发明内容
本发明的目的是为了克服现有技术中的不足之处,提供一种工艺简单,操作方便,生产成本相对较低的超高透高性能低辐射膜的制备方法。
为了达到上述目的,本发明采用以下方案:
一种超高透高性能低辐射膜的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
A、采用氧气作为反应气体,氩气作为保护气体,直流电源溅射Bi平面靶,在玻璃基板上磁控溅射Bi2O3层;
B、采用氧气作为反应气体,氩气作为保护气体,直流电源溅射Nb平面靶,在步骤A中Bi2O3层上磁控溅射Nb2O5层;
C、采用氩气作为反应气体,交流电源溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在步骤B中的Nb2O5层上磁控溅射AZO层;
D、采用氩气作为反应气体,直流电源溅射银平面靶,在步骤C中AZO层上磁控溅射Ag层;
E、采用氩气作为反应气体,交流电源溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在步骤D中的Ag层上磁控溅射AZO层;
F、采用氩气作为反应气体,直流电源溅射银平面靶,在步骤E中的AZO层上磁控溅射Ag层;
G、采用氩气作为反应气体,交流电源溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在步骤F中的Ag层上磁控溅射AZO层;
H、采用氧气作为反应气体,氩气作为保护气体,交流电源溅射ZnSn合金旋转靶,在步骤G中的AZO层上磁控溅射ZnSnO3层。
如上所述的一种超高透高性能低辐射膜的制备方法,其特征在于步骤A中所述Bi2O3层的厚度为10~15nm,所述氩气与氧气的体积比为1:2,所述直流电源溅的溅射功率为15~20KW。
如上所述的一种超高透高性能低辐射膜的制备方法,其特征在于步骤B中所述Nb2O5层的厚度为20~30nm,氩气与氮气的体积比为1:3,溅射压力2.5*10-3mbar,溅射功率30~45KW。
如上所述的一种超高透高性能低辐射膜的制备方法,其特征在于步骤C中所述AZO层的厚度为20~25nm,氧化锌陶瓷旋转靶中按质量百分比掺铝2%,交流电源的溅射功率20~25KW。
如上所述的一种超高透高性能低辐射膜的制备方法,其特征在于步骤D所述Ag层的厚度为8~10nm,所述直流电源的溅射功率4~5KW。
如上所述的一种超高透高性能低辐射膜的制备方法,其特征在于步骤E中所述AZO层的厚度为50~65nm,掺铝氧化锌陶瓷旋转靶中按质量百分比掺铝2%,所述交流电的溅射功率50~65KW。
如上所述的一种超高透高性能低辐射膜的制备方法,其特征在于步骤F中所述Ag层的厚度为8~10nm,所述直流电源的溅射功率为4~5KW。
如上所述的一种超高透高性能低辐射膜的制备方法,其特征在于步骤G中所述AZO层的厚度为20~25nm,掺铝氧化锌陶瓷旋转靶中按质量百分比掺铝2%,所述交流电源的溅射功率为20~25KW。
如上所述的一种超高透高性能低辐射膜的制备方法,其特征在于步骤H中所述ZnSnO3层的厚度为20~30nm,所述ZnSn合金旋转靶中Zn与Sn的摩尔比为48:52,交流电源溅射功率为50~75KW。
综上所述,本发明的有益效果:
本发明工艺方法简单,操作方便,生产成本相对较低。膜层结构最少,阴极使用量少;节约成本;高透过率,双银透过率达80%左右,
具体实施方式
下面结合具体实施方式对本发明做进一步描述:
实施例1
一种超高透高性能低辐射膜的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
A、采用氧气作为反应气体,氩气作为保护气体,直流电源溅射Bi平面靶,在玻璃基板上磁控溅射Bi2O3层;所述Bi2O3层的厚度为10nm,所述氩气与氧气的体积比为1:2,即氩气与氧气的体积流量比为500sccm:1000sccm,所述直流电源溅的溅射功率为15KW。
B、采用氧气作为反应气体,氩气作为保护气体,直流电源溅射Nb平面靶,在步骤A中Bi2O3层上磁控溅射Nb2O5层;所述Nb2O5层的厚度为20nm,氩气与氮气的体积比为1:3,即氩气与氮气的体积流量比为300sccm:900sccm,溅射压力2.5*10-3mbar,溅射功率30KW。
C、采用氩气作为反应气体,交流电源溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在步骤B中的Nb2O5层上磁控溅射AZO层;所述AZO层的厚度为20nm,氧化锌陶瓷旋转靶中按质量百分比掺铝2%,交流电源的溅射功率20KW。
D、采用氩气作为反应气体,直流电源溅射银平面靶,在步骤C中AZO层上磁控溅射Ag层;所述Ag层的厚度为8nm,所述直流电源的溅射功率4KW。
E、采用氩气作为反应气体,交流电源溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在步骤D中的Ag层上磁控溅射AZO层;所述AZO层的厚度为50nm,掺铝氧化锌陶瓷旋转靶中按质量百分比掺铝2%,所述交流电的溅射功率50KW。
F、采用氩气作为反应气体,直流电源溅射银平面靶,在步骤E中的AZO层上磁控溅射Ag层;所述Ag层的厚度为8nm,所述直流电源的溅射功率为4KW。
G、采用氩气作为反应气体,交流电源溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在步骤F中的Ag层上磁控溅射AZO层;所述AZO层的厚度为20nm,掺铝氧化锌陶瓷旋转靶中按质量百分比掺铝2%,所述交流电源的溅射功率为20KW。
H、采用氧气作为反应气体,氩气作为保护气体,交流电源溅射ZnSn合金旋转靶,在步骤G中的AZO层上磁控溅射ZnSnO3层。所述ZnSnO3层的厚度为20nm,所述ZnSn合金旋转靶中Zn与Sn的摩尔比为48:52,交流电源溅射功率为50~75KW。
实施例2
一种超高透高性能低辐射膜的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
A、采用氧气作为反应气体,氩气作为保护气体,直流电源溅射Bi平面靶,在玻璃基板上磁控溅射Bi2O3层;所述Bi2O3层的厚度为12nm,所述氩气与氧气的体积比为1:2,即氩气与氧气的体积流量比为500sccm:1000sccm,所述直流电源溅的溅射功率为18KW。
B、采用氧气作为反应气体,氩气作为保护气体,直流电源溅射Nb平面靶,在步骤A中Bi2O3层上磁控溅射Nb2O5层;所述Nb2O5层的厚度为25nm,氩气与氮气的体积比为1:3,即氩气与氮气的体积流量比为300sccm:900sccm,溅射压力2.5*10-3mbar,溅射功率35KW。
C、采用氩气作为反应气体,交流电源溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在步骤B中的Nb2O5层上磁控溅射AZO层;所述AZO层的厚度为23nm,氧化锌陶瓷旋转靶中按质量百分比掺铝2%,交流电源的溅射功率23KW。
D、采用氩气作为反应气体,直流电源溅射银平面靶,在步骤C中AZO层上磁控溅射Ag层;所述Ag层的厚度为9nm,所述直流电源的溅射功率4.5KW。
E、采用氩气作为反应气体,交流电源溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在步骤D中的Ag层上磁控溅射AZO层;所述AZO层的厚度为60nm,掺铝氧化锌陶瓷旋转靶中按质量百分比掺铝2%,所述交流电的溅射功率55KW。
F、采用氩气作为反应气体,直流电源溅射银平面靶,在步骤E中的AZO层上磁控溅射Ag层;所述Ag层的厚度为9nm,所述直流电源的溅射功率为4.5KW。
G、采用氩气作为反应气体,交流电源溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在步骤F中的Ag层上磁控溅射AZO层;所述AZO层的厚度为23nm,掺铝氧化锌陶瓷旋转靶中按质量百分比掺铝2%,所述交流电源的溅射功率为23KW。
H、采用氧气作为反应气体,氩气作为保护气体,交流电源溅射ZnSn合金旋转靶,在步骤G中的AZO层上磁控溅射ZnSnO3层。所述ZnSnO3层的厚度为25nm,所述ZnSn合金旋转靶中Zn与Sn的摩尔比为48:52,交流电源溅射功率为66KW。
实施例3
一种超高透高性能低辐射膜的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
A、采用氧气作为反应气体,氩气作为保护气体,直流电源溅射Bi平面靶,在玻璃基板上磁控溅射Bi2O3层;所述Bi2O3层的厚度为15nm,所述氩气与氧气的体积比为1:2,即氩气与氧气的体积流量比为500sccm:1000sccm,所述直流电源溅的溅射功率为20KW。
B、采用氧气作为反应气体,氩气作为保护气体,直流电源溅射Nb平面靶,在步骤A中Bi2O3层上磁控溅射Nb2O5层;所述Nb2O5层的厚度为30nm,氩气与氮气的体积比为1:3,即氩气与氮气的体积流量比为300sccm:900sccm,溅射压力2.5*10-3mbar,溅射功率45KW。
C、采用氩气作为反应气体,交流电源溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在步骤B中的Nb2O5层上磁控溅射AZO层;所述AZO层的厚度为25nm,氧化锌陶瓷旋转靶中按质量百分比掺铝2%,交流电源的溅射功率25KW。
D、采用氩气作为反应气体,直流电源溅射银平面靶,在步骤C中AZO层上磁控溅射Ag层;所述Ag层的厚度为10nm,所述直流电源的溅射功率5KW。
E、采用氩气作为反应气体,交流电源溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在步骤D中的Ag层上磁控溅射AZO层;所述AZO层的厚度为65nm,掺铝氧化锌陶瓷旋转靶中按质量百分比掺铝2%,所述交流电的溅射功率65KW。
F、采用氩气作为反应气体,直流电源溅射银平面靶,在步骤E中的AZO层上磁控溅射Ag层;所述Ag层的厚度为10nm,所述直流电源的溅射功率为5KW。
G、采用氩气作为反应气体,交流电源溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在步骤F中的Ag层上磁控溅射AZO层;所述AZO层的厚度为20~25nm,掺铝氧化锌陶瓷旋转靶中按质量百分比掺铝2%,所述交流电源的溅射功率为20~25KW。
H、采用氧气作为反应气体,氩气作为保护气体,交流电源溅射ZnSn合金旋转靶,在步骤G中的AZO层上磁控溅射ZnSnO3层。所述ZnSnO3层的厚度为20~30nm,所述ZnSn合金旋转靶中Zn与Sn的摩尔比为48:52,交流电源溅射功率为50~75KW。
以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。