CN103542829B - 检测电子产品落水深度的方法及电子产品 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了检测电子产品落水深度的方法及电子产品,其方法包括:A、采集电子产品的加速度值,判断电子产品的运动符合自由落体运动,若是则执行步骤B;B、继续采集电子产品的加速度值,当加速度值满足水面冲击数值时,记录电子产品做自由落体运动的时间;C、采集电子产品在水中下沉的加速度,并记录电子产品在水中下沉的时间;D、根据自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度。本发明通过记录电子产品做自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度,使厂家能够直接判断电子产品是否符合入水条件,从而能够判断电子产品是否符合保修范围。

Description

检测电子产品落水深度的方法及电子产品
技术领域
本发明涉及电子产品,特别涉及一种检测电子产品落水深度的方法及电子产品。
背景技术
电子消费产品(如智能手机)的发展非常迅速,基本达到了人手一部甚至多部的状态。目前,融合了各种先进电子技术的高性能智能手机的功能越来越强大,其价格也不菲,一款新型旗舰机的价格甚至超过了一台电脑的价格。
但是,这样的一部手机如果不小心掉入水中,由于手机的电池仍然在对手机电路系统供电,会导致手机电路发生短路损坏手机,目前厂家及商家的保修条款里对手机进水都明确不予保修,直接增加了消费者的维修费用。
为了解决上述问题,市面上已经出现了防水手机,防水手机主要采用的是纳米涂层技术,对手机的全部可能进水的部件做纳米喷涂处理,经过处理后的手机可以到达行业内规范的防水要求(例如:IPX7),即满足在水深1米情况下,浸入30分钟内不会造成产品的进水损坏。
但是如果超出上述标准的入水条件,则仍然可能导致手机的进水损坏,在维修时,厂家需要判断手机是否符合上述入水条件来判断其是否符合保修范围。而电子产品的落水深度,是判断电子产品是否损坏的重要条件,而现有的电子产品均不具备检测其落水深度的功能。有鉴于此,本发明提供一种检测电子产品落水深度的方法及电子产品。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足之处,本发明的目的在于提供一种检测电子产品落水深度的方法及电子产品,以解决现有技术不能检测电子产品的落水深度的问题。
为了达到上述目的,本发明采取了以下技术方案:
一种检测电子产品落水深度的方法,其包括:
A、采集电子产品的加速度值,判断电子产品的运动符合自由落体运动,若是则执行步骤B;
B、继续采集电子产品的加速度值,当所述加速度值满足水面冲击数值时,记录电子产品做自由落体运动的时间;
C、采集电子产品在水中下沉的加速度,并记录电子产品在水中下沉的时间;
D、根据所述自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度。
所述的检测电子产品落水深度的方法,还包括步骤E、存储电子产品落水的深度和落水时间。
所述的检测电子产品落水深度的方法中,所述落水时间为电子产品从进入水面至露出水面的时间。
所述的检测电子产品落水深度的方法中,所述电子产品落水的深度的计算方式为:
H=gt1t+½at2
其中,H为电子产品落水的深度,g为重力加速度,t1为电子产品做自由落体运动的时间,a为电子产品在水中下沉的加速度,t为电子产品在水中下沉的时间。
所述的检测电子产品落水深度的方法中,所述步骤B具体包括:继续采集电子产品的加速度值,当所述加速度值由快变慢时,判断电子产品受到水面冲击,并记录电子产品自由落体运动的时间。
所述的检测电子产品落水深度的方法中,电子产品自由落体运动的时间为电子产品从跌落的起始时间到接触水面的时间的差值。
所述的检测电子产品落水深度的方法中,电子产品在水中下沉的时间为电子产品从接触水面的时间到沉入水底的时间的差值。
一种用于实现上述检测电子产品落水深度的方法的电子产品,其包括:
加速传感器,用于检测电子产品运动的加速度值;
计时器,用于记录电子产品做自由落体运动的时间和在水中下沉的时间;
处理器,用于判断电子产品的运动符合自由落体运动,加速度值是否满足水面冲击数值;及根据所述自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度。
所述的电子产品中,还用于记录电子产品的落水时间;
所述电子产品还包括存储器,用于存储电子产品落水的深度和落水时间。
所述的电子产品中,所述电子产品落水的深度的计算方式为:
H=gt1t+½at2
其中,H为电子产品落水的深度,g为重力加速度,t1为电子产品做自由落体运动的时间,a为电子产品在水中下沉的加速度,t为电子产品在水中下沉的时间。
相较于现有技术,本发明提供的检测电子产品落水深度的方法及电子产品,通过记录电子产品做自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度,使厂家能够直接判断电子产品是否符合入水条件,从而能够判断电子产品是否符合保修范围。
附图说明
图1为本发明检测电子产品落水深度的方法的流程图。
图2为本发明电子产品的结构框图。
具体实施方式
本发明提供一种检测电子产品落水深度的方法及电子产品,为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
请参阅图1,其为本发明检测电子产品落水深度的方法的流程图。如图1所示,本发明的检测电子产品落水深度的方法包括:
S100、采集电子产品的加速度值,判断电子产品的运动符合自由落体运动,若是则执行步骤S200;若否,则继续采集电子产品的加速度值
S200、继续采集电子产品的加速度值,当所述加速度值满足水面冲击数值时,记录电子产品做自由落体运动的时间;
S300、采集电子产品在水中下沉的加速度,并记录电子产品在水中下沉的时间;
S400、根据所述自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度。
本发明实施例中,所述电子产品包括智能手机、平板电脑等。以智能手机为例,加速度传感器器已成为智能手机的常规配置,在智能手机达到IPX7防水级别的防水性能后,本发明通过智能手机在脱手至下沉到水底的过程中,通过智能手机做自由落体运动的时间、在水中下沉的时间和下沉的加速度,就能测量智能手机入水的深度,以解决厂家判定智能手机入水条件是否满足防水标准,从而确认智能手机是否符合保修范围。
具体实施时,电子产品需要在供电的状态下进行检测,使加速度传感器、计时器等部件能够正常工作,并且电子产品入水时一般处于供电状态。优选的实施例中,在电子产品中设置有储电元件,用于在电子产品断电后的预定时间(如5-10s)内给电子产品供电,使其能够完成水深的计算及存储。
由于电子产品在各种运动的情况下其加速度值不同,电子产品做自由落体运动时,通过对加速度传感器的参数进行采集判断。在做自由落体运动时,重力加速的值是9.8M/S2,并且垂直向下,所以可以通过读取加速度传感器的值,再去除重力加速分量后,判断电子产品沿着地球重力垂直向下方向上有加速的改变,通过设置在垂直向下方向的不同的加速度阀值,可以分析出物体在跌落冲击接触水面,并结合机身重量和体积后,且该电子产品在水中下沉的速度有其明显值域特征,通过上述动作过程结合判断,就可以检测出电子产品跌落入水这一过程。
在步骤S100中,当电子产品的加速度值满足重力加速度时,判断电子产品在做自由落体运动,并在电子产品跌落的起始时间开始计时。
在步骤S200中,电子产品自由落体运动的时间为电子产品从跌落的起始时间到接触水面的时间的差值,即起始时间为电子产品脱手跌落的时间,结束时间为电子产品结束自由落体运动时接触水面的时间,两个时间的差值即得到电子产品做匀加速直线运动的时间。当然,电子产品在跌落里也可能是被向上甩出,此时应从电子产品向上抛出的最高点开始计时,即电子产品自由落体运动的时间为电子产品在最高点(此时速度为零)到接触水面的时间差值。
由于电子产品掉落接触到不同密度的物质时,该物质对电子产品冲击导致其加速度不同,本发明通过读取电子产品的加速度值就能得知电子产品是否冲击水面,此时读取的加速度值不是重力加速度值,而是传感器实际采集的值。
所以,所述步骤S200具体包括:继续采集电子产品的加速度值,当所述加速度值由快变慢时,判断电子产品受到水面冲击,并记录电子产品自由落体运动的时间。在电子产品运动的加速度由快变慢的瞬间,即可判断电子产品跌入水中。为了提高检测精度,电子产品触接水面后,入水下沉的加速度随着入水深度随之降低,从而判断电子产品符合在水中的自由下沉的加速度特征。并且,本实施例还可以计算电子产品落水时的速度。
在其它实施例中,若电子产品跌落过程中做了多次自由落体运动,则只需对最后一次自由落体运动的时间进行计时,并计算落水时的速度。例如,电子产品跌落过程中碰到其它物体后,再做自由落体运动进入水中,计时器将第一次自由落体运动的时间清零,仅对第二次自由落体运动的时间进行计时,并计算落水时的速度。
在步骤S300中,电子产品在水中下沉的加速度直接通过读取加速度传感器的数值获得,电子产品在水中下沉的时间为电子产品从接触水面的时间到沉入水底的时间的差值,即落水时间的起始时间为自由落体运动的线束时间,落水的线束时间为电子产品沉入水底的时间,两个时间做差值即得到电子产品在水中下沉的时间。
其中,所述步骤S300具体包括:先记录电子产品接触水面的时间,之后,读取加速度值,并判断加速度值是否满足在水中下沉的条件,如果不满足,则记录当前时间,计算所述当前时间与电子产品接触水面的时间的差值获得下沉的时间。本实施例中,在水中下沉的条件为加速度值逐渐减小,且不为零;在加速度为零时,表示电子产品已沉入水底,此时不满足电子产品在水中下沉的条件。所述当前时间为电子产品深入水底,速度为零时的时间。
在步骤S400中,所述电子产品落水的深度的计算方式为:
H=gt1t+½at2
其中,H为电子产品落水的深度,g为重力加速度,t1为电子产品做自由落体运动的时间,a为电子产品在水中下沉的加速度,t为电子产品在水中下沉的时间。
以下对电子产品落水的深度的计算方式进行详细说明:
物体跌落时,不受任何阻力,只在重力作用下而降落的运动,叫“自由落体”,譬如,在地球引力的作用下由静止状态开始下落的物体。由于地球表面附近的上空可看作是恒定的重力场,如果不考虑大气阻力,在该区域内的自由落体运动是匀加速直线运动,且其加速度恒等于重力加速度g。虽然地球的引力和物体到地球中心距离的平方成反比,但地球的半径远大于自由落体所经过的路程,所以引力在地面附近可看作是不变的,自由落体运动是初速度为零的匀加速直线运动,遵循匀变速直线运动规律。
自由落体运动中,速度随时间变化的计算公式为:v=gt,而位移随时间变化的计算公式为:h=½gt2
通过上述公式可以得知,电子产品在空中做自由落体运动到接触水面这一段的速度为:V0=gt1,然后根据匀加速直线运动公式计算出在水中下沉的运动的距离:H=v0t+½at2,其中,a为电子产品在水中下沉时,加速度传感器测量的值,t1为电子产品做自由落体运动的时间,t为电子产品在水中下沉的时间,从而可以得出电子产品落水的深度为H=gt1t+½at2
从上述电子产品落水的深度的计算公式可以看出,本发明在检测电子产品的落水深度时,只需记录电子产品在各个关键点(即电子产品从跌落的起始时间、电子产品接触水面的时间和电子产品沉入水底的时间)的时间值,和读取加速度传感器测量的加速度值,就可以计算出入水的深度。
为了便于厂家判断电子产品落水是否符合IPX7防水标准,即入水是否满足:在入水深度为1米后,入水时间为30分钟。本发明提供的检测电子产品落水深度的方法还包括:存储电子产品落水的深度和落水时间。其中,所述落水时间为电子产品从进入水面至露出水面的时间,其可通过电子产品从静止到开始运动,到水的浮力开始变小,直到水的浮力为零的时间来获得。本发明通过存储电子产品落水的深度和落水时间,便于电子产品的生产厂家来读取电子产品的入水信息,从而判断其是否符合保修范围。
本发明还相应提供一种电子产品,如图2所示,其包括加速传感器101、计时器102和处理器103。其中,所述加速传感器101用于检测电子产品运动的加速度值;计时器102用于记录电子产品做自由落体运动的时间和在水中下沉的时间;所述处理器103用于判断电子产品的运动符合自由落体运动,加速度值是否满足水面冲击数值;及根据所述自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度。具体如上述实施例所述。
其中,所述电子产品落水的深度的计算方式为:
H=gt1t+½at2
其中,H为电子产品落水的深度,g为重力加速度,t1为电子产品做自由落体运动的时间,a为电子产品在水中下沉的加速度,t为电子产品在水中下沉的时间。
进一步的,所述电子产品还包括存储器104,所述计时器102还用于记录电子产品的落水时间;所述存储器104用于存储电子产品落水的深度和落水时间,以便于厂家读取电子产品的信息情况,从而判断其是否符合保修范围。
综上所述,本发明利用了电子产品自身的硬件结构(如加速度传感器、存储器、计时器等),通过记录电子产品做自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度,使厂家能够直接判断电子产品是否符合入水条件,从而能够判断电子产品是否符合保修范围。
可以理解的是,对本领域普通技术人员来说,可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,包括:
A、采集电子产品的加速度值,判断电子产品的运动符合自由落体运动,若是则执行步骤B;
B、继续采集电子产品的加速度值,当所述加速度值满足水面冲击数值时,记录电子产品做自由落体运动的时间;
C、采集电子产品在水中下沉的加速度,并记录电子产品在水中下沉的时间;
D、根据所述自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度;
所述步骤C具体包括:先记录电子产品接触水面的时间,之后,读取加速度值,并判断加速度值是否满足在水中下沉的条件,若不满足,则记录当前时间,计算所述当前时间与电子产品接触水面的时间的差值获得下沉的时间,所述当前时间为电子产品沉入水底、速度为零的时间;所述在水中下沉的条件为加速度值逐渐减小,且不为零。
2.根据权利要求1所述的检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,还包括步骤E、存储电子产品落水的深度和落水时间。
3.根据权利要求2所述的检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,所述落水时间为电子产品从进入水面至露出水面的时间。
4.根据权利要求1所述的检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,所述电子产品落水的深度的计算方式为:
H=gt1t+½at2
其中,H为电子产品落水的深度,g为重力加速度,t1为电子产品做自由落体运动的时间,a为电子产品在水中下沉的加速度,t为电子产品在水中下沉的时间。
5.根据权利要求1所述的检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,所述步骤B具体包括:继续采集电子产品的加速度值,当所述加速度值由快变慢时,判断电子产品受到水面冲击,并记录电子产品自由落体运动的时间。
6.根据权利要求1所述的检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,电子产品自由落体运动的时间为电子产品从跌落的起始时间到接触水面的时间的差值。
7.根据权利要求1所述的检测电子产品落水深度的方法,其特征在于,电子产品在水中下沉的时间为电子产品从接触水面的时间到沉入水底的时间的差值。
8.一种用于实现权利要求1所述检测电子产品落水深度的方法的电子产品,其特征在于,包括:
加速传感器,用于检测电子产品运动的加速度值;
计时器,用于记录电子产品做自由落体运动的时间和在水中下沉的时间;
处理器,用于判断电子产品的运动符合自由落体运动,加速度值是否满足水面冲击数值;及根据所述自由落体运动的时间、在水中下沉的加速度和下沉的时间计算电子产品落水的深度;
所述计时器具体用于记录电子产品接触水面的时间,之后,读取加速度值,并判断加速度值是否满足在水中下沉的条件,若不满足,则记录当前时间,计算所述当前时间与电子产品接触水面的时间的差值获得下沉的时间,所述当前时间为电子产品沉入水底、速度为零的时间;所述在水中下沉的条件为加速度值逐渐减小,且不为零。
9.根据权利要求8所述的电子产品,其特征在于,所述计时器,还用于记录电子产品的落水时间;
所述电子产品还包括存储器,用于存储电子产品落水的深度和落水时间。
10.根据权利要求8所述的电子产品,其特征在于,所述电子产品落水的深度的计算方式为:
H=gt1t+½at2
其中,H为电子产品落水的深度,g为重力加速度,t1为电子产品做自由落体运动的时间,a为电子产品在水中下沉的加速度,t为电子产品在水中下沉的时间。
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