CN104122494A - 自动产生测试脚本的测试系统及其方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种自动产生测试脚本的测试系统及其方法，其通过依据待测物体的规格文件对待测物体进行分析，藉以在产生测试待测物体的测试脚本以及与测试脚本对应的测试数据后，在生产线上使用测试脚本及测试数据测试待测物体的技术手段，可以在生产线的同一处完成功能测试和集成电路测试，并达成缩短测试时间，提前发现开路/短路错误，及节约产品的测试空间和时间成本的技术功效。

Description

自动产生测试脚本的测试系统及其方法

技术领域

本发明涉及一种测试系统及其方法，特别是指一种依据规格文件自动产生测试脚本的测试系统及其方法。

背景技术

生产线的测试平台是一套计算机生产测试系统，其主要用来测试生产线上的产品的品质是否符合设计的标准。

原本的生产线的测试平台是通过网络对生产线上的产品进行测试。近来，也要对无法使用网络环境的产品进行测试，因此，生产线的测试平台的开发团队也开发出使用串行通讯（Serial Communication）的方式对产品进行测试的解决方案。也就是说，目前的生产线的测试平台可以通过串行通讯或网络通讯对生产线进行产品测试。

目前生产线的测试平台对印刷电路板的测试过程中，若有发现错误，生产线的测试平台会在完成测试后输出发现错误的信息。例如，即使错误是明显的开路及/或短路错误，生产线的测试平台仍然会进行完整的分析后才输出错误的信息。另外，目前对印刷电路板的测试中，需要对印刷电路板分别进行功能测试与集成电路测试，并无法整合功能测试与集成电路测试。如此一来，在规格文件中同时存在这两种测试要求的情况下，由于需要设置两个不同的测试区域，且一个印刷电路板需要在不同的测试区域进行功能测试与集成电路测试，因此，会导致增加了测试的时间成本和空间成本。

综上所述，因此有必要提出改进的技术手段，来解决此一问题。

发明内容

有鉴于现有技术存在无法整合功能测试与集成电路测试的问题，本发明遂揭露一种自动产生测试脚本的测试系统及其方法，其中：

本发明所揭露的依据规格文件产生测试脚本的测试系统，应用于生产线，该测试系统至少包含：文件读取模块，用以读取预先储存的待测物体的一规格文件；测试数据产生模块，用以依据规格文件分析待测物体以产生测试脚本及相对应的测试数据；测试数据发布模块，用以发布测试脚本及测试数据，使生产线依据测试脚本及测试数据测试待测物体。

本发明所揭露的依据规格文件产生测试脚本的测试方法，其步骤至少包括：提供待测物体的规格文件；依据规格文件分析待测物体以产生测试脚本及相对应的测试数据；发布测试脚本及测试数据；依据测试脚本及测试数据于生产线上测试待测物体。

本发明所揭露的测试系统与方法如上，与现有技术之间的差异在于本发明通过依据待测物体的规格文件分析待测物体以产生测试待测物体的测试脚本以及与测试脚本对应的测试数据，并依据测试脚本及测试数据在生产线上测试待测物体，藉以解决现有技术所存在的问题，并可以达成提前发现开路/点路错误，及缩短测试时间的技术功效。

附图说明

图1为本发明所提的依据规格文件产生测试脚本的测试系统架构图。

图2为本发明所提的依据规格文件产生测试脚本的测试方法流程图。

【符号说明】

101  储存媒体

110  文件读取模块

120  测试数据产生模块

130  测试数据发布模块

150  结果处理模块

具体实施方式

以下将配合图式及实施例来详细说明本发明的特征与实施方式，内容足以使任何熟习相关技艺者能够轻易地充分理解本发明解决技术问题所应用的技术手段并据以实施，藉此实现本发明可达成的功效。

本发明应用在生产线的测试平台中，测试平台中可以依据待测物体的规格文件产生测试方案，并在取得测试方案后，对待测物体进行测试。使用者也可以操作终端装置调整测试方案，及/或查看被测试的待测物体的测试结果，藉以方便的完成待测物体的测试和发现发生错误的位置。

本发明所提的规格文件为记载与待测物体相关的数据的文件，被记载的数据包含但不限于待测物品所包含的元件的元件信息、待测物品所包含的元件的脚位信息、待测物品中的测试点信息、待测物品上的电路信息等，其中，元件信息例如元件名称、元件在待测物体中的位置、元件编号、元件测试结果标准值、元件测试结果期望值等；脚位信息例如脚位名称、脚位在元件上的位置、与脚位对应的测试点等；测试点信息例如测试点名称或编号、测试点在待测物体中的位置、测试点所在的电路名称或编号等；线路信息例如线路编号及/或名称等。

本发明所提的测试方案包含测试脚本以及与测试脚本对应的测试数据。其中，测试脚本包含一个或多个命令，测试脚本所包含的命令可以被执行而测试待测物体。

以下先以「图1」本发明所提的依据规格文件产生测试脚本的测试系统的架构图来说明本发明的系统运作。如「图1」所示，本发明的系统含有文件读取模块110、测试数据产生模块120、以及测试数据发布模块130。

文件读取模块110负责读取待测物体的规格文件。一般而言，文件读取模块110会至储存媒体101中读取待测物体的规格文件，其中，文件读取模块110所读取的规格文件通常是由与服务器连接的终端装置所传送，并由储存媒体101储存，藉以提供本发明使用，但本发明并不以此为限，例如，文件读取模块110也可以通过网络至本发明的系统外部的储存装置（图中未示）读取规格文件。

测试数据产生模块120负责依据文件读取模块110所读出的待测物体的规格文件对待测物体进行分析，并在分析后产生测试该待测物体的测试脚本以及与该测试脚本相对应的测试数据。

测试数据产生模块120会依据规格文件对待测物体进行功能分析以及集成电路分析，并依据分析结果产生该测试脚本。其中，集成电路分析包含开路分析、短路分析、串并联分析、元件分析等项目至少其中之一。

开路分析是为了检查待测物体的焊接状况，找出所有任意两点之间的电阻值大于某个值（如：60欧姆）生成一系列的开路群。当有开路错误时，通过开路分析可以迅速找到错误，如此便不需要等到元件分析才发现错误。

短路分析是用来检查待测物体中的电路是否断开、焊接不确实等，找出所有任意两点之间的电阻值小于某个值（如：5欧姆）生成一系列的短路群。当有短路错误时，通过短路分析可以迅速找到错误，而不需要等到元件分析才发现。

串并联分析是用来找出所有的串联或者并联的元件。

元件分析会列出所有需要测试的元件，根据串并联分析所产生的结果，合并部分测试、增加隔离点、或跳过一些测试，藉以缩短测试元件的时间，进而生成测试脚本。

测试数据产生模块120所生成的测试脚本至少包含开短路测试单元、电阻测试单元、电容测试单元、电感测试单元、以及二极管测试单元、三极管测试单元。其中，开短路测试单元可以测试所有开路群和短路群、电阻测试单元可以测试所有电阻器件、电容测试单元可以测试所有电容器件、电感测试单元可以测试所有电感器件、二、三极管测试单元可以测试所有二、三极管器件。

值得一提的是，在本发明中，测试脚本被执行后，测试脚本中的各个测试单元通常会以指令控制测试待测物体的硬件，藉以完成测试待测物体。

测试数据发布模块130负责发布测试数据产生模块120所生成的测试脚本以及测试数据，如此，被测试数据发布模块130所发布的测试脚本及测试数据便可以在生产线上被使用来测试待测物体。

另外，本发明还可以包含可附加的结果处理模块150。结果处理模块150负责取得测试脚本对待测物体的测试结果后，计算测试结果与该待测物体的规格文件中的特定数据的比值。例如，计算测试结果中的开路/短路数据与规格文件中所记载的开路/短路数据的比值等，但本发明并不以此为限。

结果处理模块150还可以将所计算出的比值传送到一个或多个使用者所使用的终端装置，使使用者可以依据所接收到的比值操作终端装置修改测试数据，甚至可以修改测试脚本。

接着以一个实施例来解说本发明的运作系统与方法，并请参照「图2」本发明所提的依据规格文件产生测试脚本的测试方法的流程图。在本实施例中，假设本发明执行于服务器上，但本发明并不以此为限，另外，也假设待测物体为印刷电路板（PCB），但本发明所提的待测物体同样不以印刷电路板为限。

在使用者对待测物体进行测试前，终端装置的使用者需要操作终端装置传送待测物体的规格文件至执行本发明的服务器所包含的储存媒体101中储存（步骤210）。

之后，使用者可以操作终端装置连线至服务器选择待测物体的规格文件，使得测试数据产生模块120可以在文件读取模块110由服务器的储存媒体101中读出待测物体的规格文件后，依据被文件读取模块110所读出的规格文件分析待测物体，并依据分析结果产生测试待测物体的测试脚本以及产生与所产生的测试脚本对应的测试数据（步骤220）。其中，测试脚本包含功能测试项以及集成电路板测试项。

在文件读取模块110依据待测物体的规格文件对待测物体进行分析，并产生测试该待测物体测试脚本以及与该测试脚本对应的测试数据（步骤220）后，测试数据发布模块130可以发布文件读取模块110所产生的测试脚本以及相对应的测试数据（步骤270），而后，本发明便可以与待测物体连接，并执行测试数据发布模块130所发布的测试脚本，藉以依据测试数据发布模块130所发布的测试脚本以及测试数据在生产线上测试待测物体（步骤280）。

在上述的实施例中，若服务器中还包含结果处理模块150，则在文件读取模块110分析待测物体的规格文件，并产生测试该待测物体测试脚本以及与该测试脚本对应的测试数据（步骤220）后，测试数据发布模块130发布文件读取模块110所产生的测试脚本以及相对应的测试数据（步骤270）前，本发明更可以与待测物体连接（步骤231），并依据测试数据发布模块130所发布的测试脚本对待测物体进行测试，藉以在测试后产生测试结果（步骤235）。

结果处理模块150更可以在测试完成后，计算测试结果与被测试的待测物体的规则文件中的特定数据的比值（步骤250），藉以提供后续调整测试数据及/或测试脚本使用。

结果处理模块150在计算测试结果与被测试的待测物体的规则文件中的特定数据的比值（步骤250）后，可以传送所计算出的比值至使用者所使用的终端装置，使得终端装置的使用者便可以依据结果处理模块150所计算出的比值修改测试数据及/或修改测试脚本（步骤260）。

在终端装置的使用者依据结果处理模块150所计算出的比值修改测试数据及/或修改测试脚本（步骤260）后，终端装置的使用者仍然可以依据再次测试后所产生的测试结果所计算出的比值修改测试数据及/或修改测试脚本，结果处理模块150会持续的计算测试结果与被测试的待测物体的规则文件中的特定数据的比值，直到使用者满意为止。

在终端装置的使用者完成测试数据及/或测试脚本的修改（步骤260）后，测试数据发布模块130便可以发布被修改过的测试脚本以及测试数据（步骤270），使得测试数据发布模块130所发布的测试脚本以及测试数据可以用来在生产线上测试待测物体（步骤280）。

综上所述，可知本发明与现有技术之间的差异在于具有分析待测物体的规格文件以产生测试待测物体的测试脚本以及与测试脚本对应的测试数据，并依据测试脚本及测试数据在生产线上测试待测物体的技术手段，藉由此一技术手段可以解决现有技术所存在功能测试与集成电路测试无法整合的问题，进而达成提前发现开路/点路错误，及缩短测试时间的技术功效。

再者，本发明的依据规格文件产生测试脚本的测试方法，可实现于硬体、软件或硬体与软件的组合中，亦可在计算机系统中以集中方式实现或以不同元件散布于若干互连的计算机系统的分散方式实现。

虽然本发明所揭露的实施方式如上，惟所述的内容并非用以直接限定本发明的专利保护范围。任何本发明所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，对本发明的实施的形式上及细节上作些许的更动润饰，均属于本发明的专利保护范围。本发明的专利保护范围，仍须以所附的申请专利范围所界定者为准。

Claims (10)

1.一种自动产生测试脚本的测试方法，应用于一生产线，其特征在于，该测试方法至少包含下列步骤：

提供一待测物体的一规格文件；

依据该规格文件分析该待测物体以产生一测试脚本及相对应的一测试数据；

发布该测试脚本及该测试数据；及

依据该测试脚本及该测试数据于该生产线上测试该待测物体。

2.如权利要求1项所述的自动产生测试脚本的测试方法，其特征在于，该测试方法于发布该测试脚本及该测试数据的步骤前，更包含连接该待测物体并执行该测试脚本以产生一测试结果，及计算该测试结果与该规格文件中的特定数据的一比值的步骤。

3.如权利要求2项所述的自动产生测试脚本的测试方法，其特征在于，该测试方法于计算该测试结果与该规格文件中的特定数据的该比值的步骤后，更包含依据该比值修改该测试数据及/或修改该测试脚本的步骤。

4.如权利要求1项所述的自动产生测试脚本的测试方法，其特征在于，依据该规格文件分析该待测物体以产生该测试脚本及相对应的该测试数据的步骤为依据该规格文件对该待测物体进行功能分析及集成电路板分析，并依据分析结果产生该测试脚本，其中，集成电路板分析更包含开路分析、短路分析、串并联分析、及/或元件分析。

5.一种自动产生测试脚本的测试系统，应用于一生产线，其特征在于，该测试系统至少包含：

一文件读取模块，用以读取预先储存的一待测物体的一规格文件；

一测试数据产生模块，用以依据该规格文件分析该待测物体以产生一测试脚本及相对应的一测试数据；及

一测试数据发布模块，用以发布该测试脚本及该测试数据，使该生产线依据该测试脚本及该测试数据测试该待测物体。

6.如权利要求5项所述的自动产生测试脚本的测试系统，其特征在于，该测试系统更包含一结果处理模块，用以于执行测试脚本并产生一测试结果后，计算该测试结果与该规格文件中的特定数据的一比值。

7.如权利要求6项所述的自动产生测试脚本的测试系统，其特征在于，该结果处理模块更用以依据该比值修改该测试数据及/或修改该测试脚本。

8.如权利要求5项所述的自动产生测试脚本的测试系统，其特征在于，该测试数据产生模块是依据该规格文件对该待测物体进行功能分析及集成电路分析，并依据分析结果产生该测试脚本，其中，集成电路分析更包含开路分析、短路分析、串并联分析、及/或元件分析。

9.如权利要求5项所述的自动产生测试脚本的测试系统，其特征在于，该测试脚本包含开短路测试单元、电阻测试单元、电容测试单元、电感测试单元、二极管测试单元、三极管测试单元。

10.如权利要求9项所述的自动产生测试脚本的测试系统，其特征在于，该测试脚本中的该些测试单元是通过指令控制至少一终端装置以完成该待测物体的测试。