CN104618920A - Ap杂散自动测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种AP杂散自动测试系统，包括自动控制装置、待测试AP设备、功率调整器和分析仪，自动控制装置和待测试AP设备相连接，用于向待测试AP设备发送第一控制命令，使待测试AP设备产生射频信号；待测试AP设备产生的射频信号经功率调整器处理后发送给分析仪；自动控制装置还和所述分析仪相连接，用于向分析仪发送第二控制命令，使分析仪进行测试，并从分析仪读取测试结果；自动控制装置包括：AP参数设置模块，用于生成该第一控制命令，第一控制命令带有调整待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；分析仪自动测试模块，用于生成该第二控制命令，第二控制命令带有调整分析仪测试射频信号时的参数配置的信息。

Description

AP杂散自动测试系统及方法

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其涉及一种AP杂散自动测试系统及方法。

背景技术

无线AP(Access Point)即无线接入点，它是用于无线网络的无线交换机，也是无线网络的核心。无线AP是移动计算机用户进入有线网络的接入点，主要用于宽带家庭、大楼内部以及园区内部，典型距离覆盖几十米至上百米，目前主要技术为802.11系列。大多数无线AP还带有接入点客户模式(AP client)，可以和其它AP进行无线连接，延展网络的覆盖范围。单纯性无线AP就是一个无线的交换机，提供无线信号发射接收的功能。单纯性无线AP的工作原理是将网络信号通过双绞线送过来，经过AP产品的编译，将电信号转换成为无线电讯号发送出去，形成无线网的覆盖，根据不同的功率，其可以实现不同程度、不同范围的网络覆盖，一般无线AP的最大覆盖距离可达300米。目前大多数的无线AP都支持多用户(30-100台电脑)接入，数据加密，多速率发送等功能，在家庭、办公室，一个无线AP便可实现所有电脑的无线接入。单纯性无线AP亦可对装有无线网卡的电脑做必要的控制和管理。单纯性无线AP即可以通过10BASE-T(WAN)端口与内置路由功能的ADSL MODEM或CABLE MODEM直接连接，也可以在使用时通过交换机/集线器、宽带路由器再接入有线网络。无线AP跟无线路由器类似，按照协议便准本身来说IEEE802.11b和IEEE802.11g的覆盖范围是室内100米、室外300米。这个数值仅是理论值，在实际应用中，会碰到各种障碍物，其中以玻璃、木板、石膏对无线信号的影响最小，而混凝土墙壁和铁对无线信号的屏蔽最大。所以通常实际使用范围是：室内30米、室外100米(没有障碍物)。因此，作为无线网络中重要的环节无线接入点、无线网关也就是无线AP，它的作用其实就是类似于我们常用的有线网络中的集线器。在那些需要大量AP来进行大面积覆盖的公司使用得比较多。

随着无线电新技术、新业务的广泛应用，无线发射装置的数量不断增长，电磁环境日益复杂，无线电干扰日益增多。对于无线电管理机构而言，更有效维护空中电波次序，一方面必须加大无线电监测的力度，及时消除各种无线电干扰：另一方面，必须对各种无线电发射设备严格实施检测，确保其符合国家规定的技术标准，从源头消除个别干扰现象的出现。

根据国家标准GB/T13622-92<无线电管理术语>中3.6.9条的描述，杂散发射指的是在必要带宽之外的某个或某些频率的发射，其发射电平可降低而不致影响相应信息的传输。它包括谐波发射、寄生发射、互调产物及变频产物，但带外发射除外。带外发射是在调制过程产生的、刚超出必要带宽的一个或多个频率的发射，但杂散发射除外。

现有技术中的AP杂散测试系统及方法往往包括以下两种：

第一种，如图1所示，AP杂散测试系统包括待测试AP、PC、衰减器和频谱仪，待测试AP放置在屏蔽箱中，PC通过数据线连接AP，AP通过射频电缆连接衰减器和频谱仪，测试人员通过手动操作频谱仪记录测试结果。

第二种，如图2所示，AP杂散测试系统包括待测试AP、PC、衰减器和频谱仪，待测试AP、PC、衰减器和频谱仪放置在实验室内，PC通过数据线连接AP，AP通过射频电缆连接衰减器和频谱仪，测试人员通过手动操作频谱仪记录测试结果。

在上述任意一种现有的AP杂散测试系统中，均需要测试人员通过手动操作频谱仪记录测试结果。测试人员手动操作频谱仪，对测试结果的判断完全凭借肉眼读取仪表上的显示结果,在设备量产时需要进行大量的重复性工作,测试结果也仅凭借手工记录,测试速度慢、效率低，而且容易造成测试误差。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种AP杂散自动测试系统及方法，能够实现自动测试，而且可以实现对测试结果的自动保存，提高测试效率和可靠性。

本发明实施例提供了一种AP杂散自动测试系统，包括自动控制装置、待测试AP设备、功率调整器和分析仪，所述自动控制装置和待测试AP设备相连接，用于向待测试AP设备发送第一控制命令，使待测试AP设备产生射频信号；所述待测试AP设备产生的射频信号经所述功率调整器处理后发送给所述分析仪进行分析；所述自动控制装置还和所述分析仪相连接，用于向所述分析仪发送第二控制命令，使分析仪进行测试，并从所述分析仪读取测试结果；所述自动控制装置包括：

AP参数设置模块，用于生成所述第一控制命令，所述第一控制命令带有调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；

分析仪自动测试模块，用于生成所述第二控制命令，所述第二控制命令带有调整所述分析仪测试所述射频信号时的参数配置的信息。

作为上述方案的改进，所述AP参数设置模块包括M个运行参数调整单元，

每一个所述运行参数调整单元用于调整所述待测试AP设备的对应的一个运行参数的值；其中，M为大于等于1的整数；

所述第一控制命令带有根据所述M个运行参数调整单元生成的用于调整调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的包括一个或多个运行参数的值的信息。

作为上述方案的改进，所述分析仪自动测试模块包括：

测试频段调整单元，用于调整所述分析仪使其工作在与所述功率调整器对应的测试频段上；

测试结果存储单元，用于实时读取并存储所述分析仪对每一个所述射频信号测试后的测试结果。

作为上述方案的改进，所述AP参数设置模块还包括：

AP参数预设单元，用于供用户预先设置需要测试的所述待测试AP设备的M个运行参数，其中，每一运行参数包括至少一个值；

主控单元，用于根据所述AP参数预设单元控制所述M个运行参数调整单元工作，从而使所述待测试AP设备依次组合生成对应的N个不同的射频信号，N＝m1*m2*…*mM，其中，m1为第一个运行参数的值的个数，m2为第二个运行参数的值的个数，……mM为第M个运行参数的值的个数。

作为上述方案的改进，所述主控单元还与所述测试结果存储单元连接，仅当所述测试结果存储单元实时读取并存储所述分析仪测试所述待测试AP设备当前产生的射频信号的测试结果时，所述主控单元才对应控制M个运行参数调整单元工作，从而使所述待测试AP设备对应生成下一个射频信号。

作为上述方案的改进，所述运行参数包括但不限于发射功率、工作模式、发射速率和工作信道。

作为上述方案的改进，所述功率调整器为功率衰减器或可调带通滤波器；所述分析仪为频谱分析仪、发射机测试分析仪或信号分析仪；优选的，所述AP杂散自动测试装置还包括电磁屏蔽室，所述PC、待测试AP设备、功率调整器和分析仪均置于所述电磁屏蔽室内部。

本发明实施例还提供了一种AP杂散自动测试方法，包括步骤：

生成第一控制命令，向待测试AP设备发送所述第一控制命令，使待测试AP设备产生射频信号；其中，所述第一控制命令带有调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；

生成第二控制命令，向分析仪发送所述第二控制命令，使分析仪对所述待测试AP设备产生的所述射频信号进行测试，并从所述分析仪读取测试结果；其中，所述第二控制命令带有调整所述分析仪测试所述射频信号时的参数配置的信息。

本发明实施例还提供了一种AP杂散自动测试方法，包括步骤：

S1、接收用户设置的需要测试的待测试AP设备的M个运行参数，其中，每一运行参数包括至少一个值；

S2、根据所述M个运行参数的信息依次组合生成N个第一控制命令，N＝m1*m2*…*mM，其中，m1为第一个运行参数的值的个数，m2为第二个运行参数的值的个数，……mM为第M个运行参数的值的个数；所述第一控制命令带有调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；每生成一个所述第一控制命令即向待测试AP设备发送该第一控制命令，使待测试AP设备在不同的运行参数环境下产生对应的射频信号；

S3、每生成一个所述第一控制命令，对应生成一个第二控制命令，并向分析仪发送所述第二控制命令，使分析仪对所述待测试AP设备当前产生的射频信号进行测试，并从所述分析仪读取测试结果；其中，所述第二控制命令带有调整所述分析仪测试所述射频信号时的参数配置的信息。

作为上述方案的改进，在所述步骤S2中，仅当完成步骤S3中的读取并存储所述分析仪测试所述待测试AP设备当前产生的射频信号的测试结果时，才促使根据所述M个运行参数的信息生成下一个第一控制命令，从而使所述待测试AP设备对应生成下一个射频信号。

与现有技术相比，本发明公开的AP杂散自动测试系统和方法，通过生成第一控制命令以使待测试AP设备产生射频信号以及调整所述待测试AP设备产生射频信号时的运行参数，并通过生成第二控制命令使分析仪测试该射频信号以及调整分析仪测试所述射频信号时的参数配置，以及从所述分析仪读取测试结果并保存，实现自动化测试及保存测试结果，解决了现有技术中凭借测试人员手动操作频谱仪以及手工记录测试结果而导致的测试速度慢、效率低，而且容易造成测试误差等问题，具有提高测试效率和可靠性的有益效果。

附图说明

图1是现有技术中一种AP杂散测试系统的结构框图。

图2是现有技术中另一种AP杂散测试系统的结构框图。

图3是本发明实施例中一种AP杂散自动测试系统的结构框图。

图4为图3所示的一种AP杂散自动测试系统的AP参数设置模块的结构框图。

图5为图3所示的一种AP杂散自动测试系统的自动测试模块的结构框图。

图6为图3所示的一种AP杂散自动测试系统的测试流程示意图。

图7是本发明另一实施例中一种AP杂散自动测试系统的结构框图。

图8是本发明另一实施例中一种AP杂散自动测试系统的结构框图。

图9是本发明实施例中一种AP杂散自动测试方法的流程图。

图10是本发明另一实施例中一种AP杂散自动测试方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图3，是本发明实施例提供的一种AP杂散自动测试系统的结构示意图。该AP杂散自动测试系统包括自动控制装置11、待测试AP设备12、功率调整器13和分析仪14，其中，所述自动控制装置11和待测试AP设备12相连接，用于向待测试AP设备12发送第一控制命令，使待测试AP设备12产生射频信号。所述待测试AP设备12产生的射频信号经所述功率调整器13处理后发送给所述分析仪14进行分析。所述自动控制装置11还和所述分析仪14相连接，用于向所述分析仪发送第二控制命令，使分析仪进行测试，并从所述分析仪14读取测试结果。

其中，自动控制装置11通过RS232串口与待测试AP设备12连接，分析仪14通过GPIB/LAN接口与自动控制装置11相连，自动控制装置11与待测试AP设备12通过数据线连接，待测试AP设备12与功率调整器13、功率调整器13与分析仪14之间通过射频电缆实现连接，分析仪14与自动控制装置11之间通过专门测试数据线连接。

其中，自动控制装置11具体可为个人计算机(personal computer，简称PC)。个人计算机一词源自于1981年IBM的第一部桌上型计算机型号PC，在此之前有Apple II的个人用计算机。能独立运行、完成特定功能的个人计算机。个人计算机不需要共享其他计算机的处理、磁盘和打印机等资源也可以独立工作。从台式机(或称台式计算机、桌面电脑)、笔记本电脑到上网本和平板电脑以及超级本等都属于个人计算机的范畴。

待测试AP设备12,AP是(Wireless)Access Point的缩写，即(无线)访问接入点。如果无线网卡可比作有线网络中的以太网卡，那么AP就是传统有线网络中的HUB，也是目前组建小型无线局域网时最常用的设备。AP设备相当于一个连接有线网和无线网的桥梁，其主要作用是将各个无线网络客户端连接到一起，然后将无线网络接入以太网(这正是Access Point名称的本义)。目前大多数的无线A设备P都支持多用户接入、数据加密、多速率发送等功能，一些产品更提供了完善的无线网络管理功能。对于家庭、办公室这样的小范围无线局域网而言，一般只需一台无线AP设备即可实现所有计算机的无线接入。

所述功率调整器13主要用于对所述待测试AP设备12发射出的射频信号的功率进行调整。为了在射频测试过程中保护测试设备分析仪14，通常是在频谱仪输入端口外接一个功率调整器13(例如，本实施例可为功率衰减器，功率衰减器是在指定的频率范围内，一种用以引入一预定衰减的电路。一般以所引入衰减的分贝数及其特性阻抗的欧姆数来标明。)，以对待测试AP设备12发射出的射频信号的功率进行调整，这样，当待测试AP设备12输出功率大于分析仪14最大接收功率时也能很好的保护分析仪14。

所述分析仪14可为频谱分析仪、发射机测试分析仪或信号分析仪。在本实施例中，优选为信号分析仪，又名频谱分析仪，主要用于射频和微波信号的频域分析，包括测量信号的功率，频率，失真产物等等。其还可以对射频和微波信号进行解调分析。

继续参考图3，本实施例的AP杂散自动测试系统通过所述自动控制装置11分别连接待测试AP设备12和分析仪14，从而实现自动测试控制。具体的，该自动控制装置11包括：

AP参数设置模块111，用于生成所述第一控制命令，所述第一控制命令带有调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；以及

分析仪自动测试模块112，用于生成所述第二控制命令，所述第二控制命令带有调整所述分析仪测试所述射频信号时的参数配置的信息。

参考图4，所述AP参数设置模块111具体包括：

M个运行参数调整单元，即，第一运行参数调整单元1111、第二运行参数调整单元1112……、第M运行参数调整单元111m,每一个所述运行参数调整单元用于调整所述待测试AP设备的对应的一个运行参数的值；

AP参数预设单元1110，用于供用户预先设置需要测试的所述待测试AP设备的M个运行参数，其中，每一运行参数包括至少一个值；以及

主控单元110，用于根据所述AP参数预设单元1110的用户设置控制所述第一运行参数调整单元1111、第二运行参数调整单元1112……、第M运行参数调整单元111m工作，从而组合依次生成N个不同的第一控制命令，使所述待测试AP设备依次生成对应的N个不同的射频信号，其中：

N＝m1*m2*…*mM，

其中，m1为第一个运行参数的值的个数，m2为第二个运行参数的值的个数，……mM为第M个运行参数的值的个数。

可见，每一个所述第一控制命令带有根据所述M个运行参数调整单元生成的用于调整调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的包括一个或多个运行参数的值的信息。

参考图5，所述分析仪自动测试模112包括：

测试频段调整单元1121，用于调整所述分析仪使其工作在与所述功率调整器13对应的测试频段上(其中，在每次测试时可通过手动或自动调整功率调整器13的工作频段使其位于某一测试频段，比如：885-909MHz、930-954MHz、1710-1735MHz、1805-1830MHz、1880-1920MHz等)；以及

测试结果存储单元1122，用于实时读取并存储所述分析仪14对所述待测试AP设备产生的每一个所述射频信号测试后的测试结果。

另外，本实施例的分析仪自动测试模112的测试结果存储单元1122还与所述AP参数设置模块111的主控单元110连接，当所述测试结果存储单元1122实时读取并存储所述分析仪测试所述待测试AP设备当前产生的射频信号的测试结果时，所述测试结果存储单元1122同时向所述主控单元110发送通知，所述主控单元根据该通知才对应控制所述第一运行参数调整单元1111、第二运行参数调整单元1112……、第M运行参数调整单元111m工作，从而生成下一个第一控制命令，使所述待测试AP设备对应生成下一个射频信号。

在本实施例中，所述运行参数包括但不限于发射功率、工作模式、发射速率和工作信道。

下面，结合一个实际例子，具体说明本实施例的AP杂散自动测试系统的工作原理。

例如，在本实施例中，用于调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数包括发射功率、工作模式、发射速率和工作信道，其中，工作模式、发射速率和工作信道可由用户预先设置至少一个值。

那么，所述AP参数设置模块111包括四个运行参数调整单元，对应为：

发射功率调整单元，用于调整所述待测试AP设备的发射功率(一般情况下，调整所述待测试AP设备的输出功率为最大发射功率等级)；

工作模式调整单元，用于调整所述待测试AP设备的工作模式；

发射速率调整单元，用于调整所述待测试AP设备的发射速率；

工作信道调整单元，用于调整所述待测试AP设备输出的工作信道。

假如AP参数预设单元1110接收到用户预先设置需要测试的待测试AP设备发射射频信号时的工作信道包括三个值，例如CH1、CH6和CH11；发射速率包括两个值，例如6Mbps、11Mbps；工作模式包括两个值，例如IEEE802.11b、IEEE802.11a。那么，所述主控单元110根据所述AP参数预设单元1110的用户设置来控制所述工作模式调整单元、发射速率调整单元、工作信道调整单元的工作，从而依次组合生成N＝3*2*2＝12个不同的第一控制命令，具体为：CH1、6Mbps、IEEE802.11b；

CH6、6Mbps、IEEE802.11b；

CH11、6Mbps、IEEE802.11b；

CH11、11Mbps、IEEE802.11b；

CH6、11Mbps、IEEE802.11b；

CH1、11Mbps、IEEE802.11b；

CH1、11Mbps、IEEE802.11a；

CH6、11Mbps、IEEE802.11a；

CH11、11Mbps、IEEE802.11a；

CH11、6Mbps、IEEE802.11a；

CH6、6Mbps、IEEE802.11a；

CH1、6Mbps、IEEE802.11a。

以上12个不同的第一控制命令并不必然按照上述顺序依次生成，但是为了提高测试效率，并减少自动控制装置11的工作量，往往是测试完同一个运行参数的所有值后，再测试另一个运行参数的所有值。并且，根据以上顺序依次生成第一控制命令，我们发现，每次生成的第一控制命令相比上一次的第一控制命令，仅仅改变了一个运行参数的值，因此，只需要控制对应的一个运行参数调整单元工作即可，即，使每次生成的第一控制命令只需要带有一个用于调整调整所述待测试AP设备产生射频信号时的运行参数的值(除了首次生成的第一控制命令)。

例如，参考图6，当用户输入上述多个运行参数后，AP杂散自动测试系统测试工作过程如下：

步骤1、首先通过AP参数设置模块调整待测试AP设备的输出功率使其处于最大发射功率等级。

步骤2、手动调整功率调整器的工作频段，使其工作频段位于某一测试频段，比如：885-909MHz、930-954MHz、1710-1735MHz等。

步骤3、通过AP参数设置模块调整待测试AP设备输出的工作模式使其工作于某一工作模式,IEEE802.11b或IEEE802.11b。

步骤4、通过AP参数设置模块调整待测试AP设备在该工作模式下的某一发送速率，比如6Mbps或11Mbps。

步骤5、通过AP参数设置模块调整待测试AP设备输出的某一工作信道，比如：CH1、CH6或CH11。

(可以理解的，为了减少信号的传输和发送，在自动控制装置通过AP参数设置模块首次向待测试AP设备发送第一控制命令时，该控制命令可以包含步骤1、步骤3～5中的所有用于调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息，即在首次测试时，可以初始化待测试AP设备的各个运行参数。)

步骤6、运行分析仪自动测试模块调整分析仪工作频段使其工作在测试频段进行测试，并保存测试结果(即通过分析仪自动测试模块向分析仪发送第二控制命令)。

步骤7、重复过程5—6，测试所有工作信道，比如：CH1、CH6和CH11。

步骤8、重复过程4—6，测试所有的发送速率，比如：6Mbps、11Mbps。

步骤9、重复过程3—6，测试所有的工作模式，比如：IEEE802.11b、IEEE802.11a。

(可以理解的，在完成步骤9后，自动控制装置通过AP参数设置模块向待测试AP设备发送了12个不同的第一控制命令，并使待测试AP设备生成对应的12个射频信号，从而使分析仪自动测试模块读取并保存12个测试结果。另外，优选的，仅当分析仪自动测试模块读取并保存到分析仪测试待测试AP设备的当前测试结果时，才促使AP参数设置模块向待测试AP设备发送下一个第一控制命令，从而使待测试AP设备生成下一个射频信号。)

