CN103837084A - 基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法 - Google Patents

基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103837084A
CN103837084A CN201410054963.XA CN201410054963A CN103837084A CN 103837084 A CN103837084 A CN 103837084A CN 201410054963 A CN201410054963 A CN 201410054963A CN 103837084 A CN103837084 A CN 103837084A
Authority
CN
China
Prior art keywords
sigma
laser
imaging
coordinate
spot
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201410054963.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN103837084B (zh
Inventor
陈文华
王群敏
钟聪达
卢泳
吴勇
卢建军
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhejiang Huadong mapping and Engineering Safety Technology Co.,Ltd.
Original Assignee
Zhejiang East China Engineering Safety Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhejiang East China Engineering Safety Technology Co Ltd filed Critical Zhejiang East China Engineering Safety Technology Co Ltd
Priority to CN201410054963.XA priority Critical patent/CN103837084B/zh
Publication of CN103837084A publication Critical patent/CN103837084A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103837084B publication Critical patent/CN103837084B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明涉及基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法。本发明的目的提供可实现三向位移同步量测的基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法。本发明技术方案:1、两组激光发射器安装于参考点,激光光斑成像系统安装在位置Ⅰ;2、激光发射器向成像靶面发射光束,成像透镜将光束聚焦成光斑像,并成像光电器件接收该光斑像,信号处理单元通过图形处理算法找出两个光斑的中心点相对于成像系统的坐标位置,作为初始值;3、激光光斑成像系统移到位置Ⅱ,激光发射器向成像靶面发射光束,找出两个光斑的中心点相对于成像系统的坐标位置,作为测试值;4、测试值与初始值进行比较,计算水平和竖向位移;5、得出测点所在位置Ⅱ相对于位置Ⅰ的三向位移。

Description

基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法
技术领域
本发明涉及一种三向位移量测方法,尤其是一种基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法。适用于两测试点间的单向、双向及三向位移变化量测,以及结构裂缝的多向位移变化量测。
背景技术
目前,高精度的变形变化一般采用水准仪、全站仪、激光测距仪、裂缝计、电子水平尺等仪器或传感器进行量测,且大多采用人工量测手段。这些仪器设备成本高、工作效率较低、自动化程度低,人为影响因素较多,量测误差较大,且无法实现在线监测以及自动预警。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:针对上述存在的问题,提供一种高精度、易联网、操作便捷、成本较低并且可实现三向位移同步量测的基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法。
本发明所采用的技术方案是:一种基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法,其特征在于:包括两组激光发射器,以及一激光光斑成像系统,所述激光光斑成像系统包括成像靶面、成像透镜、成像光电器件和信号处理单元;
步骤如下:
1.1、将两组激光发射器安装于参考点O,将激光光斑成像系统安装在测点所在位置Ⅰ;
1.2、用激光发射器向测点所在位置Ⅰ的成像靶面发射光束,用成像透镜将光束聚焦成光斑像,并用成像光电器件接收该光斑像,信号处理单元通过图形处理算法找出两个光斑的中心点相对于成像系统的坐标位置,作为初始值;
1.3、将激光光斑成像系统随测点移动到位置Ⅱ,用激光发射器向测点的成像靶面发射光束,用成像透镜将光束聚焦成光斑像,并用成像光电器件接收该光斑像,信号处理单元通过图形处理算法找出两个光斑的中心点相对于成像系统的坐标位置,作为测试值;
1.4、将两个光斑像的坐标位置测试值与两个光斑像的坐标位置初始值进行比较,计算出两个光斑像的水平位移和竖向位移;
1.5、根据两个光斑像的水平位移和竖向位移,根据几何关系,得出测点所在位置Ⅱ相对于位置Ⅰ的三向位移测量结果;
两组激光发射器中一组发射与水平向成α角的激光束OA,另一组发射与水平向成β角的激光束OB,且0°≤α<β<90°,OA和OB激光束的激光斑点在成像靶面的中心位置分别为A点和B点;成像靶面与水平面有一定的夹角γ,其中γ的范围为:0°<γ≤90°。
所述成像光电器件为CCD或CMOS光电转换器件。
所述信号处理单元采用FPGA芯片处理图像信息,通过图形处理算法确认光斑中心相对于成像系统的坐标位置,所述的成像系统的坐标位移采用成像靶面的局部坐标系统;
所述的图形处理算法包括斑点坐标平均法、斑点分布椭圆形拟合法和斑点包络矩形法。
所述斑点坐标平均法,为给定一个光斑像素阈值,对椭圆形内的每一个像素,求得横纵坐标的平均值:
x 0 = Σ i = 1 n x i n y 0 = Σ i = 1 n y i n .
所述斑点分布椭圆形拟合法,为在对光斑边缘信息获取的基础上,再经拟合计算便可得到光斑椭圆及光斑中心的亚像素位置坐标,基于椭圆拟合的激光光斑中心检测算法是根据最小二乘原理用椭圆来逼近激光光斑轮廓,椭圆方程的一般方程为:
Ax2+Bxy+Cy2+Dx+Ey+l=0
其残差平方和函数为:
Q = E 2 = Σ i - 1 N ( Ax i 2 + Bx i y i + Cy i 2 + Dx i + Ey i + l ) 2
式中,(xi,yi)为激光光斑边缘点坐标;
根据最小二乘原理,应有:
∂ Q ∂ A = ∂ Q ∂ B = ∂ Q ∂ C = ∂ Q ∂ D = ∂ Q ∂ E = 0
由此可以得到包含5个方程和5个未知数的方程组,如下:
Σ i = 1 N x i 4 Σ i = 1 N x i 3 y i Σ i = 1 N x i 3 y i Σ i = 1 N x i 3 Σ i = 1 N x i 2 y i Σ i = 1 N x i 3 y i Σ i = 1 N x i 2 y i 2 Σ i = 1 N x i y i 3 Σ i = 1 N x i 2 y i Σ i = 1 N x i y i 2 Σ i = 1 N x i 2 y i 2 Σ i = 1 N x i y i 3 Σ i = 1 N y i 4 Σ i = 1 N x i y i 2 Σ i = 1 N y i 3 Σ i = 1 N x i 3 Σ i = 1 N x i 2 y i Σ i = 1 N x i y i 2 Σ i = 1 N x i 2 Σ i = 1 N x i y i Σ i = 1 N x i 2 y i Σ i = 1 N x i y i 2 Σ i = 1 N y i 3 Σ i = 1 N x i y i Σ i = 1 N y i 2 A B C D E = Σ i = 1 N x i 2 Σ i = 1 N x i y i Σ i = 1 N y i 2 Σ i = 1 N x i Σ i = 1 N y i
通过求解该方程组便可以得到五个参数的值,进而求出椭圆中心坐标,即:
x 0 = BE - 2 CD 4 AC - B 2 y 0 = BD - 2 AE 4 AC - B 2 .
所述斑点外包络矩形法,为对激光光斑的灰度图像进行二值化,对光斑边缘信息获取的基础上,用矩形去外切斑点,根据矩形四个点的坐标(x1,y1)、(x2,y2)、(x3,y3)、(x4,y4),
求出中心坐标:
x 0 = x 1 + x 4 2 y 0 = y 1 + y 2 2 .
设XYZ为空间整体坐标系,xy为成像靶面局部坐标系,参考点O坐标为(0,0,0)、测点位置Ⅰ坐标为(X,Y,Z)、测点位置Ⅱ坐标为(X+ΔX,Y+ΔY,Z+ΔZ),测点位置Ⅰ的A点坐标为(xa,ya)、B点坐标为(xb,yb),测点位置Ⅱ的A’点坐标为(x'a,y'a)和B’点坐标为(x'b,y'b);
根据几何关系,测试点位置Ⅱ与测试点位置Ⅰ之间的三向位移变化值ΔX、ΔY和ΔZ可按下列公式计算获得:
ΔX=Δxa=Δxb
ΔY = ( Δy b - Δy a ) sin γ tan α - tan β
ΔZ = sin γ tan α - tan β ( Δy b tan α - Δy a tan β )
其中,Δxa=xa'-xa,Δxb=xb'-xb,Δya=ya'-ya,Δyb=yb'-yb
本发明的有益效果是:1、非接触、安装方便、测试精度高、成本较低;2、利用激光光斑传感技术量测三向位移新方法,改变了传统位移测量方法需要花费大量人力的缺点;3、采用成一定角度的双激光光斑成像模式,以实现三向位移同步量测。
附图说明
图1为本发明三向位移量测方法原理示意图(立视图)。
图2为本发明三向位移量测方法原理示意图(俯视图)。
图3为激光束成像中心位置查找方法示意图。
图4为本发明三向位移量测方法量测隧道收敛变形示意图。
具体实施方式
本实施例利用两束成一定角度的激光成像于成像靶面2上,并通过激光光斑成像系统获得两束激光在成像靶面2的成像中心及其中心位置变化来计算靶面2所在位置的变化,从而量测到激光发射点与成像接收点的三向位移。
如图1、图2所示,本例中包括两组激光发射器1,以及一激光光斑成像系统,激光光斑成像系统包括成像靶面2、成像透镜、成像光电器件(CCD或CMOS光电转换器件)和信号处理单元。
本实施例的具体实施步骤如下:
1、将两组激光发射器1安装于参考点O,将激光光斑成像系统安装在测试点Ⅰ;
2、用激光发射器1向测点所在位置Ⅰ的成像靶面发射光束,用成像透镜将光束聚集成光斑像,并用成像光电器件接收该光斑像,信号处理单元通过图形处理算法找出两个光斑的中心点相对于成像系统的坐标位移,作为初始值;
3、当激光光斑成像系统随测点移动到位置Ⅱ,用激光发射器向测试点的成像靶面发射光束,用成像透镜将光束聚焦成光斑像,并用成像光电器件接收光斑像,信号处理单元通过图形处理算法找出两个光斑的中心点相对于成像系统的坐标位置,作为测试值;
4、将两个光斑像的坐标位置测试值与两个光斑像坐标位置初始值进行比较,计算出两个光斑像的水平位移和竖向位移;
5、根据两个光斑像的水平位移和竖向位移,根据几何关系,得出测点所在位置Ⅱ相对于位置Ⅰ的三向位移测量结果。
两组激光发射器1中一组发射与水平向成α角的激光束OA,另一组发射与水平向成β角的激光束OB,且0°≤α<β<90°,OA和OB激光束的激光斑点在成像靶面2的中心位置分别为A点和B点;成像靶面2与水平面有一定的夹角γ,其中γ的范围为:0°<γ≤90°。
本实施例中信号处理单元采用FPGA芯片处理图像信息,通过图形处理算法确认光斑中心相对于成像系统的坐标位置,成像系统的坐标位移采用成像靶面2的局部坐标系统。根据激光光斑在成像靶面的具体位置,采用斑点坐标平均法、斑点分布椭圆形拟合法或斑点外包络矩形法确定激光光斑成像中心局部坐标值。
斑点坐标平均法(见图3-a),为给定一个光斑像素阈值,对椭圆形内的每一个像素,求得横纵坐标的平均值:
x 0 = Σ i = 1 n x i n y 0 = Σ i = 1 n y i n .
斑点分布椭圆形拟合法(见图3-b),为在对光斑边缘信息获取的基础上,再经拟合计算便可得到光斑椭圆及光斑中心的亚像素位置坐标,基于椭圆拟合的激光光斑中心检测算法是根据最小二乘原理(残差平方和最小)用椭圆来逼近激光光斑轮廓,椭圆方程的一般方程为:
Ax2+Bxy+Cy2+Dx+Ey+l=0
其残差平方和函数为:
Q = E 2 = Σ i - 1 N ( Ax i 2 + Bx i y i + Cy i 2 + Dx i + Ey i + l ) 2
式中,(xi,yi)为激光光斑边缘点坐标;
根据最小二乘原理,应有:
∂ Q ∂ A = ∂ Q ∂ B = ∂ Q ∂ C = ∂ Q ∂ D = ∂ Q ∂ E = 0
由此可以得到包含5个方程和5个未知数的方程组,如下:
Σ i = 1 N x i 4 Σ i = 1 N x i 3 y i Σ i = 1 N x i 3 y i Σ i = 1 N x i 3 Σ i = 1 N x i 2 y i Σ i = 1 N x i 3 y i Σ i = 1 N x i 2 y i 2 Σ i = 1 N x i y i 3 Σ i = 1 N x i 2 y i Σ i = 1 N x i y i 2 Σ i = 1 N x i 2 y i 2 Σ i = 1 N x i y i 3 Σ i = 1 N y i 4 Σ i = 1 N x i y i 2 Σ i = 1 N y i 3 Σ i = 1 N x i 3 Σ i = 1 N x i 2 y i Σ i = 1 N x i y i 2 Σ i = 1 N x i 2 Σ i = 1 N x i y i Σ i = 1 N x i 2 y i Σ i = 1 N x i y i 2 Σ i = 1 N y i 3 Σ i = 1 N x i y i Σ i = 1 N y i 2 A B C D E = Σ i = 1 N x i 2 Σ i = 1 N x i y i Σ i = 1 N y i 2 Σ i = 1 N x i Σ i = 1 N y i
通过求解该方程组便可以得到五个参数的值,进而求出椭圆中心坐标,即:
x 0 = BE - 2 CD 4 AC - B 2 y 0 = BD - 2 AE 4 AC - B 2 .
斑点外包络矩形法(见图3-c),为对激光光斑的灰度图像进行二值化,对光斑边缘信息获取的基础上,用矩形去外切斑点,根据矩形四个点的坐标(x1,y1)、(x2,y2)、(x3,y3)、(x4,y4),
求出中心坐标:
x 0 = x 1 + x 4 2 y 0 = y 1 + y 2 2 .
本例中三向位移计算原理:设XYZ为空间整体坐标系,xy为成像靶面2局部坐标系,参考点O坐标为(0,0,0)、测点位置Ⅰ坐标为(X,Y,Z)、测点位置Ⅱ坐标为(X+ΔX,Y+ΔY,Z+ΔZ),测点位置Ⅰ的A点坐标为(xa,ya)、B点坐标为(xb,yb),测点位置Ⅱ的A’点坐标为(x'a,y'a)和B’点坐标为(x'b,y'b);
根据几何关系,测试点位置Ⅱ与测试点位置Ⅰ之间的三向位移变化值ΔX、ΔY和ΔZ可按下列公式计算获得:
ΔX=Δxa=Δxb
ΔY = ( Δy b - Δy a ) sin γ tan α - tan β
ΔZ = sin γ tan α - tan β ( Δy b tan α - Δy a tan β )
其中,Δxa=xa'-xa,Δxb=xb'-xb,Δya=ya'-ya,Δyb=yb'-yb
图4为本实施例三向位移量测方法应用于隧道收敛变形的示意图。将两组激光发射器1安装于隧道的一侧,将激光光斑成像系统(成像靶面2)安装于隧道另一侧。隧道收敛变形后从初始隧道轮廓3变形至变形后隧道轮廓4,成像靶面2发生位移,采用本实施例基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法精确测量成像靶面2的三向位移,从而获得隧道收敛变形量。

Claims (7)

1.一种基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法,其特征在于:包括两组激光发射器(1),以及一激光光斑成像系统,所述激光光斑成像系统包括成像靶面(2)、成像透镜、成像光电器件和信号处理单元;
步骤如下:
1.1、将两组激光发射器(1)安装于参考点O,将激光光斑成像系统安装在测点所在位置Ⅰ;
1.2、用激光发射器(1)向测点所在位置Ⅰ的成像靶面(2)发射光束,用成像透镜将光束聚焦成光斑像,并用成像光电器件接收该光斑像,信号处理单元通过图形处理算法找出两个光斑的中心点相对于成像系统的坐标位置,作为初始值;
1.3、将激光光斑成像系统随测点移动到位置Ⅱ,用激光发射器(1)向测点的成像靶面(2)发射光束,用成像透镜将光束聚焦成光斑像,并用成像光电器件接收该光斑像,信号处理单元通过图形处理算法找出两个光斑的中心点相对于成像系统的坐标位置,作为测试值;
1.4、将两个光斑像的坐标位置测试值与两个光斑像的坐标位置初始值进行比较,计算出两个光斑像的水平位移和竖向位移;
1.5、根据两个光斑像的水平位移和竖向位移,根据几何关系,得出测点所在位置Ⅱ相对于位置Ⅰ的三向位移测量结果;
两组激光发射器中一组发射与水平向成α角的激光束OA,另一组发射与水平向成β角的激光束OB,且0°≤α<β<90°,OA和OB激光束的激光斑点在成像靶面的中心位置分别为A点和B点;成像靶面与水平面有一定的夹角γ,其中γ的范围为:0°<γ≤90°。
2.根据权利要求1所述的基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法,其特征在于:所述成像光电器件为CCD或CMOS光电转换器件。
3.根据权利要求1所述的基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法,其特征在于:所述信号处理单元采用FPGA芯片处理图像信息,通过图形处理算法确认光斑中心相对于成像系统的坐标位置,所述的成像系统的坐标位移采用成像靶面(2)的局部坐标系统;
所述的图形处理算法包括斑点坐标平均法、斑点分布椭圆形拟合法和斑点包络矩形法。
4.根据权利要求3所述的基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法,其特征在于:所述斑点坐标平均法,为给定一个光斑像素阈值,对椭圆形内的每一个像素,求得横纵坐标的平均值:
x 0 = Σ i = 1 n x i n y 0 = Σ i = 1 n y i n .
5.根据权利要求3所述的基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法,其特征在于:所述斑点分布椭圆形拟合法,为在对光斑边缘信息获取的基础上,再经拟合计算便可得到光斑椭圆及光斑中心的亚像素位置坐标,基于椭圆拟合的激光光斑中心检测算法是根据最小二乘原理用椭圆来逼近激光光斑轮廓,椭圆方程的一般方程为:
Ax2+Bxy+Cy2+Dx+Ey+l=0
其残差平方和函数为:
Q = E 2 = Σ i - 1 N ( Ax i 2 + Bx i y i + Cy i 2 + Dx i + Ey i + l ) 2
式中,(xi,yi)为激光光斑边缘点坐标;
根据最小二乘原理,应有:
∂ Q ∂ A = ∂ Q ∂ B = ∂ Q ∂ C = ∂ Q ∂ D = ∂ Q ∂ E = 0
由此可以得到包含5个方程和5个未知数的方程组,如下:
Σ i = 1 N x i 4 Σ i = 1 N x i 3 y i Σ i = 1 N x i 3 y i Σ i = 1 N x i 3 Σ i = 1 N x i 2 y i Σ i = 1 N x i 3 y i Σ i = 1 N x i 2 y i 2 Σ i = 1 N x i y i 3 Σ i = 1 N x i 2 y i Σ i = 1 N x i y i 2 Σ i = 1 N x i 2 y i 2 Σ i = 1 N x i y i 3 Σ i = 1 N y i 4 Σ i = 1 N x i y i 2 Σ i = 1 N y i 3 Σ i = 1 N x i 3 Σ i = 1 N x i 2 y i Σ i = 1 N x i y i 2 Σ i = 1 N x i 2 Σ i = 1 N x i y i Σ i = 1 N x i 2 y i Σ i = 1 N x i y i 2 Σ i = 1 N y i 3 Σ i = 1 N x i y i Σ i = 1 N y i 2 A B C D E = Σ i = 1 N x i 2 Σ i = 1 N x i y i Σ i = 1 N y i 2 Σ i = 1 N x i Σ i = 1 N y i
通过求解该方程组便可以得到五个参数的值,进而求出椭圆中心坐标,即:
x 0 = BE - 2 CD 4 AC - B 2 y 0 = BD - 2 AE 4 AC - B 2 .
6.根据权利要求3所述的基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法,其特征在于:所述斑点外包络矩形法,为对激光光斑的灰度图像进行二值化,对光斑边缘信息获取的基础上,用矩形去外切斑点,根据矩形四个点的坐标(x1,y1)、(x2,y2)、(x3,y3)、(x4,y4),
求出中心坐标:
x 0 = x 1 + x 4 2 y 0 = y 1 + y 2 2 .
7.根据权利要求4或5或6所述的基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法,其特征在于:
设XYZ为空间整体坐标系,xy为成像靶面局部坐标系,参考点O坐标为(0,0,0)、测点位置Ⅰ坐标为(X,Y,Z)、测点位置Ⅱ坐标为(X+ΔX,Y+ΔY,Z+ΔZ),测点位置Ⅰ的A点坐标为(xa,ya)、B点坐标为(xb,yb),测点位置Ⅱ的A’点坐标为(x'a,y'a)和B’点坐标为(x'b,y'b);
根据几何关系,测试点位置Ⅱ与测试点位置Ⅰ之间的三向位移变化值ΔX、ΔY和ΔZ可按下列公式计算获得:
ΔX=Δxa=Δxb
ΔY = ( Δy b - Δy a ) sin γ tan α - tan β
ΔZ = sin γ tan α - tan β ( Δy b tan α - Δy a tan β )
其中,Δxa=xa'-xa,Δxb=xb'-xb,Δya=ya'-ya,Δyb=yb'-yb
CN201410054963.XA 2014-02-18 2014-02-18 基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法 Active CN103837084B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410054963.XA CN103837084B (zh) 2014-02-18 2014-02-18 基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410054963.XA CN103837084B (zh) 2014-02-18 2014-02-18 基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103837084A true CN103837084A (zh) 2014-06-04
CN103837084B CN103837084B (zh) 2017-01-04

Family

ID=50800817

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410054963.XA Active CN103837084B (zh) 2014-02-18 2014-02-18 基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103837084B (zh)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105004271A (zh) * 2015-04-29 2015-10-28 广州市地平线岩土工程有限公司 一种利用互成角度光线进行位移监测的系统及方法
CN105333831A (zh) * 2014-08-15 2016-02-17 西安星展测控科技股份有限公司 激光成像挠度和位移监测方法
CN105509701A (zh) * 2014-10-11 2016-04-20 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 一种用于测量结构变形的测量方法
CN105547673A (zh) * 2015-12-21 2016-05-04 江苏科技大学 一种锚链动态特性跟踪装置及方法
CN107121232A (zh) * 2017-05-12 2017-09-01 哈尔滨工程大学 一种基于激光测距实时检测动态升力的鳍轴装置及方法
CN107388974A (zh) * 2017-09-01 2017-11-24 浙江华东工程安全技术有限公司 光电式双向位移量测新方法
CN108180857A (zh) * 2018-01-31 2018-06-19 天津英创汇智汽车技术有限公司 板簧特性测量装置及测量方法
CN109000614A (zh) * 2018-05-03 2018-12-14 信利光电股份有限公司 一种结构光投影器的0级倾斜检测方法及检测系统、可读存储介质
CN109631787A (zh) * 2018-12-27 2019-04-16 长安大学 透射式靶标图像的光斑中心检测方法及桥梁挠度图像式检测装置
CN109931229A (zh) * 2017-12-18 2019-06-25 北京金风科创风电设备有限公司 用于风力发电机组的涡激振动的监测方法和设备
CN110044268A (zh) * 2019-03-19 2019-07-23 天津大学前沿技术研究院有限公司 基于光纤反射原理的盾构隧道接缝张开与错台监测系统
CN110220474A (zh) * 2019-04-30 2019-09-10 浙江华东工程安全技术有限公司 移动式激光扫描系统事后姿态角校正方法
CN110425984A (zh) * 2019-09-06 2019-11-08 国网青海省电力公司电力科学研究院 一种基于图像识别技术的非接触式位移检测装置及其方法
CN113324538A (zh) * 2021-05-08 2021-08-31 中国科学院光电技术研究所 一种合作目标远距离高精度六自由度位姿测量方法
CN113983958A (zh) * 2021-11-26 2022-01-28 中电科信息产业有限公司 运动状态确定方法、装置、电子设备及存储介质

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1651855A (zh) * 2005-02-06 2005-08-10 重庆大学 二维、大量程激光挠度/位移测量方法及装置
JP2006329628A (ja) * 2005-05-23 2006-12-07 Hitachi Zosen Corp 構造物における変形量計測方法
CN101441065A (zh) * 2008-08-21 2009-05-27 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 微小位移变形高精度、非接触式测量系统及测量方法
CN101603812A (zh) * 2009-07-21 2009-12-16 北京航空航天大学 一种超高速实时三维视觉测量装置及方法
CN102032879A (zh) * 2010-10-18 2011-04-27 北京理工大学 基于高速摄像机的桅杆系统扭转角度测试装置及设计方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1651855A (zh) * 2005-02-06 2005-08-10 重庆大学 二维、大量程激光挠度/位移测量方法及装置
JP2006329628A (ja) * 2005-05-23 2006-12-07 Hitachi Zosen Corp 構造物における変形量計測方法
CN101441065A (zh) * 2008-08-21 2009-05-27 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 微小位移变形高精度、非接触式测量系统及测量方法
CN101603812A (zh) * 2009-07-21 2009-12-16 北京航空航天大学 一种超高速实时三维视觉测量装置及方法
CN102032879A (zh) * 2010-10-18 2011-04-27 北京理工大学 基于高速摄像机的桅杆系统扭转角度测试装置及设计方法

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105333831A (zh) * 2014-08-15 2016-02-17 西安星展测控科技股份有限公司 激光成像挠度和位移监测方法
CN105333831B (zh) * 2014-08-15 2018-05-11 星展测控科技股份有限公司 激光成像挠度和位移监测方法
CN105509701A (zh) * 2014-10-11 2016-04-20 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 一种用于测量结构变形的测量方法
CN105004271A (zh) * 2015-04-29 2015-10-28 广州市地平线岩土工程有限公司 一种利用互成角度光线进行位移监测的系统及方法
CN105004271B (zh) * 2015-04-29 2019-12-06 广州市地平线岩土工程有限公司 一种利用互成角度光线进行位移监测的系统及方法
CN105547673A (zh) * 2015-12-21 2016-05-04 江苏科技大学 一种锚链动态特性跟踪装置及方法
CN107121232B (zh) * 2017-05-12 2019-07-16 哈尔滨工程大学 一种基于激光测距实时检测动态升力的鳍轴装置及方法
CN107121232A (zh) * 2017-05-12 2017-09-01 哈尔滨工程大学 一种基于激光测距实时检测动态升力的鳍轴装置及方法
CN107388974A (zh) * 2017-09-01 2017-11-24 浙江华东工程安全技术有限公司 光电式双向位移量测新方法
CN109931229A (zh) * 2017-12-18 2019-06-25 北京金风科创风电设备有限公司 用于风力发电机组的涡激振动的监测方法和设备
CN108180857A (zh) * 2018-01-31 2018-06-19 天津英创汇智汽车技术有限公司 板簧特性测量装置及测量方法
CN109000614A (zh) * 2018-05-03 2018-12-14 信利光电股份有限公司 一种结构光投影器的0级倾斜检测方法及检测系统、可读存储介质
CN109631787A (zh) * 2018-12-27 2019-04-16 长安大学 透射式靶标图像的光斑中心检测方法及桥梁挠度图像式检测装置
CN110044268A (zh) * 2019-03-19 2019-07-23 天津大学前沿技术研究院有限公司 基于光纤反射原理的盾构隧道接缝张开与错台监测系统
CN110044268B (zh) * 2019-03-19 2021-08-31 天津大学前沿技术研究院有限公司 基于光纤反射原理的盾构隧道接缝张开与错台监测系统
CN110220474A (zh) * 2019-04-30 2019-09-10 浙江华东工程安全技术有限公司 移动式激光扫描系统事后姿态角校正方法
CN110220474B (zh) * 2019-04-30 2021-05-18 浙江华东工程安全技术有限公司 移动式激光扫描系统事后姿态角校正方法
CN110425984A (zh) * 2019-09-06 2019-11-08 国网青海省电力公司电力科学研究院 一种基于图像识别技术的非接触式位移检测装置及其方法
CN113324538A (zh) * 2021-05-08 2021-08-31 中国科学院光电技术研究所 一种合作目标远距离高精度六自由度位姿测量方法
CN113324538B (zh) * 2021-05-08 2022-10-21 中国科学院光电技术研究所 一种合作目标远距离高精度六自由度位姿测量方法
CN113983958A (zh) * 2021-11-26 2022-01-28 中电科信息产业有限公司 运动状态确定方法、装置、电子设备及存储介质
CN113983958B (zh) * 2021-11-26 2024-01-05 中电科信息产业有限公司 运动状态确定方法、装置、电子设备及存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN103837084B (zh) 2017-01-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103837084A (zh) 基于激光光斑成像技术的三向位移量测方法
CN106772414B (zh) 一种提高tof相位法测距雷达测距精度的方法
CN104990515B (zh) 大型物体三维形状测量系统及其测量方法
Luo et al. A simple calibration procedure for structured light system
CN102519400B (zh) 基于机器视觉的大长径比轴类零件直线度误差检测方法
CN103149560B (zh) Ccd成像侧向激光雷达的标定方法
CN103575227A (zh) 一种基于数字散斑的视觉引伸计实现方法
CN204313798U (zh) 一种激光束现场标定装置
CN106709955B (zh) 基于双目立体视觉的空间坐标系标定系统和方法
CN104142157A (zh) 一种标定方法、装置及设备
CN106092059A (zh) 一种基于多点拟合的结构物平面位移监测方法
CN105387811A (zh) 一种光电式滑坡体动态在线监测一体机及监测方法
CN108931230B (zh) 一种狭长型隧道变形监测方法
CN106197292A (zh) 一种建筑物位移监测方法
CN106524901A (zh) 采用ccd光敏器件的成像光斑计算方法
CN211717407U (zh) 二维面形变测量雷达及其测量系统
CN105929393A (zh) 大型人工建筑物三维形变的雷达测量方法及测量装置
CN105865349A (zh) 一种大型建筑物位移监测方法
CN107388974B (zh) 光电式双向位移量测方法
CN107367245B (zh) 光学三维轮廓测量中的无效点探测与剔除方法
CN111325793A (zh) 一种图像测量中基于光斑的像素尺寸动态标定系统和标定方法
CN101441065A (zh) 微小位移变形高精度、非接触式测量系统及测量方法
CN103983239B (zh) 基于车道等宽线的测距方法
CN107421509B (zh) 一种网壳型结构连续倒塌的高速视频测量方法
CN110986784B (zh) 基准坐标获取方法及其用途

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C53 Correction of patent of invention or patent application
CB02 Change of applicant information

Address after: Hangzhou City, Zhejiang province 311122 Yuhang District Xianlin streets Tianmu No. 355 Shanxi Road, building 5 floor 1-2

Applicant after: Zhejiang East China Engineering Safety Technology Co., Ltd.

Address before: 310014, Hangzhou District, Hedong Road, Zhejiang province 222 East China Tide Wang family office area 1207 District

Applicant before: Zhejiang East China Engineering Safety Technology Co., Ltd.

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20210707

Address after: Room 609 and 610, North building, Huadong Hospital, 22 Chaowang Road, Hangzhou, Zhejiang 310014

Patentee after: Zhejiang Huadong mapping and Engineering Safety Technology Co.,Ltd.

Address before: 1-2 / F, building 5, 355 Tianmu Shanxi Road, Xianlin street, Yuhang District, Hangzhou City, Zhejiang Province

Patentee before: ZHEJIANG HUADONG ENGINEERING SAFETY TECHNOLOGY Co.,Ltd.

TR01 Transfer of patent right