CN103954695B - 一种脚跟试块 - Google Patents

一种脚跟试块 Download PDF

Info

Publication number
CN103954695B
CN103954695B CN201410166754.4A CN201410166754A CN103954695B CN 103954695 B CN103954695 B CN 103954695B CN 201410166754 A CN201410166754 A CN 201410166754A CN 103954695 B CN103954695 B CN 103954695B
Authority
CN
China
Prior art keywords
flat board
semicylinder
plane
test block
thickness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201410166754.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103954695A (zh
Inventor
张利
陈昌华
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NANJING DEVELOP HIGH-END MANUFACTURING Co Ltd
Original Assignee
NANJING DEVELOP HIGH-END MANUFACTURING Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NANJING DEVELOP HIGH-END MANUFACTURING Co Ltd filed Critical NANJING DEVELOP HIGH-END MANUFACTURING Co Ltd
Priority to CN201410166754.4A priority Critical patent/CN103954695B/zh
Priority to US14/436,688 priority patent/US9810667B2/en
Priority to PCT/CN2014/081864 priority patent/WO2015161568A1/zh
Publication of CN103954695A publication Critical patent/CN103954695A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103954695B publication Critical patent/CN103954695B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/30—Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects

Abstract

本发明公开了一种脚跟试块，包括半圆柱体（1）、第一平板（2）和第二平板（3），半圆柱体（1）的侧面包括圆弧形面和第一平面，第一平面一侧设置有第一平板（2）和第二平板（3），第一平板（2）的各部分厚度均相同，第二平板（3）的各部分厚度均相同，第一平板（2）和第二平板（3）均与第一平面平行设置，第一平板（2）和第二平板（3）分别设置在半圆柱体（1）的母线两侧，第一平板（2）的厚度小于第二平板（3）的厚度。本发明的脚试块结构简单，可以对周向斜探测曲面锻件角度、声速及零点进行标定，利用本发明的脚跟对比试块标定的仪器比例，满足了仪器准确校准目的，更有利于曲面锻件的超声波缺陷定位探伤。

Description

一种脚跟试块
技术领域
本发明属于空心类锻件周向面方向斜入射超声波探伤水平、垂直、声程的精度定位领域，具体涉及一种脚跟试块。
背景技术
超声波探伤仪和探头的标定工作，目前主要的标准试块为V1(IIW1)船形试块和V2(IIW2)牛角试块，它们的作用主要为水平线性、垂直线性、动态范围、灵敏度余量、分辩力、盲区、探头的入射点、折射角等，探头的检测面为平面。而脚跟试块与船形试块或牛角试块的作用基本相同，但探头的检测面均为曲面。工件面的形状通常为平面和曲面，平面作为检测面的探伤工作，其仪器和探头标定为船形试块和牛角试块；曲面作为检测面的探伤工作，其仪器和探头标定全世界范围内没有检测试块。
曲面锻件的超声波周向斜探测缺陷精确定位，在国际上一直没有标准试块调试。如何确定曲面锻件检测的角度、扫描速度及零点，成为无损检测领域重大难题。油气钻采设备零部件周向斜探测缺陷的检测，国际上采用的探伤方法主要是内外径缺口上获得的第一个反射的峰值之间连接一条线，建立振幅的基准线。但对缺陷的精度定位无法保证，现有的对比试块均无法满足角度、速度及零点标定工作。
因此，需要一种新的对比试块以解决上述问题。
发明内容
发明目的：本发明针对现有技术中的对比试块均无法满足角度、扫描速度及零点标定的缺陷，提供一种可以对周向斜探测曲面锻件角度、声速及零点标定的脚跟试块。
技术方案：为解决上述技术问题，本发明的脚跟试块采用如下技术方案：
一种脚跟试块，包括半圆柱体、第一平板和第二平板，所述半圆柱体的侧面包括圆弧形面和第一平面，所述第一平面一侧设置有所述第一平板和第二平板，所述第一平板的各部分厚度均相同，所述第二平板的各部分厚度均相同，所述第一平板和第二平板均与所述第一平面平行设置，所述第一平板和第二平板分别设置在所述半圆柱体的母线两侧，所述第一平板的厚度小于所述第二平板的厚度。
更进一步的，还包括第三平板，所述第三平板的各部分厚度均相同，所述第三平板与所述第一平板平行设置，所述第三平板与所述第一平板之间具有空隙，所述第一平板、第三平板和空隙的厚度总和等于第二平板的厚度。此设计可以保证第三平板远离半圆柱体的平面与第一平板远离半圆柱体的平面平齐，方便脚跟试块的放置。
更进一步的，所述空隙的厚度为5mm±0.5mm。
更进一步的，所述第一平板的的厚度为30mm±0.1mm，所述第二平板的的厚度为60mm±0.1mm。常见斜探头最大晶片尺寸为13×13mm2，探头频率为2.5MHz，因此λ＝C/f＝(3230×103)/(2.5×106)＝1.29mm。由于探头角度测量时，探头与反射孔之间声程须大于2倍探头近场区距离，可以避免近场区影响而造成的测量结果误差，所以必须N≥d2/(4×λ)＝132/(4×1.29)＝32.8mm。又因为圆弧形半径R一般是大于30mm，因此，间隙的矩形槽与半圆弧的中心间距为30mm，将满足探头角度测量误差最低要求。半圆弧的中心与长方体2R长度的边相距60mm是考虑30mm的2倍关系，即满足大于2N。
更进一步的，所述半圆柱体的长度、所述第一平板的宽度和所述第二平板的宽度相同。确保脚跟试块各部分的厚度相同。
更进一步的，所述半圆柱体的上表面和下表面均为平面，所述上表面和/或下表面上设置有角度刻度。设置有角度刻度可以方便检测斜探头的入射角度。
更进一步的，所述第一平板和第二平板均为长方体。
更进一步的，所述半圆柱体的半径为R，所述第一平板和第二平板的长度均为R。
更进一步的，所述半圆柱体的长度、所述第一平板的宽度和所述第二平板的宽度均大于等于25mm。
有益效果：本发明的脚试块结构简单，可以对周向斜探测曲面锻件角度、声速及零点进行标定，利用本发明的脚跟对比试块标定的仪器比例，满足了仪器准确校准目的，更有利于曲面锻件的超声波缺陷定位探伤。
附图说明
图1是本发明的脚跟试块的主视图；
图2是本发明的脚跟试块的后视图；
图3是本发明的脚跟试块的左视图。
具体实施方式
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细描述：
请参阅图1、图2和图3所示，本发明的脚跟试块，包括半圆柱体1、第一平板2和第二平板3，半圆柱体1的侧面包括圆弧形面和第一平面，第一平面一侧设置有第一平板2和第二平板3，第一平板2的各部分厚度均相同，第二平板3的各部分厚度均相同。第一平板2和第二平板3均与第一平面平行设置，第一平板2和第二平板3分别设置在半圆柱体1的母线两侧。第一平板2的厚度小于第二平板3的厚度。
还包括第三平板4，第三平板4的各部分厚度均相同，第三平板4与第一平板2平行设置，第三平板4与第一平板2之间具有空隙，第一平板2、第三平板4和空隙的厚度总和等于第二平板3的厚度。此设计可以保证第三平板远离半圆柱体的平面与第一平 板远离半圆柱体的平面平齐，方便脚跟试块的放置。其中，第一平板2与第三平板4的距离为5mm。
其中，第一平板2和第二平板3均为长方体，半圆柱体1的上表面和下表面均为平面，
圆弧形面远离第一平面的点为脚跟试块的顶部；
第二平板3远离半圆柱体1的平面为脚跟试块的底部；
第二平板3远离半圆柱体1的平面与半圆柱体1的圆弧形面远离第一平面的点之间的距离为脚跟试块的高度；
半圆柱体1的上表面和下表面之间的距离为脚跟试块的厚度；
半圆柱体1的平面与圆弧形面相接的线段之间的距离为脚跟试块的宽度，脚跟试块的宽度为半圆柱体1的半径的两倍；
半圆柱体1的上表面和下表面之间的距离为半圆柱体1的高度；
第一平板2靠近第二平板3的平面与第一平板2远离第二平板3的平面之间的距离为第一平板2的长度；
第二平板3靠近第一平板2的平面与第二平板3远离第一平板2的平面之间的距离为第二平板3的长度；
第二平板3远离半圆柱体1的平面与半圆柱体1的平面的距离为第二平板3的厚度；
第一平板2远离半圆柱体1的平面与半圆柱体1的平面的距离为第一平板2的厚度；
第一平板2与半圆柱体1的上表面和下表面相对应的两个平面之间的距离为第一平板2的宽度；
第二平板3与半圆柱体1的上表面和下表面相对应的两个平面之间的距离为第二平板3的宽度。
半圆柱体1的长度、第一平板2的宽度和第二平板3的宽度相同。上表面和/或下表面上设置有角度刻度。设置有角度刻度可以方便检测斜探头的入射角度。半圆柱体1的有刻度面倒R2＝0.5±0.1mm角，无刻度面倒R1＝1±0.1mm角。第一平板2远离半圆柱体1的表面的平面度＜0.05mm，两相对表面的平行度＜0.05mm，第二平板3远离半圆柱体1的表面的平面度＜0.05mm，两相对表面的平行度＜0.05mm。
半圆柱体1的半径为R，第一平板2和第二平板3的长度均为R。半圆柱体1的半径R的公差为±0.1mm。半圆柱体1的长度、第一平板2的宽度和第二平板3的宽度均大于等于25mm。优选的，半圆柱体1的长度、第一平板2的宽度和第二平板3的宽度均为50±0.10mm。
第一平板2的的厚度为30mm±0.1mm，第二平板3的的厚度为60mm±0.1mm。常 见斜探头最大晶片尺寸为13×13mm2，探头频率为2.5MHz，因此λ＝C/f＝3230×103/2.5×106＝1.29mm。由于探头角度测量时，探头与反射孔之间声程须大于2倍探头近场区距离，可以避免近场区影响而造成的测量结果误差，所以必须N≥d2/4×λ)＝132/4×1.29)＝32.8mm。又因为圆弧形半径R一般是大于30mm，因此，间隙的矩形槽与半圆弧的中心间距为30mm，将满足探头角度测量误差最低要求。第二平板2的厚度60mm是考虑30mm的2倍关系，即满足大于2N。
实施例1
曲面锻件角度、声速及零点标定对比试块称为脚跟试块，脚跟试块厚度等于2"(50mm)，宽度为2R，高度为R+60。半圆柱体的上表面和/或下表面的角度长刻线位置P的计算公式：P＝R×Sin(β)；其中β为20°、30°、40°、50°、60°、70°、80°。角度短刻线位置P的计算方法同角度长刻线，短刻线分别为25°、35°、45°、55°、65°、75°，角度刻线位置P参数见下表1。
表1 半圆形侧面的角度刻线位置制作参数
备注：长度单位均为mm。
粗糙度Ra≤6.3um，原材料质保书，锻造工艺，热处理参数，加工尺寸检验记录等要齐全。试块参数见下表2。
表2 对比试块制作参数
备注：制作要求，R—半圆形，公差±0.015"(0.38mm)；W—宽度，公差±0.030”(0.76mm)；H—高度，公差±0.030”(0.76mm)；P—角度位置线，公差±0.001”(0.25mm)；I—典型试块标识；4130＝典型合金标号；K＝角度的正切，V＝声速，Z＝零点；0118＝01.18"，金属半径，单位00.00"；CHB＝脚跟试块；三位：456＝外圆半径456mm。
实施例2
曲面锻件K值、声速及零点标定对比试块称为脚跟试块，脚跟试块厚度等于25mm，宽度为2R，高度为R+60。半圆形侧面的K值长刻线位置P的计算公式：P＝R×Sin(β)；其中K＝Tan(β)为0.4、0.7、1.0、1.5、2.0、2.5、3.0。K值短刻线位置P的计算方法同K值长刻线，短刻线K分别为0.55、0.85、1.25、1.75、2.25、2.75，K值刻线位置P参数见下表3。
表3 半圆形侧面的K值刻线位置制作参数
备注：长度单位均为mm。
粗糙度Ra≤6.3um，原材料质保书，锻造工艺，热处理参数，加工尺寸检验记录等要齐全。试块参数见下表4。
表4 对比试块制作参数
备注：制作要求，R—半圆形，公差±0.015"(0.38mm)；W—宽度，公差±0.030”(0.76mm)；H—高度，公差±0.030”(0.76mm)；P—K值位置线，公差±0.001”(0.25mm)；I—典型试块标识；45＝典型金属标号；K＝角度的正切，V＝声速，Z＝零点；0118＝01.18"，金属半径，单位00.00"；CHB＝脚跟试块；三位：456＝外圆半径456mm。
对比试块材料：对比试块技术指标需符合GB/T 11259及ASTM E428标准要求。
发明原理：为了更好地确保空心类锻件周向方向斜入射超声波探伤水平、垂直、声程的精度定位，设计了一种脚跟试块，通过先校准探头角度，计算超声反射声程S1＝30+R×cos(β)、S2＝60+R×cos(β)，再校准探头速度、零点的方法，达到了曲面锻件斜入射的检测精度定位。
本发明显著提高了超声波斜入射缺陷的精确定位，大大提高了曲面锻件超声波周向斜入射检测的水平，同时可以与各种圆弧半径50mm差系列的脚跟试块相配合，实现空心锻件纵向缺陷的超声波探伤的准确定位。利用本发明的脚跟对比试块标定的仪器比例，满足了仪器准确校准目的，更有利于曲面锻件的超声波缺陷定位探伤。
利用超声波周向斜探测缺陷精确定位，可有效地判定曲面锻件的缺陷位置，利于后道工序是否加工或判废的制造过程，充分发挥探伤检测方法的潜力与优势。

Claims (9)

1.一种脚跟试块，其特征在于，包括半圆柱体(1)、第一平板(2)和第二平板(3)，所述半圆柱体(1)的侧面包括圆弧形面和第一平面，所述第一平面一侧设置有所述第一平板(2)和第二平板(3)，所述第一平板(2)的各部分厚度均相同，所述第二平板(3)的各部分厚度均相同，所述第一平板(2)和第二平板(3)均与所述第一平面平行设置，所述第一平板(2)和第二平板(3)分别设置在所述半圆柱体(1)的轴线两侧，所述第一平板(2)的厚度小于所述第二平板(3)的厚度；所述第一平板(2)远离所述半圆柱体(1)的平面与所述半圆柱体(1)的平面的距离为所述第一平板(2)的厚度，所述第二平板(3)远离半圆柱体(1)的平面与所述半圆柱体(1)的平面的距离为所述第二平板(3)的厚度。
2.如权利要求1所述的脚跟试块，其特征在于，还包括第三平板(4)，所述第三平板(4)的各部分厚度均相同，所述第三平板(4)与所述第一平板(2)平行设置，所述第三平板(4)与所述第一平板(2)之间具有空隙，所述第一平板(2)、第三平板(4)和空隙的厚度总和等于第二平板(3)的厚度。
3.如权利要求2所述的脚跟试块，其特征在于，所述空隙的厚度为5mm±0.5mm。
4.如权利要求1所述的脚跟试块，其特征在于，所述第一平板(2)的厚度为30mm±0.1mm，所述第二平板(3)的厚度为60mm±0.1mm。
5.如权利要求1所述的脚跟试块，其特征在于，所述半圆柱体(1)的长度、第一平板(2)的宽度和第二平板(3)的宽度相同；所述半圆柱体(1)的长度即为半圆柱体(1)的高度，所述半圆柱体(1)的上表面和下表面之间的距离为所述半圆柱体(1)的高度，所述第一平板(2)与所述半圆柱体(1)的上表面和下表面相对应的两个平面之间的距离为所述第一平板(2)的宽度；所述第二平板(3)与所述半圆柱体(1)的上表面和下表面相对应的两个平面之间的距离为所述第二平板(3)的宽度。
6.如权利要求1所述的脚跟试块，其特征在于，所述半圆柱体(1)的上表面和下表面均为平面，所述上表面和/或下表面上设置有角度刻度。
7.如权利要求1所述的脚跟试块，其特征在于，所述第一平板(2)和第二平板(3)均为长方体。
8.如权利要求7所述的脚跟试块，其特征在于，所述半圆柱体(1)的半径为R，所述第一平板(2)和第二平板(3)的长度均为R，所述第一平板(2)靠近所述第二平板(3)的平面与所述第一平板(2)远离所述第二平板(3)的平面之间的距离为所述第一平板(2)的长度；所述第二平板(3)靠近所述第一平板(2)的平面与所述第二平板(3)远离所述第一平板(2)的平面之间的距离为所述第二平板(3)的长度。
9.如权利要求7所述的脚跟试块，其特征在于，所述半圆柱体(1)的长度、所述第一平板(2)的宽度和所述第二平板(3)的宽度均大于等于25mm；所述半圆柱体(1)的长度即为半圆柱体(1)的高度，所述半圆柱体(1)的上表面和下表面之间的距离为所述半圆柱体(1)的高度，所述第一平板(2)与所述半圆柱体(1)的上表面和下表面相对应的两个平面之间的距离为所述第一平板(2)的宽度；所述第二平板(3)与所述半圆柱体(1)的上表面和下表面相对应的两个平面之间的距离为所述第二平板(3)的宽度。
CN201410166754.4A 2014-04-23 2014-04-23 一种脚跟试块 Active CN103954695B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410166754.4A CN103954695B (zh) 2014-04-23 2014-04-23 一种脚跟试块
US14/436,688 US9810667B2 (en) 2014-04-23 2014-07-09 Heel test block
PCT/CN2014/081864 WO2015161568A1 (zh) 2014-04-23 2014-07-09 一种脚跟试块

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410166754.4A CN103954695B (zh) 2014-04-23 2014-04-23 一种脚跟试块

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103954695A CN103954695A (zh) 2014-07-30
CN103954695B true CN103954695B (zh) 2016-08-24

Family

ID=51331996

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410166754.4A Active CN103954695B (zh) 2014-04-23 2014-04-23 一种脚跟试块

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9810667B2 (zh)
CN (1) CN103954695B (zh)
WO (1) WO2015161568A1 (zh)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104297351B (zh) * 2014-10-29 2016-08-17 中广核检测技术有限公司 一种用于测量超声波斜探头折射角的试块及其测量方法
US10520476B2 (en) * 2016-07-05 2019-12-31 Loenbro Inspection, LLC Method for inspecting high density polyethylene pipe
CN106706763A (zh) * 2017-01-18 2017-05-24 天津赛达鑫源检验检测有限公司 一种便携可调式管材内径超声波检测杆
CN107271556B (zh) * 2017-08-09 2021-06-25 上海船舶工程质量检测有限公司 一种非均匀性材料中超声单探头测定方法
CN108982676A (zh) * 2018-09-26 2018-12-11 南京迪威尔高端制造股份有限公司 一种凹形试块
CN108982677A (zh) 2018-09-26 2018-12-11 南京迪威尔高端制造股份有限公司 一种肚兜试块
CN111413412B (zh) * 2019-01-04 2023-06-27 国电锅炉压力容器检验有限公司 一种超声波探头折射角的测量方法
CN111413413B (zh) * 2019-01-04 2023-06-27 国电锅炉压力容器检验有限公司 一种用于测量超声波探头折射角的试块
CN110763768A (zh) * 2019-10-29 2020-02-07 南京迪威尔高端制造股份有限公司 一种鸟形试块
CN110763770A (zh) * 2019-11-06 2020-02-07 南京迪威尔高端制造股份有限公司 一种鼓形试块
CN112749454A (zh) * 2020-12-29 2021-05-04 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 一种用于弧形变曲面模锻件的构建方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2662243Y (zh) * 2004-04-14 2004-12-08 吴来政 一种新型超声波试块
EP1522848A1 (en) * 2003-10-08 2005-04-13 General Electric Company Phased array ultrasonic reference block with an angle gauge
CN201207045Y (zh) * 2008-03-12 2009-03-11 河北省电力研究院 一种超声波探伤试块
CN103217484A (zh) * 2012-01-13 2013-07-24 空中客车运营有限公司 校准试块以及方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3933026A (en) * 1974-07-31 1976-01-20 Ham William C Ultrasonic calibration standard
US4173139A (en) * 1978-04-21 1979-11-06 Armco Steel Corporation Ultrasonic reference standard and the methods of construction and use thereof
US5163027A (en) * 1992-03-20 1992-11-10 Lockheed Corporation Calibration block and method for an ultrasonic system
US5665893A (en) * 1996-06-06 1997-09-09 General Electric Company Reference block for determining operating characteristics of ultrasonic transducer in right circular cylinder type probe
US5837880A (en) * 1997-08-20 1998-11-17 Sperry Rail Service, Inc. Compact ultrasonic calibration block
US6415644B1 (en) * 1999-04-29 2002-07-09 General Electric Company Ultrasonic calibration apparatus
CN101078710A (zh) 2006-05-24 2007-11-28 上海梅山钢铁股份有限公司 一种超声波探伤曲率补偿方法
US8521446B2 (en) * 2010-11-23 2013-08-27 Olympus Ndt Inc. System and method of conducting refraction angle verification for phased array probes using standard calibration blocks
DE102013209615A1 (de) * 2013-05-23 2014-11-27 Siemens Aktiengesellschaft Musterscheibe für Ultraschall-Scheibenprüfanlagen
CN103454349B (zh) 2013-09-29 2016-04-13 宝钢轧辊科技有限责任公司 测定圆柱曲面近表面缺陷径向深度的方法及其采用的试块

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1522848A1 (en) * 2003-10-08 2005-04-13 General Electric Company Phased array ultrasonic reference block with an angle gauge
CN2662243Y (zh) * 2004-04-14 2004-12-08 吴来政 一种新型超声波试块
CN201207045Y (zh) * 2008-03-12 2009-03-11 河北省电力研究院 一种超声波探伤试块
CN103217484A (zh) * 2012-01-13 2013-07-24 空中客车运营有限公司 校准试块以及方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
变厚度曲面构件超声检测灵敏度补偿;张杨等;《浙江大学学报（工学版）》;20130131;第47卷(第1期);119-120页，3仿真与试验，图4和图6 *

Also Published As

Publication number Publication date
WO2015161568A1 (zh) 2015-10-29
US20160231292A1 (en) 2016-08-11
CN103954695A (zh) 2014-07-30
US9810667B2 (en) 2017-11-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103954695B (zh) 一种脚跟试块
KR101804484B1 (ko) 센서 장치 및 상기 장치를 사용한 잔류 응력 검측 시스템
WO2021082587A1 (zh) 一种鸟形试块
CN204479523U (zh) 一种检测弯头内部和内表面缺陷的超声检测专用试块
CN105571461A (zh) 一种精密锥孔精度测量方法
CN109374755B (zh) 不锈钢油管焊缝的超声波检测方法及标准试块
CN201788174U (zh) 一种探头性能检定试块
CN108982676A (zh) 一种凹形试块
CN209014521U (zh) 凹形试块
CN205209415U (zh) 一种精密锥孔精度测量装置
WO2020062322A1 (zh) 一种肚兜试块
JP2004333387A (ja) 溶接部の超音波検査方法
CN104458912A (zh) 瓷绝缘子用小角度纵波斜探头入射点入射角及延时测量法
CN107941923B (zh) 一种相控阵超声检测能力验证试块组及其使用方法
CN101644557B (zh) 超声波弧面斜探头参数测量方法
CN209014522U (zh) 一种肚兜试块
CN211122697U (zh) 一种多功能鸟形试块
CN204008571U (zh) 一种多方位检测用超声波试块
CN109507302A (zh) 测定较薄板材焊缝缺陷的对比反射体试块及方法
CN111413412B (zh) 一种超声波探头折射角的测量方法
CN109085252B (zh) 一种超声波检测用平底试块的制造方法
CN209311399U (zh) 测定较薄板材焊缝缺陷的对比反射体试块
CN108169326A (zh) 厚壁管材内壁裂纹埋藏深度超声检测方法
CN203732512U (zh) 一种斜探头检测试块
KR101104889B1 (ko) 테이퍼와 곡률이 있는 초음파 보정 시험편

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant