CN103335661A - 固定于基座上的光学对中器的检校方法 - Google Patents

固定于基座上的光学对中器的检校方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种固定于基座上的光学对中器的检校方法，它包括如下步骤：（a）、将待检仪器以横卧放置的方式放在备用基座上，保持待检仪器的基座悬在桌子边沿外侧并垂直朝向墙面；（b）、观察待检仪器的光学对中器的目镜，找出墙面上对应十字分划丝的位置，然后将准备好的十字丝刻划板贴在该位置；（c）、轻轻转动待检仪器的基座180°，再看两十字丝交叉点的相对位置关系，待检仪器的十字分划丝交叉点如果在十字丝刻划板上画的圆内，为合格；如果在圆外，为对中误差超差，则必须校正。本发明不仅快速方便、而且大大提高了校正精度。

Description

固定于基座上的光学对中器的检校方法
技术领域
本发明涉及固定于基座上的光学对中器的检校方法。 
背景技术
对中器的对中误差直接关系到测量成果的精度，对中器分为光学对中器和激光对中器，光学对中器因其高精度的特点而被更广泛的应用，一般光学对中器是固定在仪器的照准部上，图1为常规垂直状态的光学对中器的检测原理图，由图1可知，物体的反射光先通过对中器物镜12，再是通过对中器棱镜11及对中器分划板9和对中器目镜8进入人的视线，光学对中器校验一般是随照准部一起沿仪器竖轴10旋转来观察目标偏移量的常规方法进行检校。而有些测量仪器的光学对中器却是设计在基座上，检验时对中器不能随照准部一起旋转，不能用常规的检验方法准确地测定出它的对中误差，只能通过传统的用脚架挂垂球的检查方法检测和校正，因垂球受环境、加工精度、脚架等外界影响，难以保证对中误差在1毫米以内的精度。因此非常有必要开发一种新的检测校正方法来解决这些问题，以达到方便快速、提高校正精度的目的。 
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中存在的技术问题提供一种方便快捷、能提高校正精度的固定于基座上的光学对中器的检校方法。 
本发明所采用的技术方案为：固定于基座上的光学对中器的检校方法，它包括如下步骤： 
a、将备用基座放在朝墙面方向的桌子边沿，将待检仪器以横卧放置的方式横放在备用基座上，保持待检仪器的照准部不动而待检仪器的基座能自由转动，慢慢挪动待检仪器，通过调节备用基座的脚螺旋，让备用基座 上设置的圆水准气泡居中，使备用基座处于初平状态以确保待检仪器大致与墙面垂直，且待检仪器的基座在自由转动时照准部稳固不动；
b、观察待检仪器的光学对中器的目镜，找出墙面上对应十字分划丝的大致位置，然后将准备好的十字丝刻划板贴在该位置，转动待检仪器的基座，观察光学对中器的目镜，通过微调使光学对中器中的十字丝和墙面十字丝刻划板的十字丝都清晰可见，慢慢调节备用基座的三个脚螺栓，使光学对中器的十字丝与墙面十字丝刻划板的十字丝严格重合；
c、保持待检仪器的照准部不动，轻轻转动待检仪器的基座180°，再观察光学对中器目镜，看光学对中器的所发射在墙面上的十字丝和十字丝刻划板的十字丝交叉点的相对位置关系，待检仪器分划丝交叉点如果在十字丝刻划板上画的圆内，为合格；如果在圆外，为对中误差超差，则必须校正；
d、将需要校正的待检仪器用螺丝刀调节光学对中器的校正螺钉，使两十字丝交点的距离缩小一半，然后再重复步骤(b)(c)(d)，直至合格。
按上述技术方案，在于在步骤（a）中的备用基座上放置抹布，所述待检仪器横卧放置在垫好抹布的备用基座上。 
按上述技术方案，十字丝刻划板上的圆以十字丝的交叉点为圆心，直径为1mm。 
按上述技术方案，所述待检仪器为光学对中器内置于基座上的光学经纬仪、电子经纬仪、电子全站仪、铅垂仪（垂准仪）、棱镜组等各种测量仪器。 
本发明所取得的有益效果为：不仅解决了常规方法在仪器处于垂直状态下无法检测的问题，也解决了传统方法精度不高的问题，该方法不仅快速方便、而且大大提高了校正精度。 
附图说明
图1为常规垂直状态的光学对中器的检测原理图。 
图2为本发明实施过程中的状态示意图。 
  图中：1、抹布，2、备用基座，3、待检仪器的基座，4、照准部，5、十字丝刻划板，6、光学对中器，7、墙面，8、对中器的目镜，9、对中器分划板，10、仪器竖轴，11、对中器棱镜，12、对中器物镜。 
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步说明。 
固定于基座上的光学对中器的检校方法，所述待检仪器的结构如图2所示，由图2可知，它包括照准部4、光学对中器6、基座，所述照准部4与基座活动连接，所述光学对中器6固定在基座上，图2为本发明实施过程中的状态示意图。由图2可知，它的检校方法包括如下步骤： 
a、将备用基座2放在朝墙面7方向的桌子边沿，把抹布1放在备用基座2上，将待检仪器以横卧放置的方式横放在垫好抹布的备用基座2上，抹布1的作用是增大待检仪器与备用基座的摩擦力，保持待检仪器的照准部4不动而待检仪器的基座3能自由转动，慢慢挪动待检仪器，通过调节备用基座2的3个脚螺旋，让备用基座2上设置的圆水准气泡居中，使备用基座处于初平状态以确保待检仪器大致与墙面垂直，且待检仪器的基座3在自由转动时照准部4稳固不动；
b、观察待检仪器的光学对中器的目镜8，找出墙面7上对应十字分划丝的大致位置，然后将准备好的十字丝刻划板5贴在该位置，转动待检仪器的基座3，观察光学对中器的目镜8，通过微调，使光学对中器中的十字分划丝和墙面十字丝刻划板5的十字丝都清晰可见，慢慢调节备用基座2的三个脚螺栓，使光学对中器的十字分划丝与墙面十字丝刻划板5的十字丝严格重合；
c、保持待检仪器的照准部4不动，轻轻转动待检仪器的基座180°，再观察光学对中器的目镜8，看光学对中器的所发射在墙面上的十字丝和十字丝刻划板5的十字丝交叉点的相对位置关系，在十字丝刻划板5上画有红色圆，该圆以十字丝的交叉点为圆心，该圆的直径为1mm，待检仪器十字分划丝交叉点如果在十字丝刻划板上画的红色圆内，为合格；如果在红色圆外，为对中误差超差，则必须校正；
d、将需要校正的待检仪器用螺丝刀调节光学对中器的校正螺钉，使两十字丝交点的距离缩小一半，然后再重复上述检测和校正步骤 (b)(c)(d)，直至合格。
所述待检仪器为光学对中器内置于基座上的光学经纬仪、电子经纬仪、电子全站仪、铅垂仪（垂准仪）、棱镜组等各种测量仪器。本发明不仅解决了常规方法在仪器处于垂直状态下无法检测的问题，也解决了传统方法精度不高的问题，该方法不仅快速方便、而且大大提高了校正精度。 

Claims (4)

1.固定于基座上的光学对中器的检校方法，其特征在于：它包括如下步骤：
a、将备用基座放在朝墙面方向的桌子边沿，将待检仪器以横卧放置的方式横放在备用基座上，保持待检仪器的照准部不动而待检仪器的基座能自由转动，慢慢挪动待检仪器，通过调节备用基座的脚螺旋，让备用基座上设置的圆水准气泡居中，使备用基座处于初平状态以确保待检仪器大致与墙面垂直，且待检仪器的基座在自由转动时照准部稳固不动；
b、观察待检仪器的光学对中器的目镜，找出墙面上对应十字分划丝的大致位置，然后将准备好的十字丝刻划板贴在该位置，转动待检仪器的基座，观察光学对中器的目镜，通过微调使光学对中器中的十字分划丝和墙面十字丝刻划板的十字丝都清晰可见，慢慢调节备用基座的三个脚螺栓，使光学对中器的十字分划丝与墙面十字丝刻划板的十字丝严格重合；
c、保持待检仪器的照准部不动，轻轻转动待检仪器的基座180°，再观察光学对中器目镜，看光学对中器的所发射在墙面上的十字分划丝和十字丝刻划板的十字丝交叉点的相对位置关系，待检仪器的十字分划丝交叉点如果在十字丝刻划板上画的圆内，为合格；如果在圆外，为对中误差超差，则必须校正；
d、将需要校正的待检仪器用螺丝刀调节光学对中器的校正螺钉，使两十字丝交点的距离缩小一半，然后再重复步骤(b)(c)(d)，直至合格。
2.根据权利要求1所述的固定于基座上的光学对中器的检校方法，其特征在于在步骤（a）中的备用基座上放置抹布，所述待检仪器横卧放置在垫好抹布的备用基座上。
3.根据权利要求1所述的固定于基座上的光学对中器的检校方法，其特征在于十字丝刻划板上的圆以其十字丝的交叉点为圆心，直径为1mm。
4.根据权利要求1所述的固定于基座上的光学对中器的检校方法，其特征在于所述待检仪器为光学对中器内置于基座上的光学经纬仪、电子经纬仪、电子全站仪、铅垂仪、棱镜组中的任意一种。
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