CN104597060B - 一种用于平板探测器的安装结构 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种用于平板探测器的安装结构,包括:屏蔽组件,用于起到屏蔽射线的作用;后盖板,平板探测器置于所述屏蔽组件与所述后盖板组成的屏蔽空间中;第一调节组件,设置在所述平板探测器的底边下方的其中一侧,用于调节所述平板探测器的水平度。其中第一调节组件用于安装后保证平板探测器的位置精确度,尤其是水平探测器的水平度,通过调节平板探测器的水平度,能够保证穿透被探测物体相同的层射线被同一行的行像素阵列接收,避免出现成像错误。利用该安装结构对平板探测器进行安装,能够方便安装和后期维护,还能保证成像精确度。
Description
技术领域
本发明涉及射线平板探测器成像技术领域,尤其涉及一种用于平板探测器的安装结构。
背景技术
近年来,辐射探测成像技术广泛用于放射医疗、无损探伤等各个领域,高能X射线在穿透不同材质、不同厚度的物体时产生的衰减不同,即探测器接收的射线强度也不同,因此可以根据探测器不同位置接收到的射线强度可以获得被探测物体的内部结构特征。
常用的探测器为平板探测器,X射线先经介质材料转换成可见光,再由光敏元件将可见光信号转换成电信号,最后将模拟电信号经模数转换(即A/D转换)成数字信号,因此在平板探测器中具有完成上述信号转换的电子元器件。为降低高能X射线对探测器内部的电子元器件所造成的辐射损伤,一般将探测器安装有电子元器件的部分置于由铅或钨铜合金组成的屏蔽保护壳中。由于高能X射线是由电子加速器产生的,电子加速器能量越高,所需的起到屏蔽作用的平板探测器的屏蔽保护壳厚度就越大,随之重量也就越大。
但是对于厚度和重量均较大的平板探测器屏蔽保护壳,不仅难以保证加工精度和安装精度,而且后期对平板探测器的维护工作也非常不方便。
发明内容
为了克服现有技术中由于平板探测器屏蔽厚度过大,重量过大导致的安装和维护不便的问题,本发明提供了一种用于平板探测器的安装结构,能够方便平板探测器的安装和后期的维护。
本发明的额外方面和优点将部分地在下面的描述中阐述,并且部分地将从描述中变得显然,或者可以通过本发明的实践而得知。
本发明提供了一种用于平板探测器的安装结构,包括:
屏蔽组件,用于起到屏蔽射线的作用;
后盖板,平板探测器置于所述屏蔽组件与所述后盖板组成的屏蔽空间中;
第一调节组件,设置在所述平板探测器的底边下方的其中一侧,用于调节所述平板探测器的水平度。
根据本发明的一个实施例,还包括基座,位于所述平板探测器底边的下方以及所述屏蔽组件的下方。
根据本发明的另一个实施例,还包括第二调节组件,设置在所述平板探测器的底边下方的另一侧。
根据本发明的另一个实施例,所述第一调节组件和/或第二调节组件包括一面为斜面的调整垫块,所述调整垫块位于所述基座形成的斜面槽中,所述调整垫块的斜面与所述斜面槽的斜面平行且相对设置。
根据本发明的另一个实施例,所述第一调节组件和/或第二调节组件还包括螺钉,且在所述调整垫块的斜面及对侧具有长条状过孔,通过调整所述螺钉使得所述调整垫块沿着所述斜面槽上下滑动。
根据本发明的另一个实施例,所述屏蔽组件在所述平板探测器的前方形成中间区域通透的窗口,射线穿过所述窗口被所述平板探测器接收并完成成像。
根据本发明的另一个实施例,所述屏蔽组件在靠近所述平板探测器顶边的位置还具有台阶结构,所述台阶结构覆盖在所述平板探测器的顶边,并与所述后盖板连接并固定。
根据本发明的另一个实施例,所述屏蔽组件的外表面覆盖有一层金属外壳。
根据本发明的另一个实施例,所述屏蔽组件的材料为铅或钨铜合金。
根据本发明的另一个实施例,所述屏蔽组件的不同部件之间在连接处均采用榫接形式连接。
本发明提供的用于平板探测器的安装结构,其中第一调节组件用于安装后保证平板探测器的位置精确度,尤其是水平探测器的水平度,通过调节平板探测器的水平度,能够保证穿透被探测物体相同的层射线被同一行的行像素阵列接收,避免出现成像错误。利用该安装结构对平板探测器进行安装,能够方便安装和后期维护,还能保证成像精确度。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种用于平板探测的安装结构的立体剖视图;
图2为本发明对图1中立体剖视图沿着A-B剖开的截面图;
图3为本发明图2中截面图的局部放大图;
图4为本发明中第一调节组件或第二调节组件实现调整平板探测器水平度功能的示意图;
图5为图4的立体示意图。
附图中各个标记说明如下:
00、平板探测器;
10、屏蔽组件;
21、调整垫块;
22、螺钉;
30、后盖板;
40、基座;
50、金属外壳;
W、窗口;
X、长条状过孔。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而,示例实施方式能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的实施方式;相反,提供这些实施方式使得本发明将全面和完整,并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。
所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中,提供许多具体细节从而给出对本发明的实施方式的充分理解。然而,本领域技术人员应意识到,没有所述特定细节中的一个或更多,或者采用其它的方法、组元、材料等,也可以实践本发明的技术方案。在其它情况下,不详细示出或描述公知结构、材料或者操作以避免模糊本发明。
基于上述,本发明的实施例中提供了一种用于平板探测器的安装结构,其立体结构图如图1所示,包括:
屏蔽组件10,用于起到屏蔽射线的作用;
后盖板30,平板探测器00置于屏蔽组件10与后盖板30组成的屏蔽空间中;
第一调节组件(图中未示出),设置在平板探测器00的下方,用于调节平板探测器00的水平度。
参见图1所述的立体图,屏蔽组件10设置在平板探测器00的一侧(由于平板探测器00用于接收穿过被测物体后的射线,即按照射线的经过顺序划分则称之为前侧,反之,与前侧相对的一侧称之为后侧),后盖板30设置在平板探测器00的后侧,通过第一调节组件能够调节水平探测器00的水平度,进而保证其工作时要求较高的位置精度。
根据本发明的一个实施例,对本实施例中的安装结构沿着A-B剖开得到的一侧面剖视图及相应的局部放大图分别如图2和图3所示。参见图2和图3,该安装结构中包括基座40,位于平板探测器00底边的下方以及屏蔽组件10的下方。基座40用于连接平板探测器00和平板探测器工作的平台(图中未示出),同时在本发明的安装结构中对于基座21的尺寸精度也有较高要求,一般加工完成后要经过时效处理,充分释放内部的应力。
再根据本发明的另一个实施例,该安装结构中还包括第二调节组件(图中未示出),其结构与原理同第一调节组件,将其设置在平板探测器00的底边下方的另一侧。也就是说,在安装结构中可以只包括一个调节组件,设置在平板探测器的底边下方的其中一侧,这样就能通过该调节组件改变平板探测器的水平度。同时,还可以根据需要设置两个调节组件,分别设置在平板探测器的底边下方的两侧,使用时通过分别调节两个调节组件也同样能够改变平板探测器的水平度。
参见图3,再根据本发明的另一个实施例,第一调节组件和/或第二调节组件均包括一面为斜面的调整垫块21,调整垫块21位于基座40形成的斜面槽中,调整垫块22的斜面与斜面槽的斜面平行且相对设置。斜面槽的斜面也就是基座40上的一个斜面,基座40上的斜面与调整垫块22的斜面平行,也就是两斜面与水平面的夹角相同,这样就可以在两个斜面之间发生滑动时来改变调整垫块22的上下位置发生改变。
同样参见图3,再根据本发明的另一个实施例,,第一调节组件和/或第二调节组件还包括螺钉22,且在调整垫块21的斜面及对侧具有长条状过孔X,通过调整螺钉22使得调整垫块21沿着斜面槽上下滑动。同时,在基座40的斜面上也具有槽型结构,螺钉22穿过调整垫块21上的过孔,螺钉的前端固定在基座的槽中,由于调整垫块21上具有长条状过孔X,即螺钉22在该过孔中的位置可移动,进而就可以调节调整垫块21的上下位置。需要说明的是,该长条状过孔的直径略大于螺钉的直径,长条状过孔X的长度根据需要进行设置,以满足调节调整垫块21上下位置的需求。上述第一调节组件或第二调节组件实现调整平板探测器水平度功能的示意图如图4所示。还需要说明的是,为方便调节螺钉,后盖板30对应螺钉的位置设置有开口,如图5所示。
还由于调整垫块21的顶面与平板探测器00的底边紧紧接触,因此当调整垫块21的上下位置发生改变时就能调整平板探测器00的水平度。这样通过简单的结构即可降低加工难度并达到安装精度的要求,同时也可以在成像测试阶段根据成像的质量对探测器位置进行调节,以获得最佳成像质量。
需要说明的是,本实施例中调整垫块21的上下位置进行调整的过程是通过螺钉22来实现的,但是在本发明的其他实施例中,还可以通过其它方式实现对调整垫块上下位置的调整,此处不再一一赘述。
根据本发明的另一个实施例,参见图2所示的一侧面剖视图,屏蔽组件10在平板探测器00的前方形成中间区域通透的窗口W,射线穿过窗口W被平板探测器00接收并完成成像。结合图1和图2可知,该窗口的四周均设置有屏蔽组件,仅仅中央的通透的窗口可以允许射线穿过,进而被平板探测器接收。
参见图2,根据本发明的另一个实施例,屏蔽组件10在靠近平板探测器00顶边的位置还具有台阶结构,台阶结构覆盖在平板探测器00的顶边,并与后盖板30连接并固定。该台阶结构有利于屏蔽组件能够对平板探测器起到更为稳固的固定作用,同时还由于平板探测器的顶面抵住台阶结构,因此可以通过调整垫块的上下滑动进而改变平板探测器的水平度。更重要的是,在平板探测器边缘设置台阶结构的屏蔽组件,还能对位于平板探测器边缘的电子元器件起到有效的保护作用,防止射线对平板探测器内部的电子元器件造成损伤。
根据本发明的另一个实施例,屏蔽组件10的外表面覆盖有一层金属外壳50,且该外壳的材质为不锈钢。
根据本发明的另一个实施例,屏蔽组件10的材料为铅或钨铜合金。屏蔽组件根据电子加速器的射线能量确定屏蔽的厚度,屏蔽材料选用铅或钨铜合金等常用的屏蔽材料,进一步的还要根据材料的不同选择的成型工艺。例如,铅屏蔽可以采用浇铸成型方式,用一定厚度的不锈钢板搭接成型腔,浇铸完成后对表面变形严重的部位进行机加工。而钨铜合金一般为粉末压制成型,只能加工成比较简单的形状,之后再将设计好的屏蔽形状分割为比较简单的条板状结构进行搭接。为避免射线由缝隙处直线穿透,在构成屏蔽组件的各个部件的连接处均采用榫接形式连接。
还需要说明的是,上述榫接形式并不仅仅限定于材料是钨铜合金的屏蔽组件,还可以是任何其他材料构成的屏蔽组件,且该屏蔽组件在加工时不易加工成复杂形状,只能加工成结构简单的部件,之后再将各个部件进行连接。但是在这些不同部件之间的连接处均可以采用榫接形式连接,防止射线由缝隙穿透。
综上所述,本发明提供的用于平板探测器的安装结构,其中调节组件用于安装后保证平板探测器的位置精确度,尤其是水平探测器的水平度,通过调节平板探测器的水平度,保证穿透被探测物体相同的层射线被同一行的行像素阵列接收,避免出现成像错误,能够方便平板探测器的安装和后期的维护。
以上实施方式仅用于说明本发明,而并非对本发明的限制,有关技术领域的普通技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可以做出各种变化和变型,因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴,本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
Claims (4)
1.一种用于平板探测器的安装结构,其特征在于,包括:
屏蔽组件,用于起到屏蔽射线的作用;
后盖板,平板探测器置于所述屏蔽组件与所述后盖板组成的屏蔽空间中;
第一调节组件,设置在所述平板探测器的底边下方的其中一侧,用于调节所述平板探测器的水平度;所述屏蔽组件在靠近所述平板探测器顶边的位置还具有台阶结构,所述台阶结构覆盖在所述平板探测器的顶边,并与所述后盖板连接并固定,所述屏蔽组件的外表面覆盖有一层金属外壳;
还包括基座,位于所述平板探测器底边的下方以及所述屏蔽组件的下方;
还包括第二调节组件,设置在所述平板探测器的底边下方的另一侧;
所述第一调节组件和第二调节组件包括一面为斜面的调整垫块,所述调整垫块位于所述基座形成的斜面槽中,所述调整垫块的斜面与所述斜面槽的斜面平行且相对设置;
所述第一调节组件和第二调节组件还包括螺钉,且在所述调整垫块的斜面及对侧具有长条状过孔,通过调整所述螺钉使得所述调整垫块沿着所述斜面槽上下滑动。
2.如权利要求1所述的用于平板探测器的安装结构,其特征在于,所述屏蔽组件在所述平板探测器的前方形成中间区域通透的窗口,射线穿过所述窗口被所述平板探测器接收并完成成像。
3.如权利要求1所述的用于平板探测器的安装结构,其特征在于,所述屏蔽组件的材料为铅或钨铜合金。
4.如权利要求1所述的用于平板探测器的安装结构,其特征在于,所述屏蔽组件的不同部件之间在连接处均采用榫接形式连接。
Priority Applications (1)
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Publication Number | Publication Date |
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---|---|---|---|
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Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109171791A (zh) * | 2018-10-17 | 2019-01-11 | 上海联影医疗科技有限公司 | 一种ct参考探测器及ct探测结构 |
CN110361038B (zh) * | 2019-07-31 | 2020-06-19 | 北京邮电大学 | 平板探测器防护结构 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004001924A (ja) * | 2002-05-30 | 2004-01-08 | Nikon Corp | 搬送装置及び露光装置 |
CN1711642A (zh) * | 2002-11-19 | 2005-12-21 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | x射线检查设备 |
JP2006340945A (ja) * | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Shimadzu Corp | X線透視撮影装置 |
JP2009047577A (ja) * | 2007-08-21 | 2009-03-05 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | シンチレータパネル及びその作製方法 |
CN201795921U (zh) * | 2010-09-21 | 2011-04-13 | 湘潭电机股份有限公司 | 一种风力发电机可调式试验底座 |
CN202776335U (zh) * | 2012-08-29 | 2013-03-13 | 上海西门子医疗器械有限公司 | 锁紧装置、平板探测器组合装置以及x射线成像设备 |
CN202837554U (zh) * | 2012-08-31 | 2013-03-27 | 上海奕瑞影像科技有限公司 | 一种x光平板探测器测试架构 |
CN103549972A (zh) * | 2013-11-18 | 2014-02-05 | 赛诺威盛科技(北京)有限公司 | Ct探测器模块的支撑结构 |
JP5620745B2 (ja) * | 2010-08-18 | 2014-11-05 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影用カセッテ |
-
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004001924A (ja) * | 2002-05-30 | 2004-01-08 | Nikon Corp | 搬送装置及び露光装置 |
CN1711642A (zh) * | 2002-11-19 | 2005-12-21 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | x射线检查设备 |
JP2006340945A (ja) * | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Shimadzu Corp | X線透視撮影装置 |
JP2009047577A (ja) * | 2007-08-21 | 2009-03-05 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | シンチレータパネル及びその作製方法 |
JP5620745B2 (ja) * | 2010-08-18 | 2014-11-05 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影用カセッテ |
CN201795921U (zh) * | 2010-09-21 | 2011-04-13 | 湘潭电机股份有限公司 | 一种风力发电机可调式试验底座 |
CN202776335U (zh) * | 2012-08-29 | 2013-03-13 | 上海西门子医疗器械有限公司 | 锁紧装置、平板探测器组合装置以及x射线成像设备 |
CN202837554U (zh) * | 2012-08-31 | 2013-03-27 | 上海奕瑞影像科技有限公司 | 一种x光平板探测器测试架构 |
CN103549972A (zh) * | 2013-11-18 | 2014-02-05 | 赛诺威盛科技(北京)有限公司 | Ct探测器模块的支撑结构 |
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