CN103485772A - 测井设备、方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测井设备、方法及装置。其中，测井设备包括：线圈感应装置，用于获取探测地层的电导率信号；电极测井装置，用于获取探测地层的电阻率信号；处理器，连接于线圈感应装置与电极测井装置之间，用于根据电导率信号和电阻率信号获取探测地层的地层特性数据。本发明解决了对薄层及薄互层的地层测量精确度低的技术问题，达到了实现了高精确地获取薄层及薄互层的地层特性曲线的效果。

Description

测井设备、方法及装置

技术领域

本发明涉及油田测井领域，具体而言，涉及一种测井设备、方法及装置。

背景技术

随着油田勘探开发程度的不断深入，薄层以及薄互层已经成为期待被开发的油气储集层，由于常规双感应测量曲线仅适用于油基泥浆测井条件且分辨率低、曲线响应信息少，使用常规的多线圈感应装置测量地层得到的地层视电阻率曲线的分辨率低，无法很好的反应储集层响应特性。多电极仪器测量装置只适用于盐水泥浆中，但是曲线分辨率低，探测深度浅，只能反映近井眼测量信息。传统的阵列感应测井在盐水泥浆中，井眼影响较大，对阵列感应近子阵列测井结果精度带来影响，在高阻地层阵列感应测量结果影响阵列感应长阵列测量精度，所以阵列感应的应用条件具有一定的局限性。

针对上述对薄层及薄互层的地层测量精确度低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种测井设备、方法及装置，以至少解决对薄层及薄互层的地层测量精确度低的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种测井设备，包括：线圈感应装置，用于获取探测地层的电导率信号；电极测井装置，用于获取探测地层的电阻率信号；处理器，连接于线圈感应装置与电极测井装置之间，用于根据电导率信号和电阻率信号获取探测地层的地层特性数据。

进一步地，测井设备还包括：采集电路，线圈感应装置和电极测井装置分别通过采集电路与处理器连接，采集电路用于将采集到的电导率信号和电阻率信号发送至处理器。

进一步地，线圈感应装置包括：发射线圈，用于发射探测信号；接收装置，连接于发射线圈与采集电路之间，接收装置包括多个接收线圈，每个接收线圈分别用于接收探测地层响应探测信号形成的电导率信号。

进一步地，线圈感应装置还包括：补偿装置，接收装置通过补偿装置与采集电路连接，补偿装置包括多个补偿线圈，每个补偿线圈分别对应一个接收线圈设置，每个补偿线圈用于消除对应的接收线圈接收到的电导率信号中的直耦信号。

进一步地，线圈感应装置还包括：第一壳体，发射线圈、补偿装置以及接收装置依次设置在第一壳体内。

进一步地，线圈感应装置还包括：第一壳体，发射线圈、补偿装置以及接收装置设置在第一壳体内，补偿装置中的补偿线圈与接收装置中的接收线圈交叉排列设置在第一壳体内。

进一步地，电极测井装置包括：发射电极，用于发射探测电流；测量电极组，包括多个测量电极，每个测量电极分别用于接收探测地层响应探测电流形成的反馈信号；测量电路，分别与每个测量电极建立连接，测量电路用于测量相邻两个测量电极之间的反馈信号的电位差；接收电极，连接于测量电路与采集电路之间，用于接收测量电路测量的电位差，并将电位差作为电阻率信号发送给采集电路。

进一步地，电极测井装置还包括：第二壳体，发射电极、测量电极以及接收电极依次设置在第二壳体内。

进一步地，处理器包括：刻度校正仪，与采集电路连接，用于将电导率信号和电阻率信号进行刻度处理得到电导率曲线和电阻率曲线；反演计算器，与刻度校正仪连接，用于对电导率曲线和电阻率曲线进行反演计算得到地层电阻率剖面；正演计算器，与反演计算器连接，用于对地层电阻率剖面进行正演计算得到正演电阻率曲线和正演电导率曲线；作差器，与正演计算器连接，用于计算正演电阻率曲线与电阻率曲线的第一差值和正演电导率曲线与电导率曲线的第二差值；比较器，与正演计算器连接，用于根据第一差值和第二差值确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线；地层曲线计算器，与比较器连接，用于使用第一阵列响应曲线、第二阵列响应曲线以及地层电阻率剖面进行合成聚焦处理得到地层特性数据。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种测井方法，该方法包括：获取探测地层的电导率信号和探测地层的电阻率信号；根据电导率信号和电阻率信号获取探测地层的地层特性数据。

进一步地，根据电导率信号和电阻率信号获取探测地层的地层特性数据的步骤包括：将电导率信号和电阻率信号进行刻度处理得到电导率曲线和电阻率曲线；对电导率曲线和电阻率曲线进行反演计算得到地层电阻率剖面；对地层电阻率剖面进行正演计算得到正演电阻率曲线和正演电导率曲线；计算正演电阻率曲线与电阻率曲线的第一差值和正演电导率曲线与电导率曲线的第二差值；根据第一差值和第二差值确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线；将第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线进行合成聚焦处理得到地层特性数据中的阵列感应测井响应曲线；使用地层电阻率剖面计算地层特性数据中的阵列侧向响应曲线。

进一步地，根据第一差值和第二差值确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线的步骤包括：在第一差值大于预设阈值的情况下，将正演电阻率曲线作为第一阵列响应曲线；在第一差值小于预设阈值的情况下，将电阻率曲线作为第一阵列响应曲线；在第二差值大于预设阈值的情况下，将正演电导率曲线作为第二阵列响应曲线；在第二差值小于预设阈值的情况下，将电导率曲线作为第二阵列响应曲线。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种测井装置，该装置包括：获取模块，用于获取探测地层的电导率信号和探测地层的电阻率信号；处理模块，用于根据电导率信号和电阻率信号获取探测地层的地层特性数据。

进一步地，处理模块包括：刻度处理模块，用于将电导率信号和电阻率信号进行刻度处理得到电导率曲线和电阻率曲线；反演计算模块，用于对电导率曲线和电阻率曲线进行反演计算得到地层电阻率剖面；正演计算模块，用于对地层电阻率剖面进行正演计算得到正演电阻率曲线和正演电导率曲线；差值计算模块，用于计算正演电阻率曲线与电阻率曲线的第一差值和正演电导率曲线与电导率曲线的第二差值；确定模块，用于根据第一差值和第二差值确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线；合成聚焦模块，用于将第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线进行合成聚焦处理得到地层特性数据中的阵列感应测井响应曲线；侧向曲线计算模块，用于使用地层电阻率剖面计算地层特性数据中的阵列侧向响应曲线。

进一步地，确定模块包括：第一确定子模块，用于在第一差值大于预设阈值的情况下，将正演电阻率曲线作为第一阵列响应曲线；第二确定子模块，用于在第一差值小于预设阈值的情况下，将电阻率曲线作为第一阵列响应曲线；第三确定子模块，用于在第二差值大于预设阈值的情况下，将正演电导率曲线作为第二阵列响应曲线；第四确定子模块，用于在第二差值小于预设阈值的情况下，将电导率曲线作为第二阵列响应曲线。

在本发明实施例中，利用线圈感应装置和电极测井装置测量地层响应（包括电导率信号和电阻率信号），然后通过处理器将测量到的地层响应进行合成处理，得到探测地层的不同探测深度、不同分辨率下的地层特性数据。线圈感应装置可以精确地测量淡水泥浆的地层特征，电极测井装置可以准确地测量盐水泥浆的地层特征，通过处理器将两个测井装置测量得到的信号合成获取探测地层的地层特性数据，提高了对薄层及薄互层地层特征检测的精确度，实现了高精确地获取薄层及薄互层的地层特性曲线的效果，进而解决了对薄层及薄互层的地层测量精确度低的技术问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的测井设备的结构示意图；

图2是根据本发明实施例的线圈感应装置的示意图；

图3是根据本发明另一实施例的线圈感应装置的示意图；

图4是根据本发明实施例的电极测井装置的示意图；

图5是根据本发明实施例的测井方法的流程图；

图6是根据本发明另一实施例的测井方法的流程图；以及

图7是根据本发明实施例的测井装置的示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

图1是根据本发明实施例的测井设备的结构示意图。如图1所示，该测井设备可以包括：线圈感应装置10，用于获取探测地层的电导率信号；电极测井装置30，用于获取探测地层的电阻率信号；处理器50，连接于线圈感应装置与电极测井装置之间，用于根据电导率信号和电阻率信号获取探测地层的地层特性数据。

采用本发明的上述实施例，利用线圈感应装置和电极测井装置测量地层响应（包括电导率信号和电阻率信号），然后通过处理器将测量到的地层响应进行合成处理，得到探测地层的不同探测深度、不同分辨率下的地层特性数据。线圈感应装置可以精确地测量淡水泥浆的地层特征，电极测井装置可以准确地测量盐水泥浆的地层特征，通过处理器将两个测井装置测量得到的信号合成获取探测地层的地层特性数据，解决了现有技术中对薄层及薄互层的地层测量精确度低的技术问题，提高了对薄层及薄互层地层特征检测的精确度，实现了高精确地获取薄层及薄互层的地层特性曲线的效果。

具体地，通过本发明的上述实施例可以有效的拓宽现有的多线圈系感应仪器的应用范围，并且使用本发明的上述实施例，即使在某一两个线圈系测量精度超过测量量程的情况下，处理器的合成聚焦效果仍然可以达到很好的反应地层电阻率响应特性，该装置可以准确测量0.2欧姆.米-1000欧姆.米的地层。

在本发明的上述实施例中，测井设备还可以包括：采集电路，线圈感应装置和电极测井装置分别通过采集电路与处理器连接，采集电路用于将采集到的电导率信号和电阻率信号发送至处理器。

上述实施例中的线圈感应装置10可以为四个子阵列或者五个子阵列的线圈感应装置，利用四阵列信号或者五阵列的线圈感应装置10测量探测地层的电导率信号，利用多电极的电极测井装置测量探测地层的电阻率信号，然后通过采集电路采集上述信号，将上述信号进行刻度处理得到电导率信号和电阻率信号，并将电导率信号和电阻率信号发送至处理器。处理器50根据电导率信号和电阻率信号获取探测地层的地层特征数据，该地层特征数据可以包括阵列感应曲线和阵列侧向曲线。

在本发明的上述实施例中，线圈感应装置10可以包括：发射线圈，用于发射探测信号；接收装置，连接于发射线圈与采集电路之间，接收装置包括多个接收线圈，每个接收线圈分别用于接收探测地层响应探测信号形成的电导率信号。优选地，接收线圈可以为4个或5个。

具体地，线圈感应装置10还可以包括：补偿装置，接收装置通过补偿装置与采集电路连接，补偿装置包括多个补偿线圈，每个补偿线圈分别对应一个接收线圈设置，每个补偿线圈用于消除对应的接收线圈接收到的电导率信号中的直耦信号。

根据本发明的上述实施例，线圈感应装置10还可以包括：第一壳体，发射线圈、补偿装置以及接收装置依次设置在第一壳体内；或者补偿装置中的补偿线圈与接收装置中的接收线圈交叉排列设置在第一壳体内。

图2和图3分别示出了四个子阵列和五个子阵列的线圈感应装置。如图2所示，四个子阵列的线圈感应装置10可以包括一个发射线圈、4个接收线圈以及4个补偿线圈，其中，T为发射线圈，R1、R2、R3、R4为接收线圈，B1、B2、B3、B4为补偿线圈（也可以称之为屏蔽线圈）。如图所示，每个接收线圈位于第一壳体内的不同位置，在图2示出的实施例中，发射线圈、补偿装置以及接收装置依次设置在第一壳体内。更具体地，T、B1以及R1为一组接收线圈系，发射线圈与其他下标相同的补偿线圈和接收线圈分别为一组接收线圈系，其中的补偿线圈B1（B2、B3、B4）起到消除R1（R2、R3、R4）中的直耦信号。在改实施例中，在发射线圈T上通一交流电，在接收线圈R1、R2、R3、R4上接收地层信号，得到地层电导率信号。

如图3所示的五个子阵列的线圈感应装置10可以包括一个发射线圈T、5个接收线圈以及5个补偿线圈，如图3所示，每个接收线圈位于第一壳体内的不同位置。其中，T为发射线圈，B1、B2、B3、B4、B5为补偿线圈（屏蔽线圈），R1、R2、R3、R4、R5为接收线圈。具体地，发射线圈T上通一交流电发射出，在接收线圈R1、R2、R3、R4、R5接收探测体层响应地层信号，进而得到电导率信号。

在本发明的上述实施例中，测井设备还可以包括：采集电路，线圈感应装置和电极测井装置分别通过采集电路与处理器连接，采集电路用于将采集到的电导率信号和电阻率信号发送至处理器。

具体地，将线圈感应装置10和电极测井装置30通过测井电缆下放到石油的井孔中，数控地面为线圈感应装置10和电极测井装置30供电，将线圈感应装置10和电极测井装置30通过电缆拉动，测量不同井位置中的电导率信号和电阻率信号。

在本发明的上述实施例中，电极测井装置30可以包括：发射电极，用于发射探测电流；测量电极组，包括多个测量电极，每个测量电极分别用于接收探测地层响应探测电流形成的反馈信号；测量电路，分别与每个测量电极建立连接，测量电路用于测量相邻两个测量电极之间的反馈信号的电位差；接收电极，连接于测量电路与采集电路之间，用于接收测量电路测量的电位差，并将电位差作为电阻率信号发送给采集电路。

具体地，电极测井装置30还可以包括：第二壳体，发射电极、测量电极以及接收电极依次设置在第二壳体内。

如图4所示，电极测井装置30可以包括一个发射电极和一个回路电极B以及5个测量电极（即图中示出的M1、M2、M3、M4以及M5），其中，T发射电流（即为供电电极），回路为B（接收电极，在本实施例中可以为回路的负极），由测量电路测量M1、M2之间的电位差，测量M2、M3之间的电位差，测量M4、M5之间的电位差，并将测量信息（即上述实施例中的电位差）通过遥测短节发送给处理器50（即地面数控软件），通过处理器50（在本实施例中也可以为地面软件）处理得到地层电阻率曲线。其中，上述实施例中的5个测量电极可以构成测量电极组。

具体地，处理器50可以包括：刻度校正仪，与采集电路连接，用于将电导率信号和电阻率信号进行刻度处理得到电导率曲线和电阻率曲线；反演计算器，与刻度校正仪连接，用于对电导率曲线和电阻率曲线进行反演计算得到地层电阻率剖面；正演计算器，与反演计算器连接，用于对地层电阻率剖面进行正演计算得到正演电阻率曲线和正演电导率曲线；作差器，与正演计算器连接，用于计算正演电阻率曲线与电阻率曲线的第一差值和正演电导率曲线与电导率曲线的第二差值；比较器，与正演计算器连接，用于根据第一差值和第二差值确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线；地层曲线计算器，与比较器连接，用于使用第一阵列响应曲线、第二阵列响应曲线以及地层电阻率剖面进行合成聚焦处理得到地层特性数据。

具体地，将第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线进行合成聚焦处理得到地层特性数据中的阵列感应测井响应曲线；使用地层电阻率剖面计算地层特性数据中的阵列侧向响应曲线。

图5是根据本发明实施例的测井方法的流程图。如图5所示，该测井方法可以通过如下步骤实现：

步骤S102：获取探测地层的电导率信号和探测地层的电阻率信号。

步骤S104：根据电导率信号和电阻率信号获取探测地层的地层特性数据。

采用本发明的上述实施例，利用线圈感应装置和电极测井装置测量地层响应（包括电导率信号和电阻率信号），然后通过处理器将测量到的地层响应进行合成处理，得到探测地层的不同探测深度、不同分辨率下的地层特性数据。线圈感应装置可以精确地测量淡水泥浆的地层特征，电极测井装置可以准确地测量盐水泥浆的地层特征，通过处理器将两个测井装置测量得到的信号合成获取探测地层的地层特性数据，解决了现有技术中对薄层及薄互层的地层测量精确度低的技术问题，提高了对薄层及薄互层地层特征检测的精确度，实现了高精确地获取薄层及薄互层的地层特性曲线的效果

如图6所示，根据电导率信号和电阻率信号获取探测地层的地层特性数据的步骤可以包括：

步骤S202：将电导率信号和电阻率信号进行刻度处理得到电导率曲线和电阻率曲线。

步骤S204：对电导率曲线和电阻率曲线进行反演计算得到地层电阻率剖面。

步骤S206：对地层电阻率剖面进行正演计算得到正演电阻率曲线和正演电导率曲线。

步骤S208：计算正演电阻率曲线与电阻率曲线的第一差值和正演电导率曲线与电导率曲线的第二差值。

步骤S210：根据第一差值和第二差值确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线。

具体地，根据第一差值和第二差值确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线的步骤可以包括：在第一差值大于预设阈值的情况下，将正演电阻率曲线作为第一阵列响应曲线；在第一差值小于预设阈值的情况下，将电阻率曲线作为第一阵列响应曲线；在第二差值大于预设阈值的情况下，将正演电导率曲线作为第二阵列响应曲线；在第二差值小于预设阈值的情况下，将电导率曲线作为第二阵列响应曲线。

步骤S212：将第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线进行合成聚焦处理得到地层特性数据中的阵列感应测井响应曲线。

步骤S214：使用地层电阻率剖面计算地层特性数据中的阵列侧向响应曲线。

上述实施例中的地层特性数据包括阵列感应测井响应曲线与阵列侧向响应曲线。

在本发明的上述实施例中，通过图2或图3所示的线圈感应装置10，由每个子阵列测量得到的探测地层的电导率信号，通过电极测井装置30测量得到的电阻率信号，对测量得到的电导率信号和电阻率信号通过采集电路采集，然后通过处理器50进行数据处理。具体地，处理器获取电导率信号和电阻率信号，将电导率信号和电阻率信号进行刻度处理得到电导率曲线和电阻率曲线，通过电导率曲线和电阻率曲线反演地层电阻率剖面，并通过地层电阻率剖面进行线圈感应装置10和电极测井装置30的响应特性计算分析，然后对比原始测量多线圈系仪器子阵列响应曲线与正演响应多线圈系仪器子阵列曲线之间的关系，如果原始测量多线圈系仪器子阵列响应曲线超过设定误差范围（即预设阈值），则利用正演响应多线圈系该子阵列计算曲线代替原始测量多线圈系仪器该子阵列响应曲线，从而确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线。然后第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线进行合成聚焦处理得到地层特性数据，该地层特性数据具有多分辨率、多探测深度响应的特点。另外，在本发明的上述实施例中还可以利用地层电阻率剖面计算阵列侧向电阻率响应曲线，从而得到阵列侧向响应特性。

图7是根据本发明实施例的测井装置的示意图。如图7所示，该测井装置可以包括：获取模块100，用于获取探测地层的电导率信号和探测地层的电阻率信号；处理模块300，用于根据电导率信号和电阻率信号获取探测地层的地层特性数据。

采用本发明的上述实施例，利用获取模块获取地层响应（包括电导率信号和电阻率信号），然后通过处理模块将测量到的地层响应进行合成处理，得到探测地层的不同探测深度、不同分辨率下的地层特性数据。线圈感应装置可以精确地测量淡水泥浆的地层特征，电极测井装置可以准确地测量盐水泥浆的地层特征，通过处理器将两个测井装置测量得到的信号合成获取探测地层的地层特性数据，解决了现有技术中对薄层及薄互层的地层测量精确度低的技术问题，提高了对薄层及薄互层地层特征检测的精确度，实现了高精确地获取薄层及薄互层的地层特性曲线的效果。

在本发明的上述实施例中，处理模块300可以包括：刻度处理模块，用于将电导率信号和电阻率信号进行刻度处理得到电导率曲线和电阻率曲线；反演计算模块，用于对电导率曲线和电阻率曲线进行反演计算得到地层电阻率剖面；正演计算模块，用于对地层电阻率剖面进行正演计算得到正演电阻率曲线和正演电导率曲线；差值计算模块，用于计算正演电阻率曲线与电阻率曲线的第一差值和正演电导率曲线与电导率曲线的第二差值；确定模块，用于根据第一差值和第二差值确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线；合成聚焦模块，用于将第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线进行合成聚焦处理得到地层特性数据中的阵列感应测井响应曲线；侧向曲线计算模块，用于使用地层电阻率剖面计算地层特性数据中的阵列侧向响应曲线。

具体地，确定模块可以包括：第一确定子模块，用于在第一差值大于预设阈值的情况下，将正演电阻率曲线作为第一阵列响应曲线；第二确定子模块，用于在第一差值小于预设阈值的情况下，将电阻率曲线作为第一阵列响应曲线；第三确定子模块，用于在第二差值大于预设阈值的情况下，将正演电导率曲线作为第二阵列响应曲线；第四确定子模块，用于在第二差值小于预设阈值的情况下，将电导率曲线作为第二阵列响应曲线。

从以上的描述中，可以看出，本发明实现了如下技术效果：采用本发明的上述实施例，可以同时测量得到阵列感应与阵列侧向电阻率曲线，曲线具有分辨率高、探测深度深等优点，并且使用本发明的测井方法以及装置受井眼电阻率泥浆影响小，具有适应范围广的特点，测量地层电阻率范围为0.2—1000欧姆.米；另外，采用本发明的上述实施例可以有效的降低电路测量精度，在一到两个子阵列线圈系出现测量精度误差时，仍然可以达到合成聚焦效果，从而在有效的拓宽仪器的适用范围的基础上，可以精确探测薄层及薄互层。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本发明所必须的。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质（如ROM/RAM、磁碟、光盘）中，包括若干指令用以使得一台终端设备（可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述的方法。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (15)

1.一种测井设备，其特征在于，包括：

线圈感应装置，用于获取探测地层的电导率信号；

电极测井装置，用于获取所述探测地层的电阻率信号；

处理器，连接于所述线圈感应装置与所述电极测井装置之间，用于根据所述电导率信号和所述电阻率信号获取所述探测地层的地层特性数据。

2.根据权利要求1所述的测井设备，其特征在于，所述测井设备还包括：

采集电路，所述线圈感应装置和所述电极测井装置分别通过所述采集电路与所述处理器连接，所述采集电路用于将采集到的所述电导率信号和所述电阻率信号发送至所述处理器。

3.根据权利要求2所述的测井设备，其特征在于，所述线圈感应装置包括：

发射线圈，用于发射探测信号；

接收装置，连接于所述发射线圈与所述采集电路之间，所述接收装置包括多个接收线圈，每个所述接收线圈分别用于接收所述探测地层响应所述探测信号形成的所述电导率信号。

4.根据权利要求3所述的测井设备，其特征在于，所述线圈感应装置还包括：

补偿装置，所述接收装置通过所述补偿装置与所述采集电路连接，所述补偿装置包括多个补偿线圈，每个所述补偿线圈分别对应一个所述接收线圈设置，每个所述补偿线圈用于消除对应的所述接收线圈接收到的所述电导率信号中的直耦信号。

5.根据权利要求4所述的测井设备，其特征在于，所述线圈感应装置还包括：

第一壳体，所述发射线圈、所述补偿装置以及所述接收装置依次设置在所述第一壳体内。

6.根据权利要求4所述的测井设备，其特征在于，所述线圈感应装置还包括：

第一壳体，所述发射线圈、所述补偿装置以及所述接收装置设置在所述第一壳体内，所述补偿装置中的所述补偿线圈与所述接收装置中的所述接收线圈交叉排列设置在所述第一壳体内。

7.根据权利要求2所述的测井设备，其特征在于，所述电极测井装置包括：

发射电极，用于发射探测电流；

测量电极组，包括多个测量电极，每个所述测量电极分别用于接收所述探测地层响应所述探测电流形成的反馈信号；

测量电路，分别与每个所述测量电极建立连接，所述测量电路用于测量相邻两个所述测量电极之间的所述反馈信号的电位差；

接收电极，连接于所述测量电路与所述采集电路之间，用于接收所述测量电路测量的所述电位差，并将所述电位差作为所述电阻率信号发送给所述采集电路。

8.根据权利要求7所述的测井设备，其特征在于，所述电极测井装置还包括：

第二壳体，所述发射电极、所述测量电极以及所述接收电极依次设置在所述第二壳体内。

9.根据权利要求2所述的测井设备，其特征在于，所述处理器包括：

刻度校正仪，与所述采集电路连接，用于将所述电导率信号和所述电阻率信号进行刻度处理得到电导率曲线和电阻率曲线；

反演计算器，与所述刻度校正仪连接，用于对所述电导率曲线和所述电阻率曲线进行反演计算得到地层电阻率剖面；

正演计算器，与所述反演计算器连接，用于对所述地层电阻率剖面进行正演计算得到正演电阻率曲线和正演电导率曲线；

作差器，与所述正演计算器连接，用于计算所述正演电阻率曲线与所述电阻率曲线的第一差值和所述正演电导率曲线与所述电导率曲线的第二差值；

比较器，与所述正演计算器连接，用于根据所述第一差值和第二差值确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线；

地层曲线计算器，与所述比较器连接，用于使用所述第一阵列响应曲线、所述第二阵列响应曲线以及所述地层电阻率剖面进行合成聚焦处理得到所述地层特性数据。

10.一种测井方法，其特征在于，包括：

获取探测地层的电导率信号和所述探测地层的电阻率信号；

根据所述电导率信号和所述电阻率信号获取所述探测地层的地层特性数据。

11.根据权利要求10所述的测井方法，其特征在于，根据所述电导率信号和所述电阻率信号获取所述探测地层的地层特性数据的步骤包括：

将所述电导率信号和所述电阻率信号进行刻度处理得到电导率曲线和电阻率曲线；

对所述电导率曲线和所述电阻率曲线进行反演计算得到地层电阻率剖面；

对所述地层电阻率剖面进行正演计算得到正演电阻率曲线和正演电导率曲线；

计算所述正演电阻率曲线与所述电阻率曲线的第一差值和所述正演电导率曲线与所述电导率曲线的第二差值；

根据所述第一差值和第二差值确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线；

将所述第一阵列响应曲线和所述第二阵列响应曲线进行合成聚焦处理得到所述地层特性数据中的阵列感应测井响应曲线；

使用所述地层电阻率剖面计算所述地层特性数据中的阵列侧向响应曲线。

12.根据权利要求11所述的测井方法，其特征在于，根据所述第一差值和第二差值确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线的步骤包括：

在所述第一差值大于预设阈值的情况下，将所述正演电阻率曲线作为所述第一阵列响应曲线；

在所述第一差值小于所述预设阈值的情况下，将所述电阻率曲线作为所述第一阵列响应曲线；

在所述第二差值大于所述预设阈值的情况下，将所述正演电导率曲线作为所述第二阵列响应曲线；

在所述第二差值小于所述预设阈值的情况下，将所述电导率曲线作为所述第二阵列响应曲线。

13.一种测井装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取探测地层的电导率信号和所述探测地层的电阻率信号；

处理模块，用于根据所述电导率信号和所述电阻率信号获取所述探测地层的地层特性数据。

14.根据权利要求13所述的测井装置，其特征在于，所述处理模块包括：

刻度处理模块，用于将所述电导率信号和所述电阻率信号进行刻度处理得到电导率曲线和电阻率曲线；

反演计算模块，用于对所述电导率曲线和所述电阻率曲线进行反演计算得到地层电阻率剖面；

正演计算模块，用于对所述地层电阻率剖面进行正演计算得到正演电阻率曲线和正演电导率曲线；

差值计算模块，用于计算所述正演电阻率曲线与所述电阻率曲线的第一差值和所述正演电导率曲线与所述电导率曲线的第二差值；

确定模块，用于根据所述第一差值和第二差值确定第一阵列响应曲线和第二阵列响应曲线；

合成聚焦模块，用于将所述第一阵列响应曲线和所述第二阵列响应曲线进行合成聚焦处理得到所述地层特性数据中的阵列感应测井响应曲线；

侧向曲线计算模块，用于使用所述地层电阻率剖面计算所述地层特性数据中的阵列侧向响应曲线。

15.根据权利要求14所述的测井装置，其特征在于，所述确定模块包括：

第一确定子模块，用于在所述第一差值大于预设阈值的情况下，将所述正演电阻率曲线作为所述第一阵列响应曲线；

第二确定子模块，用于在所述第一差值小于所述预设阈值的情况下，将所述电阻率曲线作为所述第一阵列响应曲线；

第三确定子模块，用于在所述第二差值大于所述预设阈值的情况下，将所述正演电导率曲线作为所述第二阵列响应曲线；

第四确定子模块，用于在所述第二差值小于所述预设阈值的情况下，将所述电导率曲线作为所述第二阵列响应曲线。

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