CN104618035B - 一种检测测试仪表的系统及方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种检测测试仪表的系统和方法，包括：环境创建单元，数据处理单元，数据传输单元，数据存储单元和智能终端；所述方法包括：步骤1：环境创建单元创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；步骤2：数据处理单元接收环境创建单元传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；步骤3：数据传输单元将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端；步骤4：数据存储单元对数据处理单元转换的数据进行存储；步骤5：智能终端对数据处理单元转换的数据进行分析。解决了现有技术无法实现的对测试仪表的批量测试、省时省力、进而提高工作效率、减少测试环境来回切换所消耗的时间以及对测试仪表相关性能进行检测的技术问题。

Description

一种检测测试仪表的系统及方法

技术领域

本发明涉及通信测试领域，具体的说，是涉及一种检测测试仪表的系统及方法。

背景技术

目前，伴随着通信网络技术日新月异的发展，为了检查数据传输在程序执行过程中是否完整和正确，各类数据传输测量仪器应运而生，以光测试仪器为例，一般而言，需要具备以下要求，第一，灵敏度高，即表示测试器把光功率转变为电流的效率高；第二，响应速度快，即指射入光信号后，马上就有电信号输出；光信号一停，电信号也停止输出，不要延迟。这样才能重现入射信号；第三，噪声小，即为了提高光纤传输系统的性能，要求系统的各个组成部分的噪声要求足够小；第四，稳定可靠，即要求测试器的主要性能尽可能不受或者少受外界温度变化和环境变化的影响，以提高系统的稳定性和可靠性。

以网络测试仪为例，随着网络的普及化和复杂化，网络的合理架设和正常运行变得异常重要，而保障网络的正常运行必须要从两个方面着手。其一，网络施工质量直接影响网络的后续使用，所以施工质量不容忽视，必须严格要求，认证检查，防患于未然。其二，网络故障的排查至关重要，直接影响网络的运行效率，必须追求高效率、短时间。因此网络检测辅助设备在网络施工和网络维护工作中变得越来越重要。而测试仪表的使用可以极大地降低网络管理员排查网络故障的时间，可以提供综合布线施工人员的工作效率，加速工程进度和工程质量，是网络检测和网络施工过程中必不可少的工具。

然而，在各种测试仪表出厂时，对测试仪表的检测和校准非常耗时耗力，现有技术中对于测试仪表的检测，主要是通过工作人员对测试仪表进行测试前的校准和各种选件的测试以及进行各种环境的测试，最后进行查看报告以及相关性能检测，其工作内容复杂，大多数时间还需要手动进行校准，以及各种选件进行手动测试，耗时耗力，严重影响工作人员的工作效率。

因此，如何研发一种检测测试仪表的系统及方法，解决上述问题，便成为亟待解决的技术问题。

发明内容

本申请解决的主要问题是提供一种检测测试仪表的系统及方法，以解决无法实现的对测试仪表的批量测试、省时省力、进而提高工作效率、减少测试环境来回切换所消耗的时间以及对测试仪表相关性能进行检测的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明公开了一种检测测试仪表的系统，包括：环境创建单元，数据处理单元，数据传输单元，数据存储单元和智能终端，其中，

所述环境创建单元，用于创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；

所述数据处理单元，用于接收所述环境创建单元传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；

所述数据传输单元，用于将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端；

所述数据存储单元，用于对数据处理单元转换的数据进行存储；

所述智能终端，用于对数据处理单元转换的数据进行分析。

进一步地，其中，所述测试仪表为光测试仪表，所述光测试仪表的环境创建单元，进一步包括：跳线模块、短光纤模块和长光纤模块，其中，

所述跳线模块，用于检测光测试仪表是否进行了锯齿波以及初始长度的校准；

所述短光纤模块，用于检测光测试仪表的短光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的事件盲区和衰减盲区；

所述长光纤模块，用于检测光测试仪表的长光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的动态范围。

进一步地，其中，所述测试仪表为IP RAN/PTN测试仪表，所述IP RAN/PTN测试仪表的环境创建单元，进一步包括：校准模块、RFC2544模块、帧分析模块、误码模块和环回检测模块，其中，

校准模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否进行了初始化环境的校准；

所述RFC2544模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否支持吞吐量、帧丢失率、时延或背靠背的性能测试；

所述帧分析模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表的成帧和非成帧信号是否能够发生和接收；

所述误码模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否可以进行比特误码、编码误码、帧误码、CRC误码、E比特误码的性能测试；

所述环回检测模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否可自动远端发现，是否可以同时独立测试上行和下行双向链路。

进一步地，其中，所述测试仪表为同步测试仪表，所述同步测试仪表的环境创建单元，进一步包括：校准模块、授时GPS模块、同步精度模块和光补偿模块，其中，

所述校准模块，用于检测同步测试仪表是否进行了初始化环境的校准；

所述授时GPS模块，用于检测所述同步测试仪表是否可以复现UTC时间及产生的时钟，并判断是否可以5分钟内锁定GPS时间信号；

所述同步精度模块，用于检测所述同步测试仪表的时间同步精度和/或者时钟同步精度；

所述光补偿模块，用于检测所述同步测试仪表是否能统计分析随机变化的时差信号，以实现光路非对称补偿的测试。

进一步地，其中，

所述数据处理单元，进一步为：单片机、CPU中央处理器或微处理器；

所述数据存储单元，进一步为：硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘；

所述智能终端，进一步包括：移动终端和/或者非移动终端。

进一步地，其中

步骤1：环境创建单元创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；

步骤2：数据处理单元接收所述环境创建单元传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；

步骤3：所述数据传输单元将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端；

步骤4：所述数据存储单元对所述数据处理单元转换的数据进行存储；

步骤5：智能终端对所述数据处理单元转换的数据进行分析。

进一步地，其中，所述步骤1还包括：

步骤1.1：跳线模块检测光测试仪表是否进行了锯齿波以及初始长度的校准；

步骤1.2：短光纤模块检测光测试仪表的短光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的事件盲区和衰减盲区；

步骤1.3：长光纤模块检测光测试仪表的长光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的动态范围。

进一步地，其中，所述步骤1还包括：

步骤101：校准模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否进行了初始化环境的校准；

步骤102：RFC2544模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否支持吞吐量、帧丢失率、时延或背靠背的性能测试；

步骤103：帧分析模块检测IP RAN/PTN测试仪表的成帧和非成帧信号是否能够发生和接收；

步骤104：误码模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否可以进行比特误码、编码误码、帧误码、CRC误码、E比特误码的性能测试；

步骤105：环回检测模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否可自动远端发现，是否可以同时独立测试上行和下行双向链路。

进一步地，其中，所述步骤1还包括：

步骤111：校准模块检测同步测试仪表是否进行了初始化环境的校准；

步骤112：授时GPS模块检测所述同步测试仪表是否可以复现UTC时间及产生的时钟，并是否能5分钟内锁定GPS时间信号；

步骤113：同步精度模块检测所述同步测试仪表的时间同步精度和/或者时钟同步精度；

步骤114：光补偿模块检测所述同步测试仪表是否能统计分析随机变化的时差信号，判断同步测试仪表是否实现光路非对称补偿的测试。

进一步地，其中，

所述数据处理单元，进一步为：单片机、CPU中央处理器或微处理器；

所述数据存储单元，进一步为：硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘；

所述智能终端，进一步包括：移动终端和/或者非移动终端。

与现有技术相比，本申请所述的一种检测测试仪表的系统及方法，达到了如下效果：

(1)本发明所述的检测测试仪表的系统，包括：环境创建单元，数据处理单元，数据传输单元，数据存储单元和智能终端，根据不同的测试仪表，创建不同的环境创建单元，以实现对测试仪表的批量测试、省时省力、进而提高工作效率。

(2)本发明所述的检测测试仪表的系统，所述环境创建单元，可以包括跳线模块、短光纤模块和长光纤模块，用以检测光测试仪表；所述环境创建单元，还可以包括校准模块、RFC2544模块、帧分析模块、误码模块和环回检测模块，用以检测IP RAN/PTN测试仪表；也可以包括校准模块、授时GPS模块、同步精度模块和光补偿模块，用以检测同步测试仪表；

(3)本发明所述的检测测试仪表的方法，其检测方法简单，可以减少测试环境来回切换所消耗的时间，还可以对测试仪表相关性能进行检测。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是本发明的检测测试仪表的系统的整体结构示意图；

图2是图1所示测试仪表的第一实施例结构示意图；

图3是图1所示测试仪表的第二实施例结构示意图；

图4是图1所示测试仪表的第三实施例结构示意图；

图5是是本发明的无线测试仪表的测试方法流程图。

具体实施方式

如在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”。“大致”是指在可接收的误差范围内，本领域技术人员能够在一定误差范围内解决所述技术问题，基本达到所述技术效果。此外，“耦接”一词在此包含任何直接及间接的电性耦接手段。因此，若文中描述一第一装置耦接于一第二装置，则代表所述第一装置可直接电性耦接于所述第二装置，或通过其他装置或耦接手段间接地电性耦接至所述第二装置。说明书后续描述为实施本申请的较佳实施方式，然所述描述乃以说明本申请的一般原则为目的，并非用以限定本申请的范围。本申请的保护范围当视所附权利要求所界定者为准。

以下结合附图对本申请作进一步详细说明，但不作为对本申请的限定。

实施例1

如图1所示，为本发明所述的一种检测测试仪表的系统，包括：环境创建单元101，数据处理单元102，数据传输单元103，数据存储单元104和智能终端105，其中，

所述环境创建单元101，用于创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；

所述数据处理单元102，用于接收所述环境创建单元101传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；

所述数据传输单元103，用于将数据处理单元102转换的数据传输至数据存储单元104和智能终端105；

所述数据存储单元104，用于对数据处理单元102转换的数据进行存储；

所述智能终端105，用于对数据处理单元102转换的数据进行分析。

优选地，如图2所示，所述测试仪表为光测试仪表，所述光测试仪表进一步为基于ODTR(Optical Time Domain Reflectometer，光时域反射)的光测试仪表，所述光测试仪表的环境创建单元101，进一步包括：跳线模块1011、短光纤模块1012和长光纤模块1013，其中，

跳线模块1011，用于检测光测试仪表是否进行了锯齿波以及初始长度的校准；所述跳线一般为10米跳线，跳线的作用是调整设备上不同电信号的通断关系，并以此调节设备的工作状态，如确定主板电压、驱动器的主从关系。所述跳线模块主要用于对跳线的检测，进而检测光测试仪表是否进行了锯齿波以及初始长度的校准。

短光纤模块1012，用于检测光测试仪表的短光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的事件盲区和衰减盲区；所述短光纤可以为2.5公里的短光纤。

长光纤模块1013，用于检测光测试仪表的长光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的动态范围；所述长光纤可以为80公里的长光纤。

所述数据处理单元102，进一步为：单片机、CPU中央处理器或微处理器；当然，还可以为其他处理器。

所述数据存储单元104，进一步为：硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘；当然，还可以为其他处理器。

所述智能终端105，进一步包括：移动终端和/或者非移动终端；所述移动终端进一步为手机、笔记本电脑和平板电脑，所述非移动终端进一步为PC机。

实施例2

如图1所示，为本发明所述的另一种检测测试仪表的系统，包括：环境创建单元101，数据处理单元102，数据传输单元103，数据存储单元104和智能终端105，其中，

所述环境创建单元101，用于创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；

所述数据处理单元102，用于接收所述环境创建单元101传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；

所述数据传输单元103，用于将数据处理单元102转换的数据传输至数据存储单元104和智能终端105；

所述数据存储单元104，用于对数据处理单元102转换的数据进行存储；

所述智能终端105，用于对数据处理单元102转换的数据进行分析。

优选地，如图2所示，所述测试仪表为IP RAN/PTN测试仪表，该测试仪表采用T-MPLS或MSTP-TP标准，适合二层分组业务占主导阶段的业务传送，可很好地满足整个3G生命周期的移动回传，具有L3功能的PTN设备可解决LTE时期的移动回传。

IP RAN采用IP/MPLS标准，具有更多的动态路由功能，适合L3业务占较大比重时的业务承载，不仅可满足3G、LTE时期的移动回传，而且可以实现全业务接入。

测试单元接入到网络中，模拟网络中的一个节点，按照IP RAN/PTN的协议标准，发送相关报文，接收网络中的报文，并能主动发送修改测试报文，以此来对网络的OAM，保护恢复，QoS等测试。

所述IP RAN/PTN测试仪表的环境创建单元101，进一步包括：校准模块1021、RFC2544模块1022、帧分析模块1023、误码模块1024和环回检测模块1025，其中，

所述校准模块1021，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否进行了初始化环境的校准；

所述RFC2544模块1022，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否支持吞吐量、帧丢失率、时延或背靠背的性能测试；所述RFC2544具体为RFC2544性能测试，由RFC定义的一组测试，是网络互联设备的定标方法，主要定义了四个测试，吞吐量，延迟，帧丢失率，背靠背。

所述吞吐量指的是在被测设备在不丢包的情况下，所能转发的最大数据流量，通常使用每秒钟通过的最大的数据包数或者字节数来衡量(MB/s)；其作用是反映被测试设备所能够处理(不丢失数据包)的最大的数据流量。

所述帧丢失率，指的是在一定的负载下，由于缺乏资源而未能被转发的包占应该转发的包数的百分比，其作用是反映被测设备承受特定负载的能力。

所述延时，指的是发送一定数量的数据包，记录中间数据包发出的时间T1，以及经由测试设备转发后到达接收端口的时间T₂，然后按照下面的公式计算：对于存储/位转发设备：Latency＝T₂-T₁，其中，T₂：输出帧的第一位到达输出端口的时间；T₁：输入帧的最后一位到达输入端口的时间；其作用是反映被测设备处理数据包的速度。

所述背靠背，指的是以所能够产生的最大的速率，发送一定长度的数据包，并不断改变一次发送的数据包数目，直到被测设备能够完全转发所有发送的数据包，这个包数就是此设备的背对背值；其作用是反映被测设备处理突发数据的能力(数据缓存能力)。

所述帧分析模块1023，IP RAN/PTN测试仪表的成帧和非成帧信号是否能够发生和接收；成帧技术是一种用来在一个比特流内分配或标记信道的技术，为电信提供选择基本的时隙结构和管理方式、错误隔离和分段传输协议的手段。两个计算机或设备之间的点到点的连接中包括一根电线,在这根电线中数据作为位流传输。但是，这些位必须被分成可辨别的信息块。分帧是数据链路层的功能。它使发送器接收器传输一组对有含义的位。以太网、令牌环网、帧中继以及其他数据链路层技术都有它们自己的帧结构。

所述误码模块1024，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否可以进行比特误码、编码误码、帧误码、CRC误码、E比特误码的性能测试；误码的产生是由于在信号传输中，衰变改变了信号的电压，致使信号在传输中遭到破坏，产生误码。噪音、交流电或闪电造成的脉冲、传输设备故障及其他因素都会导致误码(比如传送的信号是1，而接收到的是0；反之亦然)。数字信号在传输过程中不可避免地会产生差错。例如在传输过程中受到外界的干扰，或在通信系统内部由于各个组成部分的质量不够理想而使传送的信号发生畸变等。当受到的干扰或信号畸变达到一定程度时，就会产生差错。

环回检测模块1025，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否可自动远端发现，是否可以同时独立测试上行和下行双向链路。所述环回测试就是通过将被测设备或线路的收发端进行短接，让被测的设备接收自己发出的信号来判断线路或端口是否存在断点。也可以在被环回的线路上来测试被环回一段线路的传输质量。

当通过故障现象可以初步判断是线路问题时，通常从一端设备开始，从最近的结点向此设备环回，逐步扩展到再远一级的结点、更远一级的结点，用多次不同的结点向同一个设备环回，以判断到底是哪两个结点之间存在问题，本发明所述的环回检测模块，主要是用于判断出同时独立测试上行和下行双向链路。

所述数据处理单元102，进一步为：单片机、CPU中央处理器或微处理器；当然，还可以为其他处理器。

所述数据存储单元104，进一步为：硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘；当然，还可以为其他处理器。

所述智能终端105，进一步包括：移动终端和/或者非移动终端；所述移动终端进一步为手机、笔记本电脑和平板电脑，所述非移动终端进一步为PC机。

实施例3

如图1所示，为本发明所述的另一种检测测试仪表的系统，包括：环境创建单元，数据处理单元，数据传输单元，数据存储单元和智能终端，其中，

所述环境创建单元101，用于创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；

所述数据处理单元102，用于接收所述环境创建单元101传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；

所述数据传输单元103，用于将数据处理单元102转换的数据传输至数据存储单元和智能终端；

所述数据存储单元104，用于对数据处理单元102转换的数据进行存储；

所述智能终端105，用于对数据处理单元102转换的数据进行分析。

优选地，如图4所示，所述测试仪表为同步测试仪表，所述同步测试仪表的环境创建单元101，进一步包括：校准模块1031、授时GPS模块1032、同步精度模块1033和光补偿模块1034，其中，

所述校准模块1031，用于检测同步测试仪表是否进行了初始化环境的校准；

所述授时GPS模块1032，用于检测所述同步测试仪表是否可以复现UTC时间及产生的时钟，并判断是否可以5分钟内锁定GPS时间信号；GPS时钟是一种接受GPS卫星发射的低功率无线电信号，通过计算得出GPS时间的接受装置。为获得准确的GPS时间，GPS时钟必须先接受到至少4颗GPS卫星的信号，计算出自己所在的三维位置。在已经得出具体位置后，GPS时钟只要接受到1颗GPS卫星信号就能保证时钟的走时准确性。

GPS授时系统是针对自动化系统中的计算机、控制装置等进行校时的高科技产品，GPS授时产品它从GPS卫星上获取标准的时间信号，将这些信息通过各种接口类型来传输给自动化系统中需要时间信息的设备(计算机、保护装置、故障录波器、事件顺序记录装置、安全自动装置、远动RTU)，这样就可以达到整个系统的时间同步。

所述同步精度模块1033，用于检测所述同步测试仪表的时间同步精度和/或者时钟同步精度；所述时间同步和/或者时钟同步，均叫作“对钟”。要把分布在各地的时钟对准(同步起来)，最直观的方法就是搬钟，可用一个标准钟作搬钟，使各地的钟均与标准钟对准。或者使搬钟首先与系统的标准时钟对准，然后使系统中的其他时针与搬钟比对，实现系统其他时钟与系统统一标准时钟同步。

所述光补偿模块1034，用于检测所述同步测试仪表是否能统计分析随机变化的时差信号，以实现光路非对称补偿的测试，可以为用户制定补偿策略提供可靠依据。

所述数据处理单元102，进一步为：单片机、CPU中央处理器或微处理器；当然，还可以为其他处理器。

所述数据存储单元104，进一步为：硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘；当然，还可以为其他处理器。

所述智能终端105，进一步包括：移动终端和/或者非移动终端；所述移动终端进一步为手机、笔记本电脑和平板电脑，所述非移动终端进一步为PC机。

实施例4

如图5所示，为本发明所述的一种检测测试仪表的方法，包括以下步骤：

步骤1：环境创建单元创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；

步骤2：数据处理单元接收所述环境创建单元传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；

步骤3：所述数据传输单元将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端；

步骤4：所述数据存储单元对数据处理单元转换的数据进行存储；

步骤5：智能终端对数据处理单元转换的数据进行分析。

优选地，所述步骤1还包括：

步骤1.1：跳线模块检测光测试仪表是否进行了锯齿波以及初始长度的校准；

步骤1.2：短光纤模块检测光测试仪表的短光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的事件盲区和衰减盲区；

步骤1.3：长光纤模块检测光测试仪表的长光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的动态范围。

具体操作时，可以将多个光测试仪表放在传送带的一端，针对第一个光测试仪表，开启环境创建单元，首先对第一个光测试仪表依次进行跳线环境、短光纤环境以及长光纤环境的检测，并将检测结果发送至数据处理单元，所述数据处理单元将该检测结果转换为数据，且由所述数据传输单元将该数据传输至数据存储单元和智能终端，进而智能终端对所述数据进行分析，判断该所述光测试仪表的各项指标是否合格，是否可以正常使用；当检测结束后，将该第一个光测试仪表传送至传送带的另一端，进而进行第二个光测试仪表的检测。

本发明还提供了另一种检测测试仪表的方法，包括以下步骤：

步骤1：环境创建单元创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；

步骤2：数据处理单元接收所述环境创建单元传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；

步骤3：所述数据传输单元将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端；

步骤4：所述数据存储单元对数据处理单元转换的数据进行存储；

步骤5：智能终端对数据处理单元转换的数据进行分析。

优选地，所述步骤1还包括：

步骤101：校准模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否进行了初始化环境的校准；

步骤102：RFC2544模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否支持吞吐量、帧丢失率、时延或背靠背的性能测试；

步骤103：帧分析模块检测IP RAN/PTN测试仪表的成帧和非成帧信号是否能够发生和接收；

步骤104：误码模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否可以进行比特误码、编码误码、帧误码、CRC误码、E比特误码的性能测试；

步骤105：环回检测模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否可自动远端发现，是否可以同时独立测试上行和下行双向链路。

具体操作时，可以将多个IP RAN/PTN测试仪表放在传送带的一端，针对第一个IPRAN/PTN测试仪表，开启环境创建单元，首先对第一个IP RAN/PTN测试仪表依次进行校准模块、RFC2544模块、帧分析模块、误码模块和环回检测模块的检测，并将检测结果发送至数据处理单元，所述数据处理单元将该检测结果转换为数据，且由所述数据传输单元将该数据传输至数据存储单元和智能终端，进而智能终端对所述数据进行分析，判断该所述IP RAN/PTN测试仪表的各项指标是否合格，是否可以正常使用；当检测结束后，将该第一个IP RAN/PTN测试仪表传送至传送带的另一端，进而进行第二个IP RAN/PTN测试仪表的检测。

本发明又提供了另外一种检测测试仪表的方法，包括以下步骤：

步骤1：环境创建单元创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；

步骤2：数据处理单元接收所述环境创建单元传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；

步骤3：所述数据传输单元将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端；

步骤4：所述数据存储单元对数据处理单元转换的数据进行存储；

步骤5：智能终端对数据处理单元转换的数据进行分析。

优选地，所述步骤1还包括：

步骤111：校准模块检测同步测试仪表是否进行了初始化环境的校准；

步骤112：授时GPS模块检测所述同步测试仪表是否可以复现UTC时间及产生的时钟，并是否能5分钟内锁定GPS时间信号；

步骤113：同步精度模块检测所述同步测试仪表的时间同步精度和/或者时钟同步精度；

步骤114：光补偿模块检测所述同步测试仪表是否能统计分析随机变化的时差信号，判断同步测试仪表是否实现光路非对称补偿的测试。

具体操作时，可以将多个同步测试仪表放在传送带的一端，针对第一个同步测试仪表，开启环境创建单元，首先对第一个同步测试仪表依次进行校准模块、授时GPS模块、同步精度模块和光补偿模块的检测，并将检测结果发送至数据处理单元，所述数据处理单元将该检测结果转换为数据，且由所述数据传输单元将该数据传输至数据存储单元和智能终端，进而智能终端对所述数据进行分析，判断该所述同步测试仪表的各项指标是否合格，是否可以正常使用；当检测结束后，将该第一个同步测试仪表传送至传送带的另一端，进而进行第二个同步测试仪表的检测。

当然本发明所述的检测测试仪表的方法，不限于以上三种，还可以其它的测试仪表，根据具体仪表的性参，创建相配合的环境创建单元，对仪表完成测试。

与现有技术相比，本申请所述的一种检测测试仪表的系统及方法，达到了如下效果：

(1)本发明所述的检测测试仪表的系统，包括：环境创建单元，数据处理单元，数据传输单元，数据存储单元和智能终端，根据不同的测试仪表，创建不同的环境创建单元，以实现对测试仪表的批量测试、省时省力、进而提高工作效率。

(2)本发明所述的检测测试仪表的系统，所述环境创建单元，可以包括跳线模块、短光纤模块和长光纤模块，用以检测光测试仪表；所述环境创建单元，还可以包括校准模块、RFC2544模块、帧分析模块、误码模块和环回检测模块，用以检测IP RAN/PTN测试仪表；也可以包括校准模块、授时GPS模块、同步精度模块和光补偿模块，用以检测同步测试仪表；

(3)本发明所述的检测测试仪表的方法，其检测方法简单，可以减少测试环境来回切换所消耗的时间，还可以对测试仪表相关性能进行检测。

由于方法部分已经对本申请实施例进行了详细描述，这里对实施例中涉及的系统与方法对应部分的展开描述省略，不再赘述。对于系统中具体内容的描述可参考方法实施例的内容，这里不再具体限定。

上述说明示出并描述了本申请的若干优选实施例，但如前所述，应当理解本申请并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述申请构想范围内，通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本申请的精神和范围，则都应在本申请所附权利要求的保护范围内。

Claims (8)

1.一种检测测试仪表的系统，其特征在于，包括：环境创建单元，数据处理单元，数据传输单元，数据存储单元和智能终端，其中，

所述环境创建单元，用于创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；

所述数据处理单元，用于接收所述环境创建单元传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；

所述数据传输单元，用于将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端；

所述数据存储单元，用于对数据处理单元转换的数据进行存储；

所述智能终端，用于对数据处理单元转换的数据进行分析；

所述测试仪表为光测试仪表，所述光测试仪表的环境创建单元，进一步包括：跳线模块、短光纤模块和长光纤模块，其中，

所述跳线模块，用于检测光测试仪表是否进行了锯齿波以及初始长度的校准；

所述短光纤模块，用于检测光测试仪表的短光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的事件盲区和衰减盲区；

所述长光纤模块，用于检测光测试仪表的长光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的动态范围。

2.根据权利要求1所述的检测测试仪表的系统，其特征在于，所述测试仪表为IP RAN/PTN测试仪表，所述IP RAN/PTN测试仪表的环境创建单元，进一步包括：校准模块、RFC2544模块、帧分析模块、误码模块和环回检测模块，其中，

校准模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否进行了初始化环境的校准；

所述RFC2544模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否支持吞吐量、帧丢失率、时延或背靠背的性能测试；

所述帧分析模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表的成帧和非成帧信号是否能够发生和接收；

所述误码模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否可以进行比特误码、编码误码、帧误码、CRC误码、E比特误码的性能测试；

所述环回检测模块，用于检测IP RAN/PTN测试仪表是否可自动远端发现，是否可以同时独立测试上行和下行双向链路。

3.根据权利要求1所述的检测测试仪表的系统，其特征在于，所述测试仪表为同步测试仪表，所述同步测试仪表的环境创建单元，进一步包括：校准模块、授时GPS模块、同步精度模块和光补偿模块，其中，

所述校准模块，用于检测同步测试仪表是否进行了初始化环境的校准；

所述授时GPS模块，用于检测所述同步测试仪表是否可以复现UTC时间及产生的时钟，并判断是否可以5分钟内锁定GPS时间信号；

所述同步精度模块，用于检测所述同步测试仪表的时间同步精度和/或者时钟同步精度；

所述光补偿模块，用于检测所述同步测试仪表是否能统计分析随机变化的时差信号，以实现光路非对称补偿的测试。

4.根据权利要求1所述的检测测试仪表的系统，其特征在于，

所述数据处理单元，进一步为：单片机、CPU中央处理器或微处理器；

所述数据存储单元，进一步为：硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘；

所述智能终端，进一步包括：移动终端和/或者非移动终端。

5.一种检测测试仪表的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：环境创建单元创建不同的测试环境，并且对测试仪表进行检测；

步骤2：数据处理单元接收所述环境创建单元传来的检测结果，并将该检测结果转换为数据；

步骤3：数据传输单元将数据处理单元转换的数据传输至数据存储单元和智能终端；

步骤4：所述数据存储单元对所述数据处理单元转换的数据进行存储；

步骤5：智能终端对所述数据处理单元转换的数据进行分析；

所述步骤1还包括：

步骤1.1：跳线模块检测光测试仪表是否进行了锯齿波以及初始长度的校准；

步骤1.2：短光纤模块检测光测试仪表的短光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的事件盲区和衰减盲区；

步骤1.3：长光纤模块检测光测试仪表的长光纤链路是否正确，以及检测光测试仪表的动态范围。

6.根据权利要求5所述的检测测试仪表的方法，其特征在于，所述步骤1还包括：

步骤101：校准模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否进行了初始化环境的校准；

步骤102：RFC2544模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否支持吞吐量、帧丢失率、时延或背靠背的性能测试；

步骤103：帧分析模块检测IP RAN/PTN测试仪表的成帧和非成帧信号是否能够发生和接收；

步骤104：误码模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否可以进行比特误码、编码误码、帧误码、CRC误码、E比特误码的性能测试；

步骤105：环回检测模块检测IP RAN/PTN测试仪表是否可自动远端发现，是否可以同时独立测试上行和下行双向链路。

7.根据权利要求5所述的检测测试仪表的方法，其特征在于，所述步骤1还包括：

步骤111：校准模块检测同步测试仪表是否进行了初始化环境的校准；

步骤112：授时GPS模块检测所述同步测试仪表是否可以复现UTC时间及产生的时钟，并是否能5分钟内锁定GPS时间信号；

步骤113：同步精度模块检测所述同步测试仪表的时间同步精度和/或者时钟同步精度；

步骤114：光补偿模块检测所述同步测试仪表是否能统计分析随机变化的时差信号，判断同步测试仪表是否实现光路非对称补偿的测试。

8.根据权利要求5所述的检测测试仪表的方法，其特征在于，

所述数据处理单元，进一步为：单片机、CPU中央处理器或微处理器；

所述数据存储单元，进一步为：硬盘、ROM存储器、RAM存储器或光盘；

所述智能终端，进一步包括：移动终端和/或者非移动终端。