CN103323397A - 气室管组件 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种用于进行气体分析的光学气室管组件，该气室管组件包括气室管、上构件，所述上构件设置在所述气室管上部、下构件，所述下构件设置在所述气室管下部、和至少一个加热装置，所述至少一个加热装置设置在所述上构件和所述下构件中的至少一个上，其中所述气室管被夹持在所述上构件和所述下构件之间，所述至少一个加热装置用于对所述气室管进行加热，从而在进行气体成分检测时防止在气室管内部形成凝露，改善检测结果的准确度。

Description

气室管组件

技术领域

本发明涉及气体分析光学检测领域，具体地，本发明涉及一种用于检验气体成份的气室管组件；更具体地，涉及一种具有加热装置的气室管组件。

背景技术

气体光学分析检测广泛用于汽车尾气检测、空气环保检测、工厂废气检测等各行业。气室管是气体光学检测的重要零件之一，气室管的结构直接影响到检测结果的准确性。如果气体经过气室管时在内壁形成凝露，则会严重影响到气体检测的结果，造成结果不准确。

目前，按照气室管材质分类，分为玻璃和不锈钢两种，不管用哪种材质的气室管，由于气室管内壁表面粗糙度的精度较高，气体经过气室管时极容易在内壁形成凝露，并且传统的气室管不能有效地防止凝露的形成，这就不能保证日常检测结果的准确性和权威性。

现有技术公开了一种气体分析装置，包括单组分红外气体分析模块、电化学气体分析模块、气路、底板及安装于底板之下的加热板，其中单组分红外气体分析模块包括检测器、用于安装检测器的检测器座、密封垫、气室座、粘接于气室座的晶片、安装于气室座的气嘴、用于流通被测气体的气室管、光源、用于安装光源的光源座及分别安装于检测器座和光源座的温度传感器。检测器座和光源座被加热板加热，加热温度范围为35℃至65℃。虽然现有技术中的红外气体分析装置也具有加热板类的加热装置，但是该加热板远离气室管设置，用于加热检测器座和光源座，使检测器座上的检测器和光源座上的光源能够在适当的温度下进行工作。因此，现有技术中的加热板不能有效地防止在气室管内壁形成凝露。

发明内容

为克服上述现有的缺陷，有效地防止在气室管内部形成凝露等，改善检测的准确性，本发明提出一种气室管组件。

该气室管组件包括：气室管；上构件，所述上构件设置在所述气室管上部；下构件，所述下构件设置在所述气室管下部；和至少一个加热装置，所述至少一个加热装置设置在所述上构件和所述下构件中的至少一个上，其中所述气室管被夹持在所述上构件和所述下构件之间，所述至少一个加热装置用于对所述气室管进行加热。

优选地，所述上构件和/或所述下构件中的至少一个具有至少一个向内凹入的弧面，所述弧面用于与所述气室管的外表面接触。

优选地，所述上构件和/或所述下构件中的至少一个具有凹槽，所述至少一个加热装置被容纳在所述凹槽中。

该气室管组件还包括：至少一个压板，所述至少一个压板压设在所述加热装置外部，用于使所述加热装置与容纳所述加热装置的上构件和/或下构件接触。

优选地，气室管通过螺钉被夹持在所述上构件和所述下构件之间。

优选地，设置在加热装置外部的压板通过螺钉与上构件接合，从而使所述加热装置与所述上构件充分接触。

由于加热装置安装在上构件的槽中，与上构件紧密接触，该加热装置所提供的热量迅速地传递到上构件上，而上构件通过螺钉安装在气室管上，与气室管紧密接触，这样上构件的热量也很快传递到气室管上，这就保证了气室管内壁的温度可以控制在一定的范围内，防止气体在气室管内壁形成凝露。

附图说明

以下，将参照通过附图显示的实施例更详细地说明本发明。应该强调的是显示的实施例仅用于实例目的，而不应该用于限制本发明的保护范围。

图1是具有加热装置的气室管组件的结构示意图；和

图2是具有加热装置的气室管组件的截面示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明提供的一种用于气体分析光学检测用的气室管进行详细描述。

如图所示，为了能明确实现本发明的实施例的结构，在图中标注了特定的结构和器件，但这仅为示意需要，并非意图将本发明限定在该特定结构、器件和环境中，根据具体需要，本领域的普通技术人员可以将这些器件和环境进行调整或者修改，所进行的调整或者修改仍然包括在后附的权利要求的范围中。

在以下的描述中，将描述本发明的多个不同的方面，然而，对于本领域内的普通技术人员而言，可以仅仅利用本发明的一些或者全部结构或者流程来实施本发明。为了解释的明确性而言，阐述了特定的数目、配置和顺序，但是很明显，在没有这些特定细节的情况下也可以实施本发明。在其他情况下，为了不混淆本发明，对于一些众所周知的特征将不再进行详细阐述。

图1是带加热装置的气体分析光学气室管组件的结构示意图，图2是具有加热装置的气室管组件的截面示意图，如图1和2所示，气室管组件包括：压板1、加热装置2、上构件3、气室管4、和下构件5。

上构件3设置在气室管4的上部，下构件5设置在气室管4的下部，气室管被夹持在上构件3和下构件5之间。上构件3和下构件5的用于夹持气室管4的表面可以是向内凹入的弧面，气室管4可以通过螺钉或其它紧固件或者其它方式被夹在上构件3和下构件5的弧面之间，并且气室管4的外表面与上构件3和下构件5的弧面充分接触。

但是，本发明不限于此，气室管也可以以其它方式被夹持在上构件和下构件之间，并且上构件和下构件可以不具有向内凹入的弧面或者只有其中一个具有弧面，只要上、下构件能够夹持住气室管即可。

优选地，上、下构件可以具有夹块的形式，下构件也可以是底座等类似构件。

上构件3的与夹持气室管的表面相对的另一表面具有至少一个槽，该槽用于容纳至少一个加热装置2，从而通过该加热装置2加热上构件3和下构件5之间的气室管4。但是，本发明不限于此，该另一表面可以不具有槽，并且加热装置也可以直接设置在上构件的任何侧部，只要能够对气室管进行加热即可。

加热装置2可以是能够起到加热作用的任意电子加热元件或元件组，并且加热装置可以是块状、条状、环状或其它任何适当的形状。

由于上构件3和下构件5的弧面与气室管4的外表面充分接触，所以能够在稳定地夹持气室管4的同时通过加热装置2对气室管4的外表面进行充分加热，从而提高加热效率并减少热量损耗。

并且，优选地，加热装置安装在上构件的槽中，与上构件紧密接触，该加热装置所提供的热量迅速地传递到上构件上，而上构件通过螺钉安装在气室管上，与气室管紧密接触，这样上构件的热量也很快传递到气室管上，这就保证了气室管内壁的温度可以控制在一定的范围内，防止气体在气室管内壁形成凝露。

此外，该气室管组件还可以具有压板1，压板1设置在加热装置2外部，在加热装置容纳在上构件的槽中时，压板可以通过螺钉等紧固件或其它紧固方式压装在上构件上，从而使压板1压在加热装置2上，以使加热装置与上构件更充分地接触，进行更有效的加热。

在本发明的其它实施例中，容纳加热装置的槽可以设置在下构件上，在该槽的外部也可以具有使加热装置与下构件充分接触的压板。加热装置可以同时设置在上构件和下构件上，用于对气室管的两侧进行均匀的加热。此外，可以不具有夹持气室管的上构件和下构件，而将加热装置直接包裹在气室管的外部，从而对气室管进行更直接更快速的加热。

由于为气室管设置了加热装置，从而在进行光学气体分析时热量可以很快传递到气室管，这就保证了气室管内壁的温度可以控制在一定的范围内，防止气体在气室管内壁形成凝露，提高了检测的效率并使检测结果更加准确。

最后应说明的是，以上实施例仅用以描述本发明的技术方案而不是对本技术方法进行限制，本发明在应用上可以延伸为其他的修改、变化、应用和实施例，并且因此认为所有这样的修改、变化、应用、实施例都在本发明的精神和教导范围内。

Claims (10)

1.一种气室管组件，所述气室管组件包括：

气室管；

上构件，所述上构件设置在所述气室管上部；

下构件，所述下构件设置在所述气室管下部；和

至少一个加热装置，所述至少一个加热装置设置在所述上构件和所述下构件中的至少一个上，

其中所述气室管被设置在所述上构件和所述下构件之间，所述至少一个加热装置用于对所述气室管进行加热。

2.根据权利要求1所述的气室管组件，其中所述上构件和/或所述下构件中的至少一个具有至少一个向内凹入的弧面，所述弧面用于与所述气室管的外表面接触。

3.根据权利要求1所述的气室管组件，其中所述上构件和/或所述下构件中的至少一个具有凹槽，所述至少一个加热装置被容纳在所述凹槽中。

4.根据权利要求1所述的气室管组件，其中所述上构件和所述下构件通过螺钉连接而结合在一起，从而将所述气室管夹持在所述上构件和所述下构件之间。

5.根据权利要求1所述的气室管组件，还包括：

至少一个压板，所述至少一个压板压设在所述加热装置外部，用于使所述加热装置与容纳所述加热装置的上构件和/或下构件接触。

6.根据权利要求5所述的气室管组件，其中设置在加热装置外部的压板通过螺钉与上构件接合，从而使所述加热装置与所述上构件充分接触。

7.根据权利要求5所述的气室管组件，其中所述压板盖设在所述上构件的凹槽上。

8.根据权利要求1所述的气室管组件，其中所述加热装置具有条形形状、块状形状、和环形形状中的至少一种。

9.根据权利要求5所述的气室管组件，其中所述加热装置通过所述压板与所述下构件充分接触。

10.根据权利要求1所述的气室管组件，其中所述加热装置是加热膜。

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