CN103424185A - 自动校正误差的检测系统及方法 - Google Patents

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Abstract

一种自动校正误差的检测系统及方法,该检测系统包含一个输入源及二个感测电路;该检测方法首先令输入源输出一个输入信号,使这些感测电路接收输入信号并分别根据输入信号产生一个感测信号,接着令其中一个感测电路将其产生的感测信号传送至另一个控制模块,并令另一个感测电路针对其本身所产生的感测信号与所接收到的感测信号进行误差运算,以产生一个用于校正这些感测模块之间误差的校正信号,最后令另一个感测电路储存校正信号,使各个感测电路在进行感测时,可根据该校正信号进行补偿校正,进而使每个感测电路的效能达到一致,且通过差动的方式,能将外在变异因素所造成的影响降至最低,以提高检测的精确性,同时也降低了测试时间及成本。

Description

自动校正误差的检测系统及方法
技术领域
本发明涉及一种检测系统,特别是涉及一种自动校正误差的检测系统。
背景技术
参阅图1,为目前常见的光感测器检测系统900,其中包括一个测试机台910、一个发光二极管光源920及一个光感测器(光传感器)930。光源920会向光感测器930发出一个光信号,使得光感测器930感测该光信号,并将感测结果回传至测试机台910,以进行后续的分析及检测。
但是,在检测的过程中,外在变异因素的干扰,例如:光源920强度的改变、供应电源的偏移、噪声的干扰等,往往会影响检测的精确性,且在目前的检测系统900中,又是仅针对单一光感测器930单独进行检测,导致同次出产的多个光感测器930的效能不同,进低光感测器930效能的一致性。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可以提高产品效能一致性的自动校正误差的检测系统。本发明的自动校正误差的检测系统,包含:
一个输入源,用于输出一个输入信号;及
二个感测电路,各该感测电路包括一个感测模块、一个电连接该感测模块的控制模块、一个电连接该控制模块的信号收发模块,及一个电连接该控制模块的储存模块;
各该感测模块接收该输入信号并根据该输入信号产生一个感测信号,且其中一个感测电路中的控制模块将该感测信号通过该信号收发模块传送至另一个控制模块,该另一个感测电路中的控制模块针对其本身感测模块所产生的感测信号与所接收到的感测信号进行误差运算,并产生一个用于校正这些感测模块之间误差的校正信号,且将该校正信号储存于该储存模块。
更详细地说,另一个感测电路中的控制模块是针对其本身感测模块所产生的感测信号与所接收到的感测信号之间的偏移量(offset)及增益误差(gain error)进行运算,以产生该校正信号。
各个感测模块还包括一个电连接感测模块及控制模块之间的转换模块,转换模块较佳地为一个模拟数字转换器(Analog to Digital Converter,ADC),用于将各个感测信号转换成一个数字信号。
较佳地,本自动校正误差的检测系统中,输入源为一个光源,其所输出的输入信号为一个光信号,各个感测电路为一个光感测器。
另外,本自动校正误差的检测系统也可以包含一个用于输出一个输入信号的输入源、一个检测机台及二个感测电路。这些感测电路电连接检测机台并同时接收输入信号,这些感测电路分别根据输入信号产生一个感测信号,并分别将感测信号传送至检测机台,检测机台针对这些感测信号进行误差运算,以产生一个用于校正这些感测模块之间误差的校正信号,并将该校正信号回存至其中一个感测电路中。
详细来说,各个感测电路包括一个感测模块、一个电连接感测模块的信号收发模块,及一个电连接信号收发模块的储存模块。感测模块接收输入信号并根据该输入信号产生感测信号,信号收发模块将感测信号传送至检测机台,当检测机台运算产生校正信号后,信号收发模块接收校正信号,并将该校正信号储存至储存模块中。
然而,检测机台是针对这些感测信号之间的偏移量及增益误差进行运算,以产生该校正信号。
本发明的另一目的在于提供一种可以提高检测的精确性及产品效能一致性的自动校正误差的检测方法。本发明的自动校正误差的检测方法,于一个检测系统中执行,且检测系统包含一个输入源及二个感测电路;本检测方法包含以下步骤:
(A)令输入源输出一个输入信号;
(B)令这些感测电路接收输入信号并分别根据输入信号产生一个感测信号;
(C)令其中一个感测电路将其产生的感测信号传送至另一个控制模块;
(D)令另一个感测电路针对其本身所产生的感测信号与所接收到的感测信号进行误差运算,并产生一个用于校正这些感测模块之间误差的校正信号;及
(E)令另一个感测电路储存校正信号。
较佳地,步骤(D)是针对这些感测信号之间的偏移量及增益误差进行运算,以产生该校正信号。
另外,本自动校正误差的检测方法也可以于一个包含一个输入源、二个感测电路及一个检测机台的检测系统中;本检测方法包含以下步骤:
(A)令输入源输出一个输入信号;
(B)令这些感测电路接收该输入信号并分别根据输入信号产生一个感测信号;
(C)令这些感测电路将其产生的感测信号传送至检测机台;
(D)令检测机台针对接收到的这些感测信号进行误差运算,并产生一个用于校正这些感测模块之间误差的校正信号;及
(E)令检测机台将校正信号回存至其中一个感测电路中。
本发明的有益效果在于:可以提高产品效能的一致性,且通过差动信号的处理方式,能将外在变异因素所造成的影响降至最低,以提高检测的精确性,同时也降低了测试时间及成本。
附图说明
图1是目前现有的检测系统的示意图;
图2是本发明第一实施例的自动校正误差的检测系统的示意图;
图3是本发明第一实施例的自动校正误差的检测方法的流程图;
图4是本发明第二实施例的自动校正误差的检测系统的示意图;
图5是说明本发明第二实施例的自动校正误差的检测方法的流程图。
具体实施方式
为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明。首先需要说明的是,本发明并不限于下述具体实施方式,本领域的技术人员应该从下述实施方式所体现的精神来理解本发明,各技术术语可以基于本发明的精神实质来作最宽泛的理解。图中相同或相似的构件采用相同的附图标记表示。
参阅图2,图中所示为本发明自动校正误差的检测系统100的第一实施例,该测试系统100包含一个输入源10以及多数个感测电路20(本实施例以二个说明)。本发明测试系统100是利用将其中一个感测电路20视为参考(标准)(standard)感测电路,其余的感测电路20则视为待校正感测电路,且通过差动(differential)信号的处理方式,将每个待校正感测电路的输出值分别与标准感测电路的输出值进行误差运算,以运算出对应的校正值,再将每个运算出来的校正值分别储存至对应的待校正感测电路,如此将可使每个感测电路20的效能达到更精准的一致性。
在本实施例中,输入源10为一个发光二极管光源,但不局限于此,其也可以是任何一种光源或是能量源。
各该感测电路20为一个光感测器(光传感器)(light sensor),且每一个感测电路20皆包括一个感测模块21、一个电连接感测模块21的转换模块22、一个电连接转换模块22的控制模块23、一个电连接控制模块23的信号收发模块24,及一个电连接控制模块23的储存模块25。感测模块21用于接收输入源10,并根据输入源10(光源)所输出的一个输入信号(光信号)产生一个感测信号;转换模块22为一模拟数字转换器(Analog to Digital Converter,ADC),用于将感测模块21所产生的感测信号转换成数字信号;控制模块23为一微处理器(MCU),用于控制各个模块的运作,以及进行校正误差的运算;信号收发模块24用于通过无线的方式(例如:红外线、蓝芽(bluetooth)、Wi-fi等)传送与接收信号,当然也可以利用有线的方式传送与接收信号,并不以此为限;储存模块25用于储存控制模块23进行校正误差的运算后的相关参数或设定。
配合参阅图3,以下将详细说明本自动校正误差的检测系统100进行误差校正的细部流程。为了便于说明,以下将其中一个感测电路20定义为参考(标准)感测电路201,其中另一个感测电路20定义为待校正感测电路202。
步骤S 11,输入源10(光源)输出一个输入信号(光信号)。
步骤S12,待校正感测电路202的感测模块21接收该输入信号并根据输入信号产生一个第一感测信号。
步骤S13,待校正感测电路202的转换模块22将该第一感测信号转换成一个第一数字感测信号。
步骤S14,参考感测电路201的感测模块21接收该输入信号并根据输入信号产生一个第二感测信号。
步骤S15,参考感测电路201的转换模块22将该第二感测信号转换成一个第二数字感测信号。特别说明的是,步骤S12和步骤S14,以及步骤S13和步骤S15可同步进行,也就是说参考感测电路201的感测模块21以及待校正感测电路202的感测模块21是在同一时间处于同一个外在环境下进行光感测。
步骤S16,参考感测电路201的控制模块23将第二数字感测信号通过信号收发模块24传送至待校正感测电路202。
步骤S17,待校正感测电路202的控制模块23针对其本身所产生的第一数字感测信号与参考感测电路201所产生的第二数字感测信号进行误差运算,并产生一个用于校正二感测模块21之间误差的校正信号。在本实施例中,待校正感测电路202的控制模块23是针对其本身感测模块21所产生的感测信号与所接收到的感测信号之间的偏移量(offset)及增益误差(gain error)进行运算,以产生校正信号。
步骤S18,待校正感测电路202的控制模块23将校正信号储存于储存模块25中,使得待校正感测电路202在进行光感测时,可以根据该校正信号进行补偿校正,进而使每个感测电路20的效能达到一致。此外,参考感测电路201及待校正感测电路202是接收同一个输入源10的输入信号,以及在同一个外在环境下进行检测,如此一来,参考感测电路201及待校正感测电路202所遭受的变异因素(例如:输入源10的光源强度变化、噪声的干扰等)也会相同,故通过本发明差动的方式,将两个遭受到相同变异因素的感测信号相比较,即可使该些变异因素所造成的影响降至最低,以提高检测的精确性,同时也降低了测试时间及成本。
参阅图4,图中所示为本发明的自动校正误差的检测系统100的第二实施例,在本实施例中,检测系统100包含一个输入源10、多数个感测电路20(本实施例以二个说明)及一个供至少二个感测电路20置放的检测机台30。
输入源10为一个发光二极管光源,但不局限于此,其也可以是任何一种光源或是能量源。
各该感测电路20为一个光感测器(light sensor),且每一个感测电路20皆包括一个感测模块21、一个电连接感测模块21的转换模块22、一个电连接转换模块22的信号收发模块24,及一个电连接信号收发模块24的储存模块25。各个模块的功能与动作皆与第一实施例相同,所以不多加赘述。
检测机台30用于接收信号收发模块24所传送的信号,并进行校正误差的运算。
与第一实施例不同的是,本实施例的检测系统100是利用检测机台30来进行误差校正的运算,因此,各个感测电路20中并不需要设置微处理器(MCU),而详细的误差校正流程如图5所示。为了便于说明,本实施例同样将其中一个感测电路20定义为参考感测电路201,其中另一感测电路20定义为待校正感测电路202。
步骤S21,输入源10(光源)输出一个输入信号(光信号)。
步骤S22,待校正感测电路202的感测模块21接收该输入信号并根据输入信号产生一个第一感测信号。
步骤S23,待校正感测电路202的转换模块22将该第一感测信号转换成一个第一数字感测信号。
步骤S24,待校正感测电路202的信号收发模块24将第一数字感测信号传送至检测机台30。
步骤S25,参考感测电路201的感测模块21接收该输入信号并根据输入信号产生一个第二感测信号。
步骤S26,参考感测电路201的转换模块22将该第二感测信号转换成一个第二数字感测信号。
步骤S27,参考感测电路201的信号收发模块24将第二数字感测信号传送至检测机台30。特别说明的是,步骤S22和步骤S25、步骤S23和步骤S26,以及步骤S24和步骤S27可同步进行。
步骤S28,检测机台30针对待校正感测电路202传送的第一数字感测信号与参考感测电路201传送的第二数字感测信号进行误差运算,并产生一个用于校正二感测模块21之间误差的校正信号。
步骤S29,检测机台30将校正信号回传(回存)至待校正感测电路202,并储存于其储存模块25中。如此同样可使每个待校正感测电路202在进行光感测时,根据该校正信号进行补偿校正,进而达到每个感测电路20能有一致的效能,且参考感测电路201及待校正感测电路202是接收同一个输入源10的输入信号,以及在同一个外在环境下进行检测,利用本发明差动的方式,同样可使该些变异因素所造成的影响降至最低,以提高检测的精确性。
综上所述,本发明自动校正误差的检测系统100,利用将其中一个感测电路20视为参考感测电路201,其余的感测电路20则视为待校正感测电路202,将每个待校正感测电路202的输出值分别与参考感测电路201的输出值进行误差运算,并将所运算出的校正信号储存至各个待校正感测电路202,使得每个感测电路20的效能达到更精准的一致性,且通过差动信号的处理方式,将外在变异因素所造成的影响降至最低,以提高检测的精确性,同时也降低了测试时间及成本。
应理解,在阅读了本发明的上述讲授内容之后,本领域技术人员可以对本发明作各种改动或修改,这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。

Claims (10)

1.一种自动校正误差的检测系统;其特征在于,该检测系统包含:
一个输入源,用于输出一个输入信号;及
二个感测电路,各该感测电路包括一个感测模块、一个电连接该感测模块的控制模块、一个电连接该控制模块的信号收发模块,及一个电连接该控制模块的储存模块;
各该感测模块接收该输入信号并根据该输入信号产生一个感测信号,且其中一个感测电路中的控制模块将该感测信号通过该信号收发模块传送至另一个控制模块,该另一个感测电路中的控制模块针对其本身感测模块所产生的感测信号与所接收到的感测信号进行误差运算,并产生一个用于校正这些感测模块之间误差的校正信号,且将该校正信号储存于该储存模块。
2.如权利要求1所述的自动校正误差的检测系统,其特征在于:该另一个感测电路中的控制模块是针对其本身感测模块所产生的感测信号与所接收到的感测信号之间的偏移量及增益误差进行运算,以产生该校正信号。
3.如权利要求1所述的自动校正误差的检测系统,其特征在于:各该感测电路还包括一个电连接该感测模块及该控制模块之间的转换模块,用于将各该感测信号转换成一个数字信号。
4.如权利要求1所述的自动校正误差的检测系统,其特征在于:该输入源为一个光源,其所输出的输入信号为一个光信号,各该感测电路为一个光感测器。
5.一种自动校正误差的检测系统;其特征在于,包括:
一个输入源,用于输出一个输入信号;
一个检测机台;及
二个感测电路,这些感测电路电连接该检测机台,并同时接收该输入信号,这些感测电路分别根据该输入信号产生一个感测信号,并分别将该感测信号传送至该检测机台,该检测机台针对这些感测信号进行误差运算,以产生一个用于校正这些感测模块之间误差的校正信号,并将该校正信号回存至其中一个感测电路中。
6.如权利要求5所述的误差检测系统,其特征在于:各该感测电路包括一个感测模块、一个电连接该感测模块的信号收发模块,及一个电连接该信号收发模块的储存模块,该感测模块接收该输入信号,并根据该输入信号产生该感测信号,该信号收发模块将该感测信号传送至该检测机台,以供该检测机台运算产生该校正信号,该信号收发模块还接收该校正信号,并将该校正信号储存至该储存模块中。
7.如权利要求5所述的误差检测系统,其特征在于:该检测机台是针对这些感测信号之间的偏移量及增益误差进行运算,以产生该校正信号。
8.一种自动校正误差的检测方法,于一个检测系统中执行,该检测系统包含一个输入源及二个感测电路;其特征在于,该检测方法包含以下步骤:
(A)令该输入源输出一个输入信号;
(B)令这些感测电路接收该输入信号并分别根据该输入信号产生一个感测信号;
(C)令其中一个感测电路将其产生的感测信号传送至另一个控制模块;
(D)令另一个感测电路针对其本身所产生的感测信号与所接收到的感测信号进行误差运算,并产生一个用于校正这些感测模块之间误差的校正信号;及
(E)令另一个感测电路储存该校正信号。
9.如权利要求8所述的自动校正误差的检测方法,其特征在于:该步骤(D)是针对这些感测信号之间的偏移量及增益误差进行运算,以产生该校正信号。
10.一种自动校正误差的检测方法,于一个检测系统中执行,该检测系统包含一个输入源、二个感测电路及一个检测机台;其特征在于,该检测方法包含以下步骤:
(A)令该输入源输出一个输入信号;
(B)令这些感测电路接收该输入信号并分别根据该输入信号产生一个感测信号;
(C)令这些感测电路将其产生的感测信号传送至该检测机台;
(D)令该检测机台针对接收到的这些感测信号进行误差运算,并产生一个用于校正这些感测模块之间误差的校正信号;及
令该检测机台将该校正信号回存至其中一个感测电路中。
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