CN104296964A - 一种光纤环互易对称性评价及补偿方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种光纤环互易对称性评价与补偿方法。本发明利用增强布里渊背向反射检测技术得到表征互易对称性的光纤环内部应力状态分布数据，通过该分布数据建立工作温度范围内的对称性模型并分析评价待测光纤环的互易对称性；同时，根据得到最佳互易性对称位置和误差大小与误差方向，来调整实际几何对称位置与光学对称位置的关系来补偿误差，实现光纤环的高互易对称性，有效降低光纤环因对称性差导致的环境非互易误差。本发明实现方法简单，综合适用性强，测量精度高，可靠性和重复性高，可以通过对光纤环互易对称性的评价评估光纤环质量，同时可将对称性误差补偿，大大减小甚至消除非互易误差，提高光纤环的环境适应性。

Description

一种光纤环互易对称性评价及补偿方法

技术领域

本发明属于光学测量、光纤传感技术领域，具体涉及一种光纤环互易对称性评价及补偿方法。

背景技术

光纤陀螺(Fiber OpTic Gyroscope，简称FOG)是利用光学萨格奈克效应(sagnac)测量载体空间角速率的全固态惯性仪表，其使用不同长度的光纤实现不同精度角速率的测量，是一种光纤角速率传感器。其结构简单、设计灵活，是第二代光学全固态惯性仪表，将是惯性导航应用的主要仪表。

光纤陀螺旋转时，产生一个正相关角速率的相位变化。干涉仪的两束光由进入到光纤环构成的闭合光路中相向传播，此时两束光经过相同光路，可通过类差分的互易性消除外界环境引入的误差，将转动引入的非互易量——相位变化引起的光强变化检测出来，从而实现对角速率的测量。

光纤环是光纤陀螺的核心传感器件，其质量好坏直接决定了光纤陀螺的性能尤其是环境适应性。使用保偏光纤的光纤环降低了因环境因素导致非互易误差的影响，从而提升了陀螺的精度和环境适应性。但由于光纤环需要将几百几千米的光纤按照特定的绕制方法规则缠绕，其过程中还需要使用光纤填充胶用于整体固定，所以在光纤环的绕制及填充胶的使用中不可避免的引入了外加应力。而保偏光纤分应力保偏型和形状保偏型，外加应力会破坏原有保偏效果，使得光纤环的互易性破坏，无法消除因环境引入的非互易误差，从而极大劣化了光纤陀螺的精度和环境适应性，限制了光纤陀螺的实际使用性能。

目前对于光纤的通用检测方法是测量其最终状态的整体串音和损耗，由于这些只是对于宏观结果的表述，无法描述光纤环的成环质量尤其是互易对称性，无法对光纤环的性能实现有效评价。同时也有采用OTDR(光时域反射计)测试光纤环分布式损耗、BOTDR(使用白光干涉原理的布里渊时域反射计)测试光纤环分布式串音的方法进行评测。但由于前者与互易对称性相关度差，并无实际意义；后者测试仅为相对量，无法与最终结果对应，且测试精度差，不能满足光纤环的互易对称性评估。

利用增强布里渊背向反射检测技术针对影响光纤传光性能的应力进行评测，但目前只能从直观上观察发布情况，缺乏一种定量的评估手段来分析光纤环的互易对称性，尤其是在分析陀螺具体应用温度环境的全温特性时也缺乏准确的评估标准。因此需要一种可靠的定量方法来评估光纤环的互易对称性，对光纤环的材料、成环工艺、固化工艺等提供必要的制导，对成环后的光纤环进行准确的互易对称性误差测量以评估期质量，进而将互易对称性误差补偿，实现光纤环的高环境适应性。

发明内容

本发明的目的是：为克服现有光纤环评估技术不足，针对光纤环成环材料、工艺和环境条件变化对光纤陀螺用光纤环互易对称性的影响，提出了一种光纤环互易对称性评价方法。

另外，本发明基于上述评价方法还提供一种光纤环互易对称性补偿方法。

一种光纤环互易对称性评价方法，其利用增强布里渊背向反射检测技术得到待测光纤和待测光纤环长度集合及沿长度方向的各温度点应力分布数据集合，并分别建立各自修正模型，二者相减得到光纤环长度与自身应力分布值，并导入与光纤环相匹配的应力对称性模型中，得出光纤环沿长度方向上的几何中点与沿中点对称的两侧光纤环长度与应力分布集合及对称性误差，实现评价待测光纤环的互易对称性。

具体包括如下步骤：

步骤1：将与待测光纤环相同类型的自由伸展光纤保存在温箱中，将温箱温度设置为光纤环工作要求温度范围，使作为标定基准的自由伸展光纤处于稳定热平衡状态；

步骤2：使用增强布里渊背向反射应力检测仪进行分布式应力检测试验，得出待测光纤长度集合L_T及待测光纤沿长度方向的各温度点应力分布数据集合E_T，其中T为温箱工作温度

步骤3：根据数据集合E_T建立标定模型基准值F(x)₀，对长度集合L_T及应力分布数据集合E_T0进行标定，从而得出无外界应力状态下光纤长度与应力分布温度相关基准；

步骤4：将待测光纤环保存在温箱中，将温箱温度设置为光纤环工作要求温度范围；

步骤5：使用增强布里渊背向反射应力检测仪进行分布式应力检测试验，得出待测光纤环长度集合L_Tx及沿长度方向的各温度点应力分布数据集合E_Tx，其中T为温箱工作温度；

步骤6：建立光纤环应力分布特性的计算修正模型F(x)_T，其与步骤3所建立的标定模型基准值F(x)₀相减得出光纤环长度与自身应力分布值F(x)_R＝F(x)_T-F(x)₀；

步骤7：建立与光纤环相匹配的应力对称性模型M(x)，将修正后的应力分布特性F(x)_R带入，得出光纤环沿长度方向上的几何中点L_m与沿中点对称的两侧光纤环长度与应力分布集合及对称性误差δ(x,T)，从而实现对光纤环的互易对称性评价。

进行光纤原料质量的评价时，具体过程如下：将光纤桶两端接入增强型布里渊反射测试仪，测试其应力分布数据，得出出厂原始参数；给定温度测试点，评价环境变化时光纤的应力分布数据，与出厂原始参数相比得出原厂生产条件下是否存在瑕疵，初步评价光纤性能；在预设分纤张力下分出光纤环所用光纤，测试应力分布数据，评价此工艺过程是否存在异常。

对光纤环的绕制工艺质量进行评价时，具体过程如下：将光纤原料和绕制结构安装在绕制设备上，安装完毕后进行应力分析测试，监控此步工艺过程有无误差引入；如果没有引入误差，则进行正式绕制；在绕制特定位置，如一层结束、特定长度或者绕制异常点停止绕制，进行应力分析测试和互易对称性误差评价，监控此步工艺过程引入的误差，重复上述操作直至完成。

对光纤绕环填充胶和其使用工艺进行评价时，具体过程如下：按正常工艺绕制一无填充胶的光纤环，进行应力分布测试，得出其互易对称性误差和补偿参数；按正常工艺绕制一带胶光纤环，在每次涂胶和最终成环后进行应力分析测试机互易对称性误差；对不同固化条件固化后的光纤环进行应力分布测试，得出其互易对称性误差和补偿参数；通过上述数据比对，建立误差偏移模型，定量分离材料及工艺引入误差，实现改进。

一种光纤环互易对称性补偿方法，具体包括如下步骤：

步骤1：按本发明所述的方法计算互易对称性误差δ(x,T)；

步骤2：建立补偿模型F(x)_P，其与修正后的应力分布特性F(x)_R和应力对称性模型M(x)联立，得出互易对称性误差δ(x,T)最小时的互易对称性位置x₀，其与测试长度对称性位置x_m之差即为补偿系数Δ；

步骤3：按照误差方向对光纤环尾纤修正补偿系数Δ，实现对互易对称性的补偿。

所述待测光纤为保偏光纤或单模光纤。

所述光纤环为光纤陀螺用光纤环。

所述光纤环为光纤环绕制过程中、绕制完毕后、环境应力筛选后的光纤环。

在光纤环绕制过程中，对光纤环互易对称性和应力异常点进行测试。

本发明的优点与有益的效果：实现方法简单，综合适用性强，测量精度高，可靠性和重复性高，可以通过对光纤环互易对称性的评价评估光纤环质量，同时可将对称性误差补偿，大大减小甚至消除非互易误差，提高光纤环的环境适应性。同时，这种方法还实现了原料光纤、成环过程在线监测以及成品的全温性能评估，从而可以有效改进制作工艺，优选最佳材料，保证最佳光纤环性能。所以，光纤环互易对称性评价与补偿方法对于光纤陀螺环境适应性提升具有重要意义。

本发明通过增强布里渊背向反射检测技术，精确测量光纤环沿长度方向的应力分布数据，通过分析模型定量互易对称性误差的位置和类型，实现准确定量评价光纤环的互易对称性。并通过补偿模型消除非互易对称性，实现对于光纤环质量的准确评价与补偿。本发明除可用于光纤陀螺用光纤环外，还可以广泛应用于评价多种类型的光纤及其制品。

附图说明

图1为本发明的检测原理示意图。

图2为光纤环应力分布在不同环境条件下的对比图；

图2a为-40℃时光纤环沿长度方向应力分布示意图；

图2b为25℃时光纤环沿长度方向应力分布示意图；

图2c为+40℃时光纤环沿长度方向应力分布示意图；

图2d为+60℃时光纤环沿长度方向应力分布示意图。

图3为评估光纤环互易对称性及误差模型处理结果示意图。

图4为本发明的光纤环互易对称性评价及补偿的流程示意图。

图5为本发明应用前后结果图，

图5a为补偿前全温零偏性能，零偏稳定性3.5°/h示意图；

图5b为补偿后全温零偏性能，零偏稳定性1.1°/h示意图。

具体实施方式

本发明提出的方法将结合附图和实例在下面作进一步的说明。

下面本发明分评价和补偿两部分来说明实现过程。

第一部分：光纤环互易对称性评价方法实现对对称性误差的定量评价。

光纤陀螺是基于光学sagnac非互易效应的第二代光学全固态惯性仪表，其目前面临的主要问题是在温度场扰动下光纤环产生温度误差(shupe误差)，引起陀螺精度劣化。根据文献所述，可以通过特殊的四极、八极等对称绕制方式来消除shupe误差。

${\mathrm{\Ω}}_e\left(z\right)=\frac{n}{\mathrm{LD}}\frac{\mathrm{dn}}{\mathrm{dT}}{\∫}_0^L\frac{\mathrm{dT}}{\mathrm{dt}}(z,t)(L-2z)\mathrm{dz}---\left(1\right)$

其中dz为光纤微元，n为折射率，T为时间，L为光纤长度，D为光纤环直径，T为对应微元的温度，z为微元位置。可以看出当据光纤中点距离相等的两端微元dz有着相同的温度扰动时，shupe误差为零。

Ω_e(z)＝-Ω_e(L-z)  (2)

但实际上L指的是光纤的光程，而光程受温度、应力等发生变化，则无法保证shupe误差的消除效果。

本发明通过对光纤沿长度方向的布里渊频移精确测试，表征出光纤各点的应力情况。以应力保偏型光纤为例，其光纤偏振特性完全由所受应力情况决定，所以对于应力的测试可以直接表征在光纤中传播光的状态。

图1为本发明的检测原理示意图。将光纤环两根尾纤分别熔接于增强布里渊背向反射检测两测试端，泵浦光源首先对光纤施加预激发能量，扫频光源实现对光纤各点的布里渊频移测试，从而检测出应力分布及变化情况。如图2所示，同一光纤环在不同温度下的应力分布及变化差异极大，图中横坐标为光纤长度、纵坐标为应力大小。

本发明分评价光纤环互易对称性的方法分为以下步骤

步骤1：将与待测光纤环相同类型的自由伸展光纤保存在温箱中，将温箱温度设置为光纤环工作要求温度范围，根据需要选择具有代表价值的若干温度点T₁、T₂、T₃……，并保温足够时间使作为标定基准的自由伸展光纤处于稳定热平衡状态。

步骤2：使用增强布里渊背向反射应力检测仪进行分布式应力检测试验，得出待测光纤长度集合L_Ti及待测光纤沿长度方向的各温度点应力分布数据集合E_Ti及其分布曲线，其中T_i为选择的特征温度点，如图2所示。

步骤3：根据数据集合E_Ti建立标定模型基准值F(x)₀，对长度集合L_Ti及应力分布数据集合E_T0进行标定，从而得出无外界应力状态下光纤长度与应力分布温度相关基准。具体是：

测试选取相同的采样分辨率，根据熔点处的异常应力值判别两侧端点Ls和Le，从而得出待测光纤长度L＝Le-Ls以及对应点的应力值Ez_0t。并取其分段均值作为对应温度条件下基准应力偏差值。

步骤4：将待测光纤环保存在温箱中，将温箱温度设置为相同温度点T₁、T₂、T₃……；

步骤5：使用增强布里渊背向反射应力检测仪进行分布式应力检测试验，得出待测光纤环长度集合L_Txi及沿长度方向的各温度点应力分布数据集合E_Txi，其中T_i为温箱工作温度；

步骤6：建立光纤环应力分布特性的计算修正模型F(x)_T，其与步骤3所建立的标定模型基准值F(x)₀相减得出光纤环长度与自身应力分布值F(x)_R＝F(x)_T-F(x)₀具体是：

选取相同的采样分辨率，根据熔点处的异常应力值判别光纤环两侧端点Ls和Le，从而得出待测光纤环长度L＝Le-Ls以及对应点的应力值Ez_x。此时将对应温度点的基准应力偏差值减去，即得出修正后的各点应力值Ez_x0。

步骤7：建立与光纤环相匹配的应力对称性模型M(x)，将修正后的应力分布特性F(x)_R带入，得出光纤环沿长度方向上的几何中点L_m与沿中点对称的两侧光纤环长度与应力分布集合及对称性误差δ(x,T)，从而实现对光纤环的互易对称性评价。具体是：

通过两侧熔接点判别光纤环端点位置，取其中值作为假定几何长度中点m₀，由于光纤环为多层带胶结构，其实际中点受力最大。从而根据应力分布图示得出实际开始中点m₁，则m₁与m₀之差m_δ即为几何中点误差。首先将几何中点误差m_δ减去，此时根据m₁对两侧分别求应力和∑E_左、∑E_右。其差值δ(x，T)即为互易对称性误差。

第二部分，光纤环互易对称性补偿方法实现对称性误差的消除及陀螺性能的提升。

互易对称性误差δ(x，T)的存在使shupe误差的消除存在极大的残差，劣化了陀螺性能，如图5a所示，其零偏稳定性为3.5°/h。

本发明分评价光纤环互易对称性的方法分为以下步骤

步骤1：按本发明所述的方法计算互易对称性误差δ(x,T)；

步骤2：建立补偿模型F(x)_P，其与修正后的应力分布特性F(x)_R和应力对称性模型M(x)联立，得出互易对称性误差δ(x,T)最小时的互易对称性位置x₀，其与测试长度对称性位置x_m之差即为补偿系数Δ。其具体是：

计算出互易对称性误差δ(x，T)取最小值时对应的假设中点位置x₀，其余长度对称性位置x_m也就是m₁的差值即为所要补偿的长度系数Δ，其正负与左右方向相关。

步骤3：按照误差方向对光纤环尾纤修正补偿系数Δ，实现对互易对称性的补偿。

实施实例

选用包层直径/外层涂层直径为80μm/165μm的熊猫型偏振保持光纤所制备的光纤环461m，分别测试其在-40℃、-20℃、0℃、25℃、40℃、60℃等温度点下的互易性误差情况。

表1光纤环互易对称性误差全温试验结果

陀螺改善结果：如图5所示，由图5a的3.5°/h的零偏稳定性改善至1.1°/h，改善明显。

本发明同时可对光纤环绕制过程中的光纤环互易对称性和应力异常点进行测试，从而可以对光纤环的绕制工艺和绕制参数进行评估，进而通过改进提升光纤环的互易对称性和性能质量。

本发明同时可对光纤绕环填充胶使用后以及环境应力筛选后光纤环的互易对称性评价，从而可以对光纤环的光纤、填充胶材料、填充胶使用工艺进行评估，进而优选提升光纤环的互易对称性和性能质量。

本发明测试准确性优点如下所述：

布里渊反射测试技术原理如下：

$h(z,t)={\mathrm{\Δv}}_B{e}^{-[{\mathrm{\Δv}}_B+i(v_B\left(z\right)-v)]t}---\left(3\right)$

从测试原理可知，声子激发需28ns的时间，导致测试精度无法提高。而增强型布里渊反射技术采用预泵浦原理，提前给予声子能量，使得声子激发时间大大减少，从而提高了测量精度。可以满足cm级的分布式测量，远远优于目前其他评价方法，可以更加准确的描述空间应力分布特性。

图1所示为本发明的检测原理示意图，分别从光纤环两端打入脉冲预泵浦光和测试光，光纤空间各点受光激励，这时测试其布里渊频率值，实现光纤沿长度方向各点的精确布里渊频率值测量。布里渊频率是测试点对于应力的直接反应量，从而可以直接转换为该点所受应力的大小。

目前光纤传光依靠包层与涂层之间的全反射原理，而对于保偏光纤来说，通过掺杂应力棒来保证纤芯中传输光的偏振特性是较为通行的手段。那么评测光纤的空间应力分布特性就是直接评价传输光性质的最佳手段。可以有效反映光纤环制作工艺、材料特性及填充胶特性、温度扰动等外界干扰因素对于光纤性质的影响，可以真实反映光纤环的制作质量，从而改进待测光纤环的材料选择、绕制工艺及填充胶材料和使用工艺。

如图2所示，图2a～图2b展示了同一光纤环(461m)在不同环境应用温度下的沿光纤方向的应力分布，可以看出光纤环的应力分布随温度变化明显，其与光纤材料及绕环填充胶材料直接相关。

通过应力对称分布模型对数据进行处理，得出其几何中点位置L_m＝228.211m与光学互易性对称位置E_m＝231.5m，如图3所示。

则几何中点位置L_m与光学互易性对称位置E_m之差即为光纤环的互易对称性误差3.289m，其相较mm级几何对称误差大了3个数量级。

将误差方向和对应值进行补偿系数的计算，得出补偿系数Δ的大小和方向，从而实现对于互易对称性误差的补偿。

具体实施流程见图4。

本发明可以对各种光纤原料质量的评价，具体步骤如下：

步骤1：将购入光纤桶两端接入增强型布里渊反射测试仪，在常温25℃下测试其应力分布数据，得出出厂原始参数；

步骤2：给定温度测试点(与光纤环工作范围相关)，评价环境变化时光纤的应力分布数据，与步骤1相比得出原厂生产条件下是否存在瑕疵，初步评价光纤性能；

步骤3：在预设分纤张力下分出光纤环所用光纤，在常温25℃下测试应力分布数据，评价此工艺过程是否存在异常。

光纤原料的评价是指光纤环绕制前对使用的光纤原料进行瑕疵检验和工艺流程确认，避免因光纤原料引入的性能劣化，避免误差传递。

本发明可以对光纤环的绕制工艺质量进行评价，具体步骤如下：

步骤1：将光纤原料和绕制结构安装在绕制设备上，安装完毕后进行应力分析测试，监控此步工艺过程有无误差引入；

步骤2：如果没有引入误差，则进行正式绕制；

步骤3：在绕制特定位置，如一层结束、特定长度或者绕制异常点停止绕制，进行应力分析测试和互易对称性误差评价，监控此步工艺过程引入的误差；

步骤4：重复上述操作直至完成。

本发明也可以通过对于光纤环绕制工艺的评价可以对绕制设备、人员操作水平和工艺合理性做出正确判断，及时改进设备、工艺及人员操作中的问题，实现缺陷最小化，从而提高光纤环的质量。

绕环填充胶是将光纤和骨架本体粘合形成光纤环的关键因素，由于其高分子材料的特性，随温度变化明显，是影响光纤应力分布的最大项。通过对光纤绕环填充胶和其使用工艺进行评价可以最优化胶液材料和使用工艺，是光纤环性能提升的关键所在。本发明可以对光纤绕环填充胶和其使用工艺进行评价，具体步骤如下：

步骤1：按正常工艺绕制一无填充胶的光纤环，进行应力分布测试，得出其互易对称性误差和补偿参数；

步骤2：按正常工艺绕制一带胶光纤环，在每次涂胶和最终成环后进行应力分析测试机互易对称性误差；

步骤3：对不同固化条件固化后的光纤环进行应力分布测试，得出其互易对称性误差和补偿参数；

步骤4：通过上述数据比对，建立误差偏移模型，定量分离材料及工艺引入误差，实现改进。

与传统光纤环宏观测试相比，本发明可以精确评价光纤环内部空间互易对称性误差，有效指导材料和工艺改进。

与其他分布式测试方法比较，本发明测试精度高，可以准确判别误差产生位置和产生机理，定量分析光纤环的互易对称性和补偿量，可以有效解决因互易对称性误差造成的环境适应性下降问题，对于光纤环质量的提升具有重要指导意义。

Claims (10)

1.一种光纤环互易对称性评价方法，其特征在于，利用增强布里渊背向反射检测技术得到待测光纤和待测光纤环长度集合及沿长度方向的各温度点应力分布数据集合，并分别建立各自修正模型，二者相减得到光纤环长度与自身应力分布值，并导入与光纤环相匹配的应力对称性模型中，得出光纤环沿长度方向上的几何中点与沿中点对称的两侧光纤环长度与应力分布集合及对称性误差，实现评价待测光纤环的互易对称性。

2.根据权利要求1所述的光纤环互易对称性评价方法，其特征在于，具体步骤如下：步骤2.1：将与待测光纤环相同类型的自由伸展光纤保存在温箱中，将温箱温度设置为光纤环工作要求温度范围，使作为标定基准的自由伸展光纤处于稳定热平衡状态；

步骤2.2：使用增强布里渊背向反射应力检测仪进行分布式应力检测试验，得出待测光纤长度集合L_T及待测光纤沿长度方向的各温度点应力分布数据集合E_T，其中T为温箱工作温度；

步骤2.3：根据数据集合E_T建立标定模型基准值F(x)₀，对长度集合L_T及应力分布数据集合E_T0进行标定，从而得出无外界应力状态下光纤长度与应力分布温度相关基准；

步骤2.4：将待测光纤环保存在温箱中，将温箱温度设置为光纤环工作要求温度范围；

步骤2.5：使用增强布里渊背向反射应力检测仪进行分布式应力检测试验，得出待测光纤环长度集合L_Tx及沿长度方向的各温度点应力分布数据集合E_Tx，其中T为温箱工作温度；

步骤2.6：建立光纤环应力分布特性的计算修正模型F(x)_T，其与步骤2.3所建立的标定模型基准值F(x)₀相减得出光纤环长度与自身应力分布值F(x)_R＝F(x)_T-F(x)₀；

步骤2.7：建立与光纤环相匹配的应力对称性模型M(x)，将修正后的应力分布特性F(x)_R带入，得出光纤环沿长度方向上的几何中点L_m与沿中点对称的两侧光纤环长度与应力分布集合及对称性误差δ(x,T)，从而实现对光纤环的互易对称性评价。

3.根据权利要求2所述的光纤环互易对称性评价方法，其特征在于，进行光纤原料质量的评价时，具体过程如下：将光纤桶两端接入增强型布里渊反射测试仪，测试其应力分布数据，得出出厂原始参数；给定温度测试点，评价环境变化时光纤的应力分布数据，与出厂原始参数相比得出原厂生产条件下是否存在瑕疵，初步评价光纤性能；在预设分纤张力下分出光纤环所用光纤，测试应力分布数据，评价此工艺过程是否存在异常。

4.根据权利要求2所述的光纤环互易对称性评价方法，其特征在于，对光纤环的绕制工艺质量进行评价时，具体过程如下：将光纤原料和绕制结构安装在绕制设备上，安装完毕后进行应力分析测试，监控此步工艺过程有无误差引入；如果没有引入误差，则进行正式绕制；在绕制特定位置，如一层结束、特定长度或者绕制异常点停止绕制，进行应力分析测试和互易对称性误差评价，监控此步工艺过程引入的误差，重复上述操作直至完成。

5.根据权利要求2所述的光纤环互易对称性评价方法，其特征在于，对光纤绕环填充胶和其使用工艺进行评价时，具体过程如下：按正常工艺绕制一无填充胶的光纤环，进行应力分布测试，得出其互易对称性误差和补偿参数；按正常工艺绕制一带胶光纤环，在每次涂胶和最终成环后进行应力分析测试机互易对称性误差；对不同固化条件固化后的光纤环进行应力分布测试，得出其互易对称性误差和补偿参数；通过上述数据比对，建立误差偏移模型，定量分离材料及工艺引入误差，实现改进。

6.一种基于权利要求2所述的光纤环互易对称性评价的补偿方法，其特征在于，具体步骤如下：

步骤1：按权利要求2所述的方法计算互易对称性误差δ(x,T)；

步骤2：建立补偿模型F(x)_P，其与修正后的应力分布特性F(x)_R和应力对称性模型M(x)联立，得出互易对称性误差δ(x,T)最小时的互易对称性位置x₀，其与测试长度对称性位置x_m之差即为补偿系数Δ；

步骤3：按照误差方向对光纤环尾纤修正补偿系数Δ，实现对互易对称性的补偿。

7.根据权利要求6所述的补偿方法，其特征在于，待测光纤为保偏光纤或单模光纤。

8.根据权利要求6所述的补偿方法，其特征在于，所述光纤环为光纤陀螺用光纤环。

9.根据权利要求6所述的补偿方法，其特征在于，所述光纤环为光纤环绕制过程中、绕制完毕后、环境应力筛选后的光纤环。

10.根据权利要求6所述的补偿方法，其特征在于，在光纤环绕制过程中，对光纤环互易对称性和应力异常点进行测试。