步骤10、重复过程2—6，测试所有要求的测试频段，比如：885-909MHz、930-954MHz、1710-1735MHz等。

步骤11、所有工作频段测试完成后测试结束。

在本实施例中，所述自动控制装置的AP参数设置模块的功能可以通过ART软件实现。ART，即atheros radio test,是无线评估和制造业测试的一个工具。该工具通过解析脚本的命令，控制仪器执行对应命令而进行测试。它可以执行各种各样的传输测试，接收和连接测试，校准和制造流程中的测试等。

而所述自动控制装置的分析仪自动测试模块的软件设计可以基于LabVIEW的虚拟仪器技术对分析仪操作进行软件自动控制，构建具有频谱自动测试功能的频谱分析仪自动测试系统。运用LabVIEW的全局变量技术，实现控制参数的实时跟踪显示；运用LabVIEW的数据存储技术，实现测试原始数据文本文件和主控界面图像文件的保存。

本实施例的AP杂散自动测试系统通过生成第一控制命令以使待测试AP设备产生射频信号以及调整所述待测试AP设备产生射频信号时的运行参数，并通过生成第二控制命令使分析仪进行测试该射频信号以及调整分析仪测试所述射频信号时的参数配置，以及从所述分析仪读取测试结果并保存，实现自动化测试及保存测试结果，解决了现有技术中凭借测试人员手动操作频谱仪以及手工记录测试结果而导致的测试速度慢、效率低，而且容易造成测试误差等问题，具有提高测试效率和可靠性的有益效果。

参考图7，是本发明另一实施例中一种AP杂散自动测试系统的结构框图。与图2所示的AP杂散自动测试系统一样，本实施例的AP杂散自动测试系统包括自动控制装置11、待测试AP设备12、功率调整器和分析仪14，其中，所述自动控制装置11和待测试AP设备12相连接，用于向待测试AP设备12发送第一控制命令，使待测试AP设备12产生射频信号。所述待测试AP设备12产生的射频信号经所述功率调整器处理后发送给所述分析仪14进行分析。所述自动控制装置11还和所述分析仪14相连接，用于向所述分析仪发送第二控制命令，使分析仪进行测试，并从所述分析仪14读取测试结果。

与图3所示的AP杂散自动测试系统不同的是，本实施例的AP杂散自动测试系统的功率调整器为可调带通滤波器13’(带通滤波器是指能通过某一频率范围内的频率分量、但将其他范围的频率分量衰减到极低水平的滤波器，与带阻滤波器的概念相对。可调带通滤波器是指中心频率和带宽可调节的带通滤波器)。虽然采用功率衰减器作为功率调整器时，能够在待测试AP设备输出功率大于分析仪最大接收功率时可以很好的保护频谱仪，但是外接功率衰减器会抬高分析仪的底噪，当测试值低于分析仪的底噪时，造成测试结果不准确。而本实施例使用的可调带通滤波器13’，能够很好抑制测试频段以外频段的干扰射频信号，以免干扰信号进入分析仪影响测试结果，使得测试结果更准确。

参考图8，是本发明另一实施例中一种AP杂散自动测试系统的结构框图。与图3所示的AP杂散自动测试系统一样，本实施例的AP杂散自动测试系统包括自动控制装置11、待测试AP设备12、功率调整器13和分析仪14，其中，所述自动控制装置11和待测试AP设备12相连接，用于向待测试AP设备12发送第一控制命令，使待测试AP设备12产生射频信号。所述待测试AP设备12产生的射频信号经所述功率调整器处理后发送给所述分析仪14进行分析。所述自动控制装置11还和所述分析仪14相连接，用于向所述分析仪发送第二控制命令，使分析仪进行测试，并从所述分析仪14读取测试结果。

与图3所示的AP杂散自动测试系统不同的是，本实施例的AP杂散自动测试系统的自动控制装置11、待测试AP设备12、功率调整器13和分析仪14全部置于电磁屏蔽室100内部。该电磁屏蔽室100能够很好隔离外界电磁干扰，保证待测试AP设备和分析仪能够不受外界电磁信号干扰，确保测试结果准确、可靠。

可以理解的，本实施例的功率调整器13可为功率衰减器，也可为图6所示的调带通滤波器13’。

参考图9，是本发明实施例中一种AP杂散自动测试方法的流程图，该AP杂散自动测试方法可以适用于上述实施例的AP杂散自动测试系统中，具体包括步骤：

S101、生成第一控制命令，向待测试AP设备发送所述第一控制命令，使待测试AP设备产生射频信号；其中，所述第一控制命令带有调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；

S102、生成第二控制命令，向分析仪发送所述第二控制命令，使分析仪对所述待测试AP设备产生的所述射频信号进行测试，并从所述分析仪读取测试结果；其中，所述第二控制命令带有调整所述分析仪测试所述射频信号时的参数配置的信息。

其中，所述运行参数包括但不限于发射功率、工作模式、发射速率和工作信道。

参考图10，是本发明实施例中一种AP杂散自动测试方法的流程图，该AP杂散自动测试方法同样可以适用于上述实施例的AP杂散自动测试系统中，具体包括步骤：

S201、接收用户设置的需要测试的待测试AP设备的M个运行参数，其中，每一运行参数包括至少一个值；

S202、根据所述M个运行参数的信息依次组合生成N个第一控制命令，N＝m1*m2*…*mM，其中，m1为第一个运行参数的值的个数，m2为第二个运行参数的值的个数，……mM为第M个运行参数的值的个数；所述第一控制命令带有调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；每生成一个所述第一控制命令即向待测试AP设备发送该第一控制命令，使待测试AP设备在不同的运行参数环境下产生对应的射频信号；

S203、每生成一个所述第一控制命令，对应生成一个第二控制命令，并向分析仪发送所述第二控制命令，使分析仪对所述待测试AP设备当前产生的射频信号进行测试，并从所述分析仪读取测试结果；其中，所述第二控制命令带有调整所述分析仪测试所述射频信号时的参数配置的信息。

优选的，在所述步骤S202中，仅当完成步骤S203中的读取并存储所述分析仪测试所述待测试AP设备当前产生的射频信号的测试结果时，才促使根据所述M个运行参数的信息生成下一个第一控制命令，从而使所述待测试AP设备对应生成下一个射频信号。

其中，所述运行参数包括但不限于发射功率、工作模式、发射速率和工作信道。

综上所述，本发明公开的AP杂散自动测试系统和方法，通过生成第一控制命令以使待测试AP设备产生射频信号以及调整所述待测试AP设备产生射频信号时的运行参数，并通过生成第二控制命令使分析仪进行测试该射频信号以及调整分析仪测试所述射频信号时的参数配置，以及从所述分析仪读取测试结果并保存，实现自动化测试及保存测试结果，解决了现有技术中凭借测试人员手动操作频谱仪以及手工记录测试结果而导致的测试速度慢、效率低，而且容易造成测试误差等问题，具有提高测试效率和可靠性的有益效果。

以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种AP杂散自动测试系统，包括自动控制装置、待测试AP设备、功率调整器和分析仪，其特征在于，所述自动控制装置和待测试AP设备连接，用于向待测试AP设备发送第一控制命令，使待测试AP设备产生射频信号；所述待测试AP设备产生的射频信号经所述功率调整器处理后发送给所述分析仪；所述自动控制装置还和所述分析仪连接，用于向所述分析仪发送第二控制命令，使分析仪进行测试，并从所述分析仪读取测试结果；所述自动控制装置包括：

AP参数设置模块，用于生成所述第一控制命令，所述第一控制命令带有调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；

分析仪自动测试模块，用于生成所述第二控制命令，所述第二控制命令带有调整所述分析仪测试所述射频信号时的参数配置的信息。

2.如权利要求1所述的AP杂散自动测试系统，其特征在于，所述AP参数设置模块包括M个运行参数调整单元，每一个所述运行参数调整单元用于调整所述待测试AP设备的对应的一个运行参数的值；其中，M为大于等于1的整数；

所述第一控制命令带有根据所述M个运行参数调整单元生成的用于调整调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的包括一个或多个运行参数的值的信息。

3.如权利要求2所述的AP杂散自动测试系统，其特征在于，所述分析仪自动测试模块包括：

测试频段调整单元，用于调整所述分析仪使其工作在与所述功率调整器对应的测试频段上；

测试结果存储单元，用于实时读取并存储所述分析仪对每一个所述射频信号测试后的测试结果。

4.如权利要求3所述的AP杂散自动测试系统，其特征在于，所述AP参数设置模块还包括：

AP参数预设单元，用于供用户预先设置需要测试的所述待测试AP设备的M个运行参数，其中，每一运行参数包括至少一个值；

主控单元，用于根据所述AP参数预设单元控制所述M个运行参数调整单元工作，从而使所述待测试AP设备依次组合生成对应的N个不同的射频信号，N＝m1*m2*…*mM，其中，m1为第一个运行参数的值的个数，m2为第二个运行参数的值的个数，……mM为第M个运行参数的值的个数。

5.如权利要求4所述的AP杂散自动测试系统，其特征在于，

所述主控单元还与所述测试结果存储单元连接，仅当所述测试结果存储单元实时读取并存储所述分析仪测试所述待测试AP设备当前产生的射频信号的测试结果时，所述主控单元才对应控制M个运行参数调整单元工作，从而使所述待测试AP设备对应生成下一个射频信号。

6.如权利要求1～5中任一项所述的AP杂散自动测试系统，其特征在于，所述运行参数包括但不限于发射功率、工作模式、发射速率和工作信道。

7.如权利要求1所述的AP杂散自动测试系统，其特征在于，所述功率调整器为功率衰减器或可调带通滤波器；优选的，所述分析仪为频谱分析仪、发射机测试分析仪或信号分析仪；优选的，所述AP杂散自动测试装置还包括电磁屏蔽室，所述PC、待测试AP设备、功率调整器和分析仪均置于所述电磁屏蔽室内部。

8.一种AP杂散自动测试方法，其特征在于，包括步骤：

生成第一控制命令，向待测试AP设备发送所述第一控制命令，使待测试AP设备产生射频信号；其中，所述第一控制命令带有调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；

生成第二控制命令，向分析仪发送所述第二控制命令，使分析仪对所述待测试AP设备产生的所述射频信号进行测试，并从所述分析仪读取测试结果；其中，所述第二控制命令带有调整所述分析仪测试所述射频信号时的参数配置的信息。

9.一种AP杂散自动测试方法，其特征在于，包括步骤：

S1、接收用户设置的需要测试的待测试AP设备的M个运行参数，其中，每一运行参数包括至少一个值；

S2、根据所述M个运行参数的信息依次组合生成N个第一控制命令，N＝m1*m2*…*mM，其中，m1为第一个运行参数的值的个数，m2为第二个运行参数的值的个数，……mM为第M个运行参数的值的个数；所述第一控制命令带有调整所述待测试AP设备产生所述射频信号时的运行参数的信息；每生成一个所述第一控制命令即向待测试AP设备发送该第一控制命令，使待测试AP设备在不同的运行参数环境下产生对应的射频信号；

S3、每生成一个所述第一控制命令，对应生成一个第二控制命令，并向分析仪发送所述第二控制命令，使分析仪对所述待测试AP设备当前产生的射频信号进行测试，并从所述分析仪读取测试结果；其中，所述第二控制命令带有调整所述分析仪测试所述射频信号时的参数配置的信息。

10.如权利要求9所述的一种AP杂散自动测试方法，其特征在于，在所述步骤S2中，仅当完成步骤S3中的读取并存储所述分析仪测试所述待测试AP设备当前产生的射频信号的测试结果时，才促使根据所述M个运行参数的信息生成下一个第一控制命令，从而使所述待测试AP设备对应生成下一个射频信号。