CN103617627A - 基于差影技术的继电器上印刷文字缺陷的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明属于基于机器视觉的检测技术领域,具体为一种继电器上印刷文字缺陷的检测方法。对图像进行二维边缘提取限定感兴趣区域;设计边缘滤波器,获取被检测图像与参考图像之间的偏差图像,并生成偏差模型;根据偏差模型,确定被测图像和参考图像重叠的转换参数;利用这些参数对被测图像进行转换;计算被测图像和参考图像之间的差异;设计结构体,利用膨胀运算对有缺陷区域的缝隙进行闭合;最后检查继电器是否有模糊、飞墨以及印刷中的缺失或移位。本发明可应用文字、标志等表面缺陷检测。
Description
技术领域
本发明属于基于机器视觉的检测技术领域,涉及一种继电器上印刷文字缺陷的检测方法,特别涉及一种采用形态学技术和差影技术提取缺陷特征,实现继电器上印刷文字缺陷的检测。
背景技术
随着现今生活水平的提高,人们对印刷品的印刷质量和外观的要求也越来越高,在印刷质量管理中最重要的一项工作就是印后缺陷检测。印刷品高速印刷过程中由于生产设备、生产环境、操作人员等因素的制约会出现飞墨、蹭脏、污垢、漏印、裁切偏差以及印刷中的缺失或移位等。传统的人工检测印刷质量的方法由于受主观因素的影响,已经不能满足工业检测速度和精度的要求。因此,研制一种继电器上印刷文字缺陷的检测方法有着重要的实际意义。
差影技术已经广泛应用在图像缺陷工业在线检测领域中,并取得了巨大的经济与社会效益。差影技术根据事先规定的标准,判定标准印刷图像和待检测图像,是否有差异,如果有差异,则待检测图像没有缺陷,否则,认为待检测图像存在缺陷。
因此,采用差影技术,设计一种基于曲线波变换的扣式电池表面凹点、锈斑和漏液表面缺陷检测方法,能够提高电池产品质量,并对其他应用领域的表面缺陷检测有很好的指导借鉴意义,具有一定的应用价值。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,设计一种基于差影技术的继电器上印刷文字缺陷的检测方法,尤其适用于继电器上印刷文字和缺陷容易混淆的场合。
本发明所采用的技术方案是:对图像进行二维边缘提取限定感兴趣区域;设计边缘滤波器,获取被检测图像与参考图像之间的偏差图像,并生成偏差模型;根据偏差模型,确定被测图像和参考图像重叠的转换参数;利用这些参数对被测图像进行转换;计算被测图像和参考图像之间的差异;设计结构体,利用膨胀运算对有缺陷区域的缝隙进行闭合;最后检查继电器是否有模糊、飞墨以及印刷中的缺失或移位。本发明可应用于印刷产品缺陷检测。
本发明的目的在于采用差影技术检测继电器上印刷文字的缺陷,并能实时显示缺陷信息、以及完成数据管理统计等功能。
附图说明
附图1是:滤波器掩模处理后的继电器图像
附图2是:膨胀操作后额继电器图像
附图3是:偏差图像
附图4是:缺陷检测结果图
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步详细说明。
具体过程如下:
一、目标区域提取
利用二维边缘算子Lanser滤波器,计算出的边缘幅度;对边缘幅度进行阈值分割;对分割出的区域进行骨架化处理;为了获取正确的边缘位置,进行非最大抑制处理。通过比较梯度方向上最邻近的两个像素实现非最大抑制;从概念上将梯度向量变换为一个角度,然后,将角度范围分解到八个方格中;提取目标区域。
二、建立偏差模型
设计边缘滤波器,获取被检测图像与参考图像之间的偏差图像,并生成偏差模型;针对继电器图像含有相互靠近的边缘,为了相邻边缘对边缘振幅计算造成影响最小,对继电器图像使用一个小的Canny滤波器掩膜;生成偏差模型。
三、图像转换
确定被测图像和参考图像重叠的转换参数;利用这些参数对被测图像进行转换;
四、图像后处理
计算被测图像和参考图像之间的差异;设计结构体,利用膨胀运算对有缺陷区域的缝隙进行闭合;
五、缺陷检测
根据目标图像和模板图像的差异,检查继电器是否有模糊、飞墨以及印刷中的缺失或移位。
本发明的优点在于,利用形态学技术和差影技术来识别继电器印刷文字的缺陷,提高了继电器印刷文字缺陷检测准确度和检测多样性的要求。
Claims (2)
1.一种基于差影技术的继电器上印刷文字缺陷检测方法,其特征在于,所属继电器图像二维边缘提取;所述边缘滤波器设计;所述被检测图像与参考图像之间的偏差模型的建立;所述被测图像和参考图像重叠的转换参数的计算;所述结构体的设计;所述整个检测方法的实现。
2.根据权利1所述一种基于差影技术的继电器上印刷文字缺陷检测方法,其特征还在于,继电器模板图像的选择;所述的方法继电器缺陷面积的计算,并能实时显示缺陷信息、以及完成数据管理统计等功能。
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Cited By (3)
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WO2018032532A1 (zh) * | 2016-08-18 | 2018-02-22 | 东方晶源微电子科技(北京)有限公司 | 图像轮廓生成方法及装置 |
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Legal Events
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PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20140305 |
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |