CN104143317A - 一种led显示屏的整屏校正方法及装置 - Google Patents
一种led显示屏的整屏校正方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN104143317A CN104143317A CN201410403623.3A CN201410403623A CN104143317A CN 104143317 A CN104143317 A CN 104143317A CN 201410403623 A CN201410403623 A CN 201410403623A CN 104143317 A CN104143317 A CN 104143317A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- optical information
- light intensity
- concatenation unit
- whole screen
- grade
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Abstract
本发明实施例公开了一种LED显示屏的整屏校正方法及装置,用于解决光信号采集设备所能采集最强的光信号的LED颗粒为与采集设备位置相重合的法线方向上的光输出的法线方向的光信号的LED颗粒的设计,而导致的采集的光信息的不均匀性的技术问题,而且大大地扩展了LED拼接屏的可观看的视角范围。本发明实施例方法包括:对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据等级的类别对拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏;按照预置方式对整屏的光信息进行采集,并根据采集的光信息进行校正。
Description
技术领域
本发明涉及光信号处理技术领域,尤其涉及一种LED显示屏的整屏校正方法及装置。
背景技术
随着科技的高速发展,及市场大需求量的增长,大型LED显示屏,例如是LED拼接屏越来越炙手可热,LED拼接屏通常是有若干个拼接单元组成,每一个拼接单元排布有若干个LED颗粒,例如一个12平方厘米的拼接单元大概将排布6400个LED颗粒,由于每一个LED颗粒的出厂规格以及其硬件出光规格都是不一致的,因此,需要对LED显示屏上的所有LED颗粒的出光亮度和色彩进行整屏校正。
目前,对于LED拼接屏的整屏校正技术,通常是将光信号采集设备放置在LED屏的正前方位置,通过一次或多次对LED屏上的若干个LED颗粒形成的光信号区域进行采集。
然而,由若干个LED颗粒组合成的LED拼接屏,通过在LED屏正前方位置采集光信号的设计,如图1所示的光学原理图,光信号采集设备所能采集最强的光信号的LED颗粒为与采集设备位置相重合的法线方向上的光输出的法线方向的光信号的LED颗粒,则与光信号采集设备的角度越大,采集的光信号信息越弱,导致了采集的信息的不均匀性,从而缩窄了可观看的视角范围。
发明内容
本发明实施例提供了一种LED显示屏的整屏校正方法及装置,用于解决光信号采集设备所能采集最强的光信号的LED颗粒为与采集设备位置相重合的法线方向上的光输出的法线方向的光信号的LED颗粒的设计,而导致的采集的光信息的不均匀性的技术问题,而且大大地扩展了LED拼接屏的可观看的视角范围。
本发明实施例提供的一种LED显示屏的整屏校正方法,包括:
对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据所述等级的类别对所述拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏;
按照预置方式对确定观看角度并与采集的所述整屏的光信息进行相对应的校正。
优选地,
对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类之前还包括:
根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干所述拼接单元上。
优选地,
对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据所述等级的类别对所述拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏具体包括:
分别对若干个所述拼接单元的光信息进行测量;
将测量后获取的所述光信息与预置阈值进行比对,若大于所述预置阈值,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为高光强等级,若不大于所述预置阈值,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为低光强等级;
将所述高光强等级的所述拼接单元排列在所述整屏的外围位置,将所述低光强等级的所述拼接单元排列在所述整屏的中心部位置。
优选地,
对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据所述等级的类别对所述拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏具体包括:
分别对若干个所述拼接单元的光信息进行测量;
将测量后获取的所述光信息与预置阈值范围进行比对,若大于所述预置阈值范围,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为高光强等级,若属于所述预置阈值范围,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为中光强等级,若小于所述预置阈值范围,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为低光强等级;
将所述高光强等级的所述拼接单元,所述中光强等级的所述拼接单元和所述低光强等级的所述拼接单元依次按照由外向内的位置进行排列成为整屏。
优选地,
所述预置方式为观看距离,和与之对应的观看点与LED显示屏的中心距离三角函数的换算方式。
优选地,
所述光信息为色彩数值。
本发明实施例提供的一种LED显示屏的整屏校正装置,包括:
分类排列单元,用于对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据所述等级的类别对所述拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏;
采集单元,用于按照预置方式对确定观看角度并与采集的所述整屏的光信息进行相对应的校正。
优选地,
所述LED显示屏的整屏校正装置还包括:
分类贴装单元,用于根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干所述拼接单元上。
优选地,
所述分类排列单元具体包括:
第一测量子单元,用于分别对若干个所述拼接单元的光信息进行测量;
第一分类子单元,用于将测量后获取的所述光信息与预置阈值进行比对,若大于所述预置阈值,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为高光强等级,若不大于所述预置阈值,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为低光强等级;
第一排列子单元,用于将所述高光强等级的所述拼接单元排列在所述整屏的外围位置,将所述低光强等级的所述拼接单元排列在所述整屏的中心部位置。
优选地,
所述分类排列单元具体包括:
第二测量子单元,用于分别对若干个所述拼接单元的光信息进行测量;
第二分类子单元,用于将测量后获取的所述光信息与预置阈值范围进行比对,若大于所述预置阈值范围,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为高光强等级,若属于所述预置阈值范围,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为中光强等级,若小于所述预置阈值范围,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为低光强等级;
第二排列子单元,用于将所述高光强等级的所述拼接单元,所述中光强等级的所述拼接单元和所述低光强等级的所述拼接单元依次按照由外向内的位置进行排列成为整屏。
从以上技术方案可以看出,本发明实施例具有以下优点:
本发明实施例提供的一种LED显示屏的整屏校正方法及装置,其中,方法包括:对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据等级的类别对拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏;按照预置方式对整屏的光信息进行采集,并根据采集的光信息进行校正。本实施例中,通过先对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据等级的类别对拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏,再进行相对应的细节校正,不仅解决了现有技术的光信号采集设备所能采集最强的光信号的LED颗粒为与采集设备位置相重合的法线方向上的光输出的法线方向的光信号的LED颗粒的设计,而导致的采集的光信息的不均匀性的技术问题,而且大大地扩展了LED拼接屏的可观看的视角范围。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明实施例提供的一种LED显示屏的整屏校正方法的一个实施例的流程示意图;
图2为本发明实施例提供的一种LED显示屏的整屏校正方法的另一个实施例的流程示意图;
图3为本发明实施例提供的一种LED显示屏的整屏校正方法的另一个实施例的流程示意图;
图4为本发明实施例提供的一种LED显示屏的整屏校正装置的一个实施例的结构示意图;
图5为本发明实施例提供的一种LED显示屏的整屏校正装置的另一个实施例的结构示意图;
图6为本发明实施例提供的一种LED显示屏的整屏校正装置的另一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
本发明实施例提供了一种LED显示屏的整屏校正方法及装置,用于解决光信号采集设备所能采集最强的光信号的LED颗粒为与采集设备位置相重合的法线方向上的光输出的法线方向的光信号的LED颗粒的设计,而导致的采集的光信息的不均匀性的技术问题,而且大大地扩展了LED拼接屏的可观看的视角范围。
为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而非全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1,本发明实施例提供的一种LED显示屏的整屏校正方法的一个实施例包括:
101、对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据等级的类别对拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏;
本实施例中,当需要对LED显示屏,例如LED拼接屏进行整屏校正时,需要对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据等级的类别对若干拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏,前述的光信息可以是色彩数值,例如LED的R、G、B相对应的色彩数值。
需要说明的是,前述的对若干拼接单元由外向内的位置进行排列成的整屏可以是大型矩形的LED拼接屏等,此处具体不做限定。
102、按照预置方式对确定观看角度并与采集的整屏的光信息进行相对应的校正。
当对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据等级的类别对拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏之后,需要按照预置方式对确定观看角度并与采集的整屏的光信息进行相对应的校正,可以理解的是,前述的预置方式为观看距离,和与之对应的观看点与LED显示屏的中心距离三角函数的换算方式,例如观看距离为与LED显示屏的距离,观看角度通过观看点与LED显示屏的中心距离与观看距离的三角函数换算获取,再根据观看角度与采集的整屏的光信息进行相对应的校正。
需要说明的是,前述的根据采集的光信息进行校正,例如可以是通过光信息采集设备,通过软件后期对采集的光信息进行数值上的校对,该校对可以是本领域技术人员公知的校对技术,此处不再赘述。
本实施例中,通过先对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据等级的类别对拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏,再进行相对应的细节校正,不仅解决了现有技术的光信号采集设备所能采集最强的光信号的LED颗粒为与采集设备位置相重合的法线方向上的光输出的法线方向的光信号的LED颗粒的设计,而导致的采集的光信息的不均匀性的技术问题,而且大大地扩展了LED拼接屏的可观看的视角范围。
上面是对LED显示屏的整屏校正方法的一个实施例进行详细的说明,下面将对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类的具体方式进行详细的描述,在实际应用中等级分类的方式有多种,下面分别进行说明。
一、两个等级分类;
请参阅图2,本发明实施例提供的一种LED显示屏的整屏校正方法的另一个实施例包括:
201、根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干拼接单元上;
本实施例中,当需要对LED显示屏,例如LED拼接屏进行整屏校正之前,需要根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干拼接单元上,可以理解的是,前述的贴装可以是SMD(Surface Mounted Devices,表面贴装器件)的贴装技术对若干LED进行贴装。
需要说明的是,前述的若干LED的规格光强值的规格可以是LED厂商所提供的规格信息,如下表所示:
根据光强值的范围将若干LED颗粒进行分类,分别对应分类项M,N和P项,将前述的M分类的若干LED颗粒贴装在一个拼接单元上,N分类的若干LED颗粒贴装在另一个拼接单元上和P分类的若干LED颗粒贴装在另一个拼接单元上,分别形成M,N和P分类的若干个拼接单元,此处具体不做限定。
202、分别对若干个拼接单元的光信息进行测量;
本实施例中,当根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干拼接单元上之后,需要对LED显示屏,例如LED拼接屏进行整屏校正时,需要分别对若干个拼接单元的光信息进行测量,前述的光信息可以是色彩数值,例如LED的R、G、B相对应的色彩数值。
203、将测量后获取的光信息与预置阈值进行比对,若大于预置阈值,则执行步骤204,若不大于预置阈值,则执行步骤205;
当分别对若干个拼接单元的光信息进行测量之后,需要将测量后获取的光信息与预置阈值进行比对,若大于预置阈值,则执行步骤204,若不大于预置阈值,则执行步骤205;
204、与光信息相对应的拼接单元为高光强等级;
当测量后获取的光信息与预置阈值进行比对为大于预置阈值,则设定与光信息相对应的拼接单元为高光强等级。
205、与光信息相对应的拼接单元为低光强等级;
当测量后获取的光信息与预置阈值进行比对为不大于预置阈值,则设定与光信息相对应的拼接单元为低光强等级。
206、将高光强等级的拼接单元排列在整屏的外围位置,将低光强等级的拼接单元排列在整屏的中心部位置;
当步骤204的测量后获取的光信息与预置阈值进行比对为大于预置阈值,则设定与光信息相对应的拼接单元为高光强等级和步骤205的测量后获取的光信息与预置阈值进行比对为不大于预置阈值,则设定与光信息相对应的拼接单元为低光强等级之后,需要将高光强等级的拼接单元排列在整屏的外围位置,将低光强等级的拼接单元排列在整屏的中心部位置。
需要说明的是,前述的整屏的外围位置和中心部位置可以是大型矩形的LED拼接屏例如为4×3的外围的12个拼接单元为高光强等级的拼接单元,中心的2个拼接单元为低光强等级的拼接单元等,此处具体不做限定。
207、按照预置方式对整屏的光信息进行采集,并根据采集的光信息进行校正。
当将高光强等级的拼接单元排列在整屏的外围位置,将低光强等级的拼接单元排列在整屏的中心部位置之后,需要按照预置方式对整屏的光信息进行采集,并根据采集的光信息进行校正,可以理解的是,前述的预置方式将在后续的实施例中进行详细的描述,此处不再详细赘述。
需要说明的是,前述的根据采集的光信息进行校正,例如可以是通过光信息采集设备,通过软件后期对采集的光信息进行数值上的校对,该校对可以是本领域技术人员公知的校对技术,此处不再赘述。
本实施例中,通过先根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干拼接单元上,再分别对若干个拼接单元的光信息进行测量并与预置阈值进行比对设定高/低光强等级分类,根据分类进行相对应地排列,再进行相对应的细节校正,不仅解决了现有技术的光信号采集设备所能采集最强的光信号的LED颗粒为与采集设备位置相重合的法线方向上的光输出的法线方向的光信号的LED颗粒的设计,而导致的采集的光信息的不均匀性的技术问题,而且大大地扩展了LED拼接屏的可观看的视角范围。
二、三个等级;
请参阅图3,本发明实施例提供的一种LED显示屏的整屏校正方法的另一个实施例包括:
301、根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干拼接单元上;
本实施例中,当需要对LED显示屏,例如LED拼接屏进行整屏校正之前,需要根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干拼接单元上,可以理解的是,前述的贴装可以是SMD(Surface Mounted Devices,表面贴装器件)的贴装技术对若干LED进行贴装。
需要说明的是,前述的若干LED的规格光强值的规格可以是LED厂商所提供的规格信息,如下表所示:
根据光强值的范围将若干LED颗粒进行分类,分别对应分类项M,N和P项,将前述的M分类的若干LED颗粒贴装在一个拼接单元上,N分类的若干LED颗粒贴装在另一个拼接单元上和P分类的若干LED颗粒贴装在另一个拼接单元上,分别形成M,N和P分类的若干个拼接单元,此处具体不做限定。
302、分别对若干个拼接单元的光信息进行测量;
本实施例中,当根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干拼接单元上之后,需要对LED显示屏,例如LED拼接屏进行整屏校正时,需要分别对若干个拼接单元的光信息进行测量,前述的光信息可以是色彩数值,例如LED的R、G、B相对应的色彩数值。
303、将测量后获取的光信息与预置阈值范围进行比对,若大于预置阈值范围,则执行步骤304,若属于预置阈值范围,则执行步骤305,若小于预置阈值范围,则执行步骤306;
当分别对若干个拼接单元的光信息进行测量之后,需要将测量后获取的光信息与预置阈值范围进行比对,若大于预置阈值范围,则执行步骤304,若属于预置阈值范围,则执行步骤305,若小于预置阈值范围,则执行步骤306;
304、与光信息相对应的拼接单元为高光强等级;
当测量后获取的光信息与预置阈值范围进行比对为大于预置阈值范围,则设定与光信息相对应的拼接单元为高光强等级。
305、与光信息相对应的拼接单元为中光强等级;
当测量后获取的光信息与预置阈值范围进行比对为属于预置阈值范围,则设定与光信息相对应的拼接单元为中光强等级。
306、与光信息相对应的拼接单元为低光强等级;
当测量后获取的光信息与预置阈值范围进行比对为小于预置阈值范围,则设定与光信息相对应的拼接单元为低光强等级。
307、将高光强等级的拼接单元,中光强等级的拼接单元和低光强等级的拼接单元依次按照由外向内的位置进行排列成为整屏;
当步骤304的测量后获取的光信息与预置阈值范围进行比对为大于预置阈值范围,则设定与光信息相对应的拼接单元为高光强等级,当步骤305的测量后获取的光信息与预置阈值范围进行比对为属于预置阈值范围,则设定与光信息相对应的拼接单元为中光强等级和步骤306的测量后获取的光信息与预置阈值范围进行比对为小于预置阈值范围,则设定与光信息相对应的拼接单元为低光强等级之后,需要将高光强等级的拼接单元,中光强等级的拼接单元和低光强等级的拼接单元依次按照由外向内的位置进行排列成为整屏。
需要说明的是,前述的整屏的由外向内的位置可以是大型矩形的LED拼接屏例如为5×5的最外围的16个拼接单元为高光强等级的拼接单元,第二圈的9个拼接单元为中光强等级的拼接单元,中心的1个拼接单元为低光强等级的拼接单元等,此处具体不做限定。
308、按照预置方式对整屏的光信息进行采集,并根据采集的光信息进行校正。
当将高光强等级的拼接单元,中光强等级的拼接单元和低光强等级的拼接单元依次按照由外向内的位置进行排列成为整屏之后,需要按照预置方式对整屏的光信息进行采集,并根据采集的光信息进行校正,可以理解的是,前述的预置方式将在后续的实施例中进行详细的描述,此处不再详细赘述。
需要说明的是,前述的根据采集的光信息进行校正,例如可以是通过光信息采集设备,通过软件后期对采集的光信息进行数值上的校对,该校对可以是本领域技术人员公知的校对技术,此处不再赘述。
本实施例中,通过先根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干拼接单元上,再分别对若干个拼接单元的光信息进行测量并与预置阈值进行比对设定高/中/低光强等级分类,根据分类进行相对应地排列,再进行相对应的细节校正,不仅解决了现有技术的光信号采集设备所能采集最强的光信号的LED颗粒为与采集设备位置相重合的法线方向上的光输出的法线方向的光信号的LED颗粒的设计,而导致的采集的光信息的不均匀性的技术问题,而且大大地扩展了LED拼接屏的可观看的视角范围。
请参阅图4,本发明实施例中提供的一种LED显示屏的整屏校正装置的一个实施例包括:
分类排列单元401,用于对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据等级的类别对拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏;
采集单元402,用于按照预置方式对确定观看角度并与采集的整屏的光信息进行相对应的校正。
本实施例中,通过分类排列单元401先对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据等级的类别对拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏,采集单元402再进行相对应的细节校正,不仅解决了现有技术的光信号采集设备所能采集最强的光信号的LED颗粒为与采集设备位置相重合的法线方向上的光输出的法线方向的光信号的LED颗粒的设计,而导致的采集的光信息的不均匀性的技术问题,而且大大地扩展了LED拼接屏的可观看的视角范围。
上面是对LED显示屏的整屏校正装置各单元进行详细的描述,下面对分类排列单元的子单元的一个实施例进行详细的描述,请参阅图5,本发明实施例中提供的一种LED显示屏的整屏校正装置的另一个实施例包括:
分类贴装单元501,用于根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干拼接单元上;
分类排列单元502,用于对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据等级的类别对拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏;
其中,分类排列单元502还可以进一步包括:
第一测量子单元5021,用于分别对若干个拼接单元的光信息进行测量;
第一分类子单元5022,用于将测量后获取的光信息与预置阈值进行比对,若大于预置阈值,则与光信息相对应的拼接单元为高光强等级,若不大于预置阈值,则与光信息相对应的拼接单元为低光强等级;
第一排列子单元5023,用于将高光强等级的拼接单元排列在整屏的外围位置,将低光强等级的拼接单元排列在整屏的中心部位置。
采集单元503,用于按照预置方式对确定观看角度并与采集的整屏的光信息进行相对应的校正。
本实施例中,通过分类排列单元502的第一测量子单元5021先根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干拼接单元上,第一分类子单元5022再分别对若干个拼接单元的光信息进行测量并与预置阈值进行比对设定高/低光强等级分类,根据分类进行相对应地排列,采集单元503再进行相对应的细节校正,不仅解决了现有技术的光信号采集设备所能采集最强的光信号的LED颗粒为与采集设备位置相重合的法线方向上的光输出的法线方向的光信号的LED颗粒的设计,而导致的采集的光信息的不均匀性的技术问题,而且大大地扩展了LED拼接屏的可观看的视角范围。
上面是对分类排列单元的子单元的一个实施例进行详细的描述,下面对分类排列单元的子单元的另一个实施例进行详细的描述,请参阅图6,本发明实施例中提供的一种LED显示屏的整屏校正装置的另一个实施例包括:
分类贴装单元601,用于根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干拼接单元上;
分类排列单元602,用于对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据等级的类别对拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏;
其中,分类排列单元602还可以进一步包括:
第二测量子单元6021,用于分别对若干个拼接单元的光信息进行测量;
第二分类子单元6022,用于将测量后获取的光信息与预置阈值范围进行比对,若大于预置阈值范围,则与光信息相对应的拼接单元为高光强等级,若属于预置阈值范围,则与光信息相对应的拼接单元为中光强等级,若小于预置阈值范围,则与光信息相对应的拼接单元为低光强等级;
第二排列子单元6023,用于将高光强等级的拼接单元,中光强等级的拼接单元和低光强等级的拼接单元依次按照由外向内的位置进行排列成为整屏。
采集单元603,用于按照预置方式对确定观看角度并与采集的整屏的光信息进行相对应的校正。
本实施例中,通过分类排列单元602的第二测量子单元6021先根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干拼接单元上,第二分类子单元6022再分别对若干个拼接单元的光信息进行测量并与预置阈值进行比对设定高/中/低光强等级分类,根据分类进行相对应地排列,采集单元603再进行相对应的细节校正,不仅解决了现有技术的光信号采集设备所能采集最强的光信号的LED颗粒为与采集设备位置相重合的法线方向上的光输出的法线方向的光信号的LED颗粒的设计,而导致的采集的光信息的不均匀性的技术问题,而且大大地扩展了LED拼接屏的可观看的视角范围。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统,装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统,装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种LED显示屏的整屏校正方法,其特征在于,包括:
对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据所述等级的类别对所述拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏;
按照预置方式对确定观看角度并与采集的所述整屏的光信息进行相对应的校正。
2.根据权利要求1所述的LED显示屏的整屏校正方法,其特征在于,对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类之前还包括:
根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干所述拼接单元上。
3.根据权利要求1所述的LED显示屏的整屏校正方法,其特征在于,对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据所述等级的类别对所述拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏具体包括:
分别对若干个所述拼接单元的光信息进行测量;
将测量后获取的所述光信息与预置阈值进行比对,若大于所述预置阈值,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为高光强等级,若不大于所述预置阈值,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为低光强等级;
将所述高光强等级的所述拼接单元排列在所述整屏的外围位置,将所述低光强等级的所述拼接单元排列在所述整屏的中心部位置。
4.根据权利要求1所述的LED显示屏的整屏校正方法,其特征在于,对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据所述等级的类别对所述拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏具体包括:
分别对若干个所述拼接单元的光信息进行测量;
将测量后获取的所述光信息与预置阈值范围进行比对,若大于所述预置阈值范围,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为高光强等级,若属于所述预置阈值范围,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为中光强等级,若小于所述预置阈值范围,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为低光强等级;
将所述高光强等级的所述拼接单元,所述中光强等级的所述拼接单元和所述低光强等级的所述拼接单元依次按照由外向内的位置进行排列成为整屏。
5.根据权利要求1所述的LED显示屏的整屏校正方法,其特征在于,所述预置方式为观看距离,和与之对应的观看点与LED显示屏的中心距离三角函数的换算方式。
6.根据权利要求1至4中任意一项所述的LED显示屏的整屏校正方法,其特征在于,所述光信息为色彩数值。
7.一种LED显示屏的整屏校正装置,其特征在于,包括:
分类排列单元,用于对若干个拼接单元按照光信息值由高至低的方式进行等级分类,并根据所述等级的类别对所述拼接单元由外向内的位置进行排列成为整屏;
采集单元,用于按照预置方式对确定观看角度并与采集的所述整屏的光信息进行相对应的校正。
8.根据权利要求7所述的LED显示屏的整屏校正装置,其特征在于,所述LED显示屏的整屏校正装置还包括:
分类贴装单元,用于根据若干LED的规格光强值进行分类贴装在若干所述拼接单元上。
9.根据权利要求7所述的LED显示屏的整屏校正装置,其特征在于,所述分类排列单元具体包括:
第一测量子单元,用于分别对若干个所述拼接单元的光信息进行测量;
第一分类子单元,用于将测量后获取的所述光信息与预置阈值进行比对,若大于所述预置阈值,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为高光强等级,若不大于所述预置阈值,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为低光强等级;
第一排列子单元,用于将所述高光强等级的所述拼接单元排列在所述整屏的外围位置,将所述低光强等级的所述拼接单元排列在所述整屏的中心部位置。
10.根据权利要求7所述的LED显示屏的整屏校正装置,其特征在于,所述分类排列单元具体包括:
第二测量子单元,用于分别对若干个所述拼接单元的光信息进行测量;
第二分类子单元,用于将测量后获取的所述光信息与预置阈值范围进行比对,若大于所述预置阈值范围,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为高光强等级,若属于所述预置阈值范围,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为中光强等级,若小于所述预置阈值范围,则与所述光信息相对应的所述拼接单元为低光强等级;
第二排列子单元,用于将所述高光强等级的所述拼接单元,所述中光强等级的所述拼接单元和所述低光强等级的所述拼接单元依次按照由外向内的位置进行排列成为整屏。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410403623.3A CN104143317B (zh) | 2014-08-15 | 2014-08-15 | 一种led显示屏的整屏校正方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201410403623.3A CN104143317B (zh) | 2014-08-15 | 2014-08-15 | 一种led显示屏的整屏校正方法及装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104143317A true CN104143317A (zh) | 2014-11-12 |
CN104143317B CN104143317B (zh) | 2016-08-17 |
Family
ID=51852477
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201410403623.3A Expired - Fee Related CN104143317B (zh) | 2014-08-15 | 2014-08-15 | 一种led显示屏的整屏校正方法及装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN104143317B (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104464623A (zh) * | 2014-12-05 | 2015-03-25 | 西安诺瓦电子科技有限公司 | 一种调整发光二极管低灰阶的方法及装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070047257A1 (en) * | 2005-08-31 | 2007-03-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing backlight and backlight |
JP2008058896A (ja) * | 2006-09-04 | 2008-03-13 | Mitsubishi Electric Corp | 画像表示装置および画像表示方法 |
CN101692326A (zh) * | 2009-09-01 | 2010-04-07 | 惠州市德赛智能科技有限公司 | Led显示屏整屏现场逐点亮度色度校准系统及方法 |
CN201868072U (zh) * | 2009-09-01 | 2011-06-15 | 惠州市德赛智能科技有限公司 | Led显示屏整屏现场逐点亮度色度校准系统 |
CN102111624A (zh) * | 2010-12-30 | 2011-06-29 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | Led显示屏像素点亮色度信息采集方法 |
CN103985317A (zh) * | 2014-04-16 | 2014-08-13 | 长春希达电子技术有限公司 | 一种集成式三维led显示模组及其拼接的led显示屏 |
-
2014
- 2014-08-15 CN CN201410403623.3A patent/CN104143317B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070047257A1 (en) * | 2005-08-31 | 2007-03-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing backlight and backlight |
JP2008058896A (ja) * | 2006-09-04 | 2008-03-13 | Mitsubishi Electric Corp | 画像表示装置および画像表示方法 |
CN101692326A (zh) * | 2009-09-01 | 2010-04-07 | 惠州市德赛智能科技有限公司 | Led显示屏整屏现场逐点亮度色度校准系统及方法 |
CN201868072U (zh) * | 2009-09-01 | 2011-06-15 | 惠州市德赛智能科技有限公司 | Led显示屏整屏现场逐点亮度色度校准系统 |
CN102111624A (zh) * | 2010-12-30 | 2011-06-29 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | Led显示屏像素点亮色度信息采集方法 |
CN103985317A (zh) * | 2014-04-16 | 2014-08-13 | 长春希达电子技术有限公司 | 一种集成式三维led显示模组及其拼接的led显示屏 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104464623A (zh) * | 2014-12-05 | 2015-03-25 | 西安诺瓦电子科技有限公司 | 一种调整发光二极管低灰阶的方法及装置 |
CN104464623B (zh) * | 2014-12-05 | 2017-06-20 | 西安诺瓦电子科技有限公司 | 一种调整发光二极管低灰阶的方法及装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104143317B (zh) | 2016-08-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103217436A (zh) | 一种背光模组瑕疵的检测方法及设备 | |
CN105517676A (zh) | 智能手环的整机测试方法、装置及移动终端 | |
CN113252053B (zh) | 高精度地图生成方法、装置和电子设备 | |
CN105486288A (zh) | 一种基于机器视觉的视觉伺服对准系统 | |
CN105336297A (zh) | 一种背光控制的方法、装置及液晶显示装置 | |
CN105590092A (zh) | 一种识别图像中瞳孔的方法和装置 | |
CN104092939A (zh) | 一种基于分段微分技术的激光夜视仪同步变焦方法 | |
US9998661B1 (en) | Panoramic camera enclosure | |
CN104143317A (zh) | 一种led显示屏的整屏校正方法及装置 | |
CN205330670U (zh) | 基于相关性度量学习的煤岩识别装置 | |
US20070139663A1 (en) | System and method for inserting numeric labels automatically | |
CN105988196B (zh) | 光学成像镜头 | |
CN103846230A (zh) | 一种led芯片的分选方法 | |
CN103065280A (zh) | 一种短波红外探测器非均匀校正方法及装置 | |
US20160070970A1 (en) | Architecture and method for real-time parallel detection and extraction of maximally stable extremal regions (msers) | |
CN204128554U (zh) | 钟表业精密零部件质量快速自动化检测系统 | |
CN104107806B (zh) | 电脑视觉辨识输出图像辅助led晶粒挑选系统及其方法 | |
CN105652743A (zh) | 接口控制的方法及装置 | |
CN105628710A (zh) | 物料检测系统及其检测方法 | |
CN108513080A (zh) | 一种补光的控制方法及装置 | |
CN103376577A (zh) | 一种lvds接口液晶屏的自动测试方法和系统 | |
CN108362227A (zh) | 轮毂检测方法、装置、系统及控制设备 | |
CN202377202U (zh) | 全自动led检测分类机 | |
CN205808930U (zh) | 一种光检测装置 | |
CN204857670U (zh) | 贴片电阻中不良颗粒的检测与处理设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CP03 | Change of name, title or address | ||
CP03 | Change of name, title or address |
Address after: Kezhu road high tech Industrial Development Zone, Guangzhou city of Guangdong Province, No. 233 510670 Patentee after: VTRON GROUP Co.,Ltd. Address before: 510663 Guangdong city of Guangzhou province Kezhu Guangzhou high tech Industrial Development Zone, Road No. 233 Patentee before: VTRON TECHNOLOGIES Ltd. |
|
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20160817 Termination date: 20210815 |