CN103954691A - 一种材料成分分数无损检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种材料成分分数无损检测方法,主要包括:一批成分分数待测材料,首先取一定数量成分分数已知的材料作为样本,以声发射信号在材料中的传输特性为基础,得出声发射信号在样本材料中传输的能量衰减系数,并以此样本为依据建立该批次材料某成分分数与能量衰减系数间的对应关系;然后再测出声发射信号在该批次待测材料中传输的能量衰减系数,并和已建立的成分分数与能量衰减系数关系进行比对,进而推测出该批次全部材料中某成分的分数。本发明能在不破坏材料完整性的情况下对材料成分分数做出较准确的评估,克服了传统检测方法需对待检测材料逐一破坏取样及工作量大等不足,是一种基于声发射技术的材料成分分数无损检测新方法。

Description

一种材料成分分数无损检测方法
技术领域
本发明属于材料无损检测领域,是一种基于声发射技术的材料成分分数无损检测方法。
背景技术
声发射技术是一种新型的无损检测技术,目前在材料、电力、石油化工等行业已经得到较为广泛的应用,其具有对传输介质敏感性高和能够进行动态检测的特点。目前国内外已有一些研究者利用声发射技术研究信号在不同材料中的传输特性。相关的研究表明,声发射信号在不同材料中的传输特性存在差异,同时又有一定的规律可循。目前该研究方向主要集中于声发射信号在材料中的传输特性,而很少有利用其传输特性去反推材料成分分数方面的研究。
传统的材料成分分数检测方法,如光谱分析法或扫描电镜分析法等都需要对被检测材料进行逐一脆断及切片等处理,是以破坏被检测材料结构完整性为前提的材料成分检测方法。同时,当面对数量较大、配比不同的某些批次的待检测材料时,传统检测方法显得步骤繁琐、工作量大,检测的效率整体偏低。因此,如何寻找一种高效的材料成分分数无损检测方法是目前亟需解决的一个重要课题。
发明内容
本发明一种材料成分分数无损检测方法目的在于克服传统材料成分分数检测方法需对被检测材料逐一破坏取样,会对被检测对象造成破坏性损伤以及检测过程繁琐、工作量大等不足,提供一种基于声发射技术的材料成分分数无损检测新方法,以保证被检测材料结构完整性,提高检测效率及降低检测成本。
本发明一种材料成分分数无损检测方法包括以下步骤。
(a)首先选取一定数量成分分数已知的材料作为样本,利用声发射设备测量出声发射信号在每个样本材料中随着传输距离增加信号能量的衰减特性,并用能量相对衰减率描述能量的衰减特性。其中能量相对衰减率的计算公式为:SE m =20log(E m /E 1),E 1为传感器1所采到集信号的能量值,E m 为传感器m所采集到信号的能量值;m表示传感器的编号,以离断铅点最近的为传感器1,编号依次递增,m=1,2,3…,为正整数。
(b)分别获得每个样本材料声发射信号随着传输距离增加的能量相对衰减率曲线,并进行过原点直线拟合,得出每个样本材料对应的能量衰减系数,即拟合直线的斜率。
(c)建立材料某组成成分分数y n 和能量衰减系数k n 的关系曲线,并进行直线拟合,获得该批次被检测材料此成分的分数与其能量衰减系数间的对应关系,即y n =tk n +b,其中y n 表示该批次材料组成成分中需要测定的某成分分数, k n 为能量衰减系数,t为斜率、b为截距,tb都为常数。
(d)测出该批次所有待检测材料的能量衰减系数k 1k 2k 3,…,k n ;由材料某组成成分分数与能量衰减系数间的关系式y n =tk n +b得出该批次全部被检测材料中某成分的分数y 1y 2y 3,…,y n
根据本发明,所述步骤(a)中的声发射装置及其配套设备,包括声发射传感器、前置放大器、信号传输设备及信号处理系统;实验中声发射信号均由标准断铅模拟产生。
根据本发明,所述步骤(a)中采集信号时,声发射传感器个数及传感器布置情况依据被检测材料的属性、尺寸和需检测的精度而定;例如,声发射信号在金属材料中传输衰减相对较慢,则传感器间距可以布置得大一些,而声发射信号在某些复合材料中传输衰减较快,则传感器间距应该粘贴得相对小些。
本发明一种材料成分分数无损检测方法,克服了传统检测方法需对所有被检测对象进行逐一破坏取样,会对被检测材料造成损伤的不足。本发明用于材料成分分数检测时,不会对被检测材料造成破坏,能够保持材料结构和功能的完整;同时,面对大批次的待检测材料,只需事先从中抽取数量合适的样本,建立材料中某种需测定成分的分数与能量衰减系数间的对应关系,根据此关系即可获得该批次所有待检测材料成分分数,能够大幅提高检测效率,是一种高效的材料成分分数无损检测方法。
附图说明
图1  一种材料成分分数无损检测方法检测流程图。
图2  声发射传感器粘贴示意图。
图3  声发射信号在试件1~试件3(样本)中传输能量相对衰减率图。
图4  微晶石墨质量分数与能量衰减系数对应关系图。
图5  试件4能量相对衰减率图。
具体实施方式
本发明一种材料成分分数无损检测方法包括以下步骤。
面对某批次待检测材料,首先从中选取一定数量成分分数已知或是通过其他方法已检测出来的材料作为样本;利用声发射设备测量出信号在每个样本中随着传输距离增加的能量衰减特性,用能量相对衰减率描述;得到声发射信号随着传输距离增加的能量相对衰减率曲线,对曲线进行过原点直线拟合,得出每个样本的能量衰减系数,即拟合直线的斜率;获得样本材料中某种成分分数与能量衰减系数的关系曲线,用直线进行拟合,建立该批次被检测材料某成分的分数与能量衰减系数间的对应关系。用同样的测量方法得出该批次所有待检测材料中的能量衰减系数,将能量衰减系数带入已建立的对应关系中,推测出该批次材料中需要测定组成成分的分数。
以下结合具体实施例,对本发明一种材料成分分数无损检测方法作进一步说明:
本实施例中的待检测材料为一批由微晶石墨和聚乙烯醇按不同的质量比例混合,经搅匀加热后压制成的微晶石墨/聚乙烯醇复合材料;其中选取微晶石墨质量分数分别为30%、60%、80%的三种微晶石墨/聚乙烯醇复合材料作为样本,分别编号为试件1、试件2和试件3;同时选取试件4作为待检测材料,但在本实施例中为了便于将检测结果和真实值进行对比,以证明该一种材料成分分数无损检测方法的有效性,试件4中的微晶石墨的质量分数也是已知的,为70%。本实施例中声发射信号采集系统为美国PAC公司的PCI-2系统及配套设备。如图2所示为声发射传感器粘贴示意图,S1~S4代表传感器1~传感器4;传感器粘贴的间隔为40mm且断铅点距离第一个传感器的距离也为40mm,断铅点与所有传感器都在同一直线上。
(a)测量出声发射信号在试件1~试件3中的能量衰减特性,并通过公式:SE m =20log(E m /E 1)换算成能量相对衰减率,用能量相对衰减率去描述能量的衰减特性;E 1为离断铅点最近的S1所采集信号的能量值,E m 为传感器S m 所采集信号的能量值,m=1,2,3,4;表示传感器的编号。
(b)获得声发射信号随着传输距离增加的能量相对衰减率曲线,并进行过原点直线拟合,如图3所示,得出每个样本材料对应的能量衰减系数即拟合直线的斜率。从图3可知,试件1、试件2、试件3所对应的能量衰减系数分别为k 1=0.16,k 2=0.31,k 3=0.41。
(c)以能量衰减系数k n 为横坐标,以样本材料中微晶石墨的质量分数y n 为纵坐标,在平面坐标中得出相应的点,再对其进行直线拟合,便得到了该批次材料中微晶石墨质量分数与能量衰减系数间的对应关系,即:y n =2.1k n -0.02,k n 为能量衰减系数,y n 为微晶石墨的质量分数,如图4所示。由此便可在测得材料能量衰减系数的情况下推断出该批次其他所有材料中微晶石墨的质量分数。
(d)测出该批次中待检测材料(试件4)的能量衰减系数即拟合直线的斜率k 4=0.36,如图5所示;将其带入通过样本建立的微晶石墨质量分数与能量衰减系数的对应关系y n =2.1k n -0.02中,得试件4中微晶石墨的质量分数y 4=73.6%;该方法测得的微晶石墨质量分数73.6%与试件4真实值70%间的误差为3.6%。
通过本实施例可见,在一定的误差范围内,本发明一种材料成分无损检测方法能够推断出被检测材料中某种组成成分的分数。本发明不需对被检测对象逐一破坏取样,能在不破坏材料完整性的情况下,检测出材料中某种成分的分数,克服了传统检测方法会对材料造成破坏性损伤、步骤繁琐、工作量大等不足,是一种基于声发射技术的新的材料成分分数检测方法。
最后应当说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对本发明使用范围的限制。

Claims (5)

1.一种材料成分分数无损检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
(a)首先确定一定数量某待测成分分数已知的材料作为样本,利用声发射设备测量出信号在样本材料中传输的能量衰减特性;
(b)分别获得每个样本的能量相对衰减率曲线,并对其进行过原点直线拟合,得出每个样本的能量衰减系数,即拟合直线的斜率;
(c)以样本为依据,根据样本材料中某成分分数与能量衰减系数的关系,用直线进行拟合,获得该批次待检测材料某种成分分数与能量衰减系数间的对应关系; 
(d)同样,利用声发射方法测出该批次所有待检测材料的能量衰减系数,并根据(c)中获得的材料成分分数与能量衰减系数间的对应关系,从而得出所有该批次待检测材料中某种需要检测成分的分数。
2.如权利要求1所述一种材料成分分数无损检测方法,其特征在于,所述方法适合用于待测成分与其它成分通过物理结合方式构成的混合材料,且被检测批次材料数量较多的场合,与传统方法会对被检测材料造成损坏及步骤繁琐不同,该方法检测效率高且不需要对被检测材料逐一破坏取样,不会损坏材料。
3.如权利要求1所述一种材料成分分数无损检测方法,其特征在于,所述选取样本的数量应依据该批次材料的总数量而定,样本越丰富得出的结果准确性越高,且所选样本材料成分分数必须为已知或是通过其他方法已测出。
4.如权利要求1所述一种材料成分分数无损检测方法,其特征在于,所述声发射设备中的传感器型号及个数需依据被检测材料的类别、所需检测精度等因素确定。
5.如权利要求1所述一种材料成分分数无损检测方法,其特征在于,根据检测对象,按照一定间距布置传感器,以离信号源(断铅模拟产生)最近传感器1的能量值作为参考,用能量相对衰减率描述声发射信号在材料中的衰减特性,计算公式为:SE m =20log(E m /E 1),E 1为传感器1所采到集信号的能量值,E m 为传感器m所采集到信号的能量值;其中m表示传感器的编号,离断铅点最近的为传感器1,编号依次递增,m=1,2,3…,为正整数。
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