CN104362146A - 一种带雪崩特性的GaN基肖特基二极管器件 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种带雪崩特性的GaN基肖特基二极管器件。器件包括将两个反向额定电压相同的GaN基肖特基二极管与Si基二极管并联,使得器件在反向工作时,当反向耐压超过器件的反向额定电压时,通过Si基二极管的雪崩击穿效应,固定反向电压,并且通过Si基二极管的雪崩效应产生雪崩电流,反馈给保护电路。从而保护器件本身以及整个电路系统,增强器件和电路的安全性与稳定性。
Description
技术领域
本发明涉及一种电力电子器件制造以及电力电子电路领域,尤其设计一种带雪崩击穿特性的GaN基肖特基二极管器件。
研究背景
GaN基半导体材料由于具有宽禁带、高电子迁移速度、高热导率、耐腐蚀,抗辐射等突出优点,在制作高温、高频、大功率电子器件方面有着独特的优势。
GaN基高压肖特基二极管由于相较于Si基二极管器件具有更低的导通电阻,更高的反向耐压,以及极短的反向恢复时间,以及比 SiC基二极管器件具有更低的价格,得到了广泛的研究和发展。
但是,由于肖特基二极管在反向工作时,随着耐压的升高会发生肖特基势垒降低效应和势垒隧穿效应,这样就会使得器件反向工作时的漏电流大大升高。GaN材料高的缺陷密度,也会升高器件反向工作时的漏电流。由于GaN材料高的击穿雪崩击穿电场,在器件的反向漏电流很高时也很难达到雪崩击穿。这样就会使得所设计GaN基二极管器件的反向额定电压远低于材料发生雪崩击穿时的耐压。
然而,对于Si基高压二极管材料,由于Si材料低的雪崩击穿电场,当反向电压超过器件反向额定电压时会发生雪崩击穿。在实际电路中,当电路不稳定,使得器件反向工作电压高于额定电压达到雪崩击穿电压时,由于雪崩效应使得器件上反向电压固定。固定反向电压下直线上升的反向漏电流,也会触发电路中的保护装置,从而保护整个电力电子系统。
对于GaN基肖特基二极管器件,当反向电压高于GaN基肖特基二极管的反向额定压时,由于不会雪崩击穿,反向电压不能固定。在不稳定的电路中,会发生反向电压与反向漏电流同时上升的现象。而过高的反向电压与反向漏电流不但会增加电路的功耗,而且会对功率器件自身以及电路产生破坏作用。在电路设计中,缺少了雪崩电流的反馈作用,也会增加反馈电路的设计难度。
因此,GaN基肖特基二极管的反向工作特性需要改进。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的旨在解决常规GaN基肖特基二极管在实际应用中,反向工作时,当反向电压超过反向额定电压时,不能固定反向电压,不能形成雪崩电流反馈的问题。
为了实现上述目的,本发明通过使得GaN基肖特基二极管与Si基二极管并联,当反向电压超过额定值时,通过Si基二极管的雪崩效应,固定反向电压,形成雪崩电流反馈,从而保护器件与电路。具体实施方法如下。
步骤一:选择反向耐压大于或者等于设计所需反向额定电压的GaN基肖特基二极管。
步骤二:选择反向额定电压等于设计要求反向额定电压的Si基二极管。
步骤三:将步骤一中所述的GaN基肖特基二极管阳极与步骤二中所述的Si基二极管或阳极相连,将步骤一中所述的GaN基肖特基二极管的阴极与将步骤一中所述的Si基二极管阴极相连。
其中步骤一所述的GaN基肖特基二极管器件,可以是GaN体材料肖特基二极管也可以是AlGaN/GaN HEMTs 肖特基二极管。
其中,为了达到设计所需的正向额定电流与反向额定电压的要求,步骤一中所述的GaN基肖特基二极管也可以是两个或者两个以上的GaN基二极管相互串联或者并联形成的模块,其反向额定耐压为整个模块的反向额定电压。
其中,当单个Si基二极管不能达到设计要求反向额定电压时,步骤二中所述的Si基二极管也可以是两个或者两个以上Si基二极管相互串联的模块,其反向额定电压为整个模块的反向额定电压。
其中步骤二中所述的Si基二极管的结构可以是各种结构,如:肖特基结构、PiN结构等等。
其中步骤三种所述的GaN基二极管与Si基二极管的连接方法,可以是各种方法,如:封装为DBC模块、电路板焊接或者其他封装形式。
本发明中应用Si基二极管与GaN基肖特基二极管并联,利用了Si基二极管反向电压超过额定电压的雪崩击穿效应,固定反向电压,形成雪崩电流反馈,从而保护了器件与电路。改进了GaN基肖特基二极管的反向特性。增强了电路系统的安全性与稳定性。
附图说明
附图1是本发明实施实例中,将一个GaN基肖特基二极管与一个Si基二极管并联的示意图
附图2是本发明实施实例中,将一个GaN基肖特基二极管与二个或两个以上串联的Si基二极管并联的示意图
附图3是本发明实施实例中,将两个或者两个以上串联GaN基肖特基二极管与一个Si基二极管并联的示意图
附图4是本发明实施实例中,将两个或者两个以上并联的GaN基肖特基二极管与一个Si基二极管并联的示意图
附图5是本发明实施实例中,将两个或者两个以上并联的GaN基肖特基二极管与两个或者两个以上串联的Si基二极管并联的示意图。
具体实施方式
本发明中应用Si基二极管与GaN基二极管并联,利用了Si基二极管雪崩击穿效应,固定反向电压,形成雪崩电流反馈,从而保护了器件与电路。改进了GaN基肖特基二极管的反向特性。增强了电路系统的安全性与稳定性。
为进一步说明本发明的特征和技术方案,以下结合附图通过具体实施例的描述,进一步详细说明本发明的结构、优点和性能。
实施实例一:将两个反向额定电压相同GaN基肖特基二极管与Si基二极管并联,如附图1所示。
