CN104598408B - 一种一次性可编程只读存储器数据烧录方法 - Google Patents
一种一次性可编程只读存储器数据烧录方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种一次性可编程只读存储器数据烧录方法，包括烧录工具获取编程数据；当被烧录芯片中的RAM和烧录接口之间初始化完成，编程数据传输通道准备就绪时，烧录工具向RAM发送编程数据；判断编程数据是否正确写入RAM，如果是，则再将编程数据从RAM中写入OTP ROM中；否则，结束本次OTP ROM的数据烧录。本发明提供的数据烧录方法，将编程数据先写入到RAM中并对写到RAM中的编程数据进行校验，当校验得到编程数据写入正确时再将编程数据写入OTP ROM中，另外，本发明把编程数据单方向的从烧录工具搬移到被烧录芯片中，并直接利用校验码进行校验，不提供编程数据回读的功能，保证了被烧录芯片的编程数据不被泄露，极大地提高了烧录的准确性和安全性。
Description
技术领域
本发明涉及数据烧录技术领域，特别是涉及一种一次性可编程只读存储器数据烧录方法。
背景技术
目前家电和消费类电子使用的控制芯片，例如触摸芯片、语音芯片以及主控MCU(Micro Control Uni t，微控制单元)芯片等，大多采用OTP(One Time Programmable，一次性可编程)烧录方式；芯片出厂时，芯片公司需要将确认好的数据或参数处理和编程后，通过烧录工具烧入被烧录芯片的一次性可编程只读存储器OTP ROM(Read-Only Memory，可读存储器)中，但现有技术中的烧录方法存在这样的问题：
烧录工具通过被烧录芯片的烧录接口直接将编程数据写入被烧录芯片的OTP ROM中，但这种方法容易受外界因素的干扰导致编程数据发生错误，这里的外界因素包括：烧录接口物理连接异常或被干扰、烧录装置工作电压异常、人工操作不规范等，而OTP ROM是一次性可编程，程序烧入OTP ROM后，将不可再次更改，导致被烧录芯片的OTP ROM资源因此被减损或破坏甚至废弃不能再使用。
另外，大多数烧录工具为了确保烧录的编程数据准确，在物理烧录动作完成后通过烧录接口从OTP ROM中读出编程数据后校验数据是否正确，这种方法不仅会造成编程数据在多个搬移环节中发生读写错误，而且很容易造成已出厂的被烧录芯片被非法读出编程数据而泄露关键性数据或参数。
因此，如何提供一种能够提高芯片OTP ROM烧录的准确性和已烧录测试合格芯片编程数据的安全性的OTP ROM烧录方法是本领域技术人员目前需要解决的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种OTP ROM数据烧录方法，极大地提高了烧录的准确性和已烧录测试合格芯片编程数据的安全性。
为解决上述技术问题，本发明提供了一种OTP ROM数据烧录方法，包括：
步骤A：烧录工具获取编程数据；
步骤B：当被烧录芯片中的RAM和烧录接口之间初始化完成，编程数据传输通道准备就绪时，所述烧录工具向所述RAM发送所述编程数据；
步骤C：判断所述编程数据是否正确写入所述RAM，如果是，进入步骤D；否则，结束本次一次性可编程只读存储器OTP ROM的数据烧录；
步骤D：将所述编程数据从所述RAM中写入OTP ROM中。
优选地，步骤A具体为：
所述烧录工具通过电脑端在线下载更新来获取编程数据。
优选地，步骤A和步骤B之间还包括：
所述烧录工具向所述被烧录芯片中的OTP控制单元发送命令以及所述RAM中的地址和长度参数；
所述OTP控制单元对所述命令、地址和长度参数进行解析；
所述OTP控制单元依据解析后的命令、地址和长度参数对RAM与烧录接口之间进行数据交换准备。
优选地，步骤D还包括：
判断所述OTP ROM中的编程数据是否与所述RAM中的编程数据相同。
优选地，步骤A之前还包括：
给所述烧录工具上电。
优选地，步骤A与所述给所述烧录工具上电后之间还包括：
初始化所述烧录工具与所述被烧录芯片的烧录接口。
优选地，步骤A与所述初始化所述烧录工具与所述被烧录芯片的烧录接口之间还包括：
检测所述烧录工具和被烧录芯片的烧录环境是否准备完毕。
优选地，所述检测所述烧录环境是否准备完毕具体包括：
所述烧录工具提供给所述被烧录芯片的烧录电压是否在正常范围内；
所述被烧录芯片是否准备就绪；
所述被烧录芯片中的OTP ROM的空间是否足够。
优选地，步骤B中所述烧录工具向所述RAM发送所述编程数据具体为：
所述烧录工具向多个所述RAM发送所述编程数据。
优选地，所述烧录工具向多个所述RAM发送所述编程数据具体为：
当所述多个RAM中的有一个RAM进行将所述编程数据从所述RAM中写入OTP ROM中时，所述烧录工具向剩余其他所述RAM发送所述编程数据。
本发明提供的一种OTP ROM数据烧录方法，不同于现有技术中将编程数据直接通过编程接口写入OTP ROM中以及从OTP ROM进行编程数据回读，本发明提供的OTP ROM数据烧录方法是将编程数据先写入到RAM中并对写到RAM中的编程数据进行校验，当校验得到编程数据写入正确时再将编程数据写入OTPROM中，另外，本发明是把编程数据单方向的从烧录工具搬移到被烧录芯片中，并直接利用校验码进行校验，不提供编程数据回读的功能，保证了被烧录芯片的编程数据不被泄露，因此，本发明提供的一种OTP ROM数据烧录方法，极大地提高了烧录的准确性和已烧录测试合格芯片编程数据的安全性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的一种OTP ROM数据烧录方法的过程流程图；
图2为本发明提供的另一种OTP ROM数据烧录方法的过程流程图；
图3为本发明提供的一种数据烧录系统的结构示意图。
具体实施方式
本发明的核心是提供一种OTP ROM数据烧录方法，极大地提高了烧录的准确性和已烧录测试合格芯片编程数据的安全性。
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一
请参照图1，图1为本发明提供的一种OTP ROM数据烧录方法的过程流程图，该方法包括：
步骤s101：烧录工具获取编程数据；
烧录工具可以通过电脑端的软件对编程数据进行在线下载，但也并不仅限于这种方式获取编程数据，本发明在此不做特别的限定。
步骤s102：当被烧录芯片中的RAM和烧录接口之间初始化完成，编程数据传输通道准备就绪时，烧录工具向RAM发送编程数据；
在烧录工具获取得到编程数据后，被烧录芯片中的随机存取存储器RAM与烧录接口之间进行数据交换准备，当准备完毕时，烧录工具才将编程数据通过烧录接口发送至RAM。
步骤s103：判断编程数据是否正确写入RAM，如果是，进入步骤s104；否则，进入步骤s105；
步骤s104：将编程数据从RAM中写入一次性可编程只读存储器OTP ROM中；
步骤s105：结束本次OTP ROM的数据烧录。
烧录工具通过发送校验码来判断编程数据是否正确写入RAM，如果编程数据被正确写入RAM中，则再将编程数据从RAM中写入一次性可编程只读存储器OTP ROM(One TimeProgrammable Read-Only Memory)中，否则，结束本次OTP ROM的数据烧录。
本发明提供的一种OTP ROM数据烧录方法，不同于现有技术中将编程数据直接通过编程接口写入OTP ROM中以及从OTP ROM进行编程数据回读，本发明提供的OTP ROM数据烧录方法是将编程数据先写入到RAM中并对写到RAM中的编程数据进行校验，当校验得到编程数据写入正确时再将编程数据写入OTP ROM中，另外，本发明是把编程数据单方向的从烧录工具搬移到被烧录芯片中，并直接利用校验码进行校验，不提供编程数据回读的功能，保证了被烧录芯片的编程数据不被泄露，因此，本发明提供的一种OTP ROM数据烧录方法，极大地提高了烧录的准确性和已烧录测试合格芯片编程数据的安全性。
实施例二
请参照图2，图2为本发明提供的另一种OTP ROM数据烧录方法的过程流程图，在实施例一的基础上，该方法具体包括：
步骤s201：给烧录工具上电；
这里的烧录工具可以为OTP ROM编程器，当然，本发明的烧录工具也并不仅限于OTP ROM编程器，能实现本发明目的的不同的烧录工具均在本发明的保护范围之内。
步骤s202：初始化烧录工具与被烧录芯片的烧录接口；
在编程数据烧录前首先需要给烧录工具上电，上电后的烧录工具初始化烧录工具与被烧录芯片的烧录接口，比如设置烧录接口是采用串行还是并行进行信息或数据通讯。
步骤s203：判断烧录工具和被烧录芯片的烧录环境是否准备完毕，如果是，进入步骤s204；否则，进入步骤s211；
烧录工具在进行完初始化烧录工具与被烧录芯片的烧录接口后，还需要检测判断烧录工具和被烧录芯片的烧录环境是否准备完毕。
优选地，检测烧录环境是否准备完毕具体包括：
烧录工具提供给被烧录芯片的烧录电压是否在正常范围内；
被烧录芯片是否准备就绪；
被烧录芯片中的OTP ROM的空间是否足够。
可以理解的是，烧录工具首先需要自检测烧录工具提供给被烧录芯片的烧录电压VPP(programming voltage)是否在正常范围内(这里需要烧录工具中使用比较电路作为支持来完成)，如果VPP不在正常范围内则必然会造成OTP ROM的编程数据写入错误，则需要提前结束本次OTP ROM的数据烧录并异常提示。如果VPP在正常范围内，则烧录工具发送被烧录芯片状态检测命令A1至被烧录芯片的OTP控制单元，OTP控制单元将被烧录芯片的状态反馈给烧录工具，烧录工具按照协议读取并分析反馈状态来判断被烧录芯片是否准备就绪，如果被烧录芯片没有处于准备就绪状态，则提前结束本次OTP ROM的数据烧录并异常提示；如果被烧录芯片处于准备就绪状态，则烧录工具发送OTP ROM空间容量检测命令A2至被烧录芯片的OTP控制单元并根据OTP控制单元的反馈来判断OTP ROM的空间容量是否满足本次编程数据量，如果被烧录芯片中的OTP ROM的空间不足，则提前结束本次OTP ROM的数据烧录并异常提示，否则，烧录工具开始获取编程数据。
步骤s204：烧录工具通过电脑端在线下载更新来获取编程数据；
可以理解的是，这里并不仅限于通过电脑端在线下载来获取编程数据，能够实现烧录工具获取编程数据的方式均在本发明的保护范围之内。
步骤s205：烧录工具向被烧录芯片中的一次性可编程OTP控制单元发送命令以及RAM中的地址和长度参数；OTP控制单元对命令、地址和长度参数进行解析；OTP控制单元依据解析后的命令、地址和长度参数对RAM与烧录接口之间进行数据交换准备；
烧录工具获取得到编程数据后，根据被烧录芯片中OTP ROM的存储结构按照一定的数据量，例如1bank(512byte,512字节)的数据量组织命令和数据包，发送命令A3及RAM中的地址和长度参数至OTP控制单元，OTP控制单元解析命令A3及RAM中的地址和长度参数后，对RAM与烧录接口之间进行数据交换准备，待RAM与烧录接口之间的数据交换准备完毕时，向烧录工具发送反馈状态。
值得注意的是，如果要烧录的编程数据很大，则需要分批次进行烧录，即上面提到的分多个数据包来依次烧录。
步骤s206：当被烧录芯片中的RAM和烧录接口之间初始化完成，编程数据传输通道准备就绪时，烧录工具向RAM发送编程数据；
步骤s207：判断编程数据是否正确写入RAM，如果是，进入步骤s208；否则，进入步骤s211；
步骤s208：将编程数据从RAM中写入OTP ROM中；
步骤s209：判断OTP ROM中的编程数据是否与RAM中的编程数据相同；如果是，则进入步骤s210,；否则，进入步骤s211；
如果OTP ROM中的编程数据与RAM中的编程数据相同，则本次OTP ROM数据烧录成功，否则本次OTP ROM数据烧录失败。
可以理解的是，烧录工具将编程数据从RAM中写入OTP ROM中后，再将校验编程数据写入RAM中，然后发送校验命令校验OTP ROM中的编程数据是否与RAM中的编程数据相同。
值得注意的是，这里可以是在每次烧录工具将编程数据从RAM中写入OTP ROM中后进行校验，也可以是等所有编程数据全部写入OTP ROM中后再进行校验，也可以是二者的结合，即每次烧录工具将编程数据从RAM中写入OTP ROM中后进行校验，再在所有编程数据全部写入OTP ROM中后再进行一次总校验，进一步提高了编程数据烧录的准确性。
步骤s210：提示烧录成功，结束本次OTP ROM的数据烧录。
步骤s211：提示烧录失败，结束本次OTP ROM的数据烧录。
烧录工具接收到正确的反馈状态后，将编程数据通过烧录接口写入到RAM中，再发送校验命令A4及校验码至OTP控制单元，OTP控制单元判断所述校验码与RAM中编程数据的校验码是否一致即判断编程数据是否正确写入RAM，并发送反馈状态至烧录工具，如果判断编程数据没有正确写入RAM，则结束本次OTP ROM的数据烧录，如果判断编程数据正确写入RAM，则烧录工具发送烧录命令A5至OTP控制单元，OTP控制单元将编程数据从RAM中写入OTPROM中，再判断OTP ROM中的编程数据是否与RAM中的编程数据相同，如果是，则烧录工具提示烧录成功并结束本次OTP ROM的数据烧录；否则，烧录工具提示烧录失败，结束本次OTPROM的数据烧录。
另外，在大数据量的烧录过程中，只要循环步骤s204-s211即可完成任意数据量的烧录。
本发明提供的一种OTP ROM数据烧录方法，在实施例一的基础上，通过判断烧录工具提供给被烧录芯片的烧录电压是否在正常范围内；被烧录芯片是否准备就绪；被烧录芯片中的OTP ROM的空间是否足够等步骤，均满足条件后再进行编程数据烧录，另外，校验烧录工具与RAM中的编程数据是否相同，在编程数据读写错误的情况下，有效地保护了被烧录芯片的OTP ROM资源，进一步提高了烧录的准确性和已烧录测试合格芯片编程数据的安全性。
进一步地，该方法还包括：烧录工具向多个RAM发送编程数据。
可以理解的是，被烧录芯片的OTP控制单元将编程数据从RAM搬移至OTP ROM中的时间相对编程数据从烧录工具烧录至RAM中的时间较长，因此在这过程中，烧录工具可以去处理其他事务，比如在多个被烧录芯片同时烧录的应用场合，当多个RAM中的有一个RAM在进行将编程数据从RAM中写入OTP ROM中时，烧录工具向剩余其他RAM发送编程数据，极大地提高了OTP ROM数据烧录的速度，提高了烧录效率。
请参照图3，图3为本发明提供的一种数据烧录系统的结构示意图。
该系统包括：烧录工具11、被烧录芯片12以及被烧录芯片12中的烧录接口13、OTP控制单元14、RAM15以及OTP RAM16，该系统的工作过程为：
给烧录工具11上电，初始化烧录工具11与被烧录芯片12的烧录接口13，判断烧录工具11和被烧录芯片12的烧录环境是否准备完毕，如果否，则提前结束本次OTP ROM16的数据烧录，否则，烧录工具11通过电脑端在线下载更新来获取编程数据，烧录工具11向被烧录芯片12中的一次性可编程OTP控制单元14发送命令以及RAM15中的地址和长度参数；OTP控制单元14对命令、地址和长度参数进行解析；OTP控制单元14依据解析后的命令、地址和长度参数对RAM15与烧录接口13之间进行数据交换准备，当被烧录芯片12中的随机存取存储器RAM15与烧录接口13之间初始化完成，编程数据传输通道准备就绪时，烧录工具11向RAM15发送编程数据，判断编程数据是否正确写入RAM15，如果否，则提前结束本次OTPROM16的数据烧录，否则，将编程数据从RAM15中写入OTP ROM16中，结束本次OTP ROM16的数据烧录。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
1.一种OTP ROM数据烧录方法，其特征在于，包括：
步骤A：烧录工具获取编程数据；
步骤B：当被烧录芯片中的RAM和烧录接口之间初始化完成，编程数据传输通道准备就绪时，所述烧录工具向所述RAM发送所述编程数据；
步骤C：判断所述编程数据是否正确写入所述RAM，如果是，进入步骤D；否则，结束本次一次性可编程只读存储器OTP ROM的数据烧录；
步骤D：将所述编程数据从所述RAM中写入OTP ROM中。
2.如权利要求1所述的OTP ROM数据烧录方法，其特征在于，步骤A具体为：
所述烧录工具通过电脑端在线下载更新来获取编程数据。
3.如权利要求1所述的OTP ROM数据烧录方法，其特征在于，步骤A和步骤B之间还包括：
所述烧录工具向所述被烧录芯片中的OTP控制单元发送命令以及所述RAM中的地址和长度参数；
所述OTP控制单元对所述命令、地址和长度参数进行解析；
所述OTP控制单元依据解析后的命令、地址和长度参数对RAM与烧录接口之间进行数据交换准备。
4.如权利要求1所述的OTP ROM数据烧录方法，其特征在于，步骤D还包括：
判断所述OTP ROM中的编程数据是否与所述RAM中的编程数据相同。
5.如权利要求1所述的OTP ROM数据烧录方法，其特征在于，步骤A之前还包括：
给所述烧录工具上电。
6.如权利要求5所述的OTP ROM数据烧录方法，其特征在于，步骤A与所述给所述烧录工具上电之间还包括：
初始化所述烧录工具与所述被烧录芯片的烧录接口。
7.如权利要求6所述的OTP ROM数据烧录方法，其特征在于，步骤A与所述初始化所述烧录工具与所述被烧录芯片的烧录接口之间还包括：
检测所述烧录工具和被烧录芯片的烧录环境是否准备完毕。
8.如权利要求7所述的OTP ROM数据烧录方法，其特征在于，所述检测所述烧录环境是否准备完毕具体包括：
所述烧录工具提供给所述被烧录芯片的烧录电压是否在正常范围内；
所述被烧录芯片是否准备就绪；
所述被烧录芯片中的OTP ROM的空间是否足够。
9.如权利要求1所述的OTP ROM数据烧录方法，其特征在于，步骤B中所述烧录工具向所述RAM发送所述编程数据具体为：
所述烧录工具向多个所述RAM发送所述编程数据。
10.如权利要求9所述的OTP ROM数据烧录方法，其特征在于，所述烧录工具向多个所述RAM发送所述编程数据具体为：
当所述多个RAM中有一个RAM将所述编程数据从所述RAM中写入OTP ROM中时，所述烧录工具向剩余其他所述RAM发送所述编程数据。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201510060629.XA CN104598408B (zh) | 2015-02-05 | 2015-02-05 | 一种一次性可编程只读存储器数据烧录方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201510060629.XA CN104598408B (zh) | 2015-02-05 | 2015-02-05 | 一种一次性可编程只读存储器数据烧录方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN104598408A CN104598408A (zh) | 2015-05-06 |
| CN104598408B true CN104598408B (zh) | 2018-10-26 |
Family
ID=53124213
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201510060629.XA Active CN104598408B (zh) | 2015-02-05 | 2015-02-05 | 一种一次性可编程只读存储器数据烧录方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN104598408B (zh) |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |