CN103926056A - 一种光学镜片阿贝值的无损测定方法 - Google Patents

一种光学镜片阿贝值的无损测定方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103926056A
CN103926056A CN201310013945.2A CN201310013945A CN103926056A CN 103926056 A CN103926056 A CN 103926056A CN 201310013945 A CN201310013945 A CN 201310013945A CN 103926056 A CN103926056 A CN 103926056A
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
abbe number
mirror slip
optical
optical mirror
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201310013945.2A
Other languages
English (en)
Inventor
蔡留美
姜冠祥
姜栋华
陆艳华
房元庆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Supore Instruments Co Ltd
Original Assignee
Shanghai Supore Instruments Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Supore Instruments Co Ltd filed Critical Shanghai Supore Instruments Co Ltd
Priority to CN201310013945.2A priority Critical patent/CN103926056A/zh
Publication of CN103926056A publication Critical patent/CN103926056A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

一种光学镜片阿贝值的无损测定方法,以一种光学镜片折射率的无损测定方法为基础,其特征在于包括以下步骤:a、提供一能够检测光学镜片折射率的仪器,所述仪器是在焦度计,或者焦距仪的基础上改进的,且分别在用F光,D光和C光三种波长的光照射光学镜片环境下测量出所述三种光分别对应的折射率;b、利用阿贝数计算公式计算出镜片的阿贝值式中:Vd为被测镜片的阿贝值,nD为被测镜片在D光频段的折射率,nF为被测镜片在F光频段的折射率,nC为被测镜片在C光频段的折射率。本发明的光学镜片阿贝值的无损测定方法具有方法简便、操作简单、无损测定和精确测量出光学镜片的阿贝值的优点。

Description

一种光学镜片阿贝值的无损测定方法
技术领域
本发明涉及一种光学镜片的测定方法,具体地说,是一种光学镜片阿贝值的无损测定方法。
背景技术
随着新材料的不断发展眼镜片的阿贝值种类越来越多,特别是复合有机材料镜片阿贝值的价格差距很大,同样度数的同折射率的阿贝值为60的镜片要比阿贝值30的镜片的价格高十多倍,而目测是没办法区分其差别的。目前市场上还没有稳定可靠的仪器可对光学镜片的阿贝值进行无损精确测量。
发明内容
本发明的目的,在于提出一种光学镜片阿贝值的无损测定方法。
本发明的另一目的,在于提出一种以与本发明相配套的一种光学镜片折射率的无损测定方法为基础的光学镜片阿贝值的无损测定方法。
本发明的又一目的,在于提出一种不接触镜片、不损坏镜片、只需放到检测仪器中照一下就能得到光学透镜镜片阿贝值的光学镜片阿贝值的无损测定方法。
为实现上述目的,本发明的技术解决方案是:
一种光学镜片阿贝值的无损测定方法,以一种光学镜片折射率的无损测定方法为基础,其特征在于包括以下步骤:
a、提供一能够检测光学镜片光焦度的仪器,所述仪器是焦度计,或者焦距仪,且分别在用F光,D光和C光三种波长的光照射光学镜片环境下测量出所述三种光分别对应的折射率;
b、利用阿贝数计算公式计算出镜片的阿贝值
                          (1)
式中: Vd为被测镜片的阿贝值,nD为被测镜片在D光频段的折射率,nF为被测镜片在F光频段的折射率,nC为被测镜片在C光频段的折射率。
本发明的光学镜片阿贝值的无损测定方法还可以采用以下的技术措施来进一步实现。
前述的方法,其中所述F光是青光,波长486.13nm,氢光谱中的F线(Blue hydrogen F line);所述D光是黄光,波长589.3nm,钠光谱中的D线(Yellow sodium D line);所述C光是红光,波长656.3nm,氢光谱中的C线(Red hydrogen C line)。
前述的方法,其中所述步骤a中,焦度计是由雄博精密仪器股份有限公司制造的LM-380型号的焦度计。
采用上述技术方案后,本发明的光学镜片阿贝值的无损测定方法具有以下优点:
1、方法简便、操作简单、无损测定;
2、精确测量出光学镜片的阿贝值。
具体实施方式
以下通过具体实施例进一步说明本发明。
实施例1
本发明的光学镜片阿贝值的无损测定方法,其特征在于包括以下步骤:
a、提供焦度计是由雄博精密仪器股份有限公司制造的LM-380型号的焦度计;
(1)使用所述焦度计测量出一光学镜片置于所述F光下的折射率nF
(2)使用所述焦度计测量出一光学镜片置于所述D光下的折射率nD
(3)使用所述焦度计测量出一光学镜片置于所述C光下的折射率nC
b、利用阿贝数计算公式计算出被测镜片的阿贝值
                          (1)
式中: Vd为被测镜片的阿贝值,nD为被测镜片在D光频段的折射率,nF为被测镜片在F光频段的折射率,nC为被测镜片在C光频段的折射率。
本发明具有实质性特点和显著的技术进步,提供了一种用于光学镜片阿贝值的精确的无损测定方法。
以上实施例仅供说明本发明之用,而非对本发明的限制,有关技术领域的技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可以作出各种变换或变化。因此,所有等同的技术方案也应该属于本发明的范畴,应由各权利要求限定。

Claims (3)

1.一种光学镜片阿贝值的无损测定方法,以一种光学镜片折射率的无损测定方法为基础,其特征在于包括以下步骤:
a、提供一能够检测光学镜片光焦度的仪器,所述仪器是焦度计,或者焦距仪的基础上改进的,且分别在用F光,D光和C光三种波长的光照射光学镜片环境下测量出所述三种光分别对应的折射率;
b、利用阿贝数计算公式计算出镜片的阿贝值
                          (1)
式中: Vd为被测镜片的阿贝值,nD为被测镜片在D光频段的折射率,nF为被测镜片在F光频段的折射率,nC为被测镜片在C光频段的折射率。
2.如权利要求1所述的光学镜片阿贝值的无损测定方法,其特征在于,所述F光是青光,波长486.13nm,氢光谱中的F线;所述D光是黄光,波长589.3nm,钠光谱中的D线;所述C光是红光,波长656.3nm,氢光谱中的C线。
3.如权利要求1所述的光学镜片阿贝值的无损测定方法,其特征在于,所述步骤a中,焦度计是由雄博精密仪器股份有限公司制造的LM-380型号的焦度计。
CN201310013945.2A 2013-01-15 2013-01-15 一种光学镜片阿贝值的无损测定方法 Pending CN103926056A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310013945.2A CN103926056A (zh) 2013-01-15 2013-01-15 一种光学镜片阿贝值的无损测定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310013945.2A CN103926056A (zh) 2013-01-15 2013-01-15 一种光学镜片阿贝值的无损测定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103926056A true CN103926056A (zh) 2014-07-16

Family

ID=51144355

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310013945.2A Pending CN103926056A (zh) 2013-01-15 2013-01-15 一种光学镜片阿贝值的无损测定方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103926056A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110274753A (zh) * 2019-07-23 2019-09-24 温州市天创知识产权代理有限公司 一种光学镜片折射率的无损检测方法
CN111649916A (zh) * 2020-06-17 2020-09-11 微山县微山湖微电子产业研究院有限公司 一种注水式镜片折射率测定装置及方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
郁道银等: "《工程光学》", 30 June 2006 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110274753A (zh) * 2019-07-23 2019-09-24 温州市天创知识产权代理有限公司 一种光学镜片折射率的无损检测方法
CN111649916A (zh) * 2020-06-17 2020-09-11 微山县微山湖微电子产业研究院有限公司 一种注水式镜片折射率测定装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101854210B (zh) 截止波长测量方法以及光通信系统
CN102661855A (zh) 基于光学相干断层扫描检测渐进多焦点眼镜片的方法及系统
CN105043264B (zh) 基于宏弯损耗效应的光纤位移传感器
CN204007519U (zh) 光纤光栅传感实验仪
CN103557960A (zh) 光纤法珀温度传感系统及方法
CN103344828A (zh) 一种新的谐波发射水平评估方法
CN104266999A (zh) 一种基于d型塑料光纤探头的液体折射率测量仪
CN103528991B (zh) 土壤有机质含量的测量系统及测量方法
CN201732058U (zh) 一种全自动液体浊度测试仪
CN103926056A (zh) 一种光学镜片阿贝值的无损测定方法
CN204330589U (zh) 一种强度解调型光纤折射率计
CN204064251U (zh) 透明材料厚度检测仪
CN204128721U (zh) 新型全自动玻璃表面应力仪
CN103926055A (zh) 一种光学镜片折射率的无损测定方法
CN103868854A (zh) 一种多波长阿贝折射仪的光学系统
CN204028003U (zh) 镜片测量仪
CN203100685U (zh) 透镜中心厚度光学检测仪
CN204988888U (zh) 一种用于金属材料疲劳损伤测试的系统
CN204832475U (zh) 一种基于负超磁致伸缩薄膜的光纤磁场传感器
CN202083622U (zh) 一种塑料薄膜可见光波段范围内双折射率测量装置
CN207280632U (zh) 一种电池温度传感器
CN203687807U (zh) 一种测量端面花键齿深的新型百分表
Li et al. Investigation on the tapered fiber evanescent-field sensor based on the comsol software
CN207423316U (zh) 基于采集卡的光纤液位传感装置
CN205483905U (zh) 一种基于图像分析和表面等离子体共振的液体折射率光纤传感器

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20140716

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication