像的示例。在图9A的图像中，附图标记151指示容器中的折痕。附图标记161指示由于被玻璃的非均匀分布而偏转光造成的慢速相位变化，如明亮的区域和黑暗的区域所揭示的。
折射缺陷，即所描述示例中的折痕151，由其标记152(其出现在图9B所示的图像信号中，如沿着给定附图标记14的图像列所取的)很容易地定位。折射性缺陷在信号中产生陡峭的局部变化斜率。在沿列14所取的图像的这个信号中，可以看出慢速变化与玻璃的非均匀分布相关联，由图9B的信号中的附图标记162标识这些慢速变化。
图9C示出借助于高通滤波器处理图9B中所示的信号的结果。因为信号中位置变化的幅值较大，所以在图9A的图像中出现的缺陷151在图9C所示的信号中很容易检测到(附图标记153)。
在图9C所示的信号中，附图标记163标识与玻璃的非均匀分布相关联的慢速变化。应该观察到因为玻璃的这种非均匀分布不产生信号中的变化，所以玻璃的分布的非均匀特性不干扰对折射性缺陷的检测，如从附图标记163的附近可以看出的。
应该考虑的是，周期性图案71是穿过容器观察到的，并且因此通过以下四个连续光学界面在中央区域中观察到：空气-玻璃、玻璃-空气、空气-玻璃以及玻璃-空气，分别对应于外、内、内和外四个表面，并且光通过其穿入。由于材料的非均匀分布、以及由于表面缺陷、气泡等的存在，这些表面不彼此一致地平行，所以它们像棱镜一样偏转光。因而当通过透明容器观察周期性光图案71时，周期性光图案71是变形的。与试图在点的图案或者局部对比度的区域内仅检测图案和外观的变形的技术不同，相位位移使得可以计算相位，所述相位是光线受到的偏转的测量值)，从而可以进行精确的以及有差别的分析，得到对缺陷的折射力以及材料分布的质量的表征。
在上述示例中，规定借助于在沿着变化方向D上呈现光强度变化的光源来照射每个容器。在另一个变型实施方式中，应该观察到可以设想借助于在不同于第一变化方向D的第二方向上呈现周期为T2的周期性图案中的光强度变化的光源来照射每个容器。因此，通过示例的方式，可以规定借助于具有如图2和图4所示的周期性图案的光源来照射每个容器。在这个变型实施方式中，本发明的方法包括：
·对于每个容器，在容器沿着其行进路径占据N个相应不同位置的同时，拍摄在呈现周期为T2的周期性图案的光源前方行进的物体的大于或等于三的N个额外图像；
·在拍摄连续图像之间，沿着周期为T2的周期性图案的第二变化方向产生所述容器与周期性图案之间的相对位移；
·从物体的N个图像，为每个容器构造第二相位图像；以及
·分析第二相位图像以便检测大于或小于预定阈值的相位变化，以便从中推断出容器中是否存在缺陷。
根据有利的实施方式特性，可以观察到周期性图案71的周期以及在被控光源上图案的图像和/或位移的发生，被选择为使得在周期性图案的变化方向上与容器3以及周期性图案71相关的多个位移可以表示为该周期性图案的周期的相等分数。例如，在仅由物品的行进产生相对于容器的图案的位移的变化中，并且当拍摄5(N＝5)个图像时，拍摄每个图像使得其位移了周期性图案71的周期的五分之一，即在所拍摄的每个图像之间的位移是所述周期的五分之一。
根据有利的实施方式特性，控制和处理单元13控制光源7。控制和处理单元13可以将光源7控制为使得对于所拍摄的每个图像在给定方向上位移周期性光图案71。通过示例的方式，为了这个目的，可以使用LCD屏幕、视频投影仪、LED电路或其他合适的光源。
根据实施方式特性，控制和处理单元13根据光源7前方的容器的精确位置来触发图像采集。为了这个目的，控制和处理单元13可以被连接至存在传感器和/或运动传感器，诸如增量编码器和单元。
在检验站的第二实施例中，控制和处理单元13还具有用于从由图像拍摄系统9获得的容器的N个对准图像中计算至少一个强度图像的器件、以及用于分析强度图像的器件，以便从中推断出吸收光的缺陷的存在或不存在，和/或容器的容积，作为容器3的特性。
在第三个实施例中，检验站包括介于容器3与光源7之间的滤波器，用于在第一偏振方向上线性地偏振光、或者在圆形偏振的第一方向上圆形地偏振光。检验站还包括第二图像拍摄系统9，其类同于第一图像拍摄系统并且被适配为拍摄放置在光源前方的每个容器的大于或等于三的N个图像。该检测站还包括介于容器3与第二图像拍摄系统之间的滤波器，用于在正交于第一方向的偏振方向上线性地偏振光，或者在与偏振旋转的第一方向相反的圆形偏振的方向上圆形地偏振光。在这个示例中，控制和处理单元13还包括：
·用于在来自第二图像拍摄系统的相同容器的至少N-1个图像中确定并应用几何转换的器件，以便使在相同容器的N个连续图像中的该容器的像素一致，如此进行对准；
·用于从来自第二图像拍摄系统的容器的N个对准图像中计算出至少一个强度图像的器件；以及
·用于分析强度图像的器件，以便从中推断出修改光的偏振状态以及构成容器3的特性的缺陷的存在或不存在。
使用偏振光来检测所谓的“应力”缺陷，即玻璃中来源于热的或机械力的局部内部应力，是已知的。例如，当由玻璃制成的容器正在冷却外体时，在围绕它四周的玻璃中产生应力。由于玻璃的双折射(birefrigence)，这种应力修改穿过材料的光的偏振状态。通过在容器的一侧组合偏振光源并且在通过正交于第一个的偏振滤波器的透射中观察之，由此可以确定应力缺陷的存在。当使用圆形偏振时，本领域技术人员不难实施相同的检测方案。
本发明的各个实施例的结合使得可以使用单个光源和仅仅两个图像拍摄系统，用于确定折射光的缺陷的存在或不存在、构成容器的材料的质量分布、吸收光的缺陷的存在或不存在、修改光的偏振状态的存在或不存在、和/或容器的容积，作为容器3的特性。

Claims (20)

1.一种用于光学检验透明或半透明容器(3)的在线方法，所述容器(3)在光源(7)与用于拍摄所述容器的图像并用于分析所拍摄图像的图像拍摄系统(9)之间沿着确定的路径F1以高速行进，以便至少确定折射光的缺陷的存在或者构成所述容器的材料分布的质量，作为所述容器(3)的特性，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
·借助于所述光源(7)来照射以高速行进的每个容器(3)，所述光源(7)沿着至少第一变化方向(D)在周期为T1的周期性图案(71)中呈现光强度变化；
·对于每个容器(3)，拍摄在所述光源前方行进且沿着所述行进路径占据N个不同相应位置的所述容器的大于或等于三的N个图像；
·在拍摄连续图像之间，在所述周期性图案(71)的变化方向(D)上，产生所述容器与所述周期性图案之间的相对位移；
·对于属于所述容器的至少一组点，在相同容器的至少N-1个图像中确定并应用几何转换，以便使得在相同容器的所述N个连续图像中属于所述容器的像素一致；
·对于每个容器(3)，使用所述容器的所述N个对准图像，构造相位图像；以及
·分析所述相位图像，以便从中至少推断出折射光的缺陷的存在或者构成所述容器的材料的分布的质量，作为所述容器(3)的特性。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于包括以下步骤：
·对于每个容器(3)，使用所述容器的所述N个对准图像以构造强度图像；以及
·分析所述强度图像，以便由此推断出吸收光的缺陷的存在和/或所述容器的容积，作为所述容器(3)的特性。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，分析所述相位图像包括：确定变化的速度和/或幅值，以及将所述速度和/或幅值与阈值相比较，以便确定折射光的缺陷的存在或者构成所述容器的材料的分布的质量。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：
·借助于光源(7)来照射待检验的每个容器(3)，所述光源(7)在不同于所述第一变化方向的第二变化方向上在周期为T2的周期性图案中呈现光强度变化；
·对于每个容器，拍摄在所述光源前方行进并且沿着所述行进路径占据N个相应不同位置的所述物品的大于或等于三的N个额外图像；
·在拍摄连续图像之间，沿着周期为T2的周期性图案的所述第二变化方向，产生所述容器与所述周期性图案之间的相对位移；
·对于每个容器，使用所述物品的所述N个对准图像以构造第二相位图像；以及
·分析所述第二相位图像，以便确定折射光的缺陷的存在或者构成所述容器的材料的分布的质量，作为所述容器(3)的特性。
5.根据权利要求1至4中任何一项所述的方法，其特征在于，所述方法包括：所述周期性图案的所述周期T1、T2以及所述拍摄图像的发生被选择为，使得沿着周期性图案的变化方向的所述容器(3)和所述周期性图案(71)的多个相对位移是该图案的周期的相等分数。
6.根据权利要求1至5中任何一项所述的方法，其特征在于，所述方法包括：通过所述容器(3)相对于保持静止的所述周期性图案(71)行进，获得所述周期性图案(71)与所述容器(3)之间的相对位移。
7.根据权利要求1至5中任何一项所述的方法，其特征在于，所述方法包括：通过使得所述周期性图案在拍摄连续图像之间移动，获得所述周期性图案(71)与所述容器(3)之间的相对位移。
8.根据权利要求1至7中任何一项所述的方法，其特征在于，所述方法包括：根据所述容器(3)相对于所述图像拍摄系统(9)行进的位置触发所述图像的拍摄和/或所述照射图案的位移，以便获得预先定义的位移。
9.根据权利要求1至8中任何一项所述的方法，其特征在于，所述方法包括：将周期性图案(71)选择为呈现的所发射光的等级沿着所述变化方向(D)变化的函数为正弦函数。
10.根据权利要求1至9中任何一项所述的方法，其特征在于，所述方法包括：将所述周期性图案定位为，使得在平行于所述容器的行进方向的至少一个方向上发生光强度的变化。
11.根据权利要求1至10中任何一项所述的方法，其特征在于，所述方法包括：选择直线型周期性图案。
12.一种用于透明或半透明容器(3)的在线检验的装置，以便检测所述容器的特性，所述装置包括：用于传送所述容器(3)的传送器件，使得它们穿过检验站(5)，所述检验站(5)由放置在行进中的容器的一侧的至少一个光源(7)以及布置在容器的另一侧用于拍摄容器的图像的至少一个图像拍摄系统(9)组成，以及用于分析所拍摄图像的单元，所述装置的特征在于：
·所述光源(7)沿着至少第一变化方向(D)呈现具有周期为T1的周期性图案的光强度变化；
·第一图像拍摄系统(9)，被适配为拍摄放置在所述光源前方的每个容器的大于或等于三的N个图像，且在拍摄连续图像之间沿着所述周期性图案(71)的变化方向(D)产生所述容器(3)与所述周期性图案(71)之间的相对位移；以及
·所述控制和处理单元(13)包括：
·用于在来自所述第一图像拍摄系统的相同容器的至少N-1个图像中确定并应用几何转换的器件，以便使相同容器的所述N个连续图像中所述容器的像素一致，如此进行对准；
·用于从所述容器的N个对准图像中计算至少一个相位图像的器件；以及
·用于分析所述相位图像的器件，以便从中至少推断出折射光的缺陷的存在或者构成所述容器的材料的分布的质量，作为所述容器(3)的特性。
13.根据权利要求12所述的检验装置，其特征在于，所述控制和处理单元(13)还包括：用于从所述第一图像拍摄系统获得所述容器的N个对准图像中计算出至少一个强度图像的器件、以及用于分析强度图像的器件，以便从中推断出吸收光的缺陷的存在和/或所述容器(3)的容积，作为所述容器(3)的特性。
14.根据权利要求13所述的检验装置，其特征在于，所述装置包括：
·滤波器，介于所述容器(3)与所述光源(7)之间，以在第一偏振方向上线性地偏置光或者在圆形偏振的第一方向上圆形地偏振光；
·第二图像拍摄系统(9)，被适配为拍摄放置在所述光源前方的每个容器的大于或等于三的N个图像；
·滤波器，介于所述容器与所述第二图像拍摄系统之间，用于在正交于所述第一方向的所述偏振方向上线性地偏振光或者在与所述第一方向相反的圆形偏振方向上圆形地偏振光；以及
·控制和处理单元(13)包括：
·用于在来自所述第一图像拍摄系统的相同容器的至少N-1个图像中确定并应用几何转换的器件，以便使相同容器的所述N个连续图像中所述容器的像素一致，如此进行对准；
·用于从来自所述第二图像拍摄系统的所述容器的N个对准图像中计算至少一个强度图像的器件；以及
·用于分析所述强度图像的器件，以便从中推断出修改光的所述偏振状态的缺陷的存在，作为所述容器(3)的特性。
15.根据权利要求12至14中任何一项所述的装置，其特征在于，所述光源(7)的所述周期性图案(71)是静止的，使得通过所述容器(3)相对于所述周期性图案(71)行进来获得所述周期性图案(71)与所述容器(3)之间的相对位移。
16.根据权利要求12至14中任何一项所述的装置，其特征在于，在拍摄连续图像之间位移所述光源(7)的所述周期性图案(71)，以便获得所述周期性图案(71)与所述容器(3)之间的相对位移。
17.根据权利要求12至16中任何一项所述的装置，其特征在于，所述光源(7)的所述周期性图案(71)被定位为使得沿着平行于所述容器的行进方向的至少一个方向发生光强度的变化。
18.根据权利要求12至17中任何一项所述的检验装置，其特征在于，所述光源(7)被适配为呈现周期性图案(7)，所述周期性图案(7)呈现的所发射光的等级沿着变化方向的变化的函数为正弦函数。
19.根据权利要求12至18中任何一项所述的检验装置，其特征在于，所述图像拍摄系统(9)与同步器件相关联，以便根据容器相对于所述光源(7)的所述周期性图案的位置来触发所述图像拍摄系统(9)。
20.根据权利要求12至19中任何一项所述的检验装置，其特征在于，所述控制和处理单元(13)控制所述光源(7)使得在给定方向上位移所述周期性光图案(71)，用于拍摄每个图像。
CN201380039170.4A 2012-07-23 2013-07-18 用于检测特别是折射缺陷的方法和装置 Active CN104620096B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1257117 2012-07-23
FR1257117A FR2993662B1 (fr) 2012-07-23 2012-07-23 Procede et installation pour la detection notamment de defauts refractants
PCT/FR2013/051740 WO2014016500A1 (fr) 2012-07-23 2013-07-18 Procede et installation pour la detection notamment de defauts refractants

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104620096A true CN104620096A (zh) 2015-05-13
CN104620096B CN104620096B (zh) 2017-09-29

Family

ID=46963918

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201380039170.4A Active CN104620096B (zh) 2012-07-23 2013-07-18 用于检测特别是折射缺陷的方法和装置

Country Status (9)

Country Link
US (1) US9551671B2 (zh)
EP (1) EP2875339B1 (zh)
CN (1) CN104620096B (zh)
BR (1) BR112015001323B1 (zh)
ES (1) ES2605631T3 (zh)
FR (1) FR2993662B1 (zh)
MX (1) MX348272B (zh)
RU (1) RU2635845C2 (zh)
WO (1) WO2014016500A1 (zh)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108195846A (zh) * 2017-12-26 2018-06-22 成都睿视智能设备有限责任公司 一种检测塑料容器的图像采集系统
CN108226175A (zh) * 2017-12-26 2018-06-29 成都睿视智能设备有限责任公司 一种塑料容器检测系统及检测方法
CN109297984A (zh) * 2018-11-13 2019-02-01 正大天晴药业集团股份有限公司 一种泡罩包装缺陷检测方法、装置及设备
CN110132992A (zh) * 2019-03-30 2019-08-16 天津大学 一种光滑内壁微小缺陷视觉检测装置
CN113924476A (zh) * 2019-06-06 2022-01-11 克朗斯股份公司 用于以光学方式检查容器的方法和装置
CN114127545A (zh) * 2019-06-06 2022-03-01 克朗斯股份公司 用于以光学方式检查容器的方法和装置
CN114545541A (zh) * 2019-08-01 2022-05-27 上海塞普机电工程技术有限公司 一种光栅和基于光栅的疵点检测及数字成像装置
CN115355824A (zh) * 2022-10-20 2022-11-18 长沙巨翊医疗科技有限公司 一种透光管图像获取方法、管径测量方法及装置

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2993662B1 (fr) * 2012-07-23 2015-05-15 Msc & Sgcc Procede et installation pour la detection notamment de defauts refractants
FR3016699B1 (fr) * 2014-01-22 2016-02-12 Msc & Sgcc Procede et dispositif pour la detection notamment de defauts refractants
JP6682251B2 (ja) * 2015-11-30 2020-04-15 リコーエレメックス株式会社 検査システム、及び検査方法
JP2017101977A (ja) * 2015-11-30 2017-06-08 リコーエレメックス株式会社 検査システムおよび検査方法
JP6703415B2 (ja) * 2016-02-17 2020-06-03 リコーエレメックス株式会社 検査装置及び検査方法
JP6474756B2 (ja) * 2016-06-09 2019-02-27 本田技研工業株式会社 欠陥検査方法及びその装置
FR3056297B1 (fr) * 2016-09-19 2018-10-05 Tiama Dispositif pour l'inspection optique de recipients en verre en sortie de machine de formage
BR102016028266A2 (pt) * 2016-12-01 2018-06-19 Autaza Tecnologia Ltda - Epp Método e sistema para a inspeção automática de qualidade de materiais
KR102581134B1 (ko) * 2016-12-06 2023-09-21 코닌클리케 필립스 엔.브이. 광 강도 이미지를 생성하기 위한 장치 및 방법
US10422755B2 (en) * 2016-12-07 2019-09-24 Applied Vision Corporation Identifying defects in transparent containers
JP6917780B2 (ja) * 2017-05-31 2021-08-11 株式会社キーエンス 画像検査装置
JP6967373B2 (ja) * 2017-05-31 2021-11-17 株式会社キーエンス 画像検査装置
JP2019002873A (ja) * 2017-06-19 2019-01-10 リコーエレメックス株式会社 検査システムおよび検査方法
CN107421953A (zh) * 2017-07-06 2017-12-01 东莞理工学院 热缩膜缺陷检测方法及终端设备
JP6969252B2 (ja) * 2017-09-12 2021-11-24 富士通株式会社 検査方法、装置、システム及びプログラム
JP7187782B2 (ja) * 2018-03-08 2022-12-13 オムロン株式会社 画像検査装置
US10871400B2 (en) * 2018-08-27 2020-12-22 Corning Incorporated Retardation profile for stress characterization of tubing
JP2020091143A (ja) * 2018-12-04 2020-06-11 株式会社小糸製作所 透光性部材の表面欠陥検査方法および装置
DE102019205653A1 (de) * 2019-04-18 2020-10-22 Krones Ag Durchlichtinspektionsvorrichtung und Durchlichtinspektionsverfahren zur Seitenwandinspektion von Behältern
JP7404747B2 (ja) * 2019-10-02 2023-12-26 コニカミノルタ株式会社 ワークの表面欠陥検出装置及び検出方法、ワークの表面検査システム並びにプログラム
DE102019128503A1 (de) * 2019-10-22 2021-04-22 Krones Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur optischen Inspektion von Behältern
JP2023521529A (ja) * 2020-02-06 2023-05-25 インスペクト，エー．エム．ブイ リミテッド 反射する物体を撮像するためのシステムおよび方法
FR3132352A1 (fr) 2022-01-28 2023-08-04 Tiama Procédés et systèmes opto-informatiques d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre
FR3138213A1 (fr) 2022-07-22 2024-01-26 Tiama Procédé et dispositif pour inspecter des récipients en verre selon au moins deux modalités en vue de classer les récipients selon des défauts verriers

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5004909A (en) * 1988-05-30 1991-04-02 Kirin Beer Kabushiki Kaisha Method and apparatus for inspecting sidewalls of bottles using stripe pattern illumination
US6618495B1 (en) * 1998-02-19 2003-09-09 Emhart Glass, S.A. Container inspection machine
CN1504743A (zh) * 2002-05-13 2004-06-16 肖特玻璃制造厂 测定连续移动的透明带材中的缺陷部位的方法和装置
US20100110174A1 (en) * 2006-10-24 2010-05-06 Marc Leconte Method for device for detecting low-contrast and high-contrast defects in transparent or translucent objects
US20100290694A1 (en) * 2007-04-13 2010-11-18 Dubois Frederic Method and Apparatus for Detecting Defects in Optical Components
FR2958040A1 (fr) * 2010-03-23 2011-09-30 S G C C Methode et installation pour detecter la presence et l'altitude de defauts dans un composant optique

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63311419A (ja) * 1987-06-13 1988-12-20 Mitsuoka Denki Seisakusho:Kk 直流電源装置
FR2669429B1 (fr) * 1990-11-20 1994-04-15 Saint Gobain Cinematique Control Controle optique au vol.
JPH06100555B2 (ja) 1990-12-19 1994-12-12 東洋ガラス株式会社 透明物体の欠陥検査方法とその装置
US5466927A (en) * 1994-04-08 1995-11-14 Owens-Brockway Glass Container Inc. Inspection of translucent containers
DE19643017C1 (de) 1996-10-18 1998-04-23 Innomess Ges Fuer Messtechnik Verfahren für die Ermittlung von optischen Fehlern in großflächigen Scheiben
DE29706425U1 (de) * 1997-04-10 1998-08-06 Heuft Systemtechnik Gmbh Vorrichtung zum Erkennen von diffus streuenden Verunreinigungen in transparenten Behältern
DE19741384A1 (de) * 1997-09-19 1999-03-25 Heuft Systemtechnik Gmbh Verfahren zum Erkennen von diffus streuenden Materialien, Verunreinigungen und sonstigen Fehlern bei transparenten Gegenständen
US5917602A (en) 1998-04-30 1999-06-29 Inex Inc. System and method for image acquisition for inspection of articles on a moving conveyor
EP1006350A1 (en) * 1998-11-30 2000-06-07 Kirin Techno-System Corporation Method for detecting defects in bottles
DE10317078B4 (de) 2003-04-11 2013-03-28 Karlsruher Institut für Technologie, Institut für Mess- und Regelungstechnik Verfahren und Vorrichtung zur Analyse reflektierender Oberflächen
US7120284B2 (en) * 2003-07-18 2006-10-10 Emhart Glass S.A. Container inspection machine
FR2958751B1 (fr) * 2010-04-13 2012-05-25 Iris Inspection Machines Procede de detection de defauts dans des articles verriers et installation pour la mise en oeuvre dudit procede
DE102010032166B4 (de) * 2010-07-23 2016-03-10 Khs Gmbh Erfassungssystem und Inspektionsverfahren zur Flaschennaht- und Embossingausrichtung
FR2993662B1 (fr) * 2012-07-23 2015-05-15 Msc & Sgcc Procede et installation pour la detection notamment de defauts refractants

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5004909A (en) * 1988-05-30 1991-04-02 Kirin Beer Kabushiki Kaisha Method and apparatus for inspecting sidewalls of bottles using stripe pattern illumination
US6618495B1 (en) * 1998-02-19 2003-09-09 Emhart Glass, S.A. Container inspection machine
CN1504743A (zh) * 2002-05-13 2004-06-16 肖特玻璃制造厂 测定连续移动的透明带材中的缺陷部位的方法和装置
US20100110174A1 (en) * 2006-10-24 2010-05-06 Marc Leconte Method for device for detecting low-contrast and high-contrast defects in transparent or translucent objects
US20100290694A1 (en) * 2007-04-13 2010-11-18 Dubois Frederic Method and Apparatus for Detecting Defects in Optical Components
FR2958040A1 (fr) * 2010-03-23 2011-09-30 S G C C Methode et installation pour detecter la presence et l'altitude de defauts dans un composant optique

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108195846A (zh) * 2017-12-26 2018-06-22 成都睿视智能设备有限责任公司 一种检测塑料容器的图像采集系统
CN108226175A (zh) * 2017-12-26 2018-06-29 成都睿视智能设备有限责任公司 一种塑料容器检测系统及检测方法
CN109297984A (zh) * 2018-11-13 2019-02-01 正大天晴药业集团股份有限公司 一种泡罩包装缺陷检测方法、装置及设备
CN110132992A (zh) * 2019-03-30 2019-08-16 天津大学 一种光滑内壁微小缺陷视觉检测装置
CN113924476A (zh) * 2019-06-06 2022-01-11 克朗斯股份公司 用于以光学方式检查容器的方法和装置
CN114127545A (zh) * 2019-06-06 2022-03-01 克朗斯股份公司 用于以光学方式检查容器的方法和装置
CN114545541A (zh) * 2019-08-01 2022-05-27 上海塞普机电工程技术有限公司 一种光栅和基于光栅的疵点检测及数字成像装置
CN115355824A (zh) * 2022-10-20 2022-11-18 长沙巨翊医疗科技有限公司 一种透光管图像获取方法、管径测量方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
FR2993662B1 (fr) 2015-05-15
MX348272B (es) 2017-06-01
ES2605631T3 (es) 2017-03-15
WO2014016500A1 (fr) 2014-01-30
US20150204797A1 (en) 2015-07-23
EP2875339A1 (fr) 2015-05-27
BR112015001323A2 (pt) 2017-07-04
CN104620096B (zh) 2017-09-29
BR112015001323B1 (pt) 2020-12-15
US9551671B2 (en) 2017-01-24
MX2015001140A (es) 2015-09-08
EP2875339B1 (fr) 2016-09-07
RU2635845C2 (ru) 2017-11-16
FR2993662A1 (fr) 2014-01-24
RU2015105978A (ru) 2016-09-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104620096A (zh) 用于检测特别是折射缺陷的方法和装置
US9804099B2 (en) Method and device for the detection in particular of refracting defects
US8081840B2 (en) Appliance for controlling transparent or reflective elements
ES2348902T3 (es) Procedidmiento y sistema para la medicion de la forma de una superficie reflejante.
US20140376003A1 (en) Arrangement for optical measurements and related method
US20080225115A1 (en) Perspective Distortion inspecting Equipment and Method of Translucent Panel
CN207992080U (zh) 液晶模组外观检测装置
CN102023164A (zh) 用于检测透明平板的局部缺陷的装置和方法
CN101936919B (zh) 一种基于计算机视觉的玻璃质量检测装置及其测量方法
WO2017098071A1 (es) Sistema y método de detección de defectos en superficies especulares o semi-especulares mediante proyección fotogramétrica
CN104792419B (zh) 用于对表面经涂覆的材料进行检查的设备及相应的方法
JP2011089981A (ja) 検査システム及び検査方法
CN101887028A (zh) 检测装置
CN102435618A (zh) 透明板状体的缺陷检查方法及装置
EP2685209A1 (en) Glass bottle inspection device and telecentric lens unit
CN101144842A (zh) 显示器件清晰度测试卡及其清晰度的测量方法
CN110031482A (zh) 一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法
CN103038603A (zh) 用于晶片锯痕的三维检查的装置和方法
CN104567724A (zh) 用于在运行中的面上非接触式地测定产品的位置和三维形状的方法及扫描器
EP2584307B1 (en) Glass bottle inspection device
CN107091669A (zh) 新型跟踪定位量筒液位精密变化的检测装置及其检测方法
CN1573319A (zh) 玻璃基板内缺陷的深度方向位置检测方法
CN102741649A (zh) 用于借助于偏折术进行表面检查的方法和装置
CN113567342A (zh) 透明物缺陷检测方法及装置
KR101658700B1 (ko) 표면 검사 광학장치 및 표면 검사방법

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant