CN103381711A - 热敏打印头修阻方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及热敏打印头技术领域,具体地说是一种应用于传真机、打印机的热敏打印头的修阻方法及装置,包括对待调整的N≥2个发热电阻体进行阻值采集后,根据所采集数据确定目标阻值,然后对阻值大于目标阻值的发热电阻体进行M>0次调整,直至N个发热电阻体阻值均小于等于目标阻值,其特征在于发热电阻体阻值的调整环节为连续对阻值高于目标阻值的发热电阻体分别进行第m次调整后,再连续对阻值高于目标阻值的发热电阻体分别进行第m+1次调整,直至N个待测发热电阻体阻值均小于等于目标阻值,其中m∈M,M,N均为正整数,本发明能够克服现有技术中存在的连续性差、生产效率低等缺点,进而有效提高工作效率,提高产品质量。
Description
技术领域
本发明涉及热敏打印头技术领域,具体地说是一种应用于传真机、打印机的热敏打印头的修阻方法及装置。
背景技术
众所周知,热敏打印头是通过在陶瓷等绝缘基板上呈线状布设发热电阻体,只在所定区间通电、流通电流,让发热电阻体发热,使热敏纸、热敏色带发生反应实行印字的。为使印字时的发热电阻体的发热量无偏差,热敏打印头的发热电阻体是采用浆料状的电阻体材料,通过网版、光刻胶膜形成好事先所希望的图型,用网版印刷技术印刷或填入电阻材料,再通过后烧结工序形成的,此时所得到的发热电阻体存在阻值偏差,为了使其达到使用标准,需要对电阻体实施阻值调整,现在一般是通过脉冲电压调整各发热电阻体的阻值,此过程通常称为修阻,图3为现有热敏打印头修阻装置的一实施例构成图,其由把探针按压在热敏头发热电阻体1上的探测装置2、把脉冲电压导通到所要修阻的发热电阻体上的继电器网3、切换脉冲电压发生电路和电阻计的切换开关4、发生脉冲电压的脉冲发生电路5、测试发热电阻体阻值仪,测试发热电阻体阻值仪由电阻计6、输入输出部、中央处理器(CPU)、存储器构成的计算部、输出阻值的打印机8构成。
附图1是现有热敏打印头修阻流程图,热敏打印头发热电阻体1,通过各集成电路的电流驱动发热;测试装置2,通常被连接到与集成电路分区相对应的发热电阻体;一个集成电路称为一个区,被连接到诸如由64个点构成的发热电阻体群。修阻开始,最初,切换开关4与电阻计6相连接,电阻计6通过测试装置2测试热敏打印头发热电阻体1的所有阻值,并把所有阻值送到计算部7,同时根据所测数据设定目标阻值,将所测数据与目标阻值对比,对于阻值比目标阻值低的发热电阻体,不施加脉冲电压。对阻值比目标阻值高的发热电阻体施加脉冲电压,让阻值降低,达到目标阻值。通常把此过程称为阻值调整作业。然后,继电器电路3通过测试装置2选择区内阻值为目标阻值以上的发热电阻体,脉冲电压的施加值和阻值减少有一定的关联倾向,即有脉冲电压的电压值越高,阻值减少量越大的倾向。利用此原理,由计算部7指示的脉冲发生电路5向待调整发热电阻体产生所定电压值,施加了脉冲电压的发热电阻体,由于发热其阻值变得不稳定,需要等待冷却完毕后进行下一步骤,冷却完毕后,切换继电器电路4连接到电阻计6测试(已施加了)脉冲电压后的阻值,阻值没到达目标阻值时,计算部7指示脉冲发生电路5把电压值比上次适当增加,再次对发热电阻体1实施修阻,边增加脉冲电压边修阻,如此重复直至达到目标阻值。达到目标阻值的话,此发热电阻体修阻完了,切换到下一个所定的发热电阻体1实施新的修阻。当连接到测试装置2的区内所有的发热电阻体1修阻完了,测试装置2就移动到下一区再修阻,所有的区修完,热敏打印头的修阻作业就完成了。
图2说明现有实施修阻的形态说明图。热敏打印头的发热电阻体由数百数千个发热电阻体构成,所有的发热电阻体都要保证阻值符合目标阻值。为简化说明,在此假设为3个发热电阻体,每个重复修阻3次达到目标阻值。测试第一个发热电阻体,其阻值在目标值以上,施加所定脉冲电压进行第一次修阻。然后,等待一定的冷却时间后,测试该施加了脉冲电压后的发热电阻体电阻值,并在再次将所测数值与目标阻值比对后,没达到目标阻值的,对该发热电阻体实行第二次修阻调整,这次施加比第一次适当增加了电压值的脉冲电压,调整完毕等待冷却,然后采集该发热电阻体二次调整后的电阻值,仍没有达到目标电阻值,再实施第三次修阻,施加脉冲电压、等待冷却。之后,测试阻值达到目标值,第一个发热点的修阻完了。然后,第二个发热点的修阻和第一个同样重复修阻3次,让阻值达到目标值,修阻完了。最后,第三个发热点重复修阻3次,所有的发热点修阻完了。如上,可知在现有的修阻过程中,对三个发热电阻点每施加一次脉冲电压就发生一次等待冷却时间,不利于生产效率的提高。
综上,现有的热敏打印头修阻流程均存在连续性不佳的缺点,整个修阻流程是间断的,在连续对同一发热电阻体进行修阻的工作模式中,需要多次等待发热电阻体充分冷却,以实现多次修阻标准的设定;在对多个发热电阻体进行修阻的过程中,为了降低热效应对相邻发热电阻体的影响,往往需要进行间隔操作,不利于生产效率的提高。
发明内容
本发明针对现有技术中存在的缺点和不足,提出一种能够有效简化生产流程、提高生产效率以及产品成品率的热敏打印头的修阻方法及装置。
本发明可以通过以下措施达到:
一种热敏打印头的修阻方法,包括对待调整的N≥2个发热电阻体进行阻值采集后,根据所采集数据确定目标阻值,然后对阻值大于目标阻值的发热电阻体进行M>0次调整,直至N个发热电阻体阻值均小于等于目标阻值,其特征在于发热电阻体阻值的调整环节为连续对阻值高于目标阻值的发热电阻体分别进行第m次调整后,再连续对阻值高于目标阻值的发热电阻体分别进行第m+1次调整,直至N个待测发热电阻体阻值均小于等于目标阻值,其中m∈M,M,N均为正整数。
本发明中所述N≥2个发热电阻体中任意一个发热电阻体阻值的第m次调整,均发生在该发热电阻体的上次调整、冷却完毕之后。
本发明中所述根据所采集数据确定目标阻值为现有技术,此不赘述,所述M>0次调整,是指通过脉冲发生器按照调整方案向发热电阻体施加电压,调整该发热电阻体的阻值。
一种应用如权利要求1所述修阻方法的热敏打印头修阻装置,其特征在于包括
用于采集N个发热电阻体的阻值的阻值采集模块,
用于根据阻值采集模块采集的数据确定目标阻值的目标阻值确定模块,
用于将采集的阻值与目标阻值进行比对以确定调整方案的阻值比对模块以及调整方案确定模块,
用于对发热电阻体进行阻值调整的调整模块,
用于记忆调整后的发热电阻体的冷却时间的冷却时间记忆模块。
本发明在实际使用时,所述阻值采集模块可以通过电阻计实现,所述目标阻值确定模块、阻值比对模块、冷却时间记忆模块以及调整方案确定模块可以通过事先写入控制算法的处理器实现,调整模块可以通过脉冲发生器实现。
工作时,首先使用阻值采集模块内的电阻计,通过测试N≥2个热敏打印头发热电阻体的所有阻值,并把测得的阻值送到目标阻值确定模块,设定目标阻值,然后通过阻值比对模块将实测阻值与目标阻值进行比对,根据比对结果,通过调整方案确定模块得出阻值调整方案;
之后,调整模块按所得调整方案,通过脉冲发生器向待调整的发热电阻体施加所定的脉冲电压,一次调整实施完毕后,冷却时间记忆模块记忆此发热点冷却时间的时间经过,在冷却时间记忆该动作开始的同时,调整模块按调整方案对下一个发热电阻体点施加电压,进行一次阻值调整,并在调整动作完成后,通过冷却时间记忆模块开始记忆此发热电阻体的冷却时间经过,以此类推,对区内所有发热电阻体实施重复以上作业,完成区内所有阻值大于目标阻值的发热电阻体的一次调整;
继续切换待调整的发热电阻体,待发热电阻体所对应的记忆冷却时间完了,再次通过阻值采集模块采集该发热电阻体的阻值,并将其送入阻值比对模块与目标阻值进行比对,当其阻值在目标阻值以下则不进行调整,当高于目标阻值,则通过调整模块向该发热电阻体施加、脉冲电压,进行二次调整,此次调整完了,通过冷却时间记忆模块记忆该发热电阻体的冷却时间经过,同时切换到下一个经过一次调整后,冷却完毕的发热电阻体,对其进行二次调整,即采集其冷却后的实际阻值,将实际阻值与目标阻值进行比对,判断是否施加脉冲,如果该发热电阻体的阻值在目标阻值以下,则不对其施加脉冲,而跳到下一冷却完毕后的发热电阻体,如果该发热电阻体的阻值大于目标阻值,则通过调整模块向其施加脉冲,调整其阻值,调整完毕后通过冷却时间记忆模块记忆冷却时间并切换到下一发热电阻体,以此类推,完成区内发热电阻体的二次调整,再重复进行下一轮调整,这样,不断切换发热电阻体,反复对区内阻值高于目标阻值的发热电阻体施加脉冲,直至区内所有的发热电阻体的阻值均在目标阻值以下,本区的发热电阻体的修阻就完成了;
当连接到阻值采集模块的区内所有的发热电阻体修阻完了,阻值采集模块就移到下一区再展开修阻,所有区修阻完了,热敏打印头的修阻作业就完成了。
本发明提出的如上修阻方法,能够有效利用施加脉冲电压后的冷却时间,在修阻的冷却时间内进行其它发热电阻体的修阻,用于修阻的脉冲电压为由一个以上多数个脉冲构成的脉冲群,施加其后,测试阻值,本发明通过上述手段,能够克服现阶段热敏打印头修阻工作过程中存在的连续性差、工作效率低等缺点,进而有效提高工作效率,并提高产品质量。
附图说明:
附图1传统实施形态流程图。
附图2传统实施形态图。
附图3热敏打印头修阻装置的一种构成图。
附图4本发明的结构框图。
附图标记:热敏打印头发热电阻体1、测试装置2、继电器网3、开关4、脉冲发生器5、电阻计6、计算部7、打印机8、阻值采集模块9、目标阻值确定模块10、调整方案确定模块12、调整模块13、冷却时间记忆模块14。
具体实施方式:
下面结合附图和实施例,对本发明作进一步的说明。
本发明提出了一种热敏打印头的修阻方法,包括对待调整的N≥2个发热电阻体进行阻值采集后,根据所采集数据确定目标阻值,然后对阻值大于目标阻值的发热电阻体进行M>0次调整,直至N个发热电阻体阻值均小于等于目标阻值,其特征在于发热电阻体阻值的调整环节为连续对阻值高于目标阻值的发热电阻体分别进行第m次调整后,再连续对阻值高于目标阻值的发热电阻体分别进行第m+1次调整,直至N个待测发热电阻体阻值均小于等于目标阻值,其中m∈M,M,N均为正整数。
本发明中所述N≥2个发热电阻体中任意一个发热电阻体阻值的第m次调整,均发生在该发热电阻体的上次调整、冷却完毕之后。
本发明中所述根据所采集数据确定目标阻值为现有技术,此不赘述,所述M>0次调整,是指通过脉冲发生器按照调整方案向发热电阻体施加电压,调整该发热电阻体的阻值。
如附图4所示,本发明还提出了一种应用如权利要求1所述修阻方法的热敏打印头修阻装置,其特征在于包括用于采集N个发热电阻体的阻值的阻值采集模块9,用于根据阻值采集模块采集的数据确定目标阻值的目标阻值确定模块10,用于将采集的阻值与目标阻值进行比对以确定调整方案的阻值比对模块11以及调整方案确定模块12,用于对发热电阻体进行阻值调整的调整模块13,用于记忆调整后的发热电阻体的冷却时间的冷却时间记忆模块14。
本发明在实际使用时,所述阻值采集模块可以通过电阻计实现,所述目标阻值确定模块、阻值比对模块、冷却时间记忆模块以及调整方案确定模块可以通过事先写入控制算法的处理器实现,调整模块可以通过脉冲发生器实现。
实施例:
以3个分别设为A、B、C的发热电阻体为例,对本发明作进一步的说明。
首先通过阻值采集模块9采集3个发热电阻体的阻值,分别记为RA,RB,RC,将所采集电阻值送入目标阻值确定模块10,通过事先写入的算法,确定目标阻值,设为RS,然后通过阻值比对模块11,将实测阻值RA,RB,RC,分别与RS进行比对,当实测阻值大于目标阻值时,进行调整并设定调整方案,当实测阻值小于或等于RS时,不进行调整,设RA,RB,RC均大于目标阻值RS,此时通过调整方案确定模块12确定调整方案,按该调整方案通过调整模块13中的脉冲发生器向A输出一定值的脉冲信号,完成对A的一次调整,一次调整完毕的同时,通过冷却记忆模块14开始记忆A的冷却时间,同时切换向B,向B施加调整电压,完成对B的一次调整后,冷却记忆模块14对B的冷却时间记忆,并切换至C对其进行如上的一次调整;
当连续对A、B、C进行过一次调整后,此时通过冷却时间记忆模块可知经过一次调整后的A已经冷却完毕,通过阻值采集模块9对A进行二次阻值采集记作RA2,并将所采集的阻值送入阻值比对模块11,将其与目标阻值进行比对,当RA2大于目标阻值时对A进行调整,通过调整方案确定模块12确定调整电压,通过调整模块13向A施加脉冲,完成第二次调整,第二次调整完成后,冷却记忆模块14开始记忆A在二次调整完毕后的冷却时间,同时切换至B进行是否进行二次调整的判断,当RB2小于等于RS时,跳过该发热电阻体,不对其进行调整,而进行下一发热电阻体C的阻值采集,当RB2大于RS时,对发热电阻体B进行调整,通过调整模块13向其施加脉冲, B的二次调整完成后,冷却记忆模块14记忆冷却时间,同时切换到C,以此类推,直至调整到第i次,RAi,RBi,RCi均不大于RS时,修阻完成。
本发明能够克服现阶段热敏打印头修阻工作过程中存在的连续性差、生产效率低等缺点,进而有效提高工作效率,提高产品质量。
Claims (3)
1.一种热敏打印头的修阻方法,包括对待调整的N≥2个发热电阻体进行阻值采集后,根据所采集数据确定目标阻值,然后对阻值大于目标阻值的发热电阻体进行M>0次调整,直至N个发热电阻体阻值均小于等于目标阻值,其特征在于发热电阻体阻值的调整环节为连续对阻值高于目标阻值的发热电阻体分别进行第m次调整后,再连续对阻值高于目标阻值的发热电阻体分别进行第m+1次调整,直至N个待测发热电阻体阻值均小于等于目标阻值,其中m∈M,M,N均为正整数。
2.根据权利要求1所述的一种热敏打印头的修阻方法,其特征在于所述N≥2个发热电阻体中任意一个发热电阻体阻值的第m次调整,均发生在该发热电阻体的上次调整、冷却完毕之后。
3.一种应用如权利要求1所述修阻方法的热敏打印头修阻装置,其特征在于包括
用于采集N个发热电阻体的阻值的阻值采集模块,
用于根据阻值采集模块采集的数据确定目标阻值的目标阻值确定模块,
用于将采集的阻值与目标阻值进行比对以确定调整方案的阻值比对模块以及调整方案确定模块,
用于对发热电阻体进行阻值调整的调整模块,
用于记忆调整后的发热电阻体的冷却时间的冷却时间记忆模块。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 264200 Torch Road 157, hi tech Development Zone, Shandong, Weihai Applicant after: SHANDONG HUALING ELECTRONICS CO., LTD. Address before: 264200 Torch Road, hi tech Industrial Development Zone, Shandong, Weihai Applicant before: Hualing Electronics Co., Ltd., Shandong |
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COR | Change of bibliographic data | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |