CN1041447A - 光栅全息光谱仪 - Google Patents
光栅全息光谱仪 Download PDFInfo
- Publication number
- CN1041447A CN1041447A CN 88106853 CN88106853A CN1041447A CN 1041447 A CN1041447 A CN 1041447A CN 88106853 CN88106853 CN 88106853 CN 88106853 A CN88106853 A CN 88106853A CN 1041447 A CN1041447 A CN 1041447A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- grating
- plane mirror
- optical path
- main optical
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
一种光栅全息光谱仪,集数字波面干涉仪、干涉选择振幅调制光谱仪,扫描光栅单色仪、傅立叶变换红外光谱仪的优点,可应用于紫外、可见及近红外区的光谱分析。只采用一块光栅,制作上无需考虑同步问题,灵敏度与分辨力提高。
Description
本发明涉及一种光栅光谱仪,属光学分析仪器领域。
现有的光谱仪,不能兼顾能量利用率ηE与分辨力利用率ηk,两者的乘积一般为10-3以下,即ηE·ηk<10-3。其原因在于,现有光谱仪的谱线是入射狭缝的象,要充分利用分光原件的分辨力,入射狭缝就须很窄,入射缝平面上光利用率ηE就低;如果加宽入射缝,可以使光利用率ηE提高,但对应的光谱带宽也增大,分辨率ηk就会降低。如北京第二光学仪器厂生产的WFX系列原子吸收分光光度计,入射缝典型宽度为0.2毫米,光致斑宽度约3~4毫米,ηE≈5~10%,入射缝光谱带宽为0.04纳米。在Cu324.7纳米处,一块宽46毫米的光栅,理论分辨间隔为0.006纳米,ηk≈1.5%,两者积ηE·ηk≈10-3。在单道扫描ICP光电直读光谱仪中,这个积为2×10-3。光源的能量及分光元件的分辨力,还有很大的潜力未发挥,已成为光谱仪的一大课题。
要解决问题,须从狭缝入手,采用其它光路。卅年来,发展出干涉调制光谱仪(见苏联C、r、劳季安主编《Colfeuemmue meugemuuu tmexmuke cnckmnockonuu》),但也只在红外区域适用,而且由于需要两个光栅同步转动,实现起来很困难:
本发明的目的是设计一种新的光路,只采用一块光栅,即可获得较好的光能利用率和分辨力利用率,亦即较满意的ηE·ηk值,并可用于紫外可见近红外区的光谱分析。
本发明是通过下述技术方案来实现的:内光路由入射窗(13),准直透镜(2),衍射光栅(3),分束器(半透半反镜)(12),标准平面反射镜(5)、(6),聚光透镜(8),二极管接收面阵(11)及光电接收器(10),还包括一个可拆装的平面反射镜(9)。所述入射窗孔(13)为园孔位于透镜(2)的前焦面,所述光栅(3)可以为透射光栅也可以为反射光栅,位于入射臂上、分束器前,所述分束器(12)与主光路成45°角,所述平面反射镜(6)垂直于主光路设置,后面装有微位移器(7),反射镜(5)位于主光路的一侧与主光路成0~5″的偏角。
本发明的工作原理是:外光源将光源有效光斑成象于入射窗(13)处,经透镜(2)准直成平行光入射到光栅(13),产生色散。转动光栅,使待测波长的光沿图示方向行进,至分束器(12)分束。50%的光反射到平面反射镜(5),50%的光透射到平面反射镜(6)。自(5)、(6)反射回分束器(12)的光第二次分束,各有一半经光栅(3)、透镜(2)出窗口(13),另一半则经透镜(8)会聚。以后有三种工作状态:
a.三维波阵面方式。平面反射镜(9)不进入光路,平面反射镜(5)与主光路(14)成5″的偏角,微位移器(7)开动,二极管面阵(11)获得多幅等厚干涉条纹图,求出三维波阵面,作补偿,进入傅立叶变换,算出谱线。
b.平面相位图式。平面反射镜(9)不进入光路,平面反射镜(5)与主光路(14)成5″的偏角,微位移器不开动,二极管面阵(11)仅获一幅等厚条纹图,求出二维相位图,进入傅立叶变换,算出谱线。
c.干涉选择振幅调制式,平面反射镜(5)与主光路成0°角。将平面反射镜(9)装入光路,使其与透镜(8)的轴线成45°角,开动微位移器(7),光电倍增管(10)接收主波长交变信号。
下面结合本发明的一个最佳实例对本发明作进一步说明。附图中(2)、(8)为石英透镜。入射窗(13)直径略小于入射光斑直径。(3)为反射光栅,装在正弦驱动台(4)上。微位移器(7)为一压电陶瓷,能在高电压作用下往复平动,位移范围0~15微米,位移分辨间隔小于0.01微米。
本发明采用园孔形入射窗,提高了光的利用率。采用一块光栅,利用两个相互(近似)垂直的平面镜反射,起到了两块光栅的效果,分辨力得以提高。本发明的光斑能量利用率ηE与分辨力ηk的乘积ηE·ηk≥0.4比现有光谱仪提高二个数量级以上。本发明广采数字波面干涉仪、干涉选择振幅调制光谱仪、扫描光栅单色仪、傅立叶变换红外光谱仪的优点而成,可应用于紫外、可见及近红外区的光谱分析、适用范围广。由于只采用了一块光栅,避免了考虑多个光栅同步问题,制作上少了许多麻烦,但灵敏度却有提高。
附图说明:
图1-本发明内光路图
2-准直透镜
3-衍射光栅(反射)
4-正弦驱动台
5-平面反射镜
6-平面反射镜
7-微位移器
8-透镜
9-平面反射镜
10-光电倍增管
11-二极管面阵
12-分束器
13-入射窗
14-主光路
Claims (5)
1、一种光栅光谱仪,其特征在于内光路由入射窗(13),准直透镜(2),衍射光栅(3),分束器(半透半反镜)(12)。标准平面反射镜(5)、(6),聚光透镜(8),二极管接收面阵(11)及光电接收器(10),还包括一个可拆装的平面反射镜(9),所述入射窗(13)为园孔位于透镜(2)的前焦面,所述光栅(3)可以为透射光栅也可以为反射光栅,位于入射臂上、分束器前,所述分束器(12)与主光路成45°角。所述平面反射镜(6)垂直于主光路设置,后面装有微位移器(T),反射镜(5)位于主光路的一侧与主光路成0~5″的偏角。
2、一种光栅光谱仪的使用方法,其特征在于有三种工作状态:
a.三维波阵面方式,平面反射镜(9)不进入光路,平面反射镜(5)与主光路(14)成5″的偏角,微位移器开动,二极管面阵(11)获得多幅等厚干涉条纹图,求出三维波阵面,作补偿,进入傅立叶变换,算出谱线。
b.平面相位图式,平面反射镜(9)不进入光路,平面反射镜(5)与主光路(14)成5″的偏角,微位移器(T)不开动,二极管面阵(11)仅获一幅等厚条纹图,求出二维相位图,进入傅立叶变换,算出谱线,
c.干涉选择振幅调制式,平面反射镜(5)与主光路成0°角,将平面反射镜(9)装入光路,使其与透镜(8)的轴线成45°角,开动微位移器(T),光电倍增管(10)接收主波长交变信号。
3、按照权利要求1的光栅光谱仪,其特征在于入射窗(13)的直径应略小于入射光斑直径。
4、按照权利要求1的光栅光谱仪,其特征在于光栅(3)最佳,为反射光栅,装在正弦驱动台上。
5、按照权利要求1的光栅光谱仪,其特征在于微位移器(T)为一压电陶瓷,能在高电压作用下往复平动,位移范围0~15微米,位移分辨间隔小于0.01微米。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN88106853A CN1019857B (zh) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 光栅全息光谱仪 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN88106853A CN1019857B (zh) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 光栅全息光谱仪 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1041447A true CN1041447A (zh) | 1990-04-18 |
CN1019857B CN1019857B (zh) | 1992-12-30 |
Family
ID=4834406
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN88106853A Expired CN1019857B (zh) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 光栅全息光谱仪 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN1019857B (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100468045C (zh) * | 2004-07-09 | 2009-03-11 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 光栅光谱仪 |
CN103528984A (zh) * | 2013-10-22 | 2014-01-22 | 长春长光思博光谱技术有限公司 | 光栅式近红外分析仪 |
CN103913227A (zh) * | 2014-03-10 | 2014-07-09 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 基于轻型分束器的红外成像光谱仪及制作方法 |
-
1988
- 1988-09-28 CN CN88106853A patent/CN1019857B/zh not_active Expired
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100468045C (zh) * | 2004-07-09 | 2009-03-11 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 光栅光谱仪 |
CN103528984A (zh) * | 2013-10-22 | 2014-01-22 | 长春长光思博光谱技术有限公司 | 光栅式近红外分析仪 |
CN103913227A (zh) * | 2014-03-10 | 2014-07-09 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 基于轻型分束器的红外成像光谱仪及制作方法 |
CN103913227B (zh) * | 2014-03-10 | 2016-04-27 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 基于轻型分束器的红外成像光谱仪及制作方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1019857B (zh) | 1992-12-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5880846A (en) | Method and apparatus for color-coded optical profilometer | |
US4091281A (en) | Light modulation system | |
US5483377A (en) | Displacement detection apparatus | |
US5218423A (en) | Method and apparatus for generating a plurality of radiation beams from incident radiation in a multiple wavelength interferometer | |
JPH08136345A (ja) | 複単色計 | |
WO1988010406A1 (en) | Device for measuring distances between an optical element with high chromatic aberration and an object | |
CN105333815B (zh) | 一种基于光谱色散线扫描的超横向分辨率表面三维在线干涉测量系统 | |
JP2617175B2 (ja) | 光学相関メモリ処理システム | |
US3861801A (en) | Device for sampling laser beams | |
CN1831517A (zh) | 一种微型化便携式红外光谱仪 | |
Hutley | Blazed Interference Diffraction Gratings for the Ultra-violet | |
CN1041447A (zh) | 光栅全息光谱仪 | |
EP0062642B1 (en) | Movement measuring apparatus and landmarks for use therewith | |
CN2370408Y (zh) | 平面光栅衍射效率测试仪 | |
CN217112868U (zh) | 一种多模态多色快速切换结构光照明系统 | |
Kawata | Instrumentation for near-infrared spectroscopy | |
DE69327909T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Spektralen Bilderfassung | |
CN1199758C (zh) | 激光加工装置及方法 | |
CN109060761A (zh) | 具有三维高空间分辨率高速拉曼光谱扫描成像方法与装置 | |
JPH08145795A (ja) | 複単色計 | |
US3909134A (en) | Monochromator with a concave grating | |
US5473438A (en) | Spectroscopic method and apparatus for measuring optical radiation | |
JPS62203024A (ja) | フアブリ・ペロ−分光装置 | |
JPH083445B2 (ja) | 光スペクトル検出装置 | |
CN217738983U (zh) | 一种基于单光子计数采集方法的显微圆二色性光谱探测系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C13 | Decision | ||
GR02 | Examined patent application | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C19 | Lapse of patent right due to non-payment of the annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |