CN103502775A - 用于校正传感器的端子上测得的电压的方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种校正在传感器（2）的输出端子上测得的电压的方法，所述传感器可以被比作包括产生器（10）和串联电阻（8）的组件，各输出端子（B1、B2）分别连接到上拉电阻器（12、14）。所述方法包括：预备步骤，用于评估所述传感器的串联电阻（Rcapt），这个步骤包括当第一（分别地，第二）偏置电压施加到各上拉电阻器时测量在所述输出端子上的第一（分别地，第二）电压，并且根据所述第一电压和所述第二电压来评估所述串联电阻；以及校正步骤，用于利用所述串联电阻来校正在所述传感器的输出端子上测得的电压以由此推导出所述产生器所产生的对应电压。

Description

用于校正传感器的端子上测得的电压的方法

技术领域

本发明涉及常规领域的传感器，例如，诸如温度传感器、压力传感器、位移传感器等。

更具体地，本发明涉及补偿与传感器的输出阻抗有关的测量误差。

本发明在其中使用许多传感器的航空领域（例如，在飞机上）具有优选但非限制性的应用。

背景技术

实际上，传感器通常连接到负责接收和处理从该传感器发送的测量数据的数字计算机，传感器和数字计算机是采集链的一部分。

现在，已知的是，当传感器（该传感器可以比作为与源阻抗串联的等效电压产生器）连接到具有有限输入阻抗的数字计算机时，如果该传感器的输出阻抗和该计算机的输入阻抗之比不能忽略，则出现测量误差。这种不期望的误差系统性地出现并且直接取决于传感器的类型和相关的计算机。

事实上，即使当针对给定应用来设置传感器的类型时，对于不同零件（制造差异），也时常出现传感器的等效串联阻抗的显著差异。在这种情况下，通常至多可以补偿由于传感器的等效串联阻抗的差异而导致的误差的一半。

另外，对于某些类型的传感器（例如，电位计），甚至根据这个等效串联阻抗的测量点而可能出现阻抗变化。在这种情况下，测量点导致的等效串联阻抗变化产生根据测量点而非线性地变化的误差。在理论上可以补偿这种非线性误差，但是所要求的补偿使数字计算机上的用于将测量结果转换成物理量的算法极其复杂化，最常见的是造成要使用逼近函数，该逼近函数以所达到的精度为代价简化了这个算法。

对于某些传感器，因这些阻抗差异引发的误差会是显著的，直至达到相关采集链容许的最大总误差（例如，被设置成1%）。因此，这个阻抗误差将被叠加到通常对采集链造成影响的其它不准确性上。

因此，需要以简单、快速和高效的方式来补偿对连接到数字计算机的传感器造成影响的测量误差，尤其是当相比于该计算机（也称为“调节器”）的输入阻抗，计算机具有不能忽略的等效串联阻抗时。

另外，相同的计算机可以被设计用于处理不同类型的传感器，各传感器具有其自身的输出阻抗，该输出阻抗是未知的。因此，由于误差将根据所使用的传感器改变，因此不可能应用先验的误差补偿。

发明内容

出于这个目的，本发明涉及校正传感器的输出端子上的电压的方法，其中，所述传感器可以等效为包括产生器和串联电阻的组件，各所述输出端子分别连接到上拉/下拉（即，上拉或下拉）电阻器，所述方法包括：

-预备步骤，评估当产生器产生预定电压时所述传感器的串联电阻，所述预备步骤包括：

■测量当第一偏置电压施加到各上拉电阻器/下拉电阻器时所述输出端子上的第一电压；

■测量当与第一偏置电压不同的第二偏置电压施加到所述上拉/下拉电阻器时所述输出端子上的第二电压；以及

■根据所述第一电压和所述第二电压来评估所述串联电阻；和

-校正步骤，根据所述串联电阻来校正在所述传感器的输出端子上测得的电压以由此推导出所述产生器所产生的对应电压。

本发明有利地提供了补偿对连接到数字计算机的传感器造成影响的测量误差的可能性，这种误差是由于传感器的输出阻抗而引起的。

根据第一另选方式，被校正的电压是所述第一电压。

根据第二另选方式，被校正的电压是继所述第一电压和所述第二电压之后测得的电压。

在第二另选方式中，当测量被校正的电压时，可以将所述第一偏置电压施加到各上拉电阻器。

在特定实施方式中，所述校正步骤包括：

-根据所述串联电阻和被校正的电压来确定补偿值；以及

-将所述补偿值应用于被校正的电压。

在另一方面，所述评估的步骤可以根据第一电压和第二电压之间的差进行。

根据特定实施方式，预定偏置电压使得将第二电压包括在传感器在正常操作期间的采集范围内。

在后一实施方式中，所述第一偏置电压和所述第二偏置电压之间的差的绝对值可以基本上等于所述传感器在正常操作期间所能够产生的最大电压。

本发明还涉及一种包括上拉电阻器/下拉电阻器的测量设备。当传感器的输出端子连接到所述上拉电阻器/下拉电阻器时，所述设备能够测量所述输出端子上产生的电压，其中，所述传感器可以等效为包括产生器和串联电阻的组件，所述设备包括：

-用于将第一偏置电压和第二偏置电压相继施加到各上拉电阻器/下拉电阻器的装置，第二偏置电压不同于第一偏置电压；

-用于测量当所述产生器产生确定电压并且所述第一偏置电压施加到所述上拉电阻器/下拉电阻器时所述输出端子上的第一电压的部件；

-用于测量当所述产生器产生确定电压并且第二偏置电压施加到所述上拉电阻器/下拉电阻器时在所述输出端子上的第二电压的装置；

-用于根据所述第一电压和所述第二电压来评估所述串联电阻的部件；以及

-用于根据所述串联电阻来校正在所述传感器的输出端子上测得的电压以由此推导出所述产生器所产生的对应电压的装置。

此外，所述第一偏置电压可以是在正常操作期间向所述上拉电阻器/下拉电阻器供电的额定电压。

根据第一另选方式，被校正的电压是第一电压。

根据第二另选方式，被校正的电压是继第一电压和第二电压之后测得的电压。

在特定实施方式中，用于校正的装置被构造成根据串联电阻和要被校正的电压来确定补偿值，并且将所述补偿值应用于要被校正的电压。

附图说明

通过下面进行的描述，参照附图，本发明的其它特征和优点将变得清楚，附图不带任何限制性地示出本发明的示例性实施方式。在附图中：

图1在其环境中示出不同模式下的采集链的示例；

图2示出根据本发明的校正方法的主要步骤；

图3在其环境中示出共模下的采集链的示例。

具体实施方式

如之前所指出的，本发明涉及常规领域的传感器，更具体地，涉及补偿与传感器的输出阻抗有关的测量误差。

现在，参照图1描述本发明的第一实施方式。在这个特定实施方式中，本发明允许对因电阻型传感器的串联阻抗造成的误差进行数字补偿。更具体地，图1在其环境中示出采集链C1的示例，采集链C1旨在校正由传感器的阻抗和数字计算机的阻抗所引发的测量误差。

更具体地，这个采集链C1包括：传感器2、数字计算机CAL和两个导线4和6，这两个导线4和6将传感器2的两个端子B1和B2分别连接到数字计算机CAL的两个端子D1和D2。

传感器2可以等效为等效电压产生器10与电阻8串联设置，电阻8的值被记为Rcapt。

值Rcapt取决于相关传感器并且是由制造商提供的。另选地，可以在预备步骤期间进行测量。

实际上，当传感器2正在操作时，等效电压产生器10产生代表物理量（温度、压力…）的等效电压Vcapt。然而，这个等效电压Vcapt受传感器10的串联电阻Rcapt的影响，使得在输出端子B1和B2上测得的输出电压Vmes不同于产生器10实际产生的等效电压Vcapt。换句话讲，输出端子B1和B2上的输出电压Vmes包括由传感器2的输出电阻导致的误差。这就是为什么需要对传感器2的端子B1和B2上测得的输出电压Vmes进行校正，以确定产生器10实际上产生的对应等效电压Vcapt。

在这里考虑的示例中，传感器2是电阻型传感器（例如，压力传感器）。例如，它是应变计桥。这里示出的示例当然是非限制性的。具体地，应当注意的是，传感器2还可以是允许检测其它变量诸如温度、压力、速度等的电感型和/或电容型传感器。传感器的串联电阻因而可以包括附图中未示出的电感型元件。

这里所想到的实施方式是用差模来实现的。然而，如随后参照图3描述的，本发明还可以应用于共模。

在另一方面，除了连接到数字计算机CAL的端子D1（分别地，D2）之外，传感器2的端子B1（分别地，B2）连接到本领域的技术人员已知的所谓的上拉/下拉电阻器12（分别地，14）。上拉电阻器12对应于高电势电平，而下拉电阻器14对应于低电势电平。上拉电阻器12和下拉电阻器14的值分别被记为Rpol1和Rpol2。

在所想到的示例中，上拉电阻器12和下拉电阻器14分别连接到数/模转换器16和18，后者能够应用各自的偏置电压。这些数/模转换器本身可以由不同组件控制。在这个示例中，数/模转换器16和18尤其是由电子系统的数字内核20控制。

此外，这里考虑的数字计算机CAL还包括共模/差模滤波器22，之后是放大器24，给出了提高传感器2交付的测量信号的信噪比的可能性。形成数字计算机的元件以及它们的工作原理是本领域的技术人员已知的并且这里将不进一步细化。

现在，参照图2描述应用于图1的采集链C1的本发明的校正方法的主要步骤（E1和E2）。

在这个实施方式中，执行校正方法，以校正在传感器2的输出端子B1和B2上测得的输出电压。

为此，首先，执行预备步骤E1以评估测量传感器2的串联阻抗Rcapt（步骤E1）。在这个步骤期间，产生器10产生记为Vcapt的确定电压。步骤E1包括执行子步骤E11、E12和E13。

更具体地，在步骤E1期间，在输出端子B1和B2上进行对传感器2所产生的第一输出电压Vmes1的测量（子步骤E11）。当对上拉电阻器12和下拉电阻器14（上拉电阻器/下拉电阻器）施加第一偏置电压Vpol_1时，利用计算机22测量这个第一电压Vmes1。这个电压Vpol_1是数/模转换器16和18施加的差分电压。

在这里描述的实施方式中，第一偏置电压Vpol_1是上拉电阻器12和下拉电阻器14的额定偏置电压。然而，应该理解的是，偏置电压Vpol_1可以与额定偏置电压不同。

在本说明书中，“额定偏置电压”表示通常施加到上拉电阻器12和下拉电阻器14的端子用于保证传感器2正常操作的偏置电压。这个电压当然取决于传感器2的特性并且其确定是在本领域的技术人员的普通技术内。

然后，在端子B1和B2上进行对传感器2产生的第二输出电压Vmes2的测量（子步骤E12）。当对上拉电阻器12和下拉电阻器14施加与第一偏置电压Vpol_1不同的第二偏置电压Vpol_2时，利用计算机22测量这个第二电压Vmes2。这个电压V pol_2也是由数/模转换器16和18施加到上拉电阻器和下拉电阻器的差分电压。

应该理解的是，根据所使用的传感器的类型或者根据调节器的示图，本领域的技术人员可以决定对上拉电阻器/下拉电阻器施加正或负的差分偏置电压。

如之前所指出的，偏置电压Vpol_2必须与额定偏置电压Vpol_1不同，以能够评估串联电阻Rcapt。

实际上，偏置电压Vpol_2通常被选择成使得第二电压Vmes2被包括在传感器2的正常采集范围内，即，在传感器2在正常操作期间的输出电压范围中。

由于受到以上的限制，申请人注意到，Vpol_1和Vpol_2之间的偏差（绝对值）越显著，对传感器的串联电阻的确定更精确。事实上，在传感器2的正常操作期间，偏置电压Vpol_1充分低以不干扰对传感器2的输出电压的测量。然而，为了具体评估传感器2的串联阻抗Rcapt，偏置电压Vpol_2被选择成充分大，或者与额定偏置电压Vpol_1充分地不同，以相对于正常操作显著改变输出电压。以此方式，可以以高准确性评估传感器2的阻抗。

通常，以如下方式选择Vpol_2：额定偏置电压Vpol_1和预定偏置电压Vpol_2之间的差的绝对值基本上等于在传感器2的正常操作期间在输出端子B1和B2上可以得到的最大电压Vmax。因此，满足：

|Vpol_1-Vpol_2|＝Vmax±10％

在特定实施方式中，满足：

|Vpol_1-Vpol_2|＝Vmax±5％

以此方式，可以使分别在子步骤E11和E12期间在传感器2的输出端子B1和B2上测得的电压Vems1和电压Vmes2之间的差ΔVmes最小。差ΔVmes小的益处在于，允许在不改变采集链C1的增益的情况下，在传感器的端子B1和B2之间执行电压测量。如果电压Vems1和电压Vmes2彼此接近，则在步骤E1期间由于调节链（链的增益和漂移）导致的误差被极大地最小化。

在特定实施方式中，偏置电压Vpol_2的绝对值被设置成大于或等于额定偏置电压Vpol_1的绝对值。

在执行了子步骤E11和E12之后，根据分别在子步骤E11和E22期间得到的电压Vmes1和电压Vmes2来评估传感器2的串联电阻Rcapt。

在这种情况下，可以根据以下的等式（1）和（2）来定义电压Vmes1和电压Vmes2：

等式（1）：

$\mathrm{Vmes}1=\mathrm{Vcapt}\·\frac{R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}{R_{\mathrm{capt}}+R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}+\mathrm{Vpol}\_1\·\frac{R_{\mathrm{capt}}}{R_{\mathrm{capt}}+R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}$

等式（2）：

$\mathrm{Vmes}2=\mathrm{Vcapt}\·\frac{R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}{R_{\mathrm{capt}}+R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}+\mathrm{Vpol}\_2\·\frac{R_{\mathrm{capt}}}{R_{\mathrm{capt}}+R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}$

根据等式（1）和（2），进而可以得到下面的等式：

$\frac{R_{\mathrm{capt}}}{R_{\mathrm{capt}}+R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}(\mathrm{Vpol}\_2-\mathrm{Vpol}\_1)=\mathrm{Vmes}2-\mathrm{Vmes}1$

这个等式等价于根据下面的等式（3）来表达串联电阻Rcapt：

$R_{\mathrm{capt}}=\frac{R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}{\left(\frac{\mathrm{Vpol}\_2-\mathrm{Vpol}\_1}{\mathrm{Vmes}2-\mathrm{Vmes}1}\right)-1}$

等式（3）提供了得到串联电阻Rcapt的精确值的可能性。

申请人还确定了根据Vmes1和Vmes2评估串联电阻Rcapt的另选方式。以上的式（4）提供了当后者相对于偏置电阻Rpol1和Rpol2小时得到Rcapt的近似值的可能性：

$[\frac{R_{\mathrm{capt}}}{R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}\·[1-o\left[{\left(\frac{R_{\mathrm{capt}}}{R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}\right)}^2\right]]\·(\mathrm{\Δ}{V}_{\mathrm{pol}\_2}-\mathrm{\Δ}{V}_{\mathrm{pol}\_1})]\≈(V_{\mathrm{mes}2}-V_{\mathrm{mes}1})$

因此得到下面的式（4）：

$R_{\mathrm{capt}}\≈(R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2})\·\frac{(\mathrm{Vmes}2-\mathrm{Vmes}1)}{(\mathrm{Vpol}2-\mathrm{Vpol}1)}$

在根据式（4）的近似中，二阶项被抑制。这种另选计算方法不如等式（3）准确，但是对于应用于常规计算机（诸如计算机22）而言更简单。

在这种情况下，例如，假设：

■Rpol1＝Rpol2＝1MΩ

■Vpol_1＝-200mV

■Vpol_2＝+200mV.

还假设，子步骤E11和E12期间的电压测量分别得到：

■Vmes1＝99.7mV

■Vmes2＝100.1mV

因此得到：

■Rcapt=2kΩ（根据等式（3）），以及

■Rcapt=1.998kΩ（根据等式（4））

因此，等式（3）允许确定Rcapt的精确值，等式（4）造成Rcapt在近似范围内。如此，可以确定引入到式（4）中的评估误差（记为ε）：

$\mathrm{\ϵ}=1-\frac{R_{\mathrm{capt}\_\mathrm{appr}}}{R_{\mathrm{capt}}}$

其中，R_{capt_appr}是通过式（4）得到的串联电阻8的值。在这里描述的示例中，ε=0.1%。

另外，在这个示例中，假设在子步骤E11和E12中进行的测量期间产生器10实际产生的电压V_capt是：V_capt=100mV。在E11中测得的电压Vmes1因此具有误差δV1，使得：

δV1＝Vmes1-Vcapt＝-299.7μV

此外，应该注意的是在这种情况下，在子步骤E11和E12期间在传感器的端子B1和B2上测得的电压的差ΔVmes使得：

ΔVmes＝Vmes2-Vmes1＝399.6μV

如之前所指出的，对于消除在子步骤E11和E12的测量期间采集链的增益变化的影响而言，这个差是充分小的。

在执行了预备评估步骤E1之后，执行用于校正在传感器2的端子B1和B2上测得的输出电压的步骤E2。这个校正步骤提供了根据在步骤E1中得到的串联电阻Rcapt推导出传感器2的产生器10实际产生的对应电压Vcapt的可能性。可以在本发明的范围内想到了两种另选方式。

根据第一另选方式，校正步骤E2允许根据预先确定的值Rcapt来校正电压Vmes1（在子步骤E11中得到）。为此，根据Rcapt和Vmes1来确定测量E11期间产生器10产生的电压Vcapt1。

具体地，可以通过将步骤E1中通过等式（3）或（4）得到的Rcapt的值带入等式（1）来具体确定电压Vcapt1。

另选地，而可以用下面的近似式（5）来计算Vcapt1：

$\mathrm{Vmes}1\≈\mathrm{Vcapt}1\·[1-\frac{R_{\mathrm{capt}\_\mathrm{appr}}}{R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}]+\mathrm{Vpol}\_1\·\frac{R_{\mathrm{capt}\_\mathrm{appr}}}{R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}$

然后，用由此得到的值Vcapt1来确定（E2）补偿值Vcomp1，补偿值Vcomp1将被加到电压Vmes1来得到对应电压Vcapt1。换句话讲，从下面的等式（6）来得到Vcomp1：

Vcomp1＝Vcapt1-Vmes1

例如，通过合并式（5）和（6），根据下面的等式（7）来限定Vcomp1：

$\mathrm{Vcomp}1=(\mathrm{Vmes}1-\mathrm{Vpol}\_1)\·\frac{R_{\mathrm{capt}\_\mathrm{appr}}}{R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}$

在这里描述的示例中，用等式（7）得到下面的结果：Vcomp1＝299.401μV.。可以看到的是，这个补偿值Vcomp1（绝对值）非常接近之前所确定的误差(δV1＝-299.7μV).

根据第二另选方式，校正步骤E2允许校正不同于电压Vmes1（或Vmes2）的电压，即随后在传感器2的输出端子B1和B2上测得的电压Vmes3。

为此，步骤E2包括测量传感器2的输出端子上的电压Vmes3。在这个示例中，在测量Vmes3期间施加到上拉电阻器12和下拉电阻器14上的偏置电压Vpol_3是上拉电阻器/下拉电阻器的额定电压。当然，也可以不是这样。

然后，使用等式（7）根据Vmes3和在步骤E1中得到的串联电阻Rcapt来确定补偿电压Vcomp3，使得：

Vcomp3＝Vcapt3-Vmes3

其中，Vcapt3是在对Vmes3测量期间产生器10所产生的对应电压。因此得到：

$\mathrm{Vcomp}3=(\mathrm{Vmes}3-\mathrm{Vpol}\_1)\·\frac{R_{\mathrm{capt}\_\mathrm{appr}}}{R_{\mathrm{pol}1}+R_{\mathrm{pol}2}}$

然后，可以根据Vcomp3来校正电压Vmes3，以由此推导出传感器2的产生器10产生的对应电压Vcapt3。

根据这个第二另选方式，因此，在子步骤E11不必确定产生器10提供的等效电压Vcapt1的值。电压Vmes1的测量结果（和Vmes2的测量结果）仅用于确定传感器2的串联电阻Rcapt。然后，可以用这个值Rcapt来校正在传感器的输出端子B1和B2上测得的任何电压。可能已经在用于评估串联阻抗Rcapt的预备步骤E1之前或之后测量了这个任意电压。

本发明还允许用值Rcapt来校正在传感器2的输出端子B1和B2上相继测得的多个电压。

此外，应该注意，根据本发明的方法可以既应用于旨在接收DC偏置电压的传感器（连续型的传感器）又可以应用于旨在接收AC偏置电压的传感器（交替型的传感器）。

如果传感器2是连续型的，则所施加的偏置电压V_pol也是DC电压。然而，另一方面，如果传感器是交替型的，则例如相关传感器2的可用频率f₀的AC偏置电压V_pol被施加到上拉电阻器12和下拉电阻器14。因此，将在传感器2的可用频率f₀推导出传感器2的阻抗。

传感器的可用频率f₀这里表示由传感器的制造商预定和指示的传感器的常规工作频率。还应该注意的是，某些类型的电感型传感器（例如，诸如音轮）通过可用频率范围来表征。在这种情况下，优选地选择偏置变化频率以实现传感器、电缆和调节器（或计算机）组件的最大灵敏度。

本发明还涉及能够应用本发明的校正方法的测量设备。在图1的实施方式中，这种测量设备包括：

-计算机22，其能够测量在传感器2的输出端子B1和B2上存在的输出电压Vmes，

-上拉电阻器12和下拉电阻器14，其连接到传感器2的输出端子B1和B2，以及

-转换器16和18，其能够将不同的偏置电压施加到上拉电阻器12和下拉电阻器14。在另一方面，图3例示了采集链（被标记为C2）按共模安装的实施方式。

在这个示例中，采集链C2包括传感器2和数字计算机CAL。在另一方面，与图1的采集链C1相比，单条导线4将传感器2连接到计算机CAL。

更具体地，数字计算机CAL包括放大器24。传感器2的端子B2连接到地M，另一个端子B1通过导线4连接到上拉电阻器12。另外，上拉电阻器12对应于高电势电平。这个示例当然是非限制性的。例如，传感器2可以连接到单个下拉电阻器，这次下拉电阻器具有低电势电平。

根据本发明的校正方法按与采集链C1相同的方式应用于采集链C2，此时对传感器2的测量结果取决于端子B1相对于地的电压。

Claims (13)

1.一种校正在传感器（2）的输出端子上的电压的测量结果的方法，其中，所述传感器能够被等效为包括产生器（10）和串联电阻（8）的组件，各所述输出端子（B1、B2）分别连接到上拉电阻器/下拉电阻器（12、14），所述方法包括以下步骤：

-预备步骤（E1），评估当所述产生器产生确定电压（Vcapt1）时所述传感器的串联电阻（Rcapt），所述预备步骤包括：

■测量（E11）当第一偏置电压（Vpol_1）施加到各上拉电阻器/下拉电阻器时所述输出端子上的第一电压；

■测量（E12）当与所述第一偏置电压不同的第二偏置电压（Vpol_2）施加到所述上拉电阻器/下拉电阻器时所述输出端子上的第二电压；以及

■根据所述第一电压和所述第二电压来评估（E13）所述串联电阻；和

-校正步骤（E2），根据所述串联电阻来校正在所述传感器的输出端子上测得的电压以由此推导出所述产生器所产生的对应电压。

2.根据权利要求1所述的校正方法，其中，所述被校正的电压是所述第一电压。

3.根据权利要求1所述的校正方法，其中，所述被校正的电压是继所述第一电压和所述第二电压之后测得的电压。

4.根据权利要求3所述的校正方法，其中，当测量所述被校正的电压时，所述第一偏置电压施加到各所述上拉电阻器/下拉电阻器。

5.根据权利要求1至4中的任一项所述的校正方法，其中，所述校正步骤包括：

-根据所述串联电阻和所述被校正的电压来确定补偿值；以及

-将所述补偿值应用于所述被校正的电压。

6.根据权利要求1至5中的任一项所述的校正方法，其中，所述评估的步骤是根据所述第一电压和所述第二电压之间的差进行的。

7.根据权利要求1至6中的任一项所述的校正方法，其中，所述预定偏置电压使得将所述第二电压包括在所述传感器在正常操作期间的采集范围内。

8.根据权利要求7所述的校正方法，其中，所述第一偏置电压和所述第二偏置电压之间的差的绝对值基本上等于所述传感器在正常操作期间所能够产生的最大电压。

9.一种测量设备，所述测量设备包括上拉电阻器/下拉电阻器（12、14），所述设备能够测量当传感器（2）的输出端子（B1、B2）连接到所述上拉电阻器/下拉电阻器时在所述输出端子上产生的电压（Vmes），其中，所述传感器能够被等效为包括产生器（10）和串联电阻（8）的组件，所述设备包括：

-用于将第一偏置电压（Vpol_1）和第二偏置电压（Vpol_2）相继施加到各所述上拉电阻器/下拉电阻器的装置（16、18），所述第二偏置电压不同于所述第一偏置电压；

-用于测量当所述产生器产生确定电压并且所述第一偏置电压施加到所述上拉电阻器/下拉电阻器时在所述输出端子上的第一电压的装置（22）；

-用于测量当所述产生器产生所述确定电压并且所述第二偏置电压施加到所述上拉电阻器/下拉电阻器时在所述输出端子上的第二电压的装置（22）；

-用于根据所述第一电压和所述第二电压来评估所述串联电阻的部件；以及

-用于根据所述串联电阻来校正在所述传感器的输出端子上测得的电压以由此推导出所述产生器所产生的对应电压的装置。

10.根据权利要求9所述的测量设备，其中，所述第一偏置电压是在正常操作期间向所述上拉电阻器/下拉电阻器供电的额定电压。

11.根据权利要求9或10所述的测量设备，其中，所述被校正的电压是所述第一电压。

12.根据权利要求9或10所述的测量设备，其中，所述被校正的电压是继所述第一电压和所述第二电压之后测得的电压。

13.根据权利要求9至12中的任一项所述的测量设备，其中，用于校正的装置被构造成根据所述串联电阻和所述被校正的电压来确定补偿值，并且将所述补偿值应用于所述被校正的电压。

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