CN103438799A - 试样缺陷识别系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种试样缺陷识别系统。该试样缺陷识别系统，包括：基座，基座具有用于放置试样的定样部位；设置于基座上的支架，支架包括有支寸架臂，支架臂具有端环；能够形成稳定光场的光源部件，光源部件设置于支架臂上，并位于定样部位的上侧；用于采集部件参量信息的图形采集组件，图形采集组件安装于端环内；用于接收图形采集组件发出的信号并与图像分析设备连通的通信组件，通信组件设置于基座内部。本发明提供的试样缺陷识别系统适用于各种冲击试样的部件缺口微观尺的检测。
Description
技术领域
本发明涉及部件试验缺陷识别分析设备技术领域，更具体地说，涉及一种试样缺陷识别系统。
背景技术
试样缺陷识别系统可用于部件缺口工艺制备之后对其缺口图像进行检测并输出缺口尺寸信息，以测定部件制备是否合乎预设标准。
现有的试样缺陷识别系统大多仅能就部件缺口的尺寸进行实际的测量，而不能测定和输出部件缺口其他参量的信息，从而对于部件信息全面地获取存在技术需求。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种试样缺陷识别系统，以实现对部件信息全面获取的技术效果。
本发明实施例提供了一种试样缺陷识别系统，包括：基座，所述基座具有用于放置试样的定样部位；设置于所述基座上的支架，所述支架包括有支架臂，所述支架臂具有端环；能够形成稳定光场的光源部件，所述光源部件设置于所述支架臂上，并位于所述定样部位的上侧；用于采集所述部件参量信息的图形采集组件，所述图形采集组件安装于所述端环内；用于接收所述图形采集组件发出的信号并与图像分析设备连通的所述通信组件，所述通信组件设置于所述基座内部。
优选地，所述光源部件包括LED发光二极管。
优选地，所述光源部件固定于所述端环的下方。
优选地，所述图形采集组件包括：变倍放大镜头、工业摄像机和成像芯片，所述变倍放大镜头设置于所述工业摄像机上，所述工业摄像机与所述成像芯片信号连接。
优选地，所述基座的定样部位包括与试样形状相吻合的靠山台，所述靠山台设置于所述基座的上侧。
优选地，本发明还包括：套装在所述试样缺陷识别系统外围的电磁防尘罩。
优选地，本发明还包括设置于所述基座底部的防震橡胶块。
所述试样缺陷识别系统适用于各种冲击试样的部件缺口微观尺寸的检测，试样材料诸如：塑料、橡胶、金属、陶瓷、木材、复合板材、胶黏剂等。部件经过缺口工艺制备之后，采用图形采集组件采集样品缺口表面图像，并模糊聚类有效点集并全面识别缺口的顶端曲率半径、缺口斜率、角度、宽度等参量信息，更为深入地，可根据标准样标定产生的虚拟标准样图形和虚拟误差轮廓图形，判定部件加工合格性，以及在所述图像分析设备中进行存储，便于参量信息的回溯。
附图说明
图1为本发明一种实施例中试样缺陷识别系统的结构示意图；
图1中部件名称与附图标记的对应关系为：
基座1、支架2、支架臂3、图形采集组件4。
具体实施方式
下面通过具体的实施例子并结合附图对本发明做进一步的详细描述。
本发明实施例公开了一种试样缺陷识别系统，以实现对部件信息全面获取的技术效果。
请参考图1，图1为本发明一种实施例中试样缺陷识别系统的结构示意图。
在本发明的一个具体实施方式中，试样缺陷识别系统，包括：基座1，基座1具有用于放置试样的定样部位；设置于基座1上的支架2，支架2包括有支架臂3，支架臂3具有端环；能够形成稳定光场的光源部件，光源部件设置于支架臂3上，并位于定样部位的上侧；用于采集部件参量信息的图形采集组件4，图形采集组件4安装于端环内；用于接收图形采集组件4发出的信号并与图像分析设备连通的通信组件，通信组件设置于基座1的内部。
图形采集组件包括：
光源部件可利用LED发光二极管实现，通过设计人员的结构设计，能够使得LED发光二极管形成为斜顶光场环境，避免缺口在内的凹凸干扰部件缺口轮廓形成投影，影响后续分析的精度；
在本发明的一个具体实施方式中，图形采集组件4包括：变倍放大镜头、工业摄像机和成像芯片，变倍放大镜头设置于工业摄像机上，工业摄像机与成像芯片信号连接。
具体地，变倍放大镜头可选用0.75-5倍的镜头，工业摄像机可选用130万的像素，成像芯片可选用CMOS芯片；
另外需要指出的是，图像分析设备可通过笔记本电脑等终端等实现，通信模块可以是USB接口、无线模块等，与图像分析设备进行连通和数据交互。
基座1的定样部位包括：靠山台，靠山台可以减少操作者繁琐的水平横向和纵向的精细调整等工作，靠山可设置匹配部件缺口的凸起，在检测中直接将部件缺口依托在靠山台的凸起尖端处并进行图像采集。
为了增加试样缺陷识别系统的设置合理性，光源部件固定于端环的下方，即：在LED灯源光场中进行部件的拍摄和成像。
试样缺陷识别系统适用于各种冲击试样的部件缺口微观尺寸的检测，试样材料诸如：塑料、橡胶、金属、陶瓷、木材、复合板材、胶黏剂等。部件经过缺口工艺制备之后，采用图形采集组件采集样品缺口表面图像，并模糊聚类有效点集并全面识别缺口的顶端曲率半径、缺口斜率、角度、宽度等参量信息，更为深入地，可根据标准样标定产生的虚拟标准样图形和虚拟误差轮廓图形，判定部件加工合格性，以及在图像分析设备中进行存储，便于参量信息的回溯。
在上述结构的基础上，本发明还包括：套装在试样缺陷识别系统外围的电磁防尘罩。电磁防尘罩能够阻挡外界的机械干扰、热力辐射和灰尘进入。
防震橡胶块设置于基座1的底部，避免振动对测试过程的影响。
综上：
本发明实施例中的试样缺陷识别系统将通过支架臂3固定光源部件和图像采集模块，实现对部件的相应部位进行拍摄和成像，并将计算得到的部件的各种参量信息传输至图像分析设备中进行显示和后续分析，达到全面地获取部件参量信息的技术目的。
本发明的一个具体实施例：
1、工业视觉摄像系统；
采用130万像素的成像系统，空间分辨率一致，工作性能稳定，密封可靠性能好，能在恶劣的环境下连续使用，寿命长，维护简单。仪器周围有保护罩以阻挡外界的机械干扰、热力辐射和灰尘进入。
2、工业视觉光学系统；
采用变倍放大镜头，以保证在合适的清晰度范围内，最大限度捕捉缺口样图像，以满足后期尺寸识别的精度要求。
3、计算机处理系统；
采用笔记本电脑，进行图像的显示、分析、结果表达、报告形成、信息存储、信息通信等用途。电脑分立于缺口摄像系统，通过USB接口进行数据通信。在扩展的系列中（备选），采用封闭式、终端型、一体化工业设计，电脑和摄像系统集成在一个空间中，方便操作、管理和安置。
4、LED灯源光场；
采用LED冷光源，建设斜顶入射光场，避免缺口内在凹凸干扰缺口轮廓在成像CMOS芯片上的投影成像，影响后继图像分析的尺寸精度。
5、样品靠山台；
为了方便检测人员的操作，避免繁琐的水平横向和纵向的精细调整，依据缺口形式，设置了匹配缺口的凸起的靠山台，在检测中直接将样品依托在靠山台的凸起尖端处，就可以进行图像采集了。
6、仪器的基座1和支架2；
基座1和支架2为不锈钢结构，非常耐用、结实。基座1的四角安置了厚实的橡胶垫以尽可能避免振动对测试过程的影响。
以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种试样缺陷识别系统，其特征在于，包括：
基座，所述基座具有用于放置试样的定样部位；
设置于所述基座上的支架，所述支架包括有支架臂，所述支架臂具有端环；
能够形成稳定光场的光源部件，所述光源部件设置于所述支架臂上，并位于所述定样部位的上侧；
用于采集部件参量信息的图形采集组件，所述图形采集组件安装于所述端环内；
用于接收所述图形采集组件发出的信号并与图像分析设备连通的通信组件，所述通信组件设置于所述基座内部。
2.如权利要求1所述的试样缺陷识别系统，其特征在于，所述光源部件包括LED发光二极管。
3.如权利要求1所述的试样缺陷识别系统，其特征在于，所述光源部件固定于所述端环的下方。
4.如权利要求1所述的试样缺陷识别系统，其特征在于，所述图形采集组件包括：变倍放大镜头、工业摄像机和成像芯片，所述变倍放大镜头设置于所述工业摄像机上，所述工业摄像机与所述成像芯片信号连接。
5.如权利要求1所述的试样缺陷识别系统，其特征在于，所述基座的定样部位包括与试样形状相吻合的靠山台，所述靠山台设置于所述基座的上侧。
6.如权利要求1所述的试样缺陷识别系统，其特征在于，还包括：
套装在所述试样缺陷识别系统外围的电磁防尘罩。
7.如权利要求1所述的试样缺陷识别系统，其特征在于，还包括：
设置于所述基座底部的防震橡胶块。
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| CN2013103800589A CN103438799A (zh) | 2013-08-27 | 2013-08-27 | 试样缺陷识别系统 |
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2013
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