CN103890562A - 测量设备的窗口的污染检查 - Google Patents

测量设备的窗口的污染检查 Download PDF

Info

Publication number
CN103890562A
CN103890562A CN201280051451.7A CN201280051451A CN103890562A CN 103890562 A CN103890562 A CN 103890562A CN 201280051451 A CN201280051451 A CN 201280051451A CN 103890562 A CN103890562 A CN 103890562A
Authority
CN
China
Prior art keywords
intensity
window
sheet material
sensors
rows
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201280051451.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103890562B (zh
Inventor
D.萨库亚德
S.苏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jiejia German Currency Technology Co Ltd
Original Assignee
Giesecke and Devrient GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Giesecke and Devrient GmbH filed Critical Giesecke and Devrient GmbH
Publication of CN103890562A publication Critical patent/CN103890562A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103890562B publication Critical patent/CN103890562B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86—Investigating moving sheets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
    • G01N2021/155—Monitoring cleanness of window, lens, or other parts
    • G01N2021/157—Monitoring by optical means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/94—Investigating contamination, e.g. dust

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明涉及一种检测用于检测片状材料的测量装置的窗口的污染的方法，所述装置包括在片状材料输出方向的横向方向上对准的至少两个传感器排。传感器排均在特定频谱通道中检测来自片状材料的光。为了检测窗口污染的存在，当片状材料不存在于传感器排传感范围内时，传感器排在多个检测时刻检测光。根据本发明，频谱通道中的至少两个组合起来，并评估组合频谱通道的强度随时间的变化，以检测污染。组合频谱通道的强度随时间的小变化充当污染存在于窗口上的指示器。

Description

测量设备的窗口的污染检查
技术领域
本发明涉及一种检查用于检查片材的测量设备的窗口的污染的方法、一种用于实施该方法的测量设备及一种具有该测量设备的用于处理片材的设备。
背景技术
在用于检查片材的设备中，片材通常沿传输方向传输通过测量设备，并在一个或两个表面上被照射，以借助测量设备检测由片材反射的光和/或由片材透射的光。在传输的片材和测量设备之间，布置有可透过待检测波长的窗口，其防止测量设备的敏感部件的机械损坏或污染。然而，这种窗口因时间而受到污染，使得由测量设备检测的、来自片材的光的强度因窗口污染而畸变。这会导致在检查片材时错误地判断片材。例如，沿片材传输方向的窗口污染会在片材的检测图像上形成条纹。因此，当达到一定程度的污染时，通常清洁窗口。
为了确定何时需要清洁测量设备的窗口，自动地规律地检查窗口的污染。为此，当没有片材布置在测量设备的捕获区域中时，测量设备检测撞击在测量设备上的光。所检测的强度与例如清洁窗口的参考值进行比较。当差别超过预定值时，呈现出清洁的必要性或者自动地实施清洁。或者，可手动地清洁测量设备的窗口。由于通常必须中断对片材的检查操作来进行清洁，所以频繁的清洁工作导致用于检查片材的设备的生产量减小。
为了检查测量设备的窗口的污染，目前为止，当测量设备的捕获区域中不存在片材时，记录片材传输方向的横向方向上的背景强度。在片材不存在于捕获区域的情况下，测量设备通常仅检测低强度。为了检查窗口的污染，将所检测的背景强度与阈值进行比较。当位于传输方向的横向方向上的一个或若干位置的强度超过阈值时，得出的结论是，在所关注的窗口部分中存在窗口污染，并开始清洁窗口。然而，已证明，尽管有该污染检查，检查的片材仍会被部分地归类为不合格的，例如污染的或缺陷，而相应的片材本身是合格的。
发明内容
因此，本发明之目的是获得对测量设备的窗口的更可靠的污染检查。
该目的通过独立权利要求的主题来实现。在从属权利要求中，明确说明了本发明的有利发展例和实施例。
已证明，上述对片材的错误判断源于在检查片材时所检测的强度因窗口污染而畸变的事实，尽管有对窗口的惯例污染检查，但是窗口污染是存在的，并且到目前为止仍未被认识。本发明基于通过迄今比较所检测的强度与阈值而仅检测“光污染”(主要是光散射)的发现。已发现，还会发生“暗污染”(主要是光吸收)，其到目前为止是不能检测的。
当测量设备的捕获区域中不存在片材时，几乎没有光从待检测的片材的背景撞击回测量设备，在位于片材传输方向的横向方向上的、布置在未污染窗口区域后方的位置(下文中指代为“y位置”)处，测量设备检测到低强度。然而，由于在布置在窗口区域(由暗污染覆盖)后方的y位置处也类似地检测到低强度，所以根据它们的强度不能区分这些位置与位于未污染窗口区域后方的位置。因此，暗污染到目前为止仍未被认识。另外，目前为止，通过污染检查仍不能可靠地发现仅使光稍微散射的光污染。当窗口是干净的时，检测的强度例如因来自周围环境的噪声和/或扰动而随时间变化。相比之下，当存在暗污染时，在存在污染的y位置处检测到时间上相对恒定的强度。然而，仅单个频谱通道的强度的时间性能已被证明是相当不重要的。由于在大部分情况下，扰动或噪声存在于若干频谱通道中，所以在不具有暗污染的y位置处检测到的强度在若干频谱通道的每个中变化。相比之下，在具有暗污染的y位置，在若干或所有频谱通道中检测到时间上相对恒定的强度。
时间变化幅度的差别用于根据组合根据本发明的频谱通道来识别暗污染。通过组合频谱通道，若干频谱通道的变化对y位置(窗口不具有暗污染)处的组合频谱通道产生影响。因此，组合频谱通道在不具有暗污染的y位置处具有放大的强度变化，而在具有暗污染的y位置处仅发生十分小的强度变化。
本发明的特征在于，频谱通道的至少两个彼此组合，评估组合频谱通道的强度的时间变化，以检测测量设备的窗口的污染。组合频谱通道的强度的小时间变化用作在相应y位置存在窗口的暗污染的指示器。
测量设备具有沿片材传输方向的横向方向取向的至少两个传感器排。传感器排中的每个检测处于一定频谱通道的来自片材的光。传感器排均具有在片材传输方向的横向方向上并排布置的若干检测元件。每个检测元件形成例如若干测量轨道中的一个，若干测量轨道通过位于传输方向的横向方向上的间隔而彼此隔开。然而，替代地，测量设备的传感器排还可构造成记录片材的图像，并经由它们的检测元件，在片材传输方向的横向方向上逐个像素地检测来自所照射的片材的强度。然后，可基于记录在不同频谱通道中的图像传感器的图像来实施污染检查。传感器排是例如CMOS、CCD或光电二极管排。测量设备还可具有至少一个光源，用于照射片材。照射发生在可见频谱区域中、UV范围中或IR范围中。用于照射的光源可形成测量设备的一部分，或者还可在测量设备外部获得。优选地，在开启照射时检测不同频谱通道的强度(检测用于污染检查)。
为了检测窗口的污染，传感器排在若干检测时刻检测光，在这些时刻，传感器排的捕获区域中不存在片材。在用于污染检查而实施的评估中，评估传感器排(检测彼此不同的频谱通道)的至少两个的检测强度，每个传感器排仅在一个特定频谱通道中检测位于传输方向的横向方向上的强度。例如，由传感器排在若干检测时刻，尤其在至少5个检测时刻(在所述时刻，捕获区域中不存在片材，例如在若干直接连续的检测时刻)在每个y位置处检测强度。对于每个检测时刻，相应检测时刻的组合频谱通道的强度根据传感器排在检测时刻在它们相应频谱通道中检测的强度来确定。因此，对于每个检测时刻，根据位于片材传输方向的横向方向上的y位置的函数而独立地获得组合频谱通道的强度。在位于传输方向的横向方向上的y位置的至少一个中，随后实施对在不同检测时刻确定的组合频谱通道的强度的统计评估。该时间统计的结果用于检查测量设备的窗口的污染。
优选地，当传感器排的捕获区域中不存在片材时，传感器排在它们相应频谱通道中在沿y方向的若干y位置处检测强度。所述强度例如在y方向上邻近的一个或若干部分中检测。在一实施例中，由不同频谱通道的传感器排在相应检测时刻检测的强度分别单独地组合用于若干y位置，以形成组合频谱通道的强度。在y位置处在频谱通道中检测的强度可以是由单个检测元件检测的强度。或者，在频谱通道中在y位置处检测的强度可以通过将由一些检测元件(在传输方向的横向方向上邻近)在该频谱通道中检测的强度结合起来以形成该频谱通道的一个总强度而获得。
优选地，分别在若干y位置处单独地实施对组合频谱通道的强度的统计评估，并基于若干y位置的统计评估来检查测量设备的窗口的污染是否存在于窗口的相应y位置处。
特别地，对组合频谱通道的强度的统计评估包括形成在若干检测时刻确定的组合频谱通道的强度的时间标准偏差，特别优选地还形成组合频谱通道的强度的时间平均值。
在统计评估中，例如形成商，组合频谱通道的强度的时间平均值为其分子，组合频谱通道的强度的时间标准偏差为其分母。分子和/或分母可包含根据平均值或根据标准偏差确定的值，例如分母为标准偏差的平方。分子可包含平均值的偏移校正。另外，在商的分子和/或分母中，还可进一步包含参数和/或归一化因子。特别地，组合频谱通道的强度的时间标准偏差分别单独地针对若干y位置来确定，并被评估用于污染检查。特别地，时间平均值和上述商也分别单独地针对若干y位置来形成。
为了窗口的污染检查，尤其单独地对于每个y位置，可将由平均值和标准偏差构成的商与阈值进行比较。超过阈值会用作窗口污染存在于相应y位置(在相应y位置，超过阈值)的指示。可得出结论，每次超过阈值时，或者仅当例如在若干邻近的y位置超过阈值时，污染实际存在。作为阈值比较的替代例或除了阈值比较之外，尤其分别单独地对于若干y位置，平均值和标准偏差的商可与形成用于y位置(在y方向上邻近)的一个或若干商进行比较，基于不同y位置的商之间的差别得出关于窗口污染的结论。
组合频谱通道的强度可通过至少两个频谱通道的强度的数学串连来确定。特别地，分别单独地对于若干y位置来实施通过数学串连的组合。数学串连可以是对至少两个频谱通道的强度的加法、减法、除法或乘法。可选地，在暗污染具有对不同频谱通道不同的强大效果的情况下，单独频谱通道以不同的权重并入组合频谱通道的强度中。最可靠地进行串连工作取决于引起检测强度变化的相应原因。
为了确定组合频谱通道的强度，优选地，对将预彼此组合的至少两个频谱通道中的至少一个的强度实施非线性变换。优选地，在确定组合频谱通道之前或同时，对彼此组合的所有频谱通道的强度进行非线性变换。特别地，可以分别单独地对于若干y位置实施非线性变换。非线性变换包括例如使在频谱通道中检测的强度指数化，并随后串连单独频谱通道的指数化强度。非线性变换的优点是，由此放大了在非污染窗口区域中发生的所检测强度的变化，使得便于区分具有暗污染的窗口区域。为了能够实时实施所检测强度的非线性变换，所述变换可以以存储在评估装置中的查找表格的形式获得。
优选地，该方法针对两个或更多个不同组合频谱通道来实施，其结果是，采用所有这些组合频谱通道的统计评估，并可选地在逻辑上使它们相互串连，以用于窗口的污染检查的目的。可选地，形成并评估采用不同类型串连的若干组合频谱通道。
测量设备可构造成测量片材的反射和由窗口反射的光。替代地或另外地，测量设备可构造成测量片材的透射和由窗口透射的光。为了检查窗口的污染，通过测量设备检测并评估反射和/或透射光。相应地，由传感器排检测的光是由窗口反射的光和/或由窗口透射的光。用于检查窗口污染的频谱通道可以与用于检查片材的频谱通道相同。然而，不同频谱通道也可用于该目的。例如，基于处于可见范围的光和/或基于处于IR范围的光和/或基于处于UV范围的光来实施污染检查。
为了窗口的污染检查，传感器排在片材没有布置在传感器排的捕获区域中的时刻检测撞击在传感器排上的光强度。由此，不基于从片材检测的强度来实施污染检查，而仅基于当片材不存在于传感器排的捕获区域中时检测的强度来实施污染检查。关于片材检查和窗口的污染检查的时间序列，可在片材处理机的拣选中断或在检测片材期间在传输通过测量设备的两片片材之间的间隙中实施污染检查作为额外测量。
或者，在片材未布置在传感器排的捕获区域中的时刻，不实施窗口的污染检查作为额外测量。确切地，为了检查片材，在比在相应传输速度下记录片材图像所需的时间稍微长的时期内实施对片材的单独测量。记录的图像由此不仅包含片材本身(在传输方向上观看)，而且还涵盖稍微较大的区域，使得在图像中还包含位于片材前方和/或后方的部分。因此，记录图像的该部分可用于测量设备的窗口的污染检查。为了窗口的污染检查，然后，评估相应二维图像区域，该相应二维图像区域在记录的图像中布置在片材旁边，即其在片材之前或之后的时刻被记录。图像区域沿传输方向的长度优选地对应于传感器排的至少5次检测次数。该替代的优点是，省略了目前为止为了窗口的污染测量而必须采取的机器的拣选中断。替代地，在检查片材期间记录的图像的图像区域可用于检查窗口污染。优选地，以固定间隔(即在预定数量的片材传输通过之后)，例如每100张图像，选择并评估用于窗口污染检查的相应图像区域。还可实施若干图像的联合评估。为了窗口的污染检查，还可联合评估若干图像的对应图像区域。
污染检查优选地受限于对窗口的一个或若干部分区域的目标方式，一个或若干部分区域即在相应地检查待检查的片材时有实际作用的窗口的部分区域。它们是光实际通过的窗口区域，光来自片材，并被评估用于片材的检查。位于相关窗口区域外部、位于传输方向的横向方向上的窗口污染在污染检查时不考虑，由此不开始任何清洁动作。由此，避免了因位于部分区域(与检测钞票相关)外部的窗口区域中的污染而引起的不必要的清洁动作。因此，关于其宽度和在光束路径中的位置，上面提及的图像区域优选地表示对应于片材的检查区域(基于该检查区域检查片材)的窗口区域。
本发明还涉及一种构造成实施根据本发明的方法的测量设备。为此，测量设备具有例如带对应编程的评估装置。测量设备可形成用于检查片材的设备(装配有测量设备)的一部分。根据污染检查的结果，可以通过测量设备自动地开始对窗口的清洁。当发现了窗口污染时，可以自动地打断设备操作和/或可输出窗口需要清洁的消息。在打断操作的情况下，还可例如通过吹气触发窗口的自动清洁。还可提供的是，在开始用于清洁窗口的若干连续污染检查时，必须检测该污染。
构造成检查片材的该设备可以构造成片材沿传输路径被引导通过设备。接收有测量设备的该设备可以是用于检查有价文件的设备，尤其是用于检查钞票的钞票处理机，即分拣机、存款机或取款机。可检查任何期望类型的片材，尤其是有价文件，比如钞票、支票、票证、收据等。
附图说明
在下文中，参考附图以示例的方式说明本发明。附图中：
图1a-b是用于实施根据本发明的污染检查的本发明的测量设备的示意图；
图2a-f是在一定时间t1检测的两个频谱通道的强度(图2a-b)、基于此确定的组合频谱通道的强度(图2c)、组合频谱通道的强度的平均值(图2d)和标准偏差(图2e)以及由此形成的商(图2f)；
图3a-e是在一定时间t1检测的三个频谱通道的强度(图3a-c)以及由用于两个不同组合频谱通道的组合频谱通道的强度平均值和标准偏差形成的商(图3d-e)。
具体实施方式
图1示出用于检查沿传输方向x在传输路径T上传输通过测量设备的片材的测量设备。测量设备1具有壳体7，两个光源4和四个传感器排3a-d接收在壳体中。传感器排3a-d均仅对一定频谱范围敏感，并为此配备有例如相应的滤谱器。通过光源4，光经由窗口6照射在存在于测量设备1的捕获区域中的片材10的表面上。由片材表面反射的光再次通过窗口6，在通过合适的光学元件2(例如透镜)之后，由传感器排3a-d检测。在该示例中，基于反射测量来实施对片材和窗口污染的检查，但是还可基于透射测量(例如，暗场透射测量)来实施。测量设备还可布置在传输路径T的两侧，片材例如在测量设备的两个窗口之间引导，在测量设备的两个窗口之后，布置有相应的光源和传感器排。污染检查可针对两个窗口来实施。
在该示例中，测量设备1是图像传感器，其相应地逐行地记录沿传输方向x传输通过的片材10的图像。测量设备1的传感器排3a-d检测例如在4个频谱通道中的光，红色(R)、绿色(G)、蓝色(B)和红外(IR)。为了测量设备1的窗口6的污染检查，当测量设备1的捕获区域中不存在片材10时，沿位于片材10的传输方向x的横向方向上的方向y检测背景强度。在检查片材和窗口污染期间，光源4保持例如永久打开。
在图1b中，以透视图示出图1a的布置的细节。在窗口6上，在沿y方向的两个示例性y位置处示出暗污染D，而其它窗口区域没有污染。通过根据本发明的污染检查，已发现，沿检测射线束观看时，传感器排3a-d的哪些像素布置在暗污染D后方，并得出关于暗污染D存在于窗口6的对应y位置的结论。
在图2a和2b中，频谱通道G的强度IG和频谱通道B的强度IB作为y位置(传输方向的横向方向)的函数示出，它们由传感器排3a-d中的两个传感器在一定时刻t1检测到，在此时，传感器排3a-d的捕获区域中不存在片材10。在片材不存在于捕获区域的情况下，传感器排3a-d仅在每个像素中检测比较小的背景强度。为了检查窗口的可能污染的窗口区域，将由此检测的背景强度IG、IB与阈值SH进行比较，例如图2a、2b。当对于一个或若干像素，强度IG、IB超过阈值SH时，得出结论：窗口的光污染存在于窗口的布置在该像素前方的部分中。在该示例中，“光污染”H1在频谱通道G中检测到，光污染H2在频谱通道B中检测到。此外，借助根据本发明的方法检查窗口6的暗污染。通过测量设备的评估装置5实施污染检查，评估装置可以布置在测量设备的壳体7的内部或外部。
在若干连续时刻t=t1、t2、t3…检测强度IG和IB，在这些时刻，捕获区域中不存在片材。对于这些时刻t=t1、t2、t3…中的每个时刻，独立地确定组合频谱通道K的强度。图2c示出对于时刻t1有效的组合频谱通道K的强度IK，其通过图2a和2b的强度IG和IB逐个像素地确定。在该示例中，为了组合频谱通道G和B，强度IG和IB均非线性地变换，以获得相应频谱通道G、B的强度IG和IB的方差的非线性放大。作为非线性变换，可采用例如具有幂次r(其中，r<1或r>1)以及权重因数aG和aB的幂函数aGIG r、aBIB r。非线性变换的强度随后彼此连接，例如彼此相减或彼此相加。
从在不同时刻t=t1、t2、t3…确定的组合频谱通道K的强度IK，随后对于每个y位置独立地确定它们的(时间)平均值μK和它们的(时间)标准偏差σK。在图2d、2e中，它们运用为y位置的函数。对于沿y方向(沿位于传输方向的横向方向上的窗口6)的不同位置，平均值μK(y)由在组合频谱通道K的强度IK(y,t)范围内的时间平均得到，时间平均值确定为时间t的函数。
从平均值μK和标准偏差σK中随后形成商Q=μK/(1+σK)，其在图2f中独立地应用于每个y位置。为了污染检查，例如将商Q与阈值SD进行比较，如图2f。在超过阈值SD的那些y位置中，得出的结论是：存在测量装置1的窗口6的暗污染D。在所示的示例中，商Q在四个位置y1、y2、y3、y4超过阈值SD，在该四个位置，存在相应的暗污染D1、D2、D3、D4。在这些位置y1、y2、y3、y4，存在十分小的标准偏差σK，如图2e，同时存在平均值μK，其大大超过沿y方向存在的最低平均值，如图2d。
在暗污染D1、D2、D4的位置y1、y2、y4，在频谱通道G和B本身中不会检测到超过阈值SH的强度IG和IB，如图2a和2b。因此，发现处于不会被迄今用于光污染的检查发现的D1、D2、D4形式的污染。在位置y3，发现暗污染D3，其还导致在所检测的强度IG和IB本身中的信号稍微增加，如图2a和2b。然而，在y位置y3，仅在频谱通道B中超过光污染检查的阈值SH，并且仅稍微超过阈值SH。通过根据本发明的污染检查，可基本上更可靠地发现比如位于y位置y3的污染。优选地，对于窗口6的污染检查，采用迄今的用于光污染检查的污染检查(如图2a-b)和用于暗污染的根据本发明的污染检查(如图2c-f)可可靠地发现两种类型的污染。
在图3b和3c中，图2a和2b的强度IG和IB与在时刻t1检测的红色频谱通道R的强度IR进行比较，如图3a。在频谱通道R，发现另一光污染H3。而且，在图3e中，已在图2f示出的商Q=μK/(1+σK)的曲线运用为y位置的函数，其针对组合频谱通道K而确定。为了比较，在图3d中，示出用于另一组合频谱通道K1的商Q1=μK1/(1+σK1)，其由频谱通道G与频谱通道R组合产生。另一组合频谱通道K1根据频谱通道R和G的强度IR和IG的非线性变换以及与频谱通道K类似的非线性变换强度的连接来确定，其中，频谱通道R仅用于代替频谱通道G，频谱通道G用于代替频谱通道B。借助类似的阈值比较，通过商Q1还可发现暗污染D1、D2和D4，如图3d。然而，还可假设的是，在评估时，仅当在两个或更多个组合通道中的相同y位置处确认超过了相应阈值，才得出存在暗污染的结论。这些阈值可以处于相同或不同水平。

Claims (15)

1.一种用于检查测量设备(1)的窗口(6)的污染的方法，所述测量设备用于检查在传输方向(x)上沿传输路径(T)传输通过所述测量设备(1)的片材(10)，其中，所述测量设备(1)
-相应地具有用于至少两个不同频谱通道(R,G,B,IR)的一个传感器排(3a-d)，所述传感器排具有沿位于片材传输方向(x)的横向方向上的y方向的若干检测元件，以当片材(10)存在于传感器排的捕获区域中时，检测来自片材(10)的光，以及
-具有至少一个窗口(6)，所述至少一个窗口布置在所述传感器排(3a-d)与所述片材(10)的传输路径(T)之间，并且，
其中，为了检查所述窗口(6)的污染，当所述传感器排(3a-d)的捕获区域中不存在任何片材(10)时，检测经由所述窗口(6)撞击在所述传感器排(3a-d)上的光的强度，其特征在于，为了检查所述窗口(6)的污染，
-当所述传感器排(3a-d)的捕获区域中不存在任何片材时，具有不同频谱通道(R,G,B,IR)的传感器排(3a-d)中的至少两个分别在若干检测时刻(t1,t2,…)相应地至少在沿y方向的一个y位置处检测经由窗口(6)撞击在相应传感器排(3a-d)上的光的强度(IR,IG,IB,IIR)，以及
-根据在检测时刻(t)由具有不同频谱通道(R,G,B,IR)的至少两个传感器排(3a-d)检测的强度(IR,IG,IB,IIR)，确定组合频谱通道(K)的强度(IK(t))，其中，相应地单独对于若干检测时刻(t1,t2,…)，确定所述组合频谱通道(K)的强度(IK(t1),IK(t2),…)，以及
-对在若干检测时刻(t1,t2,…)确定的组合频谱通道(K)的强度(IK(t1),IK(t2),…)实施统计评估，以及
-基于所述统计评估，实施对所述测量设备(1)的窗口(6)的污染检查。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述传感器排(3a-d)的捕获区域中不存在任何片材(10)时，所述传感器排(3a-d)在它们各自的频谱通道(R,G,B,IR)中检测沿y方向的若干y位置处的强度(IR,IG,IB,IIR)，在若干y位置检测的强度用于检查所述窗口的污染。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，由具有不同频谱通道(R,G,B,IR)的传感器排(3a-d)在相应检测时刻(t1,t2,…)检测的强度(IR,IG,IB,IIR)针对若干y位置相应地单独组合起来，以形成所述组合频谱通道(K)的强度(IK(t1,y),IK(t2,y),…)。
4.如权利要求2或3所述的方法，其特征在于，相应地单独对于若干y位置，实施对所述组合频谱通道(K)的强度(IK(t,y))的统计评估，基于所述统计评估，相应地单独对于若干y位置，检查所述测量设备的窗口(6)的污染是否存在于窗口的相应y位置。
5.如上述权利要求任一项所述的方法，其特征在于，尤其相应地单独对于若干y位置，确定所述组合频谱通道(K)的强度(IK(t))包括对所述至少两个频谱通道(R,G,B,IR)中的至少一个的强度(IR,IG,IB,IIR)进行非线性变换，优选地对所述至少两个频谱通道(R,G,B,IR)中的每个的强度(IR,IG,IB,IIR)进行非线性变换。
6.如上述权利要求任一项所述的方法，其特征在于，尤其相应地单独对于若干y位置，对所述组合频谱通道(K)的强度(IK(t))进行统计评估包括对于至少5个检测时刻(t1,t2,t3…)，尤其对于至少5个连续检测时刻，统计地评估作为时间的函数的所述组合频谱通道(K)的强度(IK(t,y))的曲线。
7.如上述权利要求任一项所述的方法，其特征在于，尤其相应地单独对于若干y位置，对所述组合频谱通道(K)的强度(IK(t,y))进行统计评估包括形成所述组合频谱通道(K)的强度(IK(t,y))的时间标准偏差(σK(y))，优选地形成时间平均值(μK(y))和时间标准偏差(σK(y))，所述时间标准偏差优选地针对若干检测时刻(t1,t2,…)而确定。
8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，在统计评估中，尤其相应地单独对于若干y位置，形成商(Q)，其中，所述商的分子包含所述组合频谱通道(K)的强度(IK(t,y))的时间平均值(μK(y))，所述商的分母包含所述组合频谱通道(K)的强度(IK(t,y))的时间标准偏差(σK(y))。
9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，尤其相应地单独对于若干y位置，为了检查所述窗口(6)的污染，将所述平均值(μK(y))和所述标准偏差(σK(y))的商(Q)与阈值(SD)进行比较，在超过所述阈值时，得出的结论是，所述窗口(6)的污染存在于超过所述阈值(SD)的相应y位置处。
10.如权利要求8或9所述的方法，其特征在于，尤其相应地单独对于若干y位置，将所述平均值(μK(y))和所述标准偏差(σK(y))的商(Q)与针对y方向上的一个或若干相邻y位置形成的一个或若干商进行比较，基于不同y位置的商之间的差别，得出关于所述窗口(6)的污染的结论。
11.如上述权利要求任一项所述的方法，其特征在于，对于至少两个不同的组合频谱通道(K,K1)实施所述方法，其中，为了检查所述窗口(6)的污染，使用所述至少两个组合频谱通道(K,K1)的统计评估的结果。
12.如上述权利要求任一项所述的方法，其特征在于，为了检查所述片材，检测沿传输方向(x)超出所述片材(10)的片材(10)图像，为了检查所述窗口(6)的污染，评估沿传输方向布置在所述片材(10)前方和/或后方的图像上的图像区域。
13.一种测量设备(1)，用于检查在传输方向(x)上沿传输路径(T)传输通过所述测量设备的片材，所述测量设备具有：
-一个传感器排(3a-d)，相应地用于至少两个不同频谱通道(R,G,B,IR)，所述传感器排具有沿位于片材传输方向(x)的横向方向上的y方向的若干检测元件，以当片材(10)存在于传感器排(3a-d)的捕获区域中时，检测来自片材的光，为了检查所述窗口(6)的污染，当所述传感器排(3a-d)的捕获区域中不存在任何片材时，检测经由所述窗口(6)撞击在所述传感器排(3a-d)上的光的强度，
-至少一个窗口(6)，布置在所述传感器排(3a-d)与所述片材(10)的传输路径(T)之间，以及
-至少一个评估装置(5)，构造成评估为检查所述窗口(6)的污染而由所述传感器排(3a-d)检测的光的强度，
其特征在于，
-所述测量设备(1)构造成为了检查所述窗口(6)的污染，当所述传感器行(3a-d)的捕获区域中不存在任何片材(10)时，具有不同频谱通道(R,G,B,IR)的传感器排(3a-d)的至少两个在若干检测时刻(t1,t2,…)在沿y方向的至少一个y位置处相应地检测经由所述窗口(6)撞击在所述传感器排(3a-d)上的光的强度(IR,IG,IB,IIR)，以及
-所述评估装置(5)构造成根据在检测时刻(t)由具有不同频谱通道(R,G,B,IR)的传感器排(3a-d)检测的强度(IR,IG,IB,IIR)，确定组合频谱通道(K)的强度(IK(t))，其中，相应地单独对于若干检测时刻(t1,t2,…)，确定所述组合频谱通道(K)的强度(IK(t1),IK(t2),…)，并且对在若干检测时刻(t1,t2,…)确定的组合频谱通道(K)的强度(IK(t1),IK(t2),…)实施统计评估，基于所述统计评估的结果，实施对所述测量设备(1)的窗口(6)的污染检查。
14.如权利要求14所述的测量设备(1)，其特征在于，所述评估装置(5)构造成实施根据权利要求1至12中的一个或若干的方法。
15.一种用于处理片材(10)，尤其是有价文件的设备，所述设备适于将片材(10)沿传输路径(T)传输通过测量设备，其特征在于，所述测量设备是如权利要求13或14所述的测量设备(1)。
CN201280051451.7A 2011-10-20 2012-10-17 测量设备的窗口的污染检查 Active CN103890562B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102011116487A DE102011116487A1 (de) 2011-10-20 2011-10-20 Verschmutzungsprüfung des Fensters einer Messvorrichtung
DE102011116487.5 2011-10-20
PCT/EP2012/004344 WO2013056826A1 (de) 2011-10-20 2012-10-17 Verschmutzungsprüfung des fensters einer messvorrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103890562A true CN103890562A (zh) 2014-06-25
CN103890562B CN103890562B (zh) 2016-06-08

Family

ID=47146321

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201280051451.7A Active CN103890562B (zh) 2011-10-20 2012-10-17 测量设备的窗口的污染检查

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9279772B2 (zh)
EP (1) EP2769200B1 (zh)
CN (1) CN103890562B (zh)
DE (1) DE102011116487A1 (zh)
WO (1) WO2013056826A1 (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109074695A (zh) * 2016-05-13 2018-12-21 捷德货币技术有限责任公司 用于检查防伪元件的原真性的装置和方法
CN112639438A (zh) * 2018-06-21 2021-04-09 通快光电器件有限公司 指示使用准备就绪的激光传感器模块

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010055428A1 (de) * 2010-12-21 2012-06-21 Giesecke & Devrient Gmbh Verschmutzungsprüfung des Fensters einer Messvorrichtung zur Prüfung von Blattgut
US10180248B2 (en) * 2015-09-02 2019-01-15 ProPhotonix Limited LED lamp with sensing capabilities
US10937139B2 (en) * 2017-05-12 2021-03-02 Michael Gostein Imaging-based optical soiling measurement device with self calibration features
US10312859B2 (en) * 2017-05-12 2019-06-04 Michael Gostein Optical soiling measurement device for photovoltaic arrays

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63145946A (ja) * 1986-08-29 1988-06-18 メジヤレツクス　コ−ポレイシヨン 走行するウエブの計測システム並びに方法
CN1187895A (zh) * 1995-05-11 1998-07-15 吉赛克与德弗连特股份有限公司 一种用于检测如钞票或有价证券等页片材料的装置和方法
CN1279398A (zh) * 1999-06-29 2001-01-10 康宁股份有限公司 片材检查系统
CN1311855A (zh) * 1998-08-05 2001-09-05 泽韦格路瓦有限公司 纤维颜色分级系统
CN1362621A (zh) * 2000-12-26 2002-08-07 光荣工业株式会社 紫外线/荧光检测装置及其感测方法
US6472670B1 (en) * 1999-01-18 2002-10-29 Giesecke & Devrient Gmbh Method for verifying the state of a device used to examine sheet items
DE10159234A1 (de) * 2001-12-03 2003-06-26 Giesecke & Devrient Gmbh Vorrichtung zur Untersuchung von Dokumenten
WO2004013817A2 (de) * 2002-07-29 2004-02-12 Giesecke & Devrient Gmbh Vorrichtung und verfahren zur bearbeitung von wertdokumenten
JP2005214974A (ja) * 2004-02-02 2005-08-11 Rosemount Aerospace Inc 光を利用している観察システムのウインドウ表面上の汚染物質を検出するための方法及び装置
WO2006018191A1 (de) * 2004-08-11 2006-02-23 Giesecke & Devrient Gmbh Verfahren und vorrichtung zum messen von blattgut
CN101228435A (zh) * 2005-07-26 2008-07-23 普勒米尔开发私人有限公司 原丝类纺织材料中外来物质的检测和分类

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5674790A (en) * 1979-11-22 1981-06-20 Tokyo Shibaura Electric Co Bill discriminator
KR890002004B1 (ko) * 1984-01-11 1989-06-07 가부시끼 가이샤 도오시바 지폐류 판별장치
DE10005514A1 (de) 2000-02-07 2001-08-09 Giesecke & Devrient Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Überprüfung von Banknoten
DE10243051A1 (de) * 2002-09-17 2004-03-25 Giesecke & Devrient Gmbh Verfahren und Pfüfeinrichtung zur Prüfung von Wertdokumenten
DE102007014844B3 (de) * 2007-03-28 2008-06-05 Glatt Systemtechnik Gmbh Verfahren zur Überwachung der optischen Durchlässigkeit eines Beobachtungsfensters und Einrichtung zur Reinigung eines Beobachtungsfensters
DE102007037923A1 (de) * 2007-08-10 2009-02-12 Giesecke & Devrient Gmbh Optischer Sensor zur Erfassung von Wertdokumenten und Verfahren zur Reinhaltung eines Sensorfensters des Sensors

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63145946A (ja) * 1986-08-29 1988-06-18 メジヤレツクス　コ−ポレイシヨン 走行するウエブの計測システム並びに方法
CN1187895A (zh) * 1995-05-11 1998-07-15 吉赛克与德弗连特股份有限公司 一种用于检测如钞票或有价证券等页片材料的装置和方法
CN1311855A (zh) * 1998-08-05 2001-09-05 泽韦格路瓦有限公司 纤维颜色分级系统
US6472670B1 (en) * 1999-01-18 2002-10-29 Giesecke & Devrient Gmbh Method for verifying the state of a device used to examine sheet items
CN1279398A (zh) * 1999-06-29 2001-01-10 康宁股份有限公司 片材检查系统
CN1362621A (zh) * 2000-12-26 2002-08-07 光荣工业株式会社 紫外线/荧光检测装置及其感测方法
DE10159234A1 (de) * 2001-12-03 2003-06-26 Giesecke & Devrient Gmbh Vorrichtung zur Untersuchung von Dokumenten
WO2004013817A2 (de) * 2002-07-29 2004-02-12 Giesecke & Devrient Gmbh Vorrichtung und verfahren zur bearbeitung von wertdokumenten
JP2005214974A (ja) * 2004-02-02 2005-08-11 Rosemount Aerospace Inc 光を利用している観察システムのウインドウ表面上の汚染物質を検出するための方法及び装置
WO2006018191A1 (de) * 2004-08-11 2006-02-23 Giesecke & Devrient Gmbh Verfahren und vorrichtung zum messen von blattgut
CN101228435A (zh) * 2005-07-26 2008-07-23 普勒米尔开发私人有限公司 原丝类纺织材料中外来物质的检测和分类

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109074695A (zh) * 2016-05-13 2018-12-21 捷德货币技术有限责任公司 用于检查防伪元件的原真性的装置和方法
CN112639438A (zh) * 2018-06-21 2021-04-09 通快光电器件有限公司 指示使用准备就绪的激光传感器模块

Also Published As

Publication number Publication date
WO2013056826A1 (de) 2013-04-25
DE102011116487A1 (de) 2013-04-25
EP2769200B1 (de) 2015-09-16
US20140246611A1 (en) 2014-09-04
EP2769200A1 (de) 2014-08-27
CN103890562B (zh) 2016-06-08
US9279772B2 (en) 2016-03-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103890562A (zh) 测量设备的窗口的污染检查
EP3561492A1 (en) Raman spectrum detection device and detection safety monitoring method therefor
TWI504884B (zh) Apparatus and method for detecting defects inside a transparent plate body and use of the device
CN103575737A (zh) 缺陷检查方法及缺陷检查装置
JP2018194540A (ja) 積分球を搭載した光学測定装置を使用した光コネクタの極性及び損失測定
CN105184202B (zh) 扫描仪脏污/清洁窗口自动探测
CN108027326B (zh) 来自木质纤维网的荧光液体的光学检测
JP2013164338A (ja) 植物または植物加工品の異物検出方法
CN105954160A (zh) 细灰尘测量方法和确定细灰尘的颗粒大小的细灰尘传感器
WO2012143201A1 (de) Fluoreszenzkontrolle
JP4590553B2 (ja) 生籾被害粒の非破壊判定方法
EP3531112A1 (en) Raman spectroscopy detection device and sample safety detection method for use in raman spectroscopy detection
WO2018198922A1 (ja) 卵の検査装置
JP2010249624A (ja) 走行材の表面品質判定装置および表面品質判定方法
Lohumi et al. LCTF-based multispectral fluorescence imaging: System development and potential for real-time foreign object detection in fresh-cut vegetable processing
US9001318B2 (en) Soiling check of the window of a measuring apparatus for checking sheet material
KR20020081073A (ko) 방사선 검사장치 및 방사선 검사방법
JP2011033612A (ja) 農産物検査装置
JP2020153975A (ja) 処理システム
US20070195323A1 (en) Assembly and method for identifying coatings lying on the surface of components and for determining their characteristics
JP6861990B2 (ja) Ｘ線検査装置
WO2014118931A1 (ja) 放射能汚染の検査装置、その検査方法及びその検査プログラム
US10705015B2 (en) System, method and apparatus for continuous evaluation, detection and storage of colorimetric wavelength changes on a chemically impregnated media useful in the detection of gases
DK180934B1 (en) Objective cleaning control in a food manufacturing setting
JP3096807B2 (ja) 表裏判別方法及び表裏判別装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20180308

Address after: Munich, Germany

Patentee after: Jiejia German currency Technology Co., Ltd.

Address before: Munich, Germany

Patentee before: Giesecke & Devrient GmbH