CN103631246B - 电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统。该测试方法包括：在电子设备执行测试命令后，采集电子设备的图像，以得到对比图像；提取对比图像的信息；比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，标准信息包括电子设备执行测试命令后的正确执行结果；以及根据比较结果输出电子设备执行测试命令的结果。通过本发明，能够实现电子设备的自动化测试，提高了电子设备测试效率。

Description

电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统

技术领域

本发明涉及测试领域，具体而言，涉及一种电子设备的电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统。

背景技术

目前，对电子设备进行测试时，在电子设备执行测试的控制命令后，通常需要测试员去查看测试结果，例如在测试显示器时，需要测试员去查看显示器执行控制命令后的显示信息，例如在测试控制主板时，需要测试员去查主板负载动作。

这种人工测试的方法测试周期长、测试效率低，导致开发进度非常的漫长，并且测试可靠性差，测试质量无法保证，经常会由于测试员的测试技术或测试状态的影响，而出现测试错误。

针对相关技术中电子设备测试效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种电子设备的电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统，以解决电子设备测试效率低的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种电子设备的测试方法。

根据本发明的电子设备的测试方法包括：在电子设备执行测试命令后，采集电子设备的图像，以得到对比图像；提取对比图像的信息；比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，标准信息包括电子设备执行测试命令时的正确执行结果；以及根据比较结果输出电子设备执行测试命令的结果。

进一步地，当电子设备为显示器时，在采集电子设备的图像之前，该方法还包括：控制显示器的背光源处于长亮的状态。

进一步地，提取对比图像的有效信息包括：对对比图像通过阈值化函数进行阈值化，其中，阈值化结果为1的像素点为对比图像中第一部分的像素点，阈值化结果为0的像素点为对比图像中第二部分的像素点，第一部分为显示器的背光区域对应的图像部分，第二部分为对比图像中除第一部分之外的部分；读取对比图像各像素点的像素值，将第二部分中所有像素点的像素值替换为0；对像素替换后的对比图像进行颗粒滤波和填充处理；通过边缘检测处理颗粒滤波和填充处理后的对比图像，以得到第一部分在对比图像中的坐标范围；以及对坐标范围内的图像进行图像处理，以得到对比图像的有效信息。

进一步地，电子设备为控制主板时，控制主板的信号输出端连接有显示单元，采集电子设备的图像包括：采集显示单元的图像。

进一步地，显示单元为发光二极管。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种电子设备的测试装置。

根据本发明的电子设备的测试装置包括：采集模块，用于在电子设备执行测试命令后，通过摄像装置采集电子设备的图像，以得到对比图像；提取模块，用于提取对比图像的信息；比较模块，用于比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，标准信息包括电子设备执行测试命令时的正确执行结果；以及确定模块，用于根据比较结果确定电子设备执行测试命令的结果。

进一步地，电子设备为显示器时，显示器的背光源处于长亮的状态，其中，提取模块包括：阈值子模块，用于对对比图像通过阈值化函数进行阈值化，其中，阈值化结果为1的像素点为对比图像中第一部分的像素点，阈值化结果为0的像素点为对比图像中第二部分的像素点，第一部分为显示器的背光区域对应的图像部分，第二部分为对比图像中除第一部分之外的部分；替换子模块，用于读取对比图像各像素点的像素值，将第二部分中所有像素点的像素值替换为0；滤波填充子模块，用于对像素替换后的对比图像进行颗粒滤波和填充处理；检测子模块，用于通过边缘检测处理颗粒滤波和填充处理后的对比图像，以得到第一部分在对比图像中的坐标范围；以及提取子模块，用于对坐标范围内的图像进行图像处理，以得到对比图像的有效信息。

进一步地，电子设备为控制主板时，控制主板的信号输出端连接有显示单元，采集模块用于通过摄像装置采集显示单元的图像。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种电子设备的测试工装。

根据本发明的电子设备的测试工装包括：摄像装置，用于在电子设备执行测试命令后，采集电子设备的图像，以得到对比图像；处理装置，与摄像装置相连接，用于提取对比图像中的信息，并根据提取到的信息和预存的标准信息确定电子设备执行测试命令的结果，其中，标准信息包括电子设备执行测试命令时的正确执行结果；以及显示装置，与处理装置相连接，用于输出电子设备执行测试命令的结果。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种电子设备的测试系统。

根据本发明的电子设备的测试系统包括：控制装置，用于生成测试命令；电子设备，与控制装置相连接；以及本发明提供的测试工装。

进一步地，电子设备为控制主板，控制主板的信号输出端连接有显示单元。

进一步地，显示单元为发光二极管。

进一步地，显示单元包括多个颜色和/或形状不同的二极管。

进一步地，电子设备为显示器。

通过本发明，采用包括以下步骤的电子设备测试方法：电子设备执行测试命令后，采集电子设备的图像，以得到对比图像；提取对比图像的信息；比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，标准信息包括电子设备执行测试命令时的正确执行结果；以及根据比较结果输出电子设备执行测试命令的结果，利用电子设备执行不同命令后具有不同外观的特性，通过采集并处理电子设备执行测试命令时的图像，将处理后得到的信息与正确的执行结果信息相比较，能够自动输出对电子设备的执行结果，从而实现电子设备的自动化测试，解决了电子设备测试效率低的问题，达到了提高电子设备测试效率的效果。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明第一实施例的电子设备的测试系统的框图；

图2是根据本发明实施例的电子设备的测试工装的原理框图；

图3是根据本发明第二实施例的电子设备的测试系统的框图；

图4是根据本发明第三实施例的电子设备的测试系统的框图；

图5是根据本发明实施例的电子设备的测试方法的流程图；

图6是根据本发明实施例的图像有效信息提取的流程图；以及

图7是根据本发明实施例的电子设备的测试装置的框图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

图1是根据本发明实施例的电子设备的测试系统的框图，如图1所示，该测试系统包括控制装置10、电子设备20和测试工装30。

在该测试系统中，通过控制装置10和测试工装30完成对电子设备20的测试，其中，控制装置10用于产生测试电子设备20的测试命令，可将控制装置10设置为测试电子设备20的上位机，测试人员在该上位机中设置好相应的测试文件，控制装置10根据测试文件生成测试命令。

电子设备20在接收到测试命令后，执行测试命令，其中，电子设备20执行测试命令时，执行结果不同对应的外观状态不同，并且这种外观状态能够通过拍摄的图像进行反映。

测试工装30采集电子设备20执行测试命令时的图像，并且按照预设的图像处理算法进行图像处理，提取出有效的信息，与电子设备20执行该测试命令后的正确执行结果进行比较，从而得到测试该电子设备20的测试结果。

采用该实施例提供的电子设备的测试系统，在测试人员编写好测试文件后，控制装置10自动将测试命令下发至电子设备20，电子设备20执行测试命令时，无需测试人员查看执行结果，系统中的测试工装30自动采集图像获取电子设备的变化，通过将采集到的变化与正确的执行结果相比较，自动输出对电子设备的执行结果，从而实现电子设备的自动化测试，提高了电子设备的测试效率。

图2是根据本发明实施例的电子设备的测试工装的原理框图，该实施例所提供的测试工装可应用于图1所示的测试系统中，如图2所示，该测试工装包括摄像装置32、处理装置34和显示装置36。

该实施例中的电子设备作为被测对象，与图1所示实施例中的被测对象具有相同的特性，也即，电子设备执行测试命令具有不同的执行结果时，摄像装置32能够采集到不同的对比图像。

在电子设备执行测试命令后，摄像装置32实时采集电子设备的图像，以得到对比图像，将采集到的对比图像传输给处理装置34处理。

处理装置34与摄像装置32相连接，在接收到对比图像后，进行图像处理，从图像中获取到电子设备执行测试命令的结果，也即提取出对比图像中的有效信息，并比对提取到的有效信息和预存的标准信息，当提取到的有效信息和预存的标准信息一致时，说明电子设备在执行该测试命令时，执行结果正确，该测试命令所对应的功能正常，反之，当提取到的有效信息和预存的标准信息不一致时，说明电子设备在执行该测试命令时，执行结果错误，该测试命令对应的电子设备功能异常，从而根据提取到的信息和预设的标准信息得到了电子设备执行测试命令的结果，其中，该处的标准信息包括电子设备执行测试命令时的正确执行结果。

显示装置36与处理装置34相连接，在处理装置34确定测试结果后，显示装置36输出电子设备执行测试命令的结果，方便测试人员查看。

采用该实施例提供的电子设备的测试装置，在电子设备执行测试命令后，摄像装置32采集电子设备的照片，获取电子设备在执行测试命令中的变化，处理装置34将采集到的变化与正确的执行结果相比较，确定测试结果，并通过显示装置36输出对电子设备的测试结果，从而在测试电子设备时，无需测试人员查看测试情况和记录测试结果，实现了电子设备的自动化测试，提高了电子设备的测试效率。

图3是根据本发明第二实施例的电子设备的测试系统的框图，该实施例中的电子设备为显示器，如图3所示，该测试系统包括控制装置10、显示器20a和测试工装30，其中，测试工装30包括摄像装置32、处理装置34和显示装置36。

该测试系统在测试显示器20a时，首先短接被测试显示器20a的背光源控制器信号，使显示器的背光源处于长亮的状态，通过该步骤，能够在图像处理之前起到滤波的作用，并且能够对被测的对比图像进行定位。

处理装置34设置为上位机，利用Labview开发平台开发，包括有用户参数调整界面，测试员根据被测试的显示器的周围环境，调整光源参数或图像参数来达到工作环境下较适合的测试环境。优选地，将测试工装30的物距变化范围设为3CM～10CM，并采用自动标定的方法来实现对物距变化的自动测量，具体地，首先选取显示器的背光源亮的区域，并设定该区域为需关注区域，然后将该需关注区域的长、宽尺寸，以及在图像上的坐标位置记录下来，最后使用尺寸标定的方法，将物距变化范围可为3CM～10CM图像的关注区域统一设定为预设固定大小的区域，当该预设固定的区域尺寸较大时，使用软件插值方法对图片进行处理，使图片的像素增加，有益于图像处理。

测试员将INI测试文件存储在控制装置30中，控制装置30解析测试文件得到测试命令，将测试命令传输给显示器20a，显示器20a执行该测试命令。在显示器20a执行测试命令后，摄像装置30自动采集显示器20a的变化，处理装置34对采集到的对比图像进行图像处理，通过软件提取对比图像的有效信息，然后将提取到的图像有效信息与预存的标准信信息进行对比，两者一致则记录为正常，否则记录为异常，优选地，显示装置36使用了曲线来显示参数变化过程，能够方便测试人员直观的了解测试过程，只需查看曲线便可知测试结果，进而判断显示器20a是否合格。

采用该实施例提供的显示器测试系统，测试员只需在测试完之后查看测试的记录结果即可，从而提高显示器的测试效率。

图4是根据本发明第三实施例的电子设备的测试系统的框图，该实施例中的电子设备为控制主板，如图4所示，该测试系统包括控制装置10、控制主板20b、与控制主板20b的信号输出端相连接的发光二极管单元40、测试工装30，其中，测试工装30包括摄像装置32、处理装置34和显示装置36。

该实施例中的被测电子设备为控制主板20b，为了使得控制主板20b在执行不同的控制命令后表现出不同的外观，在控制主板20b的各个信号输出端连接各个发光二极管，例如，在测试控制主板20b的负载控制端输出的信号是否正确时，在控制主板20b的各个负载控制端连接发光二极管，在测试控制主板20b时，将控制主板20b的负载控制端并联圆形红色LED发光二极管，通过二极管的亮灭表示负载的接通与关断，在电源端并联绿色的长方形LED发光二极管，通过电源端的二极管起标定作用，利用二级管的颜色和形状来区分其连接的端口，易于处理装置34提取有效信息。

处理装置34设置为上位机，软件利用Labview开发平台开发，包括有用户参数调整界面，测试员根据被测试的控制主板的周围环境，调整光源参数或图像参数来达到工作环境下较适合的测试环境。在控制主板20b的测试中，以电源灯(也即电源端连接的发光二极管)为原点，将预设大小的区域标定为需关注区域，只要保证被测试的控制主板20b包括在该预设区域内即可，然后将该需关注区域的长、宽尺寸，以及在图像上的坐标位置记录下来，最后使用尺寸标定的方法，将物距变化范围可为3CM～10CM图像的关注区域统一设定为预设固定大小的区域，从而被测试控制主板20b的位置范围就可以被确定。控制主板20b的每个负载控制端并联的发光二极管相对电源灯为也有自己的位置坐标，通过每个负载控制端并联的发光二极管的位置坐标可以确定每个对应的负载，通过提取图像中的有效信息，获取二极管的颜色，得到每个负载控制端并联的发光二极管的亮灭可确定对应的负载是否得电。

测试员将INI测试文件存储在控制装置30中，控制装置30解析测试文件得到测试命令，将测试命令传输给控制主板20b，控制主板20b执行该测试命令。在控制主板20b执行测试命令后，摄像装置30自动采集与控制主板20b连接的各个发光二极管的变化，处理装置34对采集到的对比图像进行图像处理，通过软件提取对比图像中发光二极管的亮灭信息，得到信号输出端输出的信号情况，然后将得到的信息与预存的标准信信息进行对比，两者一致则记录为正常，否则记录为异常，优选地，显示装置36使用了曲线来显示参数变化过程，能够方便测试人员直观的了解测试过程，只需查看曲线便可知测试结果，进而判断控制主板20b是否合格。

采用该实施例提供的控制主板的测试工装，测试员只需在测试完之后查看测试的记录结果即可，从而提高测试效率。

图5是根据本发明实施例的电子设备的测试方法的流程图，如图5所示，该方法包括如下的步骤S102至步骤S108：

该实施例中的被测电子设备具有以下特性：电子设备在执行控制命令具有不同的执行结果时，表现出不同的外观状态，也即，通过摄像装置拍摄电子设备，能够记录到电子设备不同的执行结果。

步骤S102：在电子设备执行测试命令后，采集电子设备的图像，以得到对比图像。

步骤S104：提取对比图像的信息，在该步骤中，通过预定的图像处理算法，对对比图像进行处理，得到能够表征电子设备执行结果变化的部分图像，并且从图像中获取到变化信息。

步骤S106：比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，标准信息包括电子设备执行测试命令时的正确执行结果。

步骤S108：根据比较结果输出电子设备执行测试命令的结果。

采用该实施例提供的电子设备测试方法，通过图像识别技术来获取电子设备执行测试命令后的执行结果，将获取到的执行结果与标准信息对比得到测试结果，实现了电子设备的测试过程的自动化，无需人工查看命令执行结果，从而提高电子设备的测试效率。

优选地，在步骤S104中，提取图像有效信息，采用如图6所示的流程实现信息提取过程，具体地，获取到对比图像之后，首先对图像进行阀值化，然后依次完成填充小孔、扩充边缘、微小粒子过滤、寻找底边、测量相对水平倾斜角度、比较、映射、写入、纠正歪斜图像、根据边沿检测得到有效图像的坐标点、根据坐标点滤除不需要的图像，建立相对坐标原点、根据坐标原点建立坐标系、建立OCR库提取图像中的数字信或者通过边沿检测、计算位置提取到非数字图像信息，最后将图像的有效信息与INI文件对应的预期结果进行对比，记录对比结果。

在图5所示的实施例中，当被测的电子设备为显示器时，在采集显示器的图像之前，该方法还包括：控制显示器的背光源处于长亮的状态，通过该步骤，能够在图像处理之前起到滤波的作用，并且能够对被测的对比图像进行定位。

优选地，提取对比图像的有效信息包括以下的步骤：

步骤1：对对比图像通过阈值化函数进行阈值化，其中，阈值化结果为1的像素点为对比图像中第一部分的像素点，阈值化结果为0的像素点为对比图像中第二部分的像素点，第一部分为显示器的背光区域对应的图像部分，第二部分为对比图像中除第一部分之外的部分，通过该步骤将背光区域和其它部分分离开来，这样背光区域阈值化后像素值为1，而其它区域像素值为0。

步骤2：读取对比图像各像素点的像素值，将第二部分中所有像素点的像素值替换为0，通过该步骤读取整幅彩色图像的像素信息，读取进行过阈值化后的图像的像素信息，如果阈值化后的图像的像素值为0，则利用比较函数和映射函数将彩色图中相应的像素值也置为0。

步骤3：对像素替换后的对比图像进行颗粒滤波和填充处理，可以得到一个连续的背光区域。该区域就是显示器的背光区域。

步骤4：通过边缘检测处理颗粒滤波和填充处理后的对比图像，以得到第一部分在对比图像中的坐标范围，将显示器的背光区域的长，宽尺寸和该区域在图像上的坐标记录下来，就唯一确定了一幅图片的显示器的背光区域。

步骤5：对坐标范围内的图像进行图像处理，以得到对比图像的有效信息。

采用该优选实施方法，确定对比图像中对应的显示器背光区域的部分图像，使得摄像头相对被测电子设备的物距发生变化时也能够获取对比图像中的有效信息。

在图5所示的实施例中，当被测的电子设备为控制主板时，控制主板的信号输出端连接显示单元，步骤S102包括：采集显示单元的图像，其中，信号输出端输出不同的控制信号时，显示单元具有不同的显示状态，优选地，显示单元为LED发光二极管，采集到LED发光二极管的图像后，根据图像中LED发光二极管的颜色得到有效信息，包括LED发光二极管的位置及其状态。

图7是根据本发明实施例的电子设备的测试装置的框图，如图7所示，该测试装置包括存储模块31、采集模块33、提取模块35、比较模块37和确定模块39。

该实施例中的被测电子设备具有以下特性：电子设备执行控制命令具有不同的测试结果时，具有不同的外观状态，也即，通过摄像装置拍摄电子设备时，能够记录到电子设备不同的执行结果。

存储模块31用于存储与测试文件相对应的测试结果标准信息，其中，该标准信息包括电子设备执行测试文件之后正确的执行结果。

采集模块33在电子设备执行测试命令后，通过摄像装置采集电子设备的图像，以得到对比图像，其中，由于电子设备具有上述特性，电子设备执行控制命令后的结果不同时，采集模块33采集到的对比图像不同。

提取模块35提取对比图像的信息，根据预设的图像处理算法将对比图像进行图像处理，以提取对比图像中的有用信息，比较模块37将该有用信息与预设的映射规则进行映射，其中，预设的映射规则包括图像信息和执行结果的一一对应关系，并比较映射后的信息和存储模块30中存储的标准信息，得到二者一致或不一致的结果，确定模块39输出电子设备执行测试命令的结果，具体地，当映射后的信息和标准信息相一致时，表示电子设备在执行该测试命令时执行结果正确，反之，则表示电子设备在执行该测试命令时执行结果错误，优选地，将该执行结果存储于存储模块30中，以使测试员能够在测试文件执行后查看测试结果。

采用该实施例提供的电子设备测试装置，通过图像识别技术来获取电子设备执行测试命令时的执行结果，将获取到的执行结果与标准信息对比得到测试结果，实现了电子设备的测试过程的自动化，无需人工查看命令执行结果，从而提高电子设备的测试效率。

优选地，电子设备为显示器时，测试的关注区域是显示器的背光区域，显示器的背光源处于长亮的状态，其中，提取模块包括：：阈值子模块，用于对对比图像通过阈值化函数进行阈值化，其中，阈值化结果为1的像素点为对比图像中第一部分的像素点，阈值化结果为0的像素点为对比图像中第二部分的像素点，第一部分为显示器的背光区域对应的图像部分，第二部分为对比图像中除第一部分之外的部分；替换子模块，用于读取对比图像各像素点的像素值，将第二部分中所有像素点的像素值替换为0；滤波填充子模块，用于对像素替换后的对比图像进行颗粒滤波和填充处理；检测子模块，用于通过边缘检测处理颗粒滤波和填充处理后的对比图像，以得到第一部分在对比图像中的坐标范围；以及提取子模块，用于对坐标范围内的图像进行图像处理，以得到对比图像的有效信息。

采用该优选实施例。在提取有效信息时先确定对比图像中显示器背光区域对应的图像，能够排除摄像头所采集的图像信息中的不相关部分，只保留测试所关注的区域，即显示器的背光区域。并且使得摄像头在一定的物距范围内(3～10cm)，所取得的有效信息均是且仅是对比图像中显示器背光区域的图像。

优选地，当电子设备为控制主板时，为了对控制主板信号输出进行检测，控制主板的信号输出端连接有显示单元，采集模块31用于通过摄像装置采集显示单元的图像，其中，信号输出端输出不同的控制信号时，显示单元具有不同的显示状态。

从以上的描述中，可以看出，本发明实现了如下技术效果：通过图像识别技术来获取电子设备执行测试命令时的执行结果，将获取到的执行结果与标准信息对比得到测试结果，实现了电子设备的测试过程的自动化，无需人工查看命令执行结果，从而提高电子设备的测试效率。

上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (13)

1.一种电子设备的测试方法，其特征在于，包括：

在电子设备执行测试命令后，采集所述电子设备的图像，以得到对比图像；

提取所述对比图像的信息；

比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，所述标准信息包括所述电子设备执行所述测试命令后的正确执行结果；以及

根据比较结果输出所述电子设备执行所述测试命令的结果；

提取所述对比图像的信息包括：提取所述对比图像的有效信息，其中：提取所述对比图像的有效信息的步骤包括：

对所述对比图像通过阈值化函数进行阈值化，其中，阈值化结果为1的像素点为所述对比图像中第一部分的像素点，阈值化结果为0的像素点为所述对比图像中第二部分的像素点，所述第一部分为显示器的背光区域对应的图像部分，所述第二部分为所述对比图像中除所述第一部分之外的部分；

读取所述对比图像各像素点的像素值，将所述第二部分中所有像素点的像素值替换为0；

对像素替换后的所述对比图像进行颗粒滤波和填充处理；

通过边缘检测处理颗粒滤波和填充处理后的所述对比图像，以得到所述第一部分在所述对比图像中的坐标范围；以及

对所述坐标范围内的图像进行图像处理，以得到所述对比图像的有效信息。

2.根据权利要求1所述的电子设备的测试方法，其特征在于，当所述电子设备为所述显示器时，在采集所述电子设备的图像之前，所述方法还包括：

控制所述显示器的背光源处于长亮的状态。

3.根据权利要求1所述的电子设备的测试方法，其特征在于，所述电子设备为控制主板时，所述控制主板的信号输出端连接有显示单元，采集所述电子设备的图像包括：

采集所述显示单元的图像。

4.根据权利要求3所述的电子设备的测试方法，其特征在于，所述显示单元为发光二极管。

5.一种电子设备的测试装置，其特征在于，包括：

采集模块，用于在电子设备执行测试命令后，通过摄像装置采集所述电子设备的图像，以得到对比图像；

提取模块，用于提取所述对比图像的信息；

比较模块，用于比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，所述标准信息包括所述电子设备执行所述测试命令后的正确执行结果；以及

确定模块，用于根据比较结果确定所述电子设备执行所述测试命令的结果；

所述提取模块包括：

阈值子模块，用于对所述对比图像通过阈值化函数进行阈值化，其中，阈值化结果为1的像素点为所述对比图像中第一部分的像素点，阈值化结果为0的像素点为所述对比图像中第二部分的像素点，所述第一部分为显示器的背光区域对应的图像部分，所述第二部分为所述对比图像中除所述第一部分之外的部分；

替换子模块，用于读取所述对比图像各像素点的像素值，将所述第二部分中所有像素点的像素值替换为0；

滤波填充子模块，用于对像素替换后的所述对比图像进行颗粒滤波和填充处理；

检测子模块，用于通过边缘检测处理颗粒滤波和填充处理后的所述对比图像，以得到所述第一部分在所述对比图像中的坐标范围；以及

提取子模块，用于对所述坐标范围内的图像进行图像处理，以得到所述对比图像的有效信息。

6.根据权利要求5所述的电子设备的测试装置，其特征在于，所述电子设备为所述显示器时，所述显示器的背光源处于长亮的状态。

7.根据权利要求5所述的电子设备的测试装置，其特征在于，所述电子设备为控制主板时，所述控制主板的信号输出端连接有显示单元，所述采集模块用于通过所述摄像装置采集所述显示单元的图像。

8.一种电子设备的测试工装，其特征在于，包括：

摄像装置，用于在电子设备执行测试命令后，采集所述电子设备的图像，以得到对比图像；

处理装置，与所述摄像装置相连接，用于提取所述对比图像中的信息，并根据提取到的信息和预存的标准信息确定所述电子设备执行所述测试命令的结果，其中，所述标准信息包括所述电子设备执行所述测试命令后的正确执行结果；以及

显示装置，与所述处理装置相连接，用于输出所述电子设备执行所述测试命令的结果；

所述处理装置还用于对所述对比图像通过阈值化函数进行阈值化，其中，阈值化结果为1的像素点为所述对比图像中第一部分的像素点，阈值化结果为0的像素点为所述对比图像中第二部分的像素点，所述第一部分为显示器的背光区域对应的图像部分，所述第二部分为所述对比图像中除所述第一部分之外的部分；读取所述对比图像各像素点的像素值，将所述第二部分中所有像素点的像素值替换为0；对像素替换后的所述对比图像进行颗粒滤波和填充处理；通过边缘检测处理颗粒滤波和填充处理后的所述对比图像，以得到所述第一部分在所述对比图像中的坐标范围；以及对所述坐标范围内的图像进行图像处理，以得到所述对比图像的有效信息。

9.一种电子设备的测试系统，其特征在于，包括：

控制装置，用于生成测试命令；

电子设备，与所述控制装置相连接；以及

测试工装，其中，所述测试工装为权利要求8所述的测试工装。

10.根据权利要求9所述的电子设备的测试系统，其特征在于，所述电子设备为控制主板，所述控制主板的信号输出端连接有显示单元。

11.根据权利要求10所述的电子设备的测试系统，其特征在于，所述显示单元为发光二极管。

12.根据权利要求11所述的电子设备的测试系统，其特征在于，所述显示单元包括多个颜色和/或形状不同的二极管。

13.根据权利要求9所述的电子设备的测试系统，其特征在于，所述电子设备为显示器。