CN104237691A - 变频器的调试方法 - Google Patents

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CN104237691A CN201410484443.2A CN201410484443A CN104237691A CN 104237691 A CN104237691 A CN 104237691A CN 201410484443 A CN201410484443 A CN 201410484443A CN 104237691 A CN104237691 A CN 104237691A
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陈跃
涂小平
刘启武
王声纲
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Abstract

本申请提供变频器的调试方法,所述方法包括:控制中断处于禁止状态;控制电路中的IGBT处于关断状态;控制所述中断由禁止状态调整为使能状态;检测处于使能状态的所述中断是否满足使能条件;当所述中断满足使能条件时,执行所述中断。

Description

变频器的调试方法
技术领域
本发明涉及空调控制技术,尤其是涉及变频器的调试方法。
背景技术
传统的调试过程通过在程序中设置断点,可以让微控制单元(Micro Control Unit,MCU)在中断处停下来,然后再观察各个变量,如观察逻辑变量的值、单步运行、查看程序的走向等等,甚至借助示波器观察输入/输出端口的电平状态,从而很方便的观察电路输入/输出信号的波形。
但是,若采用上述调试方法,存在如下问题:在变频器的调试过程中,由于变频器的硬件电路中包括绝缘栅双极型晶体管(Insulated Gate Bipolar Transisitor,IGBT),通常包括六只上下互补的IGBT。首先,不管是上桥臂中的任一只IGBT,还是下桥臂中的任一只IGBT,其导通时间都有严格的限制,因此,就不能简单的在程序运行过程中让MCU停下来进行调试,否则,会造成IGBT烧坏。另外,上下互补的两只IGBT不能同时导通,需要在其中实时插入死区,其也需要严格的控制,同样,若简单的在程序运行过程中让MCU停下来进行调试,就会造成上下桥臂短路,进而烧坏上下桥臂中的IGBT。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是现有技术中直接利用断点对变频器进行调试,会烧坏IGBT。
为克服上述问题,本申请提供变频器的调试方法,所述方法包括:
控制中断处于禁止状态;
控制电路中的IGBT处于关断状态;
控制所述中断由禁止状态调整为使能状态;
检测处于使能状态的所述中断是否满足使能条件;
当所述中断满足使能条件时,执行所述中断。
进一步的,所述控制电路中的IGBT处于关断状态,具体为:
通过切断用于控制电路中的IGBT的PWM波,以控制IGBT处于关断状态。
进一步的,在执行所述中断之后,还包括:
在预设计时时间到达后,控制电路中的IGBT由关断状态调整为导通状态。
进一步的,所述预设计时时间为3分钟。
进一步的,当电路中包括三组IGBT,且每组IGBT包括上下互补的两只IGBT时,所述控制电路中的IGBT处于关断状态,具体为:
控制所述三组IGBT处于关断状态。
进一步的,所述电路中的IGBT包括控制功率因数的IGBT。
本发明的有益效果是:通过先将电路中的IGBT关断,再利用中断进行调试,避免了直接利用中断调试而造成IGBT烧坏的情况,使得调试过程更安全可靠。
附图说明
图1是本发明变频器的调试方法的工作流程图。
具体实施方式
下面结合附图,对本发明的技术方案进行详细描述。
在本申请中,变频器的调试方法,所述方法包括:控制中断处于禁止状态;控制电路中的IGBT处于关断状态;控制所述中断由禁止状态调整为使能状态;检测处于使能状态的所述中断是否满足使能条件;当所述中断满足使能条件时,执行所述中断。
通过先将电路中的IGBT关断,再利用中断进行调试,避免了直接利用中断调试而造成IGBT烧坏的情况,使得调试过程更安全可靠。
在本申请中,变频器的调试方法,如图1所示,包括:
步骤101:控制中断处于禁止状态;
步骤102:控制电路中的IGBT处于关断状态。
在具体实施过程中,当进入调试过程,首先控制调试过程中的所有中断处于禁止状态,以确保在控制IGBT处于关断状态之前,中断不会得到执行。接着,在控制中断处于禁止状态之后,控制电路中的IGBT处于关断状态,通过对电路中的IGBT关断,避免了调试过程中烧坏IGBT。优选的,所述电路中的IGBT包括控制功率因数(Power Factor Correction,PFC)的IGBT,在本申请中,甚至关断控制PFC的IGBT,从而避免控制PFC的IGBT也被烧坏。具体的,
具体的,当电路中的IGBT是利用PWM波进行控制的,通过切断用于控制电路中的IGBT的PWM波,以控制电路中的IGBT处于关断状态。
进一步的,通常,变频器的硬件电路包括三组IGBT,其中,每组IGBT包括上下互补的两只IGBT,共六只IGBT。因此,步骤102可以具体为:控制所述三组IGBT处于关断状态。另外,本领域普通技术人员可以根据实际的电路情况,对电路中的IGBT进行关断,如实际电路中包含两组IGBT,则关断的可为电路中的两组IGBT。
在本申请中,在完成步骤102之后,执行:
步骤103:控制所述中断由禁止状态调整为使能状态;
步骤104:检测处于使能状态的所述中断是否满足使能条件;
步骤105:当所述中断满足使能条件时,执行所述中断。
在具体实施过程中,在关断IGBT后,恢复中断的使能,将中断由禁止状态调整为使能状态,从而,当中断满足使能条件时,能够得到执行。关断IGBT之后,能够进行调试,如观察逻辑变量的值、单步运行、查看程序的走向等等。
进一步的,在本申请中,在步骤105之后,还可以包括步骤:
在预设计时时间到达后,控制电路中的IGBT由关断状态调整为导通状态。
为确保IGBT不受执行的中断的影响而导通,在预设计时时间到达后,再控制电路中的IGBT由关断状态调整为导通状态。优选的,经过3分钟后,再控制IGBT导通。

Claims (6)

1.变频器的调试方法,其特征在于,所述方法包括:
控制中断处于禁止状态;
控制电路中的IGBT处于关断状态;
控制所述中断由禁止状态调整为使能状态;
检测处于使能状态的所述中断是否满足使能条件;
当所述中断满足使能条件时,执行所述中断。
2.如权利要求1所述的变频器的调试方法,其特征在于,所述控制电路中的IGBT处于关断状态,具体为:
通过切断用于控制电路中的IGBT的PWM波,以控制IGBT处于关断状态。
3.如权利要求1所述的变频器的调试方法,其特征在于,在执行所述中断之后,还包括:
在预设计时时间到达后,控制电路中的IGBT由关断状态调整为导通状态。
4.如权利要求3所述的变频器的调试方法,其特征在于,所述预设计时时间为3分钟。
5.如权利要求1所述的变频器的调试方法,其特征在于,当电路中包括三组IGBT,且每组IGBT包括上下互补的两只IGBT时,所述控制电路中的IGBT处于关断状态,具体为:
控制所述三组IGBT处于关断状态。
6.如权利要求1所述的变频器的调试方法,其特征在于,所述电路中的IGBT包括控制功率因数的IGBT。
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