CN103471724A - 测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪 - Google Patents

测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪 Download PDF

Info

Publication number
CN103471724A
CN103471724A CN2013104197368A CN201310419736A CN103471724A CN 103471724 A CN103471724 A CN 103471724A CN 2013104197368 A CN2013104197368 A CN 2013104197368A CN 201310419736 A CN201310419736 A CN 201310419736A CN 103471724 A CN103471724 A CN 103471724A
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
angle prism
beam splitter
trapezoidal
imageing sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2013104197368A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103471724B (zh
Inventor
周健
鲁伟
马小平
孙建锋
孙志伟
刘立人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS
Original Assignee
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS filed Critical Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics of CAS
Priority to CN201310419736.8A priority Critical patent/CN103471724B/zh
Publication of CN103471724A publication Critical patent/CN103471724A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103471724B publication Critical patent/CN103471724B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

一种测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪,用于对复杂波面进行波面检测,由分束单元、x方向剪切干涉单元、y方向剪切干涉单元、第一图像传感器、第二图像传感器和计算机构成。本发明采用直角棱镜实现光束x方向剪切,梯形直角棱镜实现y方向剪切,利用移动平台实现剪切量大小的调整。具有结构简单紧凑、在同一平台进行操作、剪切量可调的优点。

Description

测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪
技术领域
本发明涉及横向剪切干涉仪,特别是一种用于测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪。
背景技术
现有的波前测量技术主要有:由光束波前斜率来反演波前的夏克-哈特曼波前传感器、由光束波前曲率来反演波前的曲率波前传感器、由光束的聚焦光斑来反演波前的线性相位波前传感器、由光束产生的干涉条纹来反演波前的剪切干涉仪。剪切干涉仪又包含有径向剪切干涉仪和横向剪切干涉仪,其由于不需要引入参考波面,结构简单,被广泛采用。
在先技术[1](Murty,M.V.R.K."A compact lateral shearing interferometer based on theMichelson interferometer."Applied Optics9.5:1146-1148(1970))利用分束器实现光束剪切干涉,但无法在同一水平平台上搭建剪切方向互相垂直的两路干涉仪。
在先技术[2](Hii,King Ung,and Kuan Hiang Kwek."Dual-prism interferometer for collimationtesting."Applied Optics48.2:397-400(2009))利用双直角棱镜实现光束剪切干涉,但未给出两垂直方向上的剪切干涉测量方法,即无法对非轴对称波面进行测量。
发明内容
本发明的目的在于克服上述现有技术的不足,给出一种测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪。该干涉仪引入梯形直角棱镜进行垂直方向的光束剪切,同时得到x方向和y方向两方向上的剪切干涉图。具有在同一平面进行操作,结构简单,且剪切量大小可调的优点。
本发明的技术解决方案如下:
一种测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪,其特点在于该干涉仪由分束单元、x方向剪切干涉单元、y方向剪切干涉单元、第一图像传感器、第二图像传感器和计算机构成,所述分束单元包括光阑、第一分束器、平行平板和反射镜,所述的x方向剪切干涉单元包括第二分束器、第一直角棱镜、第二直角棱镜、水平移动平台,所述的第一直角棱镜位于所述的水平移动平台上,所述的y方向剪切干涉单元包括第三分束器、第一梯形直角棱镜、第二梯形直角棱镜、垂直轴移动平台,所述的第一梯形直角棱镜和第二梯形直角棱镜的结构相同,由两块直角棱镜胶合而成,在第二梯形直角棱镜的顶面镀反射膜,所述的第一梯形直角棱镜位于所述的垂直轴移动平台上;
沿入射光方向依次是所述的光阑和第一分束器,第一分束器将入射光分为反射光和透射光:
所述的反射光经所述的平行平板射入所述的x方向剪切干涉单元的第二分束器,该第二分束器将入射光再分为再反射光和再透射光,在该再反射光方向是第一直角棱镜,在该再透射光方向是第二直角棱镜,由所述的第一直角棱镜和第二直角棱镜返回的光束经第二分束器合束,移动水平移动平台,两光束在水平方向有光束移动,光束移动导致的光波前有x方向剪切量s,两光波前就可以相干,x方向剪切干涉图由所述的第一图像传感器接收;所述的透射光经所述的反射镜反射后射入所述的y方向剪切干涉单元包括第三分束器,该第三分束器将入射光再分为再反射光和再透射光,该再透射光经第一梯形直角棱镜返回第三分束器,该再反射光经第二梯形直角棱镜返回第三分束器,由第三分束器进行合束,移动垂直轴平台,两光束在垂直方向有光束相对移动,光束移动导致光波前有y方向剪切量s’,两光波前就可以相干,y方向剪切干涉图由所述的第二图像传感器接收;
所述的第一图像传感器和第二图像传感器的输出端与所述的计算机的输入端相连。
计算机(6)利用x方向剪切干涉图、y方向剪切干涉图和光波前重建算法,参见在先技术[3](Fried,David L."Optical heterodyne detection of an atmospherically distortedsignal wave front."Proceedings of the IEEE55.1:57-77(1967)),即可获得被测非轴对称波面的波前面形。
实验表面,本发明引入梯形直角棱镜进行垂直方向的光束剪切,同时得到x方向和y方向两方向上的剪切干涉图。具有在同一平面进行操作,结构简单,且剪切量大小可调的优点。
附图说明
图1是本发明测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪的光路示意图。
图2是本发明中梯形直角棱镜的结构简图。
图3是本发明中移动移动平台调节剪切量的光路示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步详细说明,但不应以此限制本发明的保护范围。
先请参阅图1,图1为本发明测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪的光路示意图。由图1可见,本发明测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪,由分束单元1、x方向剪切干涉单元2、y方向剪切干涉单元3、第一图像传感器4、第二图像传感器5和计算机6构成,所述分束单元1包括光阑101、第一分束器102、平行平板3和反射镜4,所述的x方向剪切干涉单元2包括第二分束器201、第一直角棱镜202、第二直角棱镜203、水平移动平台204,所述的第一直角棱镜202位于所述的水平移动平台204上,所述的y方向剪切干涉单元3包括第三分束器301、第一梯形直角棱镜302、第二梯形直角棱镜303和垂直轴移动平台304,所述的第一梯形直角棱镜302和第二梯形直角棱镜303的结构相同,由两块直角棱镜胶合而成,在第二梯形直角棱镜303的顶面303a镀反射膜,所述的第一梯形直角棱镜302位于所述的垂直轴移动平台304上;
沿入射光方向依次是所述的光阑101和第一分束器102,第一分束器102将入射光分为反射光和透射光:
所述的反射光经所述的平行平板3射入所述的x方向剪切干涉单元2的第二分束器201,该第二分束器201将入射光再分为再反射光和再透射光,在该再反射光方向是第一直角棱镜202,在该再透射光方向是第二直角棱镜203,由所述的第一直角棱镜202和第二直角棱镜203返回的光束经第二分束器201合束,移动水平移动平台204获得两光波前在x方向的剪切量s,两光波前相干后得到的x方向剪切干涉图由所述的第一图像传感器4接收;所述的透射光经所述的反射镜4反射后射入所述的y方向剪切干涉单元3的第三分束器301,该第三分束器301将入射光分为再反射光和再透射光,该再透射光经第一梯形直角棱镜302返回第三分束器301,该再反射光经第二梯形直角棱镜303返回第三分束器301,两光束在第三分束器301合束,移动垂直轴平台304获得两光波前在y方向的剪切量s’,两光波前相干后得到的y方向剪切干涉图由所述的第二图像传感器5接收;
所述的第一图像传感器4和第二图像传感器5的输出端与所述的计算机6的输入端相连。
通过移动水平移动平台204可得到不同大小的x方向剪切量,其x方向剪切干涉图通过第一图像传感器4接收并传入到所述的计算机6,所述y方向剪切干涉单元3的第二梯形直角棱镜303结构请参阅图2,由两块直角棱镜胶合而成,在第二梯形直角棱镜303的梯形顶面303a镀反射膜。所述的第三分束器将光分成两路,分别通过第一梯形直角棱镜302和第二梯形直角棱镜303,通过移动垂直轴移动平台304可得到不同大小的y方向剪切量,其y方向剪切干涉图通过第一图像传感器5接收并传入到所述的计算机6。参阅图3,所述的移动平台移动d距离时,剪切量大小增加2d距离。计算机6利用x方向剪切干涉图、y方向剪切干涉图和光波前重建算法,即可获得被测非轴对称波面的波前面形。

Claims (1)

1.一种测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪,其特征在于该干涉仪由分束单元(1)、x方向剪切干涉单元(2)、y方向剪切干涉单元(3)、第一图像传感器(4)、第二图像传感器(5)和计算机(6)构成,所述分束单元(1)包括光阑(101)、第一分束器(102)、平行平板(3)和反射镜(4),所述的x方向剪切干涉单元(2)包括第二分束器(201)、第一直角棱镜(202)、第二直角棱镜(203)、水平移动平台(204),所述的第一直角棱镜(202)位于所述的水平移动平台(204)上,所述的y方向剪切干涉单元(3)包括第三分束器(301)、第一梯形直角棱镜(302)、第二梯形直角棱镜(303)、垂直轴移动平台(304),所述的第一梯形直角棱镜(302)和第二梯形直角棱镜(303)、的结构相同,由两块直角棱镜胶合而成,在第二梯形直角棱镜(303)的顶面(303a)镀反射膜,所述的第一梯形直角棱镜(302)位于所述的垂直轴移动平台(304)上;
沿入射光方向依次是所述的光阑(101)和第一分束器(102),第一分束器(102)将入射光分为反射光和透射光:
所述的反射光经所述的平行平板(3)射入所述的x方向剪切干涉单元(2)的第二分束器(201),该第二分束器(201)将入射光再分为再反射光和再透射光,在该再反射光方向是第一直角棱镜(202),在该再透射光方向是第二直角棱镜(203),由所述的第一直角棱镜(202)和第二直角棱镜(203)返回的光束来自同一分束器(201),所以两光束的光波前相同,两光束再经第二分束器(201)合束,当两直角棱镜(202)和(203)的棱(202L)和(203L)都在分束器(201)相对平面的竖直中心线对应的法平面上时,两返回光束完全重合,此时不发生光波前的干涉,移动水平移动平台(204),则两返回光束将在水平x方向上错开一个距离s,当s小于光束直径时,在两光束的重叠区域,两束光波前将发生相干,干涉图是由同一光束分成的两束光通过在水平x方向上错开一个剪切量s得到的光波前的x方向剪切干涉图像,干涉图由所述的第一图像传感器(4)接收;所述的透射光经所述的反射镜(4)反射后射入所述的y方向剪切干涉单元(3)的第三分束器(301),该第三分束器(301)将入射光分为再反射光和再透射光,该再透射光经第一梯形直角棱镜(302)返回第三分束器(301),该再反射光经第二梯形直角棱镜(303)返回第三分束器(301),由所述的第一梯形直角棱镜(302)和第二梯形直角棱镜(303)返回的光束来自同一分束器(301),所以两光束的光波前相同,两光束再经第三分束器(301)合束,当两梯形直角棱镜(302)和(303)的棱(302L)和(303L)都在分束器(301)相对平面的水平中心线对应的法平面上时,两返回光束完全重合,此时不发生光波前的干涉,移动垂直移动平台(304),则两返回光束将在垂直y方向上错开一个距离s’,当s’小于光束直径时,在两光束的重叠区域,两束光波前将发生相干,干涉图是由同一光束分成的两束光通过在垂直y方向上错开一个剪切量s得到的光波前的y方向剪切干涉图像,干涉图由所述的第二图像传感器(5)接收;
所述的第一图像传感器(4)和第二图像传感器(5)的输出端与所述的计算机(6)的输入端相连。
CN201310419736.8A 2013-09-16 2013-09-16 测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪 Active CN103471724B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310419736.8A CN103471724B (zh) 2013-09-16 2013-09-16 测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310419736.8A CN103471724B (zh) 2013-09-16 2013-09-16 测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103471724A true CN103471724A (zh) 2013-12-25
CN103471724B CN103471724B (zh) 2016-07-06

Family

ID=49796667

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310419736.8A Active CN103471724B (zh) 2013-09-16 2013-09-16 测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103471724B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110530530A (zh) * 2018-05-23 2019-12-03 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种波前提取算法及采用该算法的剪切干涉仪
CN110927984A (zh) * 2019-11-18 2020-03-27 中国科学院上海光学精密机械研究所 一种可调的横向错位激光分束/合束器
US10830641B2 (en) 2018-07-17 2020-11-10 Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co., Ltd. Compact spectrometer having reflective wedge structure

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63140934A (ja) * 1986-12-03 1988-06-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd シエアリング干渉縞解析方法
US20080174786A1 (en) * 2007-01-04 2008-07-24 Hideo Takizawa Phase shift amount measurement apparatus and transmittance measurement apparatus
CN202329812U (zh) * 2011-12-09 2012-07-11 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种可变光程数的多光程干涉仪
CN103033272A (zh) * 2012-12-21 2013-04-10 南京信息工程大学 一种同步移相横向剪切干涉仪及检测方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63140934A (ja) * 1986-12-03 1988-06-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd シエアリング干渉縞解析方法
US20080174786A1 (en) * 2007-01-04 2008-07-24 Hideo Takizawa Phase shift amount measurement apparatus and transmittance measurement apparatus
CN202329812U (zh) * 2011-12-09 2012-07-11 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种可变光程数的多光程干涉仪
CN103033272A (zh) * 2012-12-21 2013-04-10 南京信息工程大学 一种同步移相横向剪切干涉仪及检测方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
KING UNG HII ET AL.: "Dual-prism interferometer for collimation testing", 《APPLIED OPTICS》 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110530530A (zh) * 2018-05-23 2019-12-03 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种波前提取算法及采用该算法的剪切干涉仪
CN110530530B (zh) * 2018-05-23 2021-01-15 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种波前提取算法及采用该算法的剪切干涉仪
US10830641B2 (en) 2018-07-17 2020-11-10 Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co., Ltd. Compact spectrometer having reflective wedge structure
CN110927984A (zh) * 2019-11-18 2020-03-27 中国科学院上海光学精密机械研究所 一种可调的横向错位激光分束/合束器

Also Published As

Publication number Publication date
CN103471724B (zh) 2016-07-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102944169B (zh) 一种同步偏振相移干涉仪
CN104296677B (zh) 基于低频差声光移频器移相的共光路外差干涉仪
CN107764203B (zh) 基于部分补偿法的双波长相移干涉非球面测量方法及装置
CN103344176B (zh) 一种用于球面形貌特征检测的倍程式短相干瞬时移相干涉测量仪及测量方法
CN104296678B (zh) 基于低频差声光移频器移相的外差干涉仪
CN103454249B (zh) 基于白光干涉的光学玻璃均匀性检测方法及装置
CN105675262A (zh) 大口径高平行度光学元件波前检测装置
CN101629810A (zh) 一种特殊几何点位移的光学倍频激光干涉测量系统及方法
CN102706282A (zh) 一种激光干涉测距仪
CN104697465A (zh) 椭球面的无像差绝对检验方法
CN105203031A (zh) 四倍光学细分的两轴外差光栅干涉仪
CN103162616A (zh) 用于微球表面形貌检测的瞬时移相干涉测量仪及采用该测量仪实现微球表面形貌的测量方法
CN103033260A (zh) 基于波面分割及离焦的相位恢复波前分析仪及其分析方法
CN103743336B (zh) 基于直角棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置
CN104006739B (zh) 一种光学八细分线性干涉仪
CN105044035A (zh) 基于谱域干涉仪的折射率和厚度同步测量方法与系统
CN203687880U (zh) 一种光学位移测量系统
CN103528539A (zh) 基于点源阵列的非零位干涉系统
CN105352915A (zh) 一种折射率二维分布的动态测量方法
CN103471724A (zh) 测量非轴对称波面的横向剪切干涉仪
CN102865820B (zh) 基于光路补偿的激光外差干涉测量方法与装置
CN104154876B (zh) 用于45度平面镜面形检测的子孔径拼接测量装置与方法
CN105784129A (zh) 一种用于激光波前检测的低频外差干涉仪
CN102519375B (zh) 基于光循环与谱域载频的超大量程间距测量系统
CN205003080U (zh) 基于谱域干涉仪的折射率和厚度同步测量系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant