CN103217567A - 一种电流检测方法及电源检测电路 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种电流检测方法及电源检测电路。一种电流检测方法，包括：给测试电路通电，并测量所述测试电路上的电流检测器件的第一电压值和第一电流值；计算所述电流检测器件的第一电压值与第一电流值的比值，以获得所述电流检测器件的规格；将所述电流检测器件接入待检测电路，测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值；计算所述电流检测器件的第二电压值与所述电流检测器件的规格的比值，以获得第二电流值，并将所述第二电流值作为所述待检测电路的电流值。该方法无需使用高精度分流器，大大降低了对电流检测器件的要求，降低了对电流检测的局限，而且，降低了电流检测的成本。

Description

一种电流检测方法及电源检测电路

技术领域

本发明涉及通信技术领域，特别是涉及一种电流检测方法及电源检测电路。

背景技术

目前对电源系统中的负载电流和电池电流的检测，通常使用分流器或者是霍尔传感器。其中，分流器是一个可以通过大电流的阻值很小的精确电阻，当电流流过分流器时，在分流器的两端就会出现一个毫伏级的电压，于是在测量获得这个电压后，再将这个电压换算成电流，就完成了大电流的测量。例如图1所示，通过将分流器11串接在电路中，然后采用高精度运算放大器12利用差分检测方法来实现对电源电流的检测。

然而，在使用分流器进行电流检测时，为了保证检测精度，需要配置标准规格的高精度的分流器，对分流器的要求较严格，因此电流检测的精度收到较大限制，同时高精度的分流器也会带来发热量大、成本高的问题。

发明内容

本发明实施例中提供了一种电流检测方法及电源检测电路，能够降低对电流检测器件的要求，提高电流检测的精度。

为了解决上述技术问题，本发明实施例公开了如下技术方案：

一方面，提供一种通讯电源的电流检测方法，包括：

给测试电路通电，并测量所述测试电路上的电流检测器件的第一电压值和第一电流值；

计算所述电流检测器件的第一电压值与第一电流值的比值，以获得所述电流检测器件的规格；

将所述电流检测器件接入待检测电路，测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值；

计算所述电流检测器件的第二电压值与所述电流检测器件的规格的比值，以获得第二电流值，并将所述第二电流值作为所述待检测电路的电流值。

结合上述第一方面，在第一种可能的实现方式中，所述测量所述测试电路上的电流检测器件的第一电流值，包括：

在所述测试电路中接入分流器，使所述分流器与所述电流检测器件串联，获得所述高精度分流器的电流值，并将所述分流器的电流值作为所述第一电流值。

结合上述第一方面，和/或第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中，所述测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值，包括：

在所述待检测电路中，在所述电流检测器件上并联电流检测电路，通过所述电流检测电路测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值。

结合上述第一方面，和/或第一种可能的实现方式，和/或第二种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中，所述通过所述电流检测电路测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值，包括：

所述电流检测电路中的检测电路在所述电流检测电路中的控制电路的控制下向所述电流检测电路中的放大电路分别输入目标参考信号和待检测信号；所述目标参考信号用于为计算所述待检测信号的电压值提供参考基准，所述待检测信号是连接在所述待检测电路上的所述电流检测器件输出的信号；

所述放大电路在所述控制电路的控制下分别对所述目标参考信号和所述待检测信号进行放大处理，并将放大后的目标参考信号和放大后的待检测信号分别输入到所述电流检测电路中的码值采样电路；

所述码值采样电路分别对所述放大后的目标参考信号和所述放大后的待检测信号进行采样，获取参考信号电压采样值和待检测信号电压采样值，并将所述参考信号电压采样值和所述待检测信号电压采样值提供给所述控制电路；

所述控制电路根据所述参考信号电压采样值、所述待检测信号电压采样值和所述目标参考信号的电压值计算出所述待检测信号的电压值，将所述待检测信号的电压值作为所述电流检测器件的所述第二电压值。

第二方面，还提供一种电源检测电路，包括测试电路和待检测电路；

所述测试电路，用于在所述测试电路通电后，测量所述测试电路上的电流检测器件的第一电压值和第一电流值；计算所述电流检测器件的第一电压值与第一电流值的比值，以获得所述电流检测器件的规格；

所述待检测电路，用于测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值；计算所述电流检测器件的第二电压值与所述电流检测器件的规格的比值，以获得第二电流值，并将所述第二电流值作为所述待检测电路的电流值。

结合上述第二方面，在第一种可能的实现方式中，在所述测试电路中，所述电流检测器件与分流器串联，所述测试电路具体用于获得所述高精度分流器的电流值，并将所述分流器的电流值作为所述第一电流值。

结合上述第二方面，和/或第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中，在所述待检测电路中，所述电流检测器件与电流检测电路并联，所述待检测电路具体用于通过所述电流检测电路测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值。

结合上述第二方面，和/或第一种可能的实现方式，和/或第二种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中，所述电流检测电路包括：检测电路、放大电路、码值采样电路和控制电路；所述检测电路、所述放大电路和所述码值采样电路依次连接，所述控制电路分别与所述检测电路、所述放大电路和所述码值采样电路连接；

所述检测电路，用于在所述控制电路的控制下向所述放大电路分别输入目标参考信号和待检测信号，所述目标参考信号用于为计算所述待检测信号的电压值提供参考基准，所述待检测信号是连接在所述待检测电路上的所述电流检测器件输出的信号；

所述放大电路，用于在所述控制电路的控制下分别对所述目标参考信号和所述待检测信号进行放大处理，并将放大后的目标参考信号和放大后的待检测信号分别输入到所述码值采样电路；

所述码值采样电路，用于分别对所述放大后的目标参考信号和所述放大后的待检测信号进行采样，获取参考信号电压采样值和待检测信号电压采样值，并将所述参考信号电压采样值和所述待检测信号电压采样值提供给所述控制电路；

所述控制电路，用于控制所述检测电路向所述放大电路分别输入所述目标参考信号和所述待检测信号，控制所述放大电路分别对所述目标参考信号和所述待检测信号进行放大处理，并根据所述参考信号电压采样值、所述待检测信号电压采样值和所述目标参考信号的电压值计算出所述待检测信号的电压值，将所述待检测信号的电压值作为所述电流检测器件的所述第二电压值。

结合上述第二方面，和/或第一种可能的实现方式，和/或第二种可能的实现方式，和/或第三种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，所述电流检测器件为一段铜排。

本发明实施例通过获得电流检测器件在测试电路中的电压值及电流值，并计算获得该电流检测器件的规格，然后再利用该电流检测器件的规格以及该电流检测器件在待检测电路中的电压值即可计算获得该待检测电路中的电流。该过程无需配置标准规格的高精度的分流器，只需采用一无精度要求的电流检测器件即可实现对待检测电路电流的高精度检测，大大降低了对电流检测器件的要求，降低了对电流检测的局限，在保证检测精度的同时，也减少了检测器件的发热量，而且，由于无需使用高精度分流器，大大降低了电流检测的成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中对电源系统中的电流进行检测的电路结构示意图；

图2为本发明实施例一种电流检测方法流程图；

图3为本发明实施例中获得第一电流值的电路结构示意图；

图4为本发明实施例中待检测电路中电流检测电路的结构示意图；

图5为本发明实施例中通过电流检测电路测量电路检测器件在待检测电路上的第二电压值的方法流程图；

图6为本发明实施例一种电源检测电路的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明实施例中的技术方案，并使本发明实施例的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明实施例中技术方案作进一步详细的说明。

参见图2，为本发明实施例一种电流检测方法流程图。

该方法可以包括：

步骤201，给测试电路通电，并测量该测试电路上的电流检测器件的第一电压值和第一电流值。

该测试电路中串联有电流检测器件，该测试电路用于检测该电流检测器件的规格，在确定电流检测器件的规格后，该电流检测器件用于连接在其他电路中检测通讯电源的电流。

在确定该电流检测器件的规格时，首先测量该电流检测器件在该测试电路中的第一电流值和第一电压值。

对于第一电流值的测量，在一实施例中，可以采用如图3所示的电路进行检测，在测试电路中接入高精度分流器31，使高精度分流器31与电流检测器件32串联。在测试电路中注入电流后，通过该高精度分流器31获得该电路的电流值，该电流值也即电流检测器件上的电流值，也即所述第一电流值。当然该第一电流值的测量也可以采用其他方式或采用仪表测量，此处不做限定。

对于第一电压值的测量，在一实施例中，可以采用高精度万用表对电流检测器件上的压降进行测量，获得第一电压值，也可以在电流检测器件上并联一检测电路检测该电流检测器件上的压降，获得第一电压值，该检测电路可以是如图1中所述的高精度运算放大器，也可以是其他检测电路。

步骤202，计算电流检测器件的第一电压值与第一电流值的比值，以获得所述电流检测器件的规格。

在获得电流检测器件的第一电压值和第一电流值后，计算第一电压值与第一电流值的比值，该比值即为该电流检测器件的规格，例如10mv/1000A等。

通过上述两步骤即可确定该电流检测器件的规格，后续即可利用该规格计算待检测电路中的电流。该过程对该电流检测器件的精度没有要求，该电流检测器件可以是任意一个与现有分流器相同材质、温度系数较好的器件，例如一段铜排，该铜排的材料可以是锰铜。选用温度系数好的材质，可以保证在温度变化时，采样精度不受影响。

步骤203，将所述电流检测器件接入待检测电路，测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值。

在获得电流检测器件的规格后，将该电流检测器件接入待检测电路中，获得该电流检测器件的电流也就获知了该待检测电路的电流。若要获知该电流检测器件上的电流，首先在本步骤中测量该电流检测器件在该待检测电路上的第二电压值。

该第二电压值可以采用高精度万用表对电流检测器件上的压降进行测量获得，也可以在所述待检测电路中，在所述电流检测器件上并联电流检测电路，通过所述电流检测电路测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值。该电流检测电路可以是如图1中所述的高精度运算放大器，也可以是其他电流检测电路。

步骤204，计算所述电流检测器件的第二电压值与所述电流检测器件的规格的比值，以获得第二电流值，并将所述第二电流值作为所述待检测电路的电流值。

在获得电流检测器件的第二电压值后，计算第二电压值与前述步骤202中获得的电流检测器件的规格的比值，即可获得该电流检测器件在待检测电路中的第二电流，该第二电流也即待检测电路中的电流。

上述“第一”、“第二”仅为区分不同的电压值，或不同的电流值，并非特指或限定。

本发明实施例通过采用一没有精度要求的电流检测器件，首先获得该电流检测器件在测试电路中的电压值及电流值，并计算获得该电流检测器件的规格，然后再利用该电流检测器件的规格以及该电流检测器件在待检测电路中的电压值即可计算获得该待检测电路中的电流。该过程无需配置标准规格的高精度的分流器，只需采用一无精度要求的电流检测器件即可实现对待检测电路电流的高精度检测，大大降低了对电流检测器件的要求，降低了对电流检测的局限，而且，由于无需使用高精度分流器，大大降低了电流检测的成本。

在本发明的一具体实施例中，步骤203中的电流检测电路可以如图4所示，包括检测电路41、控制电路42、放大电路43、码值采样电路44。该通过电流检测电路测量电路检测器件在待检测电路上的第二电压值的过程，如图5所示，具体可以包括：

步骤501，电流检测电路中的检测电路41在所述电流检测电路中的控制电路42的控制下向所述电流检测电路中的放大电路43分别输入目标参考信号和待检测信号；所述目标参考信号用于为计算所述待检测信号的电压值提供参考基准，所述待检测信号是连接在所述待检测电路上的所述电流检测器件40输出的信号；

步骤502，所述放大电路43在所述控制电路42的控制下分别对所述目标参考信号和所述待检测信号进行放大处理，并将放大后的目标参考信号和放大后的待检测信号分别输入到所述电流检测电路中的码值采样电路44；

步骤503，所述码值采样电路44分别对所述放大后的目标参考信号和所述放大后的待检测信号进行采样，获取参考信号电压采样值和待检测信号电压采样值，并将所述参考信号电压采样值和所述待检测信号电压采样值提供给所述控制电路42；

步骤504，所述控制电路42根据所述参考信号电压采样值、所述待检测信号电压采样值和所述目标参考信号的电压值计算出所述待检测信号的电压值，将所述待检测信号的电压值作为所述电流检测器件的所述第二电压值。

在本实施例中，控制电路控制检测电路分别向放大电路输入目标参考信号和待检测信号，放大电路分别对目标参考信号和待检测信号进行放大后提供给码值采样电路，并由码值采样电路对放大后的目标参考信号和待检测信号的电压进行采样，将电压采样值提供给控制电路，控制电路根据目标参考信号的电压采样值、待检测信号的电压采样值和目标参考信号的电压值计算出待检测信号的电压，由于以目标参考信号为基准采用了相对测量的方法，提高了测量精度。

在另一实施例中，所述放大电路在所述控制电路的控制下分别对所述目标参考信号和所述待检测信号进行放大处理，并将放大后的目标参考信号和待检测信号分别提供给所述电源电流检测电路中的码值采样电路包括：

所述放大电路中的仪用放大电路对所述目标参考信号和所述待检测信号分别进行前置放大处理，并将前置放大后的目标参考信号和前置放大后的待检测信号分别提供给所述放大电路中的倍数放大电路；

所述倍数放大电路在所述控制电路的控制下分别对所述前置放大后的目标参考信号和所述前置放大后的待检测信号进行倍数放大处理，并将倍数放大后的目标参考信号和待检测信号分别提供给所述码值采样电路。

在另一实施例中，所述目标参考信号为所述检测电路的多组参考信号中的一组参考信号；

所述电源电流检测电路中的检测电路在所述电源电流检测电路中的控制电路的控制下向所述电源电流检测电路中的放大电路分别输入目标参考信号和待检测信号包括：

所述控制电路控制所述检测电路的第一多路模拟开关中与所述目标参考信号连接的一路开关导通，所述检测电路通过被导通的一路开关向所述仪用放大电路输入所述目标参考信号；

所述控制电路控制所述第一多路模拟开关中与所述待检测信号连接的一路开关导通，所述检测电路通过被导通的一路开关向所述仪用放大电路输入所述待检测信号。

在另一实施例中，所述倍数放大电路在所述控制电路的控制下分别对所述前置放大后的目标参考信号和所述前置放大后的待检测信号进行放大处理包括：

所述控制电路控制所述倍数放大电路的第二多路模拟开关的一路开关导通，所述倍数放大电路分别对所述前置放大后的目标参考信号和所述前置放大后的待检测信号进行倍数放大处理，所述倍数放大处理的放大倍数为与所述第二多路模拟开关中被导通的一路开关连接的放大通道的放大倍数。

在另一实施例中，所述多组参考信号包括第一组参考信号和第二组参考信号，所述第一组参考信号的电压值小于所述第二组参考信号的电压值；

所述控制电路控制所述检测电路的第一多路模拟开关中与所述目标参考信号连接的一路开关导通之前包括：

所述控制电路将预先获取的所述待检测信号的电压估计值和预设电压门限进行比较，当所述待检测信号的电压估计值大于或等于所述预设电压门限时，选择所述第二组参考信号作为所述目标参考信号，当所述待检测信号的电压估计值小于所述预设电压门限时，选择所述第一组参考信号作为所述目标参考信号。

在另一实施例中，所述控制电路控制所述倍数放大电路的第二多路模拟开关的一路开关导通包括：

所述控制电路将所述待检测信号的电压估计值分别与所述第一组参考信号中的电压值和所述第二组参考信号的电压值进行比较，根据比较结果确定目标放大倍数，然后控制所述第二多路模拟开关中与放大倍数为所述目标放大倍数的放大通道连接的一路开关导通。

在另一实施例中，所述控制电路根据比较结果确定目标放大倍数包括：

所述控制电路在所述待检测信号的电压估计值大于所述第二组参考信号的电压值时，确定所述目标放大倍数为第一放大倍数，在所述待检测信号的电压估计值小于所述第一组参考信号的电压值时，确定所述目标放大倍数为第二放大倍数，在所述待检测信号的电压估计值大于所述第一组参考信号的电压值而小于所述第二组参考信号的电压值时，确定所述目标放大倍数为第三放大倍数；其中，所述第二放大倍数大于所述第三放大倍数，所述第三放大倍数大于所述第一放大倍数。

本发明实施例通过采用上述电流检测电路提高了采样精度，降低了分流器的规格，例如原来采用的75mv/1000A的分流器在本发明实施例中就可以用10mv/1000的一段铜排取代，这样就可以达到降低电流检测器件发热的目的。以上电流检测电路可以与现有技术类似，此处不再赘述。

上述电流检测电路及检测方法也可以应用于测试电路中对电流检测器件上的第一电压值的检测。

以上是对本发明方法实施例的描述，下面对实现上述方法的系统进行介绍。

参见图6，为本发明实施例一种电源检测电路的结构示意图。

该电路可以包括测试电路61和待检测电路62。

其中，测试电路61上串联有电流检测器件60；在所述待检测电路62上也串联有所述电流检测器件60。

所述测试电路61，用于在所述测试电路61通电后，测量所述电流检测器件60的第一电压值和第一电流值；计算所述电流检测器件60的第一电压值与第一电流值的比值，以获得所述电流检测器件61的规格；

所述待检测电路62，用于测量所述电流检测器件60在所述待检测电路62上的第二电压值；计算所述电流检测器件60的第二电压值与所述电流检测器件60的规格的比值，获得第二电流值，并将所述第二电流值作为所述待检测电路62的电流值。

在具体应用场景中，该电流检测器件可以与待检测电路中的通讯电源例如机柜直接固定。通过在该电流检测器件上外接上述测试电路进行电流检测器件的规格检测，然后撤除该测试电路，将获得的该电流检测器件的规格进行存储，后续在检测机柜的电流时即可直接使用该电流检测器件的规格进行检测。

在本发明的另一实施例中，在测试电路中，所述电流检测器件可以与高精度分流器串联，如图3所示，所述测试电路具体用于获得所述高精度分流器的电流值，作为所述第一电流值。

该测试电路中还可以包括与电流检测器件并联的检测电路，用于测量该电流检测器件上的第一电压值。该测试电路中还可以包括一处理电路，具体可以是一处理芯片，用于计算计算所述电流检测器件的第一电压值与第一电流值的比值，获得所述电流检测器件的规格，该处理电路还可以将该电流检测器件的规格发送至待检测电路，用于待检测电路计算电流检测器件的第二电压值与所述电流检测器件的规格的比值，获得第二电流值。

在本发明的另一实施例中，在所述待检测电路中，所述电流检测器件与电流检测电路并联，所述待检测电路具体用于通过所述电流检测电路测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值。

具体的，该电流检测电路可以如图4所示，包括：检测电路、放大电路、码值采样电路和控制电路；所述检测电路、所述放大电路和所述码值采样电路依次连接，所述控制电路分别与所述检测电路、所述放大电路和所述码值采样电路连接；

所述检测电路，用于在所述控制电路的控制下向所述放大电路分别输入目标参考信号和待检测信号，所述目标参考信号用于为计算所述待检测信号的电压值提供参考基准，所述待检测信号是连接在所述待检测电路上的所述电流检测器件输出的信号；

所述放大电路，用于在所述控制电路的控制下分别对所述目标参考信号和所述待检测信号进行放大处理，并将放大后的目标参考信号和放大后的待检测信号分别输入到所述码值采样电路；

所述码值采样电路，用于分别对所述放大后的目标参考信号和所述放大后的待检测信号进行采样，获取参考信号电压采样值和待检测信号电压采样值，并将所述参考信号电压采样值和所述待检测信号电压采样值提供给所述控制电路；

所述控制电路，用于控制所述检测电路向所述放大电路分别输入所述目标参考信号和所述待检测信号，控制所述放大电路分别对所述目标参考信号和所述待检测信号进行放大处理，并根据所述参考信号电压采样值、所述待检测信号电压采样值和所述目标参考信号的电压值计算出所述待检测信号的电压值，将所述待检测信号的电压值作为所述电流检测器件的所述第二电压值。

在另一实施例中，所述放大电路包括：仪用放大电路和倍数放大电路；

所述仪用放大电路，用于对所述目标参考信号和所述待检测信号分别进行前置放大处理，并将前置放大后的目标参考信号和前置放大后的待检测信号分别提供给所述倍数放大电路；

所述倍数放大电路，用于在所述控制电路的控制下分别对所述前置放大后的目标参考信号和所述前置放大后的待检测信号进行倍数放大处理，并将倍数放大后的目标参考信号和待检测信号分别提供给所述码值采样电路。

在另一实施例中，所述目标参考信号为所述检测电路的多组参考信号中的一组参考信号；

所述检测电路包括第一多路模拟开关，所述检测电路中的每组参考信号和所述待检测信号分别与所述第一多路模拟开关的一路开关连接，所述第一多路模拟开关的输出端与所述仪用放大电路连接；

所述控制电路具体用于控制所述第一多路模拟开关中与所述目标参考信号连接的一路开关导通，以控制所述检测电路向所述仪用放大电路输入所述目标参考信号，控制所述第一多路模拟开关中与所述待检测信号连接的一路开关导通，以控制所述检测电路向所述仪用放大电路输入所述待检测信号。

在另一实施例中，所述检测电路还包括：输入开关，所述输入开关分别与所述分流器和所述第一多路模拟开关中与所述待检测信号连接的一路开关连接。

所述倍数放大电路包括多个放大通道和第二多路模拟开关；每个所述放大通道与所述第二多路模拟开关的一路开关连接，所述第二多路模拟开关的输出端与所述码值采样电路连接，所述多个放大通道中各个放大通道的放大倍数不同；

所述控制电路具体用于控制所述第二多路模拟开关的一路开关导通，以控制所述倍数放大电路分别对所述第一次放大后的目标参考信号和第一次放大后的待检测信号进行倍数放大处理，所述倍数放大处理的放大倍数为与所述第二多路模拟开关中被导通的一路开关连接的放大通道的放大倍数。

所述多组参考信号包括第一组参考信号和第二组参考信号，所述第一组参考信号的电压值小于所述第二组参考信号的电压值；

所述控制电路具体用于，将预先获取的所述待检测信号的电压估计值和预设电压门限进行比较，当所述待检测信号的电压估计值大于或等于所述预设电压门限时，选择所述第二组参考信号作为所述目标参考信号，当所述待检测信号的电压估计值小于所述预设电压门限时，选择所述第一组参考信号作为所述目标参考信号；然后控制所述第一多路模拟开关中与所述目标参考信号连接的一路开关导通，以控制所述检测电路向所述仪用放大电路输入所述目标参考信号。

在另一实施例中，所述控制电路具体用于将所述待检测信号的电压估计值分别与所述第一组参考信号中的电压值和所述第二组参考信号的电压值进行比较，根据比较结果确定目标放大倍数，然后控制所述第二多路模拟开关中与放大倍数为所述目标放大倍数的放大通道连接的一路开关导通，以控制所述倍数放大电路分别对所述前置放大后的目标参考信号和所述前置放大后的待检测信号进行放大倍数为所述目标放大倍数的倍数放大处理。

所述控制电路具体用于，在所述待检测信号的电压估计值大于所述第二组参考信号的电压值时，确定所述目标放大倍数为第一放大倍数，在所述待检测信号的电压估计值小于所述第一组参考信号的电压值时，确定所述目标放大倍数为第二放大倍数，在所述待检测信号的电压估计值大于所述第一组参考信号的电压值而小于所述第二组参考信号的电压值时，确定所述目标放大倍数为第三放大倍数；其中，所述第二放大倍数大于所述第三放大倍数，所述第三放大倍数大于所述第一放大倍数。

在另一实施例中，所述目标参考信号包括基准信号和地信号，所述参考信号电压采样值包括所述基准信号电压采样值和地信号电压采样值；

所述控制电路具体用于根据公式（M_v-M_GND)/V=（M_IREF-M_GND)/V_IREF，计算所述待检测信号的电压值；

其中，M_v为所述待检测信号电压采样值；

M_IREF为所述基准信号电压采样值；

M_GND为所述地信号电压采样值；

V_IREF为所述目标参考信号的电压值；

V为所述待检测信号的电压值。

以上该电流检测电路的结构以及电流检测器件上的第二电压值的测量方法与现有技术类似，此处不再赘述。

在另一实施例中，该待检测电路中还可以包括一处理电路，具体可以是一处理芯片，用于接收测试电路发送的电流检测器件的规格，并计算所述电流检测器件的第二电压值与所述电流检测器件的规格的比值，获得第二电流值。当然，上述处理电路的处理过程也可以直接由电流检测电路中的控制电路执行。

本发明实施例中，该电流检测器件具体可以是任意一个没有精度要求的，与现有分流器相同材质，温度系数较好的器件，例如一段铜排，该铜排的材料可以是锰铜。

本发明实施例通过采用一没有精度要求的电流检测器件，首先通过测试电路获得该电流检测器件的规格，然后在待检测电路利用该电流检测器件的规格以及该电流检测器件在待检测电路中的电压值即可计算获得该待检测电路中的电流。该系统无需配置标准规格的高精度的分流器，只需采用一无精度要求的电流检测器件即可实现对待检测电路电流的高精度检测，大大降低了对电流检测器件的要求，降低了对电流检测的局限，而且，由于无需使用高精度分流器，大大降低了电流检测的成本。

而且通过采用上述电流检测电路利用上述测量方法提高了采样精度，实现了高精度测量，同时降低了分流器的规格，这样就可以达到降低电流检测器件发热的目的。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）或处理器（processor）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

1.一种电流检测方法，其特征在于，包括：

给测试电路通电，并测量所述测试电路上的电流检测器件的第一电压值和第一电流值；

计算所述电流检测器件的第一电压值与第一电流值的比值，以获得所述电流检测器件的规格；

将所述电流检测器件接入待检测电路，测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值；

计算所述电流检测器件的第二电压值与所述电流检测器件的规格的比值，以获得第二电流值，并将所述第二电流值作为所述待检测电路的电流值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量所述测试电路上的电流检测器件的第一电流值，包括：

在所述测试电路中接入分流器，使所述分流器与所述电流检测器件串联，获得所述分流器的电流值，并将所述分流器的电流值作为所述第一电流值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值，包括：

在所述待检测电路中，在所述电流检测器件上并联电流检测电路，通过所述电流检测电路测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述通过所述电流检测电路测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值，包括：

所述电流检测电路中的检测电路在所述电流检测电路中的控制电路的控制下向所述电流检测电路中的放大电路分别输入目标参考信号和待检测信号；所述目标参考信号用于为计算所述待检测信号的电压值提供参考基准，所述待检测信号是连接在所述待检测电路上的所述电流检测器件输出的信号；

所述放大电路在所述控制电路的控制下分别对所述目标参考信号和所述待检测信号进行放大处理，并将放大后的目标参考信号和放大后的待检测信号分别输入到所述电流检测电路中的码值采样电路；

所述码值采样电路分别对所述放大后的目标参考信号和所述放大后的待检测信号进行采样，获取参考信号电压采样值和待检测信号电压采样值，并将所述参考信号电压采样值和所述待检测信号电压采样值提供给所述控制电路；

所述控制电路根据所述参考信号电压采样值、所述待检测信号电压采样值和所述目标参考信号的电压值计算出所述待检测信号的电压值，将所述待检测信号的电压值作为所述电流检测器件的所述第二电压值。

5.一种电源检测电路，其特征在于，包括测试电路和待检测电路；

所述测试电路，用于在所述测试电路通电后，测量所述测试电路上的电流检测器件的第一电压值和第一电流值；计算所述电流检测器件的第一电压值与第一电流值的比值，以获得所述电流检测器件的规格；

所述待检测电路，用于测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值；计算所述电流检测器件的第二电压值与所述电流检测器件的规格的比值，以获得第二电流值，并将所述第二电流值作为所述待检测电路的电流值。

6.根据权利要求5所述的电路，其特征在于，在所述测试电路中，所述电流检测器件与分流器串联，所述测试电路具体用于获得所述分流器的电流值，并将所述分流器的电流值作为所述第一电流值。

7.根据权利要求5所述的电路，其特征在于，在所述待检测电路中，所述电流检测器件与电流检测电路并联，所述待检测电路具体用于通过所述电流检测电路测量所述电流检测器件在所述待检测电路上的第二电压值。

8.根据权利要求7所述的电路，其特征在于，所述电流检测电路包括：检测电路、放大电路、码值采样电路和控制电路；所述检测电路、所述放大电路和所述码值采样电路依次连接，所述控制电路分别与所述检测电路、所述放大电路和所述码值采样电路连接；

所述检测电路，用于在所述控制电路的控制下向所述放大电路分别输入目标参考信号和待检测信号，所述目标参考信号用于为计算所述待检测信号的电压值提供参考基准，所述待检测信号是连接在所述待检测电路上的所述电流检测器件输出的信号；

所述放大电路，用于在所述控制电路的控制下分别对所述目标参考信号和所述待检测信号进行放大处理，并将放大后的目标参考信号和放大后的待检测信号分别输入到所述码值采样电路；

所述码值采样电路，用于分别对所述放大后的目标参考信号和所述放大后的待检测信号进行采样，获取参考信号电压采样值和待检测信号电压采样值，并将所述参考信号电压采样值和所述待检测信号电压采样值提供给所述控制电路；

所述控制电路，用于控制所述检测电路向所述放大电路分别输入所述目标参考信号和所述待检测信号，控制所述放大电路分别对所述目标参考信号和所述待检测信号进行放大处理，并根据所述参考信号电压采样值、所述待检测信号电压采样值和所述目标参考信号的电压值计算出所述待检测信号的电压值，将所述待检测信号的电压值作为所述电流检测器件的所述第二电压值。

9.根据权利要求5至8中任意一项所述的电路，其特征在于，所述电流检测器件为一段铜排。

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