CN103487683A - 一种产品测试电路及产品测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明属于测试技术领域，特别涉及一种产品测试电路及产品测试装置。本发明通过采用包括电源模块、开关模块、检测保护模块、模式切换模块、输入模块以及控制模块的产品测试电路，并与待测产品连接，通过模式切换模块实现长稳测试模式与反复开关测试模式之间的切换，输入模块在不同的测试模式下具有对应的输入模式，方便用户进行测试参数设置。同时，通过控制模块控制开关模块的通断，从而实现对待测产品的上电与关机，并设置有检测保护模块，根据待测产品的电源端电平的电平输出检测信号，并在电平异常时切断开关模块的输出端与待测产品的电源端之间的连接，实现对产品测试电路的保护。

Description

一种产品测试电路及产品测试装置

技术领域

本发明属于测试技术领域，特别涉及一种产品测试电路及产品测试装置。

背景技术

对于消费者而言，产品的稳定性和可靠性的同运用功能齐全一样重要。一种产品，消费者或许可以允许其功能有缺陷，但是不可能忍受产品时不时死机、重启，甚至毁坏等致命性缺陷。因此，每种电子产品的诞生，不单要实现其设计的功能，还要使其具有安全性，稳定性以及可靠性的保障。

而对于企业而言，需要在最短的时间完成最多的工作，使得生产效率达到最大化，同时还要减少人工付出并提高产品质量，从而增强企业的竞争力。产品的稳定性和可靠性就是企业品牌，是生存发展的王牌，是信用的铭牌。可见，对产品的稳定性和可靠性进行测试极其重要，关乎企业生存发展！

企业一般采用采用长稳测试和极端测试的手段测试产品的稳定性和可靠性。长稳测试，就是模拟消费者的长时间使用，一般是让产品连续工作一天、一周或一个月，甚至一年。极端测试一般指的是多次的反复开关机测试。

在进行长稳测试时，需要先搭建产品正常工作所需的工作环境，同时人工记录产品开始工作时间和结束时间。然而，机器在工作过程中由于缺少保护功能，一旦产品内部或者外部发生短路等异常现象，就会造成财物损失和人员伤亡。

在进行反复开关机测试时，同样需要先搭建产品正常工作所需的工作环境，再由人工手动的进行开关机测试。假如产品正常工作为1分钟/次，关机1分钟/次，需要连续测试10000次，那么需要测试人员连续工作13.8天。按8小时/天的工作时间计算，一个测试工程师需要测试的时间为41.6天！并且，测试工程师在进行测试时肯定不能很准确的把握开关机的时间，也很难准确记录开关机的次数，所以测试的时间远不止41.6天！反复开关机测试属于极端测试，在没有保护装置下操作，存在财物损失和人员伤亡的风险。

另外，市场上也出现了一些具有半自动测试功能的测试装置，然而这些装置在搭建好产品正常工作所需的工作环境后，还需要对待测产品的上电时间、关机时间、上电次数以及关机测试分别进行设置，并通过调节上述各测试参数来实现不同测试模式的切换。不仅设置麻烦，还容易出错导致达不到原来的测试目的。

综上所述，现有的产品测试装置存在安全性低、自动化程度不足以及测试参数设置繁琐的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种产品测试电路，旨在解决现有的产品测试装置存在安全性低、自动化程度不足以及测试参数设置繁琐的问题。

一种产品测试电路，与待测产品连接，包括接入外部电流并输出直流电的电源模块，其特征在于，所述产品测试电路还包括：

开关模块，输入端连接所述电源模块的输出端，输出端连接所述待测产品的电源端，具有用于接收开关信号的受控端，用于根据所述开关信号的电平控制所述直流电输出或停止输出；

检测保护模块，输入端连接所述开关模块的输出端，输出端连接所述待测产品的电源端，用于根据所述电源端的电平输出检测信号，输出所述直流电或在所述电源端的电平出现异常时停止输出所述直流电；

模式切换模块，用于根据用户指令输出模式切换信号；

输入模块，输入端连接所述模式切换模块的输出端，用于根据所述模式切换信号切换输入模式，并根据用户指令输出开关设置信号；

控制模块，检测信号端连接所述检测保护模块的信号输出端，模式切换端连接所述模式切换模块的输出端，输入端连接所述输入模块的输出端，控制端连接所述开关模块的受控端，用于根据所述模式切换信号切换测试模式，根据所述开关设置信号与所述检测信号输出所述开关信号。

本发明的另一目的还在于提供一种产品测试装置，包括壳体，还包括上述的产品测试电路。

本发明通过采用包括所述电源模块、所述开关模块、所述检测保护模块、所述模式切换模块、所述输入模块以及所述控制模块的所述产品测试电路，并与所述待测产品连接，通过所述模式切换模块实现长稳测试模式与反复开关测试模式之间的切换，所述输入模块在不同的测试模式下具有对应的输入模式，方便用户进行测试参数设置。同时，通过所述控制模块控制开关模块的通断，从而实现对所述待测产品的上电与关机，并设置有所述检测保护模块，根据所述待测产品的电源端电平的电平输出检测信号，并在电平异常时切断所述开关模块的输出端与所述待测产品的电源端之间的连接，实现对所述产品测试电路的保护。整个所述产品测试电路具有安全性与自动化程度高，以及测试参数设置方便的优点。

附图说明

图1是本发明实施1、2及3所提供的产品测试电路的模块结构图；

图2是本发明实施1所提供的开关模块的示例电路结构图；

图3是本发明实施1所提供的检测保护模块的示例电路结构图；

图4是本发明实施2所提供的指示模块的示例电路结构图；

图5是本发明实施2所提供的报警模块的示例电路结构图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

实施例1

图1示出了本发明实施例所提供的产品测试电路的模块结构，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：

本发明实施例所提供的产品测试电路与待测产品200连接，包括接入外部电流并输出直流电的电源模块100，该产品测试电路还包括：

开关模块300，电源端连接电源模块100的输出端，输出端连接待测产品200的电源端，具有用于接收开关信号的受控端，用于根据开关信号的电平控制所述直流电输出或停止输出。

检测保护模块400，输入端连接开关模块300的输出端，输出端连接待测产品200的电源端，用于根据电源端的电平输出检测信号，接入并输出直流电，或在电源端的电平出现异常时停止输出所述直流电。

进一步的，检测信号可以为电平信号。

模式切换模块500，用于根据用户指令输出模式切换信号，以切换测试模式。

进一步的，模式切换模块500包括用于供用户输入用户指令的按键或开关；模式切换信号包括长稳测试信号与反复开关测试信号，分别用于切换成长稳测试模式和反复开关测试模式。

输入模块600，输入端连接模式切换模块500的输出端，用于根据模式切换信号切换输入模式，并根据用户指令输出开关设置信号。

进一步的，输入模块600还可以具有用于供用户输入用户指令的按键，输入模式包括长稳测试输入模式与反复开关测试输入模式。

控制模块700，检测信号端连接检测保护模块400的输出端，模式切换端连接模式切换模块500的输出端，输入端连接输入模块600的输出端，控制端连接开关模块300的受控端，用于根据模式切换信号切换测试模式，根据开关设置信号与检测信号输出开关信号。

进一步的，控制模块700可以为TI系列或51系列的单片机芯片，并且内部预烧录有长稳测试程序与反复开关测试程序；测试模式包括长稳测试模式与反复开关测试模式，控制模块700在长稳测试模式下调用长稳测试程序，在反复开关测试模式下调用反复开关测试程序。

在本发明实施例中，由于具有模式切换的步骤，输入模块600在接收到反复开关测试信号时，输入模块600进入反复开关测试输入模式，用户可以通过按键设置待测产品200的上电时间S1与关机时间S2，再由输入模块600将包含上电时间S1与关机时间S2的开关设置信号输出。在输入模块600接收到长稳测试信号时，输入模块600进入长稳测试输入模式，用户可以通过按键设置待测产品200的上电时间S1，再由输入模块600将包含上电时间S1的开关设置信号输出。由于切换到长稳测试输入模式，用户可以只输入上电时间S1，而无需再对关机时间进行设置，简化了操作，同时也避免了误操作，降低了用户在设置时出现误操作导致电路损毁的风险。

控制模块700在接收到长稳测试信号时调用长稳测试程序，并在接收到反复开关测试信号时调用反复开关测试程序。使得控制模块700在进行测试的过程中只须运行相应的程序，大大降低了程序出错导致电路损毁的风险。另外，由于控制模块700在进行测试的过程中只须运行相应的程序，在进行长稳测试时，控制模块700只需运行十分简单的长稳测试程序输出电平不变的开关信号，而不需要继续运行较复杂的反复开关测试程序，不仅具有节约能耗的优点，还可避免运行多余程序所带来的时间误差，增强测试的准确性。

在本发明实施例中，电源模块100还可以包括工作电流输出端口，并利用所接入的外部电流输出适用于本产品测试电路各模块工作的电流，作为各模块的工作电源。

作为本发明一实施例，如图2所示，开关模块300可以包括：

电容C1、电容C2、电阻R1、电阻R2、电阻R3、PMOS管Q1以及第一NPN三极管Q2；

电容C1的第一端、电阻R1的第一端以及PMOS管Q1的源极共接形成开关模块300的输入端，PMOS管Q1的漏极是开关模块300的输出端，PMOS管Q1的栅极、电容C1的第二端、电阻R1的第二端共接于电阻R2的第一端，电阻R2的第二端连接第一NPN三极管Q2的集电极，第一NPN三极管Q2的基极、电阻R3的第一端共接于电容C2的第一端，电容C2的第二端与第一NPN三极管Q2的发射极共接于地，电阻R3的第二端是开关模块300的受控端。

在本发明实施例中，当第一NPN三极管Q2的基极通过电阻R3接收到低电平的开关信号时，第一NPN三极管Q2截止；PMOS管Q1的栅极通过电阻R1接收到电源模块100输出端输出的高电平信号，PMOS管Q1也截止，此时无直流电输出。

当第一NPN三极管Q2的基极通过电阻R3接收到高电平的开关信号时，第一NPN三极管Q2导通并向PMOS管的栅极输出低电平信号，PMOS管Q1导通，输出直流电。

在本开关电路中，由电阻与电容所构成的网络还可以对电路导通是产生的冲击电流起缓冲作用，保护后端设备。

作为本发明一实施例，如图3所示，检测保护模块400可以包括：

电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、电容C3、电容C4、电容C5、第一PNP三极管Q3以及第二PNP三极管Q4；

电容C3的第一端、电阻R4的第一端、第二PNP三极管Q4的发射极以及电阻R7的第一端共接形成检测保护模块400的输入端，电阻R4的第二端与电阻R5的第一端共接于第一PNP三极管Q3的发射极，电阻R5的第二端与电阻R6的第一端共接于第二PNP三极管Q4的基极，第二PNP三极管Q4的集电极、电阻R7的第二端以及电阻R8的第一端共接于第一PNP三极管Q3的基极，电容C3的第二端、电阻R6的第二端以及电阻R8的第二端共接于地，第一PNP三极管Q3的集电极、电阻R11的第一端、电容C4的第一端、电容C5的第一端以及电阻R9的第一端共接形成检测保护模块400的输出端，电阻R9的第二端与电阻R10的第一端共接形成检测保护模块400的信号输出端，电阻R11的第二端、电容C4的第二端、电容C5的第二端以及电阻R10的第二端共接于地。

在本发明实施例中，在检测保护模块400的输入端有电流输入时，第二PNP三极管Q4因基极接收到高电平信号而截止，第一PNP三极管Q3因基极接收到低电平信号而导通，直流电通过电阻R4、第一PNP三极管Q3输出至待测产品200的电源端，待测产品200上电；此时检测保护模块400的信号输出端输出高电平信号。

在待测产品200出现短路时，检测保护模块400的输入端电平被拉低，此时第二PNP三极管Q4因基极接收到低电平信号而导通，第一PNP三极管Q3因基极接收到高电平信号而截止，电阻R8成为保护负载；此时检测保护模块400输出低电平信号至控制模块700，控制模块700通过比较开关信号与检测信号的电平判断是否进入异常保护状态。进而切断了待测产品200的电源供应，保证了产品测试电路的安全。

实施例2

本实施例的实施建立在实施例1的基础上。

如图1所示，在本发明实施例中，控制模块700还具有测试状态端，控制模块700还用于根据检测信号与开关信号输出状态信号；产品测试电路还包括指示模块800，输入端连接控制模块700的测试状态端，用于根据状态信号以光信号指示产品测试电路的工作状态。

进一步的，光信号可以是由LED灯以一定频率闪烁发出的光，或不同颜色的LED灯发出的光。

在本发明实施例中，产品测试电路还包括报警模块900，输入端连接控制模块700的测试状态端，用于根据状态信号在产品测试电路出现异常时发出声音信号。

进一步的，声音信号可以是由扬声器发出的声音。

作为本发明一实施例，如图4所示，指示模块800可以包括：

电阻R12、电阻R13、电阻R14、电阻R15、电阻R16、第一发光二极管LED1、第二发光二极管LED2、第二NPN三极管Q5以及第三PNP三极管Q6；

电阻R12的第一端与电阻R13的第一端共接形成指示模块800的输入端，电阻R12的第二端连接第二NPN三极管Q5的基极，电阻R13的第二端与电阻R14的第一端共接于第三PNP三极管Q6的基极，第三PNP三极管Q6的发射极、电阻R14的第二端以及第二NPN三极管Q5的集电极共接于工作电源VCC，第二NPN三极管Q5的发射极连接电阻R15的第一端，电阻R15的第二端连接第一发光二极管LED1的阳极，第三PNP三极管Q6的集电极连接电阻R16的第一端，电阻R16的第二端连接第二发光二极管LED2的阳极，第一发光二极管LED1的阴极与第二发光二极管LED2的阴极共接于地。

在本发明实施例中，当产品测试电路及待测产品200正常工作的时候，控制模块700输出低电平的状态信号，第二NPN三极管Q5截止，第三PNP三极管Q6导通，第一发光二极管LED1发光；

当待测产品200出现短路时，控制模块700输出高电平的状态信号，第二NPN三极管Q5导通，第三PNP三极管Q6截止，第二发光二极管LED2发光。

进一步的，为了使状态指示更加明显，第一发光二极管LED1可以采用绿色的发光二极管，第二发光二极管LED2可以采用红色的发光二极管。

在本发明实施例中，可以通过调节电阻R15与电阻R16对发光二极管的发光亮度进行调节。

作为本发明一实施例，如图5所示，报警模块900可以包括：

电容C6、电阻R18、电阻R19、稳压管D1、第四PNP三极管Q7以及扬声器M1；

电容C6的第一端、稳压管D1的阴极以及电阻R18的第一端共接于工作电源VCC，稳压管D1的阳极与扬声器M1的负极共接于第四PNP三极管Q7的发射极，电阻R18的第二端连接扬声器M1的正极，电阻R19的第一端连接第四PNP三极管Q7的基极，第四PNP三极管Q7的集电极与电容C6的第二端共接于地，电阻R19的第二端连接电阻R19的输入端。

在本发明实施例中，当产品测试电路及待测产品200正常工作的时候，控制模块700输出低电平的状态信号，第四PNP三极管Q7导通，扬声器M1发出声音报警；

当待测产品200出现短路时，控制模块700输出高电平的状态信号，第四PNP三极管Q7截止，扬声器M1不工作。

实施例3

本发明实施例的实施建立在实施例1或2的基础上。

如图1所示，在本发明实施例中，产品测试电路还包括显示模块1000，输入端连接开关模块300的输出端，用于根据开关模块300的输出端的电平记录并显示测试情况

进一步的，显示模块1000还可以包括计数模块，其可以通过检测开关模块300的输出端的电平对开关次数进行计数，或对待测产品200的上电时间进行计时。

具体的，显示模块1000可以在开关模块300的输出端电平为高电平时累计待测产品200的上电时间，并在开关模块300的输出端电平为低电平时累计待测产品200的关机时间，同时，显示模块1000还可以在每次电平状态变换的时候累计分别累计上电次数与关机次数。

通过采用自带计数功能的显示模块1000对测试情况进行记录与显示，不仅使得用户可以轻松记录测试情况，还使得显示模块1000的安装较为独立，方便维护。

实施例4

本发明实施例的实施建立在实施例1或2的基础上。

在本发明实施例中，控制模块700还具有统计上电时间、关机时间、上电次数以及关机次数的功能，并通过数据输出端输出上述测试数据。

产品测试电路还可以包括显示屏，输入端连接控制模块700的输出端，用于根据上述测试数据显示测试情况

在本发明实施例中，由于采用控制模块700统计测试数据的功能，使得可以采用只有简单显示功能的显示屏进行数据显示，具有成本低的优点。

实施例5

本发明的另一目的在于提供一种产品测试装置，包括壳体，还包括上述任一实施例的产品测试电路。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种产品测试电路，与待测产品连接，包括接入外部电流并输出直流电的电源模块，其特征在于，所述产品测试电路还包括：

开关模块，输入端连接所述电源模块的输出端，输出端连接所述待测产品的电源端，具有用于接收开关信号的受控端，用于根据所述开关信号的电平控制所述直流电输出或停止输出；

检测保护模块，输入端连接所述开关模块的输出端，输出端连接所述待测产品的电源端，用于根据所述电源端的电平输出检测信号，输出所述直流电或在所述电源端的电平出现异常时停止输出所述直流电；

模式切换模块，用于根据用户指令输出模式切换信号；

输入模块，输入端连接所述模式切换模块的输出端，用于根据所述模式切换信号切换输入模式，并根据用户指令输出开关设置信号；

控制模块，检测信号端连接所述检测保护模块的信号输出端，模式切换端连接所述模式切换模块的输出端，输入端连接所述输入模块的输出端，控制端连接所述开关模块的受控端，用于根据所述模式切换信号切换测试模式，根据所述开关设置信号与所述检测信号输出所述开关信号。

2.如权利要求1所述的产品测试电路，其特征在于，所述控制模块还具有测试状态端，所述控制模块还用于根据所述检测信号与所述开关信号输出状态信号；

所述产品测试电路还包括指示模块，输入端连接所述控制模块的测试状态端，用于根据所述状态信号以光信号指示所述产品测试电路的工作状态。

3.如权利要求1所述的产品测试电路，其特征在于，所述控制模块还具有测试状态端，所述控制模块还用于根据所述检测信号与所述开关信号输出状态信号；

所述产品测试电路还包括报警模块，输入端连接所述控制模块的测试状态端，用于根据所述状态信号在所述产品测试电路出现异常时发出声音信号。

4.如权利要求1所述的产品测试电路，其特征在于，所述控制模块还具有测试状态端，所述控制模块还用于根据所述检测信号与所述开关信号输出状态信号；

所述产品测试电路还包括指示模块，输入端连接所述控制模块的测试状态端，用于根据所述状态信号以光信号指示所述产品测试电路的工作状态；

所述产品测试电路还包括报警模块，输入端连接所述控制模块的测试状态端，用于根据所述状态信号在所述产品测试电路出现异常时发出声音信号。

5.如权利要求1所述的产品测试电路，其特征在于，所述产品测试电路还包括显示模块，输入端连接所述开关模块的输出端，用于根据所述开关模块的输出端的电平记录并显示所述测试情况。

6.如权利要求1所述的产品测试电路，其特征在于，所述开关模块包括：

电容C1、电容C2、电阻R1、电阻R2、电阻R3、PMOS管以及第一NPN三极管；

所述电容C1的第一端、所述电阻R1的第一端以及所述PMOS管的源极共接形成所述开关模块的输入端，所述PMOS管的漏极是所述开关模块的输出端，所述PMOS管的栅极、所述电容C1的第二端、所述电阻R1的第二端共接于所述电阻R2的第一端，所述电阻R2的第二端连接所述第一NPN三极管的集电极，所述第一NPN三极管的基极、所述电阻R3的第一端共接于所述电容C2的第一端，所述电容C2的第二端与所述第一NPN三极管的发射极共接于地，所述电阻R3的第二端是开所述关模块的受控端。

7.如权利要求1所述的产品测试电路，其特征在于，所述检测保护模块包括：

电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电阻R10、电阻R11、电容C3、电容C4、电容C5、第一PNP三极管以及第二PNP三极管；

所述电容C3的第一端、所述电阻R4的第一端、所述第二PNP三极管的发射极以及所述电阻R7的第一端共接形成所述检测保护模块的输入端，所述电阻R4的第二端与所述电阻R5的第一端共接于所述第一PNP三极管的发射极，所述电阻R5的第二端与所述电阻R6的第一端共接于所述第二PNP三极管的基极，所述第二PNP三极管的集电极、所述电阻R7的第二端以及所述电阻R8的第一端共接于所述第一PNP三极管的基极，所述电容C3的第二端、所述电阻R6的第二端以及所述电阻R8的第二端共接于地，所述第一PNP三极管的集电极、所述电阻R11的第一端、所述电容C4的第一端、所述电容C5的第一端以及所述电阻R9的第一端共接形成所述检测保护模块的输出端，所述电阻R9的第二端与所述电阻R10的第一端共接形成所述检测保护模块的信号输出端，所述电阻R11的第二端、所述电容C4的第二端、所述电容C5的第二端以及所述电阻R10的第二端共接于地。

8.如权利要求2所述的产品测试电路，其特征在于，所述指示模块包括：

电阻R12、电阻R13、电阻R14、电阻R15、电阻R16、第一发光二极管、第二发光二极管、第二NPN三极管以及第三PNP三极管；

所述电阻R12的第一端与所述电阻R13的第一端共接形成所述指示模块的输入端，所述电阻R12的第二端连接所述第二NPN三极管的基极，所述电阻R13的第二端与所述电阻R14的第一端共接于所述第三PNP三极管的基极，所述第三PNP三极管的发射极、所述电阻R14的第二端以及所述第二NPN三极管的集电极共接于工作电源，所述第二NPN三极管的发射极连接所述电阻R15的第一端，所述电阻R15的第二端连接所述第一发光二极管的阳极，所述第三PNP三极管的集电极连接所述电阻R16的第一端，所述电阻R16的第二端连接所述第二发光二极管的阳极，所述第一发光二极管的阴极与所述第二发光二极管的阴极共接于地。

9.如权利要求3所述的产品测试电路，其特征在于，所述报警模块包括：

电容C6、电阻R18、电阻R19、稳压管、第四PNP三极管以及扬声器；

所述电容C6的第一端、所述稳压管的阴极以及所述电阻R18的第一端共接于工作电源，所述稳压管的阳极与所述扬声器的负极共接于所述第四PNP三极管的发射极，所述电阻R18的第二端连接所述扬声器的正极，所述电阻R19的第一端连接所述第四PNP三极管的基极，所述第四PNP三极管的集电极与所述电容C6的第二端共接于地，所述电阻R19的第二端连接所述电阻R19的输入端。

10.一种产品测试装置，包括壳体，其特征在于，所述产品测试装置还包括如权利要求1至9任一项所述的产品测试电路。

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