CN103592589A - 数字式存储半导体管特性图示仪测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明属于测试仪器技术领域,本发明的数字式存储半导体管特性图示仪测试系统,包括集电极/漏极电源发生单元、基极/栅极电流电压发生单元、电压/电流数据采集存储单元、偏置电压/电流产生单元、FPGA可编程逻辑控制单元、嵌入式监控系统、电源电路单元,FPGA可编程逻辑控制单元分别与集电极/漏极电源发生单元、基极/栅极电流电压发生单元、电压/电流数据采集存储单元、偏置电压/电流产生单元、嵌入式监控系统、电源电路单元电连接,集电极/漏极电源发生单元、基极/栅极电流电压发生单元、电压/电流数据采集存储单元分别连接被测器件。实现数字式测试仪器,克服模拟仪器的弊端,使仪器性能大幅度提升、大大提高工作效率。
Description
技术领域
本发明属于测试仪器技术领域,尤其涉及一种新型数字式存储半导体管特性图示仪测试系统技术。
背景技术
当前的半导体管特性图示仪采用模拟技术,通过模拟电路产生集电极电压源,阶梯电压/电流源:其缺点是电路复杂,精度低,稳定度差,效率低。如想克服如上缺点模拟技术很难达到。
发明内容
本发明的技术效果能够克服上述缺陷,提供一种数字式存储半导体管特性图示仪测试系统,其使仪器性能大幅度提升、大大提高工作效率。
为实现上述目的,本发明采用如下技术方案:其包括集电极/漏极电源发生单元、基极/栅极电流电压发生单元、电压/电流数据采集存储单元、偏置电压/电流产生单元、FPGA可编程逻辑控制单元、嵌入式监控系统、电源电路单元,FPGA可编程逻辑控制单元分别与集电极/漏极电源发生单元、基极/栅极电流电压发生单元、电压/电流数据采集存储单元、偏置电压/电流产生单元、嵌入式监控系统、电源电路单元电连接,集电极/漏极电源发生单元、基极/栅极电流电压发生单元、电压/电流数据采集存储单元分别连接被测器件。
集电极/漏极电源发生单元对被测器件提供集电极或漏极电源,系统设置两个集电极/漏极电源发生器:一个是50W高压集电极/漏极电源发生器,另一个是峰值功率2kW低压集电极/漏极电源发生器;其中,50W高压集电极/漏极电源发生器由高性能FPGA合成正弦平方波形信号,经变压器升压供给被测件;峰值功率2kW的低压集电极电源仍由高性能FPGA合成三角波信号,由能量存储功能的功率驱动电路给被测件提供大电流脉冲。
基极/栅极电流电压及偏置电压/电流发生单元是对被测件提供基极电流或栅极电压,具有能量存储电路;偏置电压/电流产生单元对场效应管产生偏置电压,对双极性管产生偏置电流。
电压/电流数据采集存储单元包括电压取样电路、电流取样电路、转换电路、电压A/D模块、电流A/D模块、存储器,同步测量集电极电压与集电极电流,并将测量结果分别写入电压和电流的相应存储器地址单元。
FPGA可编程逻辑控制单元为集电极/漏极电源发生单元,基极/栅极电流电压发生单元、偏置电压/电流产生单元、电压和电流数据采集单元提供逻辑控制时序,为各单元提供可编程的逻辑控制,FPGA可编程逻辑控制单元包括占空比可编程的时序信号发生器,用于基极阶梯信号生成的可预置数计数器,用于集电极信号生成的可预置数加减计数器,以及用于存储高精度A/D转换结果的FIFO存储器。
嵌入式监控系统由控制面板、显示器、RS232、USB接口组成嵌入式计算机系统,由此来完成系统控制、数据采集与处理、参数测量、曲线图形显示、存储、调出、按键处理和程控通信工作,控制面板为系统提供人机交互的平台,根据面板操作,实现放大器增益的选择、集电极功耗电阻选择、采样电阻选择功能。
一种新型数字式存储半导体管特性图示仪测试系统技术,其采用Windows嵌入式操作系统作为程序的运行平台,开发环境为VisualC++,Windows,通过Windows丰富的图形显示能力及外围接口,可以开发出具有良好的人机交互性能的图形用户界面。Windows.NET提供流接口驱动程序和本机设备驱动程序模型。
采用WinDriver开发工具开发PCI总线接口设备的驱动程序,结合高性能FPGA可编程逻辑控制为各单元提供可编程的逻辑控制,包括占空比可编程的时序信号发生器,用于基极阶梯信号生成的可预置数计数器,用于集电极信号生成的可预置数加减计数器,以及用于存储的高精度A/D转换结果的FIFO存储器,实现数字式测试仪器,克服模拟仪器的弊端,使仪器性能大幅度提升、大大提高工作效率。
附图说明
图1为本发明的系统结构框图;
图2为本发明的集电极/漏极电源原理框图;
图3为发生单元电路原理图;
图4为电压/电流数据采集存储单元示意图。
具体实施方式
如图1所示,本发明的数字式存储半导体管特性图示仪测试系统,包括集电极/漏极电源发生单元、基极/栅极电流电压发生单元、电压/电流数据采集存储单元、偏置电压/电流产生单元、FPGA可编程逻辑控制单元、嵌入式监控系统、电源电路单元,FPGA可编程逻辑控制单元分别与集电极/漏极电源发生单元、基极/栅极电流电压发生单元、电压/电流数据采集存储单元、偏置电压/电流产生单元、嵌入式监控系统、电源电路单元电连接,集电极/漏极电源发生单元、基极/栅极电流电压发生单元、电压/电流数据采集存储单元分别连接被测器件。
集电极/漏极电源发生单元是对被测件提供集电极/漏极电源,是非常关键的功率部件。系统设置两个集电极/漏极电源发生器:一个是50W高压(3kVpp)集电极/漏极电源发生器,另一个是峰值功率2kW低压(10Vpp)集电极/漏极电源发生器。50W高压集电极/漏极电源发生器由高性能FPGA合成正弦平方波形信号,经变压器升压供给被测件。峰值功率2kW的低压集电极电源仍由高性能FPGA合成三角波信号,由能量存储功能的功率驱动电路给被测件提供大电流脉冲。集电极/漏极电源原理框图如图2所示。
基极/栅极电流电压及偏置电压/电流发生单元是对被测件提供基极电流或栅极电压,同样具有能量存储电路;偏置电压/电流产生单元对场效应管产生偏置电压,对双极性管产生偏置电流。发生单元电路原理图如图3所示。
电压、电流数据采集存储单元如图4所示。主要由取样电路、转换电路、电压A/D、电流A/D、RAM等电路组成,同步测量集电极电压与集电极电流,并将测量结果分别写入电压RAM和电流RAM的相应地址单元。
高性能FPGA可编程逻辑控制单元为集电极/漏极电源发生单元,基极/栅极电流电压发生单元,偏置电压/电流产生单元,电压和电流数据采集单元等单元提供逻辑控制时序,为各单元提供可编程的逻辑控制,包括占空比可编程的时序信号发生器,用于基极阶梯信号生成的可预置数计数器,用于集电极信号生成的可预置数加减计数器,以及用于存储高精度A/D转换结果的FIFO存储器。
嵌入式监控系统由控制面板、显示器、RS232、USB接口组成嵌入式计算机系统,由此来完成系统控制、数据采集与处理、参数测量、曲线图形显示、存储、调出、按键处理和程控通信工作,控制面板为系统提供人机交互的平台,根据面板操作,实现放大器增益的选择、集电极功耗电阻选择、采样电阻选择功能。
Claims (6)
1.一种数字式存储半导体管特性图示仪测试系统,其特征在于,包括集电极/漏极电源发生单元、基极/栅极电流电压发生单元、电压/电流数据采集存储单元、偏置电压/电流产生单元、FPGA可编程逻辑控制单元、嵌入式监控系统、电源电路单元,FPGA可编程逻辑控制单元分别与集电极/漏极电源发生单元、基极/栅极电流电压发生单元、电压/电流数据采集存储单元、偏置电压/电流产生单元、嵌入式监控系统、电源电路单元电连接,集电极/漏极电源发生单元、基极/栅极电流电压发生单元、电压/电流数据采集存储单元分别连接被测器件。
2.根据权利要求1所述的数字式存储半导体管特性图示仪测试系统,其特征在于,集电极/漏极电源发生单元对被测器件提供集电极或漏极电源,系统设置两个集电极/漏极电源发生器:一个是50W高压集电极/漏极电源发生器,另一个是峰值功率2kW低压集电极/漏极电源发生器;其中,50W高压集电极/漏极电源发生器由高性能FPGA合成正弦平方波形信号,经变压器升压供给被测件;峰值功率2kW的低压集电极电源仍由高性能FPGA合成三角波信号,由能量存储功能的功率驱动电路给被测件提供大电流脉冲。
3.根据权利要求1所述的数字式存储半导体管特性图示仪测试系统,其特征在于,基极/栅极电流电压及偏置电压/电流发生单元是对被测件提供基极电流或栅极电压,具有能量存储电路;偏置电压/电流产生单元对场效应管产生偏置电压,对双极性管产生偏置电流。
4.根据权利要求1所述的数字式存储半导体管特性图示仪测试系统,其特征在于,电压/电流数据采集存储单元包括电压取样电路、电流取样电路、转换电路、电压A/D模块、电流A/D模块、存储器,同步测量集电极电压与集电极电流,并将测量结果分别写入电压和电流的相应存储器地址单元。
5.根据权利要求1所述的数字式存储半导体管特性图示仪测试系统,其特征在于,FPGA可编程逻辑控制单元为集电极/漏极电源发生单元,基极/栅极电流电压发生单元、偏置电压/电流产生单元、电压和电流数据采集单元提供逻辑控制时序,为各单元提供可编程的逻辑控制,FPGA可编程逻辑控制单元包括占空比可编程的时序信号发生器,用于基极阶梯信号生成的可预置数计数器,用于集电极信号生成的可预置数加减计数器,以及用于存储高精度A/D转换结果的FIFO存储器。
6.根据权利要求1所述的数字式存储半导体管特性图示仪测试系统,其特征在于,嵌入式监控系统由控制面板、显示器、RS232、USB接口组成嵌入式计算机系统,由此来完成系统控制、数据采集与处理、参数测量、曲线图形显示、存储、调出、按键处理和程控通信工作,控制面板为系统提供人机交互的平台,根据面板操作,实现放大器增益的选择、集电极功耗电阻选择、采样电阻选择功能。
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