CN104317528A - micro SD卡的检测系统及其检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了microSD卡的检测系统及其检测方法，其检测系统包括：microSD卡接口、开关检测模块和控制模块，所述控制模块检测mircoSD卡的插入状态，并依据mircoSD卡插入状态控制所述开关检测模块的启闭，使开关检测模块相应控制mircoSD卡的VDD端的供电状态，在不增加新的引脚（金属弹片）的同时，实现了对mircoSD卡的检测，有效的减少了mircoSD卡座的体积，而且本发明无需使用金属弹片，避免了金属弹片在多次使用后容易发生形变，导致弹性下降，影响microSD卡插入的检测的问题。
Description
技术领域
本发明涉及mircoSD卡检测技术，尤其涉及一种micro SD卡插入检测系统。
背景技术
基于micro SD卡价格低、稳定及其通用性高的优点，目前普遍采用micro SD卡对移动终端进行存储空间的扩展。在现有技术中，为了实现mircoSD卡的插入检测，移动终端需要在micro SD卡座上额外增加一个GPIO引脚用于进行micro SD卡插入的中断检测，使得卡座上除了与micro SD卡对应连接的8个引脚之外还需要一个引脚用于micro SD卡插入的中断检测，因此现有的micro SD卡座共9个引脚。
图1为现有技术中最常用的micro SD卡插入检测的示意图，如图1所示，当micro SD卡座101中未插入micro SD卡102时，金属弹片103被上拉至VLDO，为高电平；当micro SD卡101插入micro SD卡座102后，金属弹片103与micro SD卡座102相接触，而micro SD卡座102的壁是接地的，金属弹片103处为低电平。中央处理器104根据金属弹片103为何种电平判断出micro SD卡101是否插入卡座。
采用上述插入检测方法的缺陷在于，检测micro SD卡插入的金属弹片位于卡座中，导致卡座体积较大。另外，金属弹片在多次使用后容易发生形变，导致弹性下降，直接影响micro SD卡插入的检测。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供micro SD卡的检测系统及其检测方法，旨在解决现有技术中需要在mircoSD卡座中设置金属弹片，导致mircoSD卡座体积较大，金属弹片不耐用，影响插入检测的问题。
为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：
一种micro SD卡的检测系统，其包括：micro SD卡接口、开关检测模块和控制模块；
所述控制模块检测micro SD卡接口的VDD端是否产生中断来判断mircoSD卡的插入状态，并依据mircoSD卡插入状态控制所述开关检测模块的启闭，使开关检测模块相应控制mircoSD卡的VDD端的供电状态。
所述的micro SD卡的检测系统中，所述开关检测模块包括电阻和开关；所述电阻的一端连接micro SD卡接口的VDD端和开关的一端，电阻的另一端连接供电端和开关的另一端，所述开关的控制端连接控制模块，所述mirco SD卡接口的VSS端接地。
所述的micro SD卡的检测系统中，所述控制模块包括：
开关控制单元，连接开关的控制端，用于控制所述开关的启闭；
中断检测单元，连接mirco SD卡接口的VDD端，用于接收mircoSD卡插入产生的中断信号；
中断配置单元，连接中断检测单元，用于在检测到中断信号后，将中断检测单元配置成不检测中断信号。
所述的micro SD卡的检测系统中，所述电阻的阻值大于等于micro SD卡在未供电状态下，micro SD卡的VDD脚与VSS脚之间电阻值的10倍。
所述的micro SD卡的检测系统中，所述电阻的阻值为600MΩ。
所述的micro SD卡的检测系统中，所述供电端的电压为3V。
一种上述的micro SD卡的检测系统的检测方法，其包括：
A、开关控制单元控制开关断开，同时由中断配置单元配置中断检测单元的GPIO1端口为低电平中断；
B、、当micro SD卡插入使mirco SD卡接口的VDD端为低电平，使中断检测单元检测到GPIO1端口产生低电平中断时，中断配置单元将GPIO1端口配置成不检测中断，同时开关控制单元控制开关闭合，使供电端为microSD卡供电。
所述的检测方法中，所述步骤B还包括：在micro SD卡插入后，定时读取micro SD卡的ID，如果读取micro SD卡的ID失败，所述开关控制单元控制开关断开，同时由中断配置单元配置中断检测单元的GPIO1端口为低电平中断。
有益效果：本发明提供的micro SD卡的检测系统及其检测方法，由所述控制模块检测mircoSD卡的插入状态，并依据mircoSD卡插入状态控制所述开关检测模块的启闭，使开关检测模块相应控制mircoSD卡的VDD端的供电状态，在不增加新的引脚（金属弹片）的同时，实现了对mircoSD卡的检测，有效的减少了mircoSD卡座的体积，而且本发明无需使用金属弹片，避免了金属弹片在多次使用后容易发生形变，导致弹性下降，影响micro SD卡插入的检测的问题。
附图说明
图1为现有技术的micro SD卡插入检测系统的结构示意图。
图2为本发明提供的micro SD卡的检测系统的结构框图。
图3为本发明提供的micro SD卡的检测系统的电路原理图。
图4为本发明提供的micro SD卡的检测系统的方法流程图。
具体实施方式
本发明提供一种micro SD卡的检测系统及其检测方法。为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
图2为本发明提供的一种micro SD卡的检测系统的结构框图。如图2所示，本发明的micro SD卡插入检测系统，具体包括：micro SD卡接口100、开关检测模块200和控制模块300。
所述micro SD卡接口100的VDD端通过开关检测模块200与控制模块300连接，VDD端还与控制模块300连接，所述micro SD卡接口100的VSS端接地。
所述控制模块，用于检测micro SD卡接口的VDD端是否产生中断来判断mircoSD卡的插入状态，并依据mircoSD卡插入状态控制所述开关检测模块的启闭，使开关检测模块相应控制mircoSD卡的VDD端的供电状态。
请一并参阅图3，microSD卡接口100包括microSD卡的8个引脚：DAT2、DAT3、CMD、VDD、CLK、VSS、DAT0、DAT1；microSD卡接口100位于microSD卡座中，microSD卡座用于放置microSD卡，microSD卡接口100中的8个引脚分别与microSD卡座中对应的8个金手指相连接；当microSD卡插入microSD卡座时，microSD卡接口10的8个引脚与microSD卡的8个引脚一一相连；由于microSD卡接口100中的DAT2、DAT3、CMD、CLK、DAT0、DAT16个引脚与本发明无关，本发明只关注VDD、VSS两个引脚（即VDD端和VSS端）。
所述开关检测模块具体还包括电阻R和开关K；所述电阻R的一端连接micro SD卡接口100的VDD端和开关K的一端，电阻R的另一端连接供电端VLDO和开关K的另一端，所述开关K的控制端连接控制模块300，所述mirco SD卡接口100的VSS端接地。
本实施例中，所述开关K为高速开关或者模拟开关，由控制模块对其导通状态进行控制，所述供电端VLDO可以使用VLDO（超低压差稳压器）进行供电，该稳压器是一种常用的，用于电池供电的便携式设备中线性稳压器，能够有效的在低输入电压下和低压差要求下为设备提供稳定的低输出电压。
请继续参阅图3，所述控制模块具体包括开关控制单元310，中断检测单元320和中断配置单元330；所述开关控制单元310、中断信号检测单元320、中断配置单元330依次连接，开关控制单元310还连接开关K的控制端，中断检测单元320连接mirco SD卡接口100的VDD端和电阻的一端。
具体地，所述开关控制单元310用于控制所述开关的启闭；中断检测单元320用于接收mircoSD卡插入产生的中断信号；中断配置单元330用于在检测到中断信号后，将中断检测单元320配置成不检测中断信号。本实施例中，所述中断配置单元330用于配置GPIO1的中断检测，可以配成低电平中断，也可以配成高电平中断。
更具体的，所述电阻R的阻值大于等于micro SD卡在未供电状态下，micro SD卡的VDD脚与VSS脚之间电阻值的10倍。设micro SD卡的VDD脚与VSS脚之间电阻值为R1，电阻R的阻值为R2 ，R2≥ 10×R1。
本发明具体实施例中提供的开关检测模块依据mircoSD卡插入而产生中断信号的具体工作原理如下：当micro SD卡未插入卡座，即micro SD卡接口的VDD端悬空时，VDD端通过电阻R上拉至与供电端VLDO相连接。因此，VDD端的电压等于供电电压，为高电平。当micro SD卡插入micro SD卡座时，依据电压分配原理，VDD端的电压为供电电压的 。因为R2≥ 10×R1，所以，micro SD卡插入时，mirco SD卡接口100的VDD端的电压小于供电电压。一般来说，当低于供电电压的10%时，即可认为是低电平，因此，当mircoSD卡插入时，VDD端为低电平，由此开关检测模块依据mircoSD卡的插入而产生一低电平中断信号。当然，也可以采用其他合适的方法依据mircoSD卡的插入产生低电平或者高电平信号。
较佳的是，所述电阻R的阻值为600MΩ。一般地，micro SD卡VDD脚与VSS脚之间的电阻约为60kΩ，远远小于600MΩ。选择上述阻值可以有效保证低电平信号的产生。当然，电阻R的阻值还可采用其它阻值，只要能实现micro SD卡插入时，使micro SD卡接口的VDD端为低电平即可。
所述控制模块的具体工作流程如下：
移动终端开机时，所述开关控制单元310控制开关K断开，断配置单元330配置GPIO1为低电平中断；当micro SD卡未插入micro SD卡座，即micro SD卡接口100各个脚悬空时，其VDD端通过600MΩ的电阻R与供电端VLDO相连接，因此，VDD端被上拉至高电平，GPIO1处将不会产生低电平中断信号。
当mirco SD卡插入mirco SD卡座100时，microSD卡接口100的8个引脚分别与microSD卡的8个引脚相接触；由于microSD卡VDD脚与VSS脚之间的电阻远小于600MΩ，使micro SD卡接口100的VDD端为低电平；而中断检测单元320的GPIO1为低电平中断，因此，中断检测单元320将检测到microSD卡插入，通过中断配置单元330将GPIO1配置成不检测中断，保证供电端持续有效的为mircoSD卡供电，同时开关控制单元310控制开关K闭合，由供电端VLDO为microSD卡供电。
如图3所示，更具体的是，所述中断检测单元320通过GPIO与mircoSD卡接口100的VDD端连接，检测VDD端上因mircoSD卡插入而产生的低电平中断信号。所述GPIO（通用输出/输入端口）是一种可编程的端口，可以通过设置中断配置单元320（即其寄存器）设置为高电平中断或者低电平中断及其他需要的功能，与传统的串口或者并口相比，更为简单。
较佳的是，所述供电端的电压为3V。当然，也可以依据mircoSD卡的实际需要选择合适的供电电压。
本发明还相应提供一种上述micro SD卡的检测系统的检测方法，如图4所示，其包括：
S1、开关控制单元控制开关断开，同时由中断配置单元配置中断检测单元的GPIO1端口为低电平中断。
S2、当micro SD卡插入使mirco SD卡接口的VDD端为低电平，使中断检测单元检测到GPIO1端口产生低电平中断时，中断配置单元将GPIO1端口配置成不检测中断，同时开关控制单元控制开关闭合，使供电端为microSD卡供电。具体请参阅上述实施例。
进一步的，所述步骤S2还包括：在micro SD卡插入后，定时读取micro SD卡的ID，如果读取micro SD卡的ID失败（表示micro SD卡已拨出），所述开关控制单元控制开关断开，同时由中断配置单元配置中断检测单元的GPIO1端口为低电平中断，等待下一次中断。
综上所述，本发明提供利用开关检测模块和控制模块，进行中断信号的检测。在micro SD卡座不增加新的引脚（金属弹片）的同时，实现了对mircoSD卡插入的检测，有效的减少了mircoSD卡座的体积，避免了金属弹片在多次使用后容易发生形变，弹性下降，影响micro SD卡插入的检测的问题。
可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案及本发明构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
Claims (8)
1.一种micro SD卡的检测系统，其特征在于，包括：micro SD卡接口、开关检测模块和控制模块；
所述控制模块检测micro SD卡接口的VDD端是否产生中断来判断mircoSD卡的插入状态，并依据mircoSD卡插入状态控制所述开关检测模块的启闭，使开关检测模块相应控制mircoSD卡的VDD端的供电状态。
2.根据权利要求1所述的micro SD卡的检测系统，其特征在于，所述开关检测模块包括电阻和开关；所述电阻的一端连接micro SD卡接口的VDD端和开关的一端，电阻的另一端连接供电端和开关的另一端，所述开关的控制端连接控制模块，所述mirco SD卡接口的VSS端接地。
3.根据权利要求2所述的micro SD卡的检测系统，其特征在于，所述控制模块包括：
开关控制单元，连接开关的控制端，用于控制所述开关的启闭；
中断检测单元，连接mirco SD卡接口的VDD端，用于接收mircoSD卡插入产生的中断信号；
中断配置单元，连接中断检测单元，用于在检测到中断信号后，将中断检测单元配置成不检测中断信号。
4.根据权利要求2所述的micro SD卡的检测系统，其特征在于，所述电阻的阻值大于等于micro SD卡在未供电状态下，micro SD卡的VDD脚与VSS脚之间电阻值的10倍。
5.根据权利要求4所述的micro SD卡的检测系统，其特征在于，所述电阻的阻值为600MΩ。
6.根据权利要求2所述的micro SD卡的检测系统，其特征在于，所述供电端的电压为3V。
7.一种如权利要求3所述的micro SD卡的检测系统的检测方法，其特征在于，包括：
A、开关控制单元控制开关断开，同时由中断配置单元配置中断检测单元的GPIO1端口为低电平中断；
B、当micro SD卡插入使mirco SD卡接口的VDD端为低电平，使中断检测单元检测到GPIO1端口产生低电平中断时，中断配置单元将GPIO1端口配置成不检测中断，同时开关控制单元控制开关闭合，使供电端为microSD卡供电。
8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述步骤B还包括：在micro SD卡插入后，定时读取micro SD卡的ID，如果读取micro SD卡的ID失败，所述开关控制单元控制开关断开，同时由中断配置单元配置中断检测单元的GPIO1端口为低电平中断。
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