实施实例二:当单个Si基二级管的反向额定电压不能达到GaN基肖特基二极管的反向额定电压时,串联两个或者两个以上Si基二极管使其总的反向额定电压与一个GaN基肖特基二极管的反向额定电压相同,将串联的Si基二极管与GaN基二极管并联,如附图2所示。
实施实例三:当单个GaN基肖特基二极管不能达到设计要求的反向额定电压时,串联两个或者两个以GaN基肖特基二极管,使其总的反向额定电压等于设计要求的反向额定电压。选择与串联GaN基二极管总的反向额定电压相同的Si基二极管,并将其与串联的GaN基二极管并联,如附图3所示。
实施实例四:当单个GaN基肖特基二极管不能达到设计要求的正向额定电流时,并联两个或者两个以上GaN基肖特基二极管,使其总的额定电流达到设计要求的正向额定电流,选择与并联GaN基二极管相同反向额定电压的Si基二极管,并将其与并联的GaN基二极管并联,如附图4所示。
实施实例五:并联两个或者两个以上GaN基肖特基二极管,串联两个或者两个以上 Si基二极管使其反向额定电压与并联GaN基肖特基二极管反向额定电压相同,将串联的Si基二极管其与并联的GaN基二极管并联,如附图5所示。
上面结合附图对本发明的实施实例做了详细说明,但是本发明不限于上述实施实例,在本领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本发明宗旨的前提下做出各种变化。
Claims (6)
1.一种带雪崩击穿特性的GaN基肖特基二极管器件,包括反向耐压大于或者等于设计所需反向额定电压的GaN基肖特基二极管,反向额定电压等于设计要求反向额定电压的Si基二极管,所述的GaN基肖特基二极管阳极与步骤二中所述的Si基二极管或阳极相连,将所述的GaN基肖特基二极管的阴极与所述的Si基二极管阴极相连。
2.如权利要求1所述一种带雪崩击穿特性的GaN基肖特基二极管器件,其特征在于,其中所述的GaN基肖特基二极管器件,可以是GaN体材料肖特基二极管也可以是AlGaN/GaN HEMTs 肖特基二极管。
3.如权利要求1所述一种带雪崩击穿特性的GaN基肖特基二极管器件,其特征在于,为了达到设计所需的正向额定电流与反向额定电压的要求,所述的GaN基肖特基二极管也可以是两个或者两个以上的GaN基二极管相互串联或者并联形成的模块,其反向额定耐压为整个模块的反向额定电压。
4.如权利要求1所述一种带雪崩击穿特性的GaN基肖特基二极管器件,其特征在于,当单个Si基二极管不能达到设计要求反向额定电压时,所述的Si基二极管也可以是两个或者两个以上Si基二极管相互串联的模块,其反向额定电压为整个模块的反向额定电压。
5.如权利要求1所述一种带雪崩击穿特性的GaN基肖特基二极管器件,其特征在于,所述的Si基二极管的结构可以是各种结构,如:肖特基结构、PiN结构等等。
6.如权利要求1所述一种带雪崩击穿特性的GaN基肖特基二极管器件,其特征在于,所述的GaN基二极管与Si基二极管的连接方法,可以是各种方法,如:封装为DBC模块、电路板焊接或者其他封装形式。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2546880A2 (en) * | 2011-07-15 | 2013-01-16 | International Rectifier Corporation | Composite semiconductor device with integrated diode |
CN103107151A (zh) * | 2011-11-11 | 2013-05-15 | 万国半导体股份有限公司 | 用于氮化镓肖特基二极管的端接结构 |
CN103890923A (zh) * | 2011-10-31 | 2014-06-25 | 株式会社电装 | 半导体器件 |
CN204516763U (zh) * | 2014-11-19 | 2015-07-29 | 佛山芯光半导体有限公司 | 一种带雪崩特性的GaN基肖特基二极管器件 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2546880A2 (en) * | 2011-07-15 | 2013-01-16 | International Rectifier Corporation | Composite semiconductor device with integrated diode |
CN103890923A (zh) * | 2011-10-31 | 2014-06-25 | 株式会社电装 | 半导体器件 |
CN103107151A (zh) * | 2011-11-11 | 2013-05-15 | 万国半导体股份有限公司 | 用于氮化镓肖特基二极管的端接结构 |
CN204516763U (zh) * | 2014-11-19 | 2015-07-29 | 佛山芯光半导体有限公司 | 一种带雪崩特性的GaN基肖特基二极管器件 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110707077A (zh) * | 2019-09-12 | 2020-01-17 | 华为技术有限公司 | 二极管分立器件、带旁路功能的电路及变换器 |
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