一种尺寸测量工具
技术领域
本发明涉及一种尺寸测量工具,具体涉及一种用于测量Z形件的斜面长度的尺寸测量工具。
背景技术
在新车型试制期间,现场调试人员为发现和解决现场问题需配备很多测量工具,如直尺,塞尺,游标卡尺等,但这些测量工具均无法直接测量如图1所示的Z形件的两端带倒角的斜面长度d,如图1所示,该种Z形件包括斜面和分别与斜面的两端相承接的上端面和下端面,且斜面与上端面和下端面相承接的部位带倒角,所指的斜面长度d即为斜面的延长面分别与上端面和下端面的延长面的交线间的距离。对于该种Z形件的斜面长度d的测量,目前都是采用组合测量方法,同时使用两把直尺,其中,一把直尺用于比对基准面,另一把直尺用于测量读数,该种组合测量方法不仅操作复杂,而且测量准确性不高,不利于工程师对问题进行准确的判断和分析。
发明内容
本发明为了解决现有测量工具存在的以上缺陷,提供一种可以准确测量Z形件的斜面长度的尺寸测量工具。
为了实现上述目的,本发明采用的技术方案为:一种尺寸测量工具,包括:
尺本体,设置有斜面基准块,所述斜面基准块的斜面基准面用于与Z形件的斜面相贴合,使所述Z形件的斜面与所述尺本体平行;
下端面基准块,与所述斜面基准块绕下枢转轴枢转连接,所述下端面基准块的下端面基准面用于与Z形件的下端面相贴合,所述下端面基准面的延长面及所述斜面基准面的延长面相交于所述下枢转轴的轴线上;
游标块,与所述尺本体滑动配合连接;以及,
上端面基准块,与所述游标块绕上枢转轴枢转连接,所述上端面基准块的上端面基准面用于与Z形件的上端面相贴合,所述上端面基准面的延长面及所述斜面基准面的延长面相交于所述上枢转轴的轴线上。
优选的是,所述游标块设置有斜面定位面,所述斜面定位面与所述斜面基准面位于同一平面上。
优选的是,所述尺寸测量工具还包括:
下角度调节块,与所述斜面基准块绕平行于所述下枢转轴的转轴枢转连接,所述下角度调节块上设置有下导槽;以及,
下紧固螺栓,用于穿过所述下导槽与所述下端面基准块螺纹配合连接,以相对所述斜面基准块固定所述下端面基准块。
优选的是,所述尺寸测量工具还包括:
上角度调节块,与所述上端面基准块绕平行于所述上枢转轴的转轴枢转连接,所述上角度调节块上设置有上导槽;以及,
上紧固螺栓,用于穿过所述上导槽与所述游标块螺纹配合连接,以相对所述游标块固定所述上端面基准块。
优选的是,所述游标块上设置有紧固螺钉,以相对所述尺本体固定所述游标块。
优选的是,所述下枢转轴的轴线对应所述尺本体的零刻线,所述上枢转轴的轴线或者所述游标块的下端面对应所述尺本体的读数指针。
优选的是,所述斜面基准块的上端面对应所述尺本体的零刻线,所述上枢转轴的轴线或者所述游标块的下端面对应所述尺本体的读数指针。
优选的是,所述游标块和尺本体分别对应游标卡尺的主尺和游标尺,所述斜面基准块的上端面对应所述主尺的零刻线,所述游标块的下端面对应所述游标尺的零刻线。
本发明的有益效果为:由于使下端面基准面的延长面及所述斜面基准面的延长面相交于下枢转轴的轴线上,及使上端面基准面的延长面及所述斜面基准面的延长面相交于上枢转轴的轴线上,因此,本发明的尺寸测量工具通过斜面基准块、上端面基准块、下端面基准块和游标块可以还原Z形件的未进行端部倒角的形状,进而可以准确读取Z形件的斜面长度。
附图说明
图1示出了本发明中作为测量对象的Z形件;
图2示出了根据本发明所述尺寸测量工具的一种实施结构;
图3为图2所示尺本体的主视图;
图4为图3所示尺本体的左视图;
图5为图2所示下端面基准块的主视图;
图6为图5所示下端面基准块的左视图;
图7为图2所示游标块的主视图;
图8为图7所示游标块的左视图;
图9为图7所示游标块的俯视图;
图10为图2所示上端面基准块的主视图;
图11为图10所示上端面基准块的左视图。
附图标号:
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能解释为对本发明的限制。
如图1至图11所示,本发明的尺寸测量工具包括尺本体2、下端面基准块3、下角度调节块5、下紧固螺栓4、游标块1、上端面基准块8、上角度调节块7和上紧固螺栓6,其中,如图3和图4所示,该尺本体2设置有斜面基准块21,斜面基准块21的斜面基准面用于与Z形件的斜面相贴合,使Z形件的斜面与尺本体平行,以进行测量读数。如图5和6所示,该下端面基准块3与斜面基准块21绕下枢转轴枢转连接,该下枢转轴与尺寸面平行,其中,该尺寸面为与尺本体垂直的平面,该下端面基准块3的下端面基准面31用于与Z形件的下端面相贴合,该枢转连接可通过以下结构实现,即在下端面基准块3上设置两个端轴套32,在斜面基准块21上设置中间轴套22,将中间轴套22嵌入两个端轴套32之间,使二者同轴,通过例如是销钉的下枢转轴穿过中间轴套22和端轴套32实现下端面基准块3与斜面基准块21之间的枢转连接。该下角度调节块5与斜面基准块21绕平行于该下枢转轴的转轴枢转连接,该下角度调节块5上设置有供下紧固螺栓4滑动的下导槽。该下紧固螺栓4穿过下导槽与下端面基准块3的螺纹孔33螺纹配合连接,以在调节后相对斜面基准块21固定下端面基准块3,即固定斜面基准块21与下端面基准块3之间的相对角度。如图7至图9所示,该游标块1例如通过滑槽11与尺本体1滑动配合连接,游标块1上设置有紧固螺钉12,以将游标块12固定在调节后的位置上。该上端面基准块8与游标块1绕上枢转轴枢转连接,上枢转轴与下枢转轴平行,上端面基准块8的上端面基准面81用于与Z形件的上端面相贴合,该枢转连接可通过以下结构实现,即在上端面基准块8上设置两个端轴套82,在游标块1上设置中间轴套13,将中间轴套13嵌入两个端轴套82之间,使二者同轴,通过例如是销钉的上枢转轴穿过中间轴套13和端轴套82实现上端面基准块8与游标块1之间的枢转连接。该上角度调节块7与上端面基准块8绕平行于上枢转轴的转轴枢转连接,上角度调节块7上设置有供上紧固螺栓6滑动的上导槽。该上紧固螺栓6穿过上导槽与游标块1的螺纹孔14螺纹配合连接,以在调节后相对游标块1固定上端面基准块8,即固定游标块1与上端面基准块8之间的相对角度。
根据上述说明可知,在测量时Z形件的斜面的下部与斜面基准面相贴,为了在上部也为Z形件的斜面提供一个支撑,游标块1可设置一斜面定位面,该斜面定位面与斜面基准面位于同一平面上。
本发明的尺寸测量工具的测量过程包括:
下角度固定阶段:首先使下端面基准块3的Z形件的下端面相贴合,然后松开下紧固螺栓4,以相对尺本体2旋转下端面基准块3,使斜面基准块21的斜面基准面与Z形件的斜面相贴合,最后拧紧下紧固螺栓4,相对斜面基准块21固定下端面基准块3。
上角度固定阶段:首先拧开上紧固螺栓6,以松开上角度调节块7,然后移动游标块1,同时调节上端面基准块8的角度,使上端面基准面81与Z形件的上端面相贴合,再拧紧上紧固螺栓6,以相对游标块1固定上端面基准块8,最后拧紧游标块1上的紧固螺钉12,以将游标块1固定在调节后的位置上。
测量读数阶段:将Z形件从本发明的尺寸测量工具中取出,读取图1中所示的斜面长度d,其中读取斜面长度d的方式与尺寸测量工具的零刻线的设置有关,具体可为:
1.在下枢转轴的轴线对应尺本体2的零刻线,上枢转轴的轴线对应尺本体的读数指针的情况下,读数指针对应的尺寸即为斜面长度d;
2.在下枢转轴的轴线对应尺本体2的零刻线,游标块1的下端面对应尺本体2的读数指针的情况下,斜面长度d等于读数指针对应的尺寸与游标块1的高度的和,该游标块1的高度为上枢转轴的轴线到游标块1的下端面间的距离;
3.在斜面基准块21的上端面对应尺本体2的零刻线,上枢转轴的轴线对应尺本体2的读数指针的情况下,斜面长度d等于读数指针对应的尺寸与斜面基准块21的高度的和,该斜面基准块21的高度为下枢转轴的轴线到斜面基准块21的上端面间的距离;
4.在斜面基准块21的上端面对应尺本体2的零刻线,游标块1的下端面对应尺本体2的读数指针的情况下,斜面长度d等于读数指针对应的尺寸与斜面基准块21的高度和游标块1的高度的和。
另外,为了提高本发明所述尺寸测量工具的测量精度,可将其作为游标卡尺使用,即使游标块1和尺本体2分别对应游标卡尺的主尺和游标尺,对于该种应用,斜面基准块21的上端面对应主尺的零刻线,游标块1的下端面对应游标尺的零刻线,读数时按照游标卡尺的读取方式读取斜面基准块21的上端面与游标块1的下端面之间的距离,斜面长度d则等于读取到的尺寸与斜面基准块21的高度和游标块1的高度的和。
本领域技术人员应当清楚,本发明的尺寸测量工具在不设置下角度调节块5、下紧固螺栓4、上角度调节块7、上紧固螺栓6和紧固螺钉12这些固定件的情况下也是可以使用的,只是读数时不能将Z形件从尺寸测量工具中取出,并要手持尺寸测量工具保持各部分之间的相对位置关系进行读数,这样会影响使用的便捷性。
以上依据图式所示的实施例详细说明了本发明的构造、特征及作用效果,以上所述仅为本发明的较佳实施例,但本发明不以图面所示限定实施范围,凡是依照本发明的构想所作的改变,或修改为等同变化的等效实施例,仍未超出说明书与图示所涵盖的精神时,均应在本发明的保护范围内。