CN103863641A - 电子元器件收纳状态的确认方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种能高精度地确认形成在托盘上的多个元器件收纳部内是否收纳有电子元器件（电子元器件的收纳状态），且无需复杂结构的设备，经济性优良的电子元器件收纳状态的确认方法。使用由透光性材料形成的托盘（1），在托盘的下表面侧配置有由遮光性材料形成，且在俯视时与托盘（1）的各元器件收纳部（3）的配置位置相对应的位置上设有贯通孔（12）的辅助基板（11），以使得贯通孔的位置与托盘的元器件收纳部内应收纳的电子元器件（4）的放置区域的至少一部分重合，从配置在辅助基板的下表面侧的光源（5）向辅助基板（11）照射光，通过从托盘（1）的上表面侧检测出通过贯通孔（12）、且透过托盘（1）到达托盘上表面侧的光，来识别元器件收纳部（3）内是否收纳有电子元器件（4）。

Description

电子元器件收纳状态的确认方法

技术领域

本发明涉及对设置于托盘的多个元器件收纳部内的电子元器件的收纳状态进行确认的方法。

背景技术

近年来，在移动通信终端等中多使用模块元器件、屏蔽外壳、同轴电缆等各种电子元器件。

并且，对于这些电子元器件，会有以分别收纳于设置在托盘上的元器件收纳部（空腔：cavity）内的状态出货的情况（参照专利文献1，专利文献2）。

由此，在产品以收纳于托盘的元器件收纳部的状态进行出货的情况下，通常要求设置于托盘的元器件收纳部中无遗漏的收纳有电子元器件。

然而，例如，当去除在不合格产品检查中所检查出的电子元器件（不合格产品），使得收纳该电子元器件的元器件收纳部变成空的状态时，或者在发生遗漏收纳等的情况下，尽管在空的元器件收纳部内收纳了其他电子元器件之后再进行出货，但仍然会出现忽略了空的元器件收纳部的存在，并在该状态（所谓缺牙状态）下（即，以数量不足的状态）进行出货的情况。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2007－30917号公报

专利文献2：日本专利特开2008－308192号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

这里，作为确认托盘内所收纳的元器件是否存在数量不足的问题的方法，例如考虑下述方法，即，使用由具有透光性的材料形成的托盘来作为托盘，在元器件收纳部内收纳有电子元器件的托盘的下方设置辅助托盘或辅助板，该辅助托盘或辅助板中在与元器件收纳部相对应的位置上粘贴有例如印刷了○印记的标签，这样透过托盘的元器件收纳部的底部，通过查看是否有上述标签的圆形标记来确认是否存在电子元器件（也就是说，可以获知在观察到圆形标记的元器件收纳部内未收纳电子元器件）。

但是，在这种方法中，可视性并不一定充分，会产生容易忽略数量不足，可靠性较低的问题。

因此，为了提高元器件收纳部内电子元器件的收纳状态的检测精度，还考虑了下述方法等，即在产品位置上配置反射型光电传感器，在检测出空的元器件收纳部的情况下，通过蜂鸣器的报警音或灯泡的点亮等来通知数量不足，但是在采用这种结构的情况下，不只装置结构变得复杂，还带来成本增加的问题。

本发明的目的在于解决上述技术问题，提供一种可以高精度的确认形成在托盘上的多个元器件收纳部内是否收纳有电子元器件（电子元器件的收纳状态），并且不需要复杂结构的设备，经济性优良的电子元器件的收纳状态的确认方法。

解决技术问题所采用的技术方案

为了解决上述问题，本发明的另一种电子元器件收纳状态的确认方法是对设置有多个用于收纳电子元器件的元器件收纳部的托盘的、所述元器件收纳部内所述电子元器件的收纳状态进行确认的方法，其特征在于，

使用由具有透光性的材料形成的托盘来作为所述托盘，

在所述托盘的下表面侧配置有由具有遮光性的材料形成，俯视时在与所述托盘的各元器件收纳部的配置位置相对应的位置上设有贯通孔的辅助基板，以使得所述贯通孔的位置与所述托盘的所述元器件收纳部内应收纳的所述电子元器件的放置区域的至少一部分重合，

从配置在所述辅助基板的下表面侧的光源向所述辅助基板照射光，通过从所述托盘的上表面侧检测出通过所述贯通孔，且透过所述托盘而到达所述托盘的上表面侧的光，来识别所述元器件收纳部内是否收纳有所述电子元器件。

此外，在本发明的另一种电子元器件收纳状态的确认方法中，优选为在所述托盘的各元器件收纳部中与所述辅助基板的所述贯通孔相对应的位置设有贯通孔。

通过使用在各元器件收纳部与辅助基板的贯通孔相对应的位置上设有贯通孔的托盘，对于未收纳电子元器件的元器件收纳部，可以从托盘的上表面侧检测出更充足的通过光，从而能够提高收纳状态的确认的可靠性。

此外，优选所述光源是构成为能够同时对设置于所述辅助基板的多个所述贯通孔分别照射光，且在该光源上配置所述辅助基板的面为平面状的光源。

通过具有上述结构，可以同时对形成于辅助基板的各贯通孔分别照射光，从而能够高效的确认元器件收纳部内电子元器件的收纳状态。

此外，本发明的另一种电子元器件收纳状态的确认方法是对设置有多个用于收纳电子元器件的元器件收纳部的托盘的、所述元器件收纳部内电子元器件的收纳状态进行确认的方法，其特征在于，

作为所述托盘，使用由具有遮光性的材料形成，且设有贯通孔的托盘，以使得贯通孔位于各个所述元器件收纳部内应收纳的所述电子元器件的放置区域中的至少一部分，

从配置在所述托盘的下表面侧的光源向所述托盘照射光，通过从所述托盘的上表面侧检测出通过所述贯通孔，而到达所述托盘的上表面侧的光，来识别所述元器件收纳部内是否收纳有所述电子元器件。

此外，优选所述光源是构成为能够同时对配置于所述托盘的多个所述元器件收纳部上所设置的所述贯通孔分别照射光，且在该光源上配置所述托盘的面为平面状的光源。

通过具有上述结构，可以同时对形成于托盘的各贯通孔分别照射光，从而能够高效的确认电子元器件的收纳状态。

发明效果

本发明的电子元器件的收纳状态的确认方法中，作为托盘，使用由具有透光性的材料形成的托盘，在托盘的下表面侧配置由具有遮光性的材料形成，并在与托盘的元器件收纳部的平面位置相对应的多个位置上设有贯通孔的辅助基板，以使上述贯通孔的位置与托盘的元器件收纳部内应收纳的电子元器件的放置区域的至少一部分重合，从配置在辅助基板的下表面侧的光源向辅助基板照射光，从托盘的上表面侧检测出通过贯通孔，且透过托盘到达托盘的上表面侧的光（透过光），因此能够从透过光的有无以及透过光的量准确地获知电子元器件的收纳状态。

此外，由于不需要在托盘上形成贯通孔，因此可以防止收纳于托盘的元器件收纳部的电子元器件被污染，从而可以确保电子元器件的清洁。

此外，本发明的另一种电子元器件收纳状态的确认方法中，作为用于收纳电子元器件的托盘，使用由具有遮光性的材料形成，且设置有贯通孔的托盘，以使得贯通孔位于各个元器件收纳部内应收纳的电子元器件的放置区域中的至少一部分，在托盘的下表面侧上配置光源，从该光源向托盘照射光，从托盘的上表面侧检测出通过贯通孔，而到达托盘的上表面侧的光（通过光），因此，可以根据通过光的有无以及通过光的量来准确地获知电子元器件的收纳状态。

另外，从托盘的上表面侧检测通过贯通孔到达上表面侧的光时，一般情况下通过目视确认的方法，能够识别出贯通孔被电子元器件相对完全覆盖从而无法检测出通过的光的情况，以及贯通孔的较大一部分被电子元器件覆盖从而通过的光的量减少的情况。由此，不需要复杂的检测设备，能够以简单的结构高效的对电子元器件的收纳状态进行确认。

然而，根据情况不同，也可以采用以光学方法检测通过光的量。

附图说明

图1是表示本发明的实施方式1中所使用的托盘的结构的图，图1（a）是俯视图，（b）是主视剖视图。

图2是表示本发明的实施方式1中所使用的辅助基板的结构的图，图2（a）是俯视图，图2（b）是主视剖视图。

图3是表示本发明的实施方式1中，在托盘的元器件收纳部内收纳有电子元器件的状态的图，图3(a)是俯视图，图3(b)是正面剖视图。

图4是表示本发明的实施方式1中用于实施元器件收纳部内电子元器件的收纳状态的确认方法所使用的光源（配置有辅助基板的面为平面状的光源）的图，图4（a）是俯视图，图4（b）是主视图。

图5是用于说明本发明的实施方式1中电子元器件收纳状态的确认方法的图。

图6是表示本发明的另一个实施方式（实施方式2）中所使用的托盘的结构的图，图6（a）是俯视图，图6（b）是主视剖视图。

图7是用于说明本发明的实施方式2中电子元器件收纳状态的确认方法的图，图7（a）是俯视图，图7（b）是主视剖面图。

图8是表示本发明的又一个实施方式（实施方式3）中所使用的托盘的结构的图，图8（a）是俯视图，图8（b）是主视剖视图。

图9是用于说明本发明的实施方式3中电子元器件收纳状态的确认方法的图（主视图）。

具体实施方式

下文中示出了本发明的实施方式，以对本发明的特征进行更详细的说明。

[实施方式1]

在该实施方式1中，以下述情况为例进行说明：即，将在陶瓷基板、树脂基板等的表面或内部安装有半导体芯片、贴片电容器等表面安装元器件的电子元器件即模块元器件作为电子元器件收纳于形成有多个元器件收纳部的托盘的各元器件收纳部中，在该状态下，对元器件收纳部内的模块元器件（电子元器件）的收纳状态进行确认。

图1是表示该实施方式1中所使用的托盘的结构的图，图1（a）是俯视图，图1（b）是主视剖视图。

在该实施方式1中，如图1（a），（b）所示，托盘1采用如下所述的结构，即由PET等具有透光性的树脂材料来形成，并且利用隔板2划分的多个元器件收纳部（收纳凹部）3配置成矩阵状。另外，具有透光性的托盘并不需要完全透明。

此外，图2是表示该实施方式1中所使用的辅助基板的结构的图，图2（a）是俯视图，图2（b）是主视剖视图。

如图2（a），（b）所示，在该实施方式1中，作为辅助基板11采用如下所述的结构，即由具有遮光性的构件形成，在与上述托盘1的元器件收纳部3的平面位置相对应的多个位置上设有贯通孔12。作为辅助基板11，例如可使用将黑色氧化钛颜料等具有遮光性的微粉末均匀地分散在环氧树脂等树脂材料上而形成的基板。

此外，图3是表示在托盘1的元器件收纳部3内收纳有上述模块元器件（电子元器件）4的状态的图，图3（a）是俯视图，图3（b）是正视剖面图。另外，图3（a），（b）中示出了托盘1的多个元器件收纳部3中的一个元器件收纳部3（3a）内未收纳模块元器件（电子元器件）4，而在其他的元器件收纳部3中分别收纳有模块元器件（电子元器件）4的状态。

此外，图4是表示用于实施本发明的元器件收纳部内电子元器件的收纳状态的确认方法所使用的光源（配置有辅助基板的面为平面状的光源）5的图，图4（a）是俯视图，图4（b）是主视图。

另外，该实施方式1中使用的、配置有辅助基板11的面为平面状的光源5例如具有下述结构，即在以由丙烯酸形成的散射板5a成为照射光的面的方式构成的壳体内部配置荧光灯、LED灯等，而辅助基板11配置于该光源上的面为平面状。作为光源，虽然使用如上所述的配置有辅助基板11的面为平面状的光源，但优选能够高效率地对各个贯通孔照射光，在本发明中，不限于这样的配置有辅助基板11的面为平面状的光源（面光源），也可以使用具有其他结构的光源。

接着，如图3所示，在托盘1的多个元器件收纳部3内收纳有模块元器件（电子元器件）4的状态下，对确认模块元器件（电子元器件）4在元器件收纳部3内的收纳状态的方法进行说明。

（1）首先，如图5所示，在元器件收纳部3内收纳有模块元器件（电子元器件）4的托盘1的下表面侧以规定的位置设置有托盘1、辅助基板11以及光源5，以使得在设有贯通孔12的辅助基板11中贯通孔12的位置与托盘1的元器件收纳部3应收纳的模块元器件（电子元器件）4的放置区域的至少一部分重合的状态下，将辅助基板11设置在托盘1的下表面侧，并且在辅助基板11的下表面侧设置光源5。

（2）接着，从配置有辅助基板11的面为平面状的光源5向辅助基板11照射光，从而从托盘1的上表面侧通过目视检测出透过辅助基板11的贯通孔12，且透过具有透光性的托盘1的元器件收纳部3的底面而到达托盘1的上表面侧的光（透过光）。

此外，当收纳于托盘1的元器件收纳部3的模块元器件（电子元器件）4覆盖贯通孔12，从而来自光源5的光被完全遮住，无法到达托盘1的上表面侧时（无法检测到透过光时），以及当模块元器件（电子元器件）4位于部分覆盖贯通孔12的位置，从而确认到来自光源5的光到达托盘1的上表面侧的到达量与模块元器件（电子元器件）4完全没有覆盖贯通孔12的情况相比非常少时，判定为元器件收纳部3内收纳有模块元器件（电子元器件）4。

另一方面，当确认到透过规定的元器件收纳部3的底面到达托盘1的上表面侧的透过光量与应判定为元器件收纳部3内收纳有上述模块元器件（电子元器件）4的情况相比非常多时，判定为在该元器件收纳部3内未收纳模块元器件（电子元器件）4。

由此，能够准确的获知托盘1的元器件收纳部3内是否收纳有模块元器件（电子元器件）4，即模块元器件（电子元器件）4的收纳状态。

此外，在该实施方式1的方法的情况下，由于不需要在托盘上形成贯通孔，因此可以防止收纳于托盘的元器件收纳部的模块元器件（电子元器件）被从外部入侵的物质所污染，从而可以确保这些模块元器件（电子元器件）的清洁。

此外，根据收纳于元器件收纳部的模块元器件等电子元器件的种类、结构的不同，会有电子元器件具有一定程度的透光性的情况，在这种情况下，优选采用如下所述的结构，例如，使电子元器件中安装有半导体IC芯片等贴片型有源元器件、电容器、电感器等贴片型无源元器件那样的安装元器件的部分、配置有接地图案、电容器图案等面状的导体膜的部分等没有透光性或透光性较低的部分与形成在上述辅助基板上的贯通孔重合。

[实施方式2]

图6是表示本发明的实施方式2中所使用的托盘的结构的图，图6（a）是俯视图，图6（b）是主视剖视图。

此外，图7是用于说明实施方式2中电子元器件收纳状态的确认方法的图，图7（a）是俯视图，图7（b）是主视剖面图。

另外，在图6（a），（b）以及图7（a），（b）中，与图5（a），（b）标注相同标号的部分表示相同或相当的部分。

如图6（a），（b）所示，在该实施方式2中，将托盘1A用作为上述实施方式1的结构中的托盘1，该托盘1A具有下述结构，即，由具有透光性的材料形成，在各元器件收纳部3的与辅助基板11的贯通孔12相对应的位置设有贯通孔（托盘贯通孔）22。

如上所述，使用在各元器件收纳部3的与辅助基板11的贯通孔12相对应的位置上设有贯通孔（托盘贯通孔）22的托盘1A，在如图7所示的状态下将托盘1A、辅助基板11、光源5进行组合后，对于未收纳模块元器件（电子元器件）的元器件收纳部3（3a），可以从托盘1A的上表面侧检测出更充足的光，因此能够提高对收纳状态的确认的可靠性。

[实施方式3]

如图8（a），（b）所示，在该实施方式3中将托盘1B用作为托盘，该托盘1B具有下述结构，即由具有遮光性的材料形成，在各个元器件收纳部3上设有贯通孔（托盘贯通孔）22，使得贯通孔位于应收纳的电子元器件（与实施方式1的情况相同的模块元器件）4（参照图9）的放置区域的至少一部分。作为具有遮光性的材料，可以使用具有遮光性的树脂材料、对透光性的树脂材料进行上色而成的材料。

下面，使用该托盘1B，对确认元器件收纳部3内模块元器件（电子元器件）4的收纳状态的方法进行说明。

（1）如图9所示，在形成有托盘贯通孔22的各元器件收纳部3内收纳有模块元器件（电子元器件）4，并在托盘1B的下表面侧配置光源5，所述托盘1B由具有遮光性的材料形成。也就是说，在该实施方式3中，不使用上述实施方式1中所使用的辅助基板，而是在光源5的上面直接配置托盘1B，光源5上配置托盘1B的面为平面状。

另外，在图8（a），（b）以及图9（a），（b）中，与图5（a），（b）标注相同标号的部分表示相同或相当的部分。

（2）接着，从配置托盘1B的面为平面状的光源5向托盘1B照射光，从托盘1B的上表面侧通过目视检测出通过上述托盘贯通孔22的光（通过光）的量。

此外，当收纳于托盘1的元器件收纳部3中的模块元器件（电子元器件）4覆盖托盘贯通孔22，从而来自光源5的光被完全遮住，无法到达托盘1的上表面侧时（无法检测到通过光的情况），以及当模块元器件（电子元器件）4位于部分覆盖托盘贯通孔22的位置，从而确认到来自光源5的光到达托盘1的上表面侧的到达量与模块元器件（电子元器件）4完全没有覆盖托盘贯通孔22的情况相比非常少时，判定为元器件收纳部3内收纳有模块元器件（电子元器件）4。

另一方面，当确认到通过规定的元器件收纳部3的托盘贯通孔22到达托盘1的上表面侧的光的量与判定为元器件收纳部3内收纳有上述模块元器件（电子元器件）4的情况相比非常多时，判定为在该元器件收纳部3内未收纳模块元器件（电子元器件）4。

由此，能够准确的获知托盘1B的元器件收纳部3内是否收纳有模块元器件（电子元器件）4，即模块元器件（电子元器件）4的收纳状态。

如上所述，实施方式3的方法也能够高效的确认到托盘的元器件收纳部内的电子元器件的收纳状态。

另外，本发明不限于上述实施方式1至3中所述的内容，可以进一步增加各种应用、变形。

例如，可以通过在光源和托盘之间，配置具有透光性的，用规定的颜色上色后的薄膜（例如，带有颜色的树脂薄膜等），来提高从托盘的上表面侧检测上述透过光或通过光时的可视性。

此外，由于即使在实施方式3的情况下，根据收纳于元器件收纳部内的模块电子元器件等电子元器件的种类、结构的不同，也会有电子元器件具有一定程度的透光性的情况，因此优选采用下述结构，即，使电子元器件中的安装有安装元器件的部分、存在导体膜的部分等没有透光性或透光性极低的部分与形成于上述元器件收纳部的贯通孔相重合。

另外，在上述实施方式1～3中，通过目视来检测上述透过光或通过光，但也可以采用光学方法来进行检测。在这种情况下，在上述那样的结构下能够以相对简单的光学方法检测出透过光、通过光。

此外，在上述实施方式1～3中，以电子元器件为模块元器件的情况为例进行了说明，但对电子元器件的种类并没有特别的限制，也可以是例如扁状电缆、天线元件等用于构成各种电子设备所使用的各种电子元器件。

另外，本发明能进一步在其他的方面，在发明的范围内实施各种应用、变形，而并不限于上述实施方式1～3所述的、关于托盘的具体结构或材质的内容，例如可以是多个收纳凹部的形状或配置状态等。例如，托盘也可以不具有呈矩阵状的收纳凹部。

此外，托盘也可以是包含碳粉末等导电性微粉末的导电性托盘。这种导电性托盘一般情况下具有半透光性，因此收纳元器件的可视性并不优异，但是通过利用本发明的方法，可以大幅度改善所收纳的电子元器件的可视性。

标号说明

1，1A 由具有透光性的材料形成的托盘

1B 由具有遮光性的材料形成的托盘

2 隔板

3 元器件收纳部（收纳凹部）

3a 未收纳电子元器件的元器件收纳部

4 模块元器件（电子元器件）

5 光源

5a 散射板

11 辅助基板

12 贯通孔

22 贯通孔（托盘贯通孔）

Claims (5)

1.一种电子元器件收纳状态的确认方法，该方法是对配置有多个用于收纳电子元器件的元器件收纳部的托盘的、所述元器件收纳部内所述电子元器件的收纳状态进行确认的方法，其特征在于，

使用由具有透光性的材料形成的托盘来作为所述托盘，

在所述托盘的下表面侧配置有由具有遮光性的材料形成，俯视时在与所述托盘的各元器件收纳部的配置位置相对应的位置上设有贯通孔的辅助基板，以使得所述贯通孔的位置与所述托盘的所述元器件收纳部内应收纳的所述电子元器件的放置区域的至少一部分重合，

从配置在所述辅助基板的下表面侧的光源向所述辅助基板照射光，通过从所述托盘的上表面侧检测出通过所述贯通孔，且透过所述托盘而到达所述托盘的上表面侧的光，来识别所述元器件收纳部内是否收纳有所述电子元器件。

2.如权利要求1所述的电子元器件收纳状态的确认方法，其特征在于，

在所述托盘的各元器件收纳部中与所述辅助基板的所述贯通孔相对应的位置上设有贯通孔。

3.如权利要求1或2所述的电子元器件收纳状态的确认方法，其特征在于，

所述光源是构成为能够同时对设置于所述辅助基板的多个所述贯通孔分别照射光，且在该光源上配置所述辅助基板的面为平面状的光源。

4.一种电子元器件收纳状态的确认方法，该方法是对配置有多个用于收纳电子元器件的元器件收纳部的托盘的、所述元器件收纳部内电子元器件的收纳状态进行确认的方法，其特征在于，

作为所述托盘，使用由具有遮光性的材料形成，且设有贯通孔的托盘，以使得贯通孔位于各个所述元器件收纳部内分别应收纳的所述电子元器件的放置区域中的至少一部分，

从配置在所述托盘的下表面侧的光源向所述托盘照射光，通过从所述托盘的上表面侧检测出通过所述贯通孔，而到达所述托盘的上表面侧的光，来识别所述元器件收纳部内是否收纳有所述电子元器件。

5.如权利要求4所述的电子元器件收纳状态的确认方法，其特征在于，

所述光源是构成为能够同时对配置于所述托盘的多个所述元器件收纳部上所设置的所述贯通孔分别照射光，且在该光源上配置所述托盘的面为平面状的光源。

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