CN103217137B - 胶层厚度测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及测量方法技术领域，特别是在生产胶带过程中测量胶层厚度的一种胶层厚度测量方法；通过从原膜上裁剪出原膜片再把所述原膜片，粘附于离型纸或离型膜带胶表面，接着扯下所述原膜片，此时所述原膜片上粘有胶层，得到胶层原膜片，再测量所述胶层原膜片的厚度，再减去所述原膜片的厚度，即可得到胶层厚度，本发明的测量方法，适用于随机检测，在检测过程中不需停机，且由于不需要采用传统的割口的方法，因此可有效防止材料跑偏，导致双面胶打皱的问题，有效提高了工作效率和产品的成品率。
Description
技术领域
本发明涉及测量方法技术领域，特别是在生产胶带过程中测量胶层厚度的一种胶层厚度测量方法。
背景技术
目前双面胶带的自动生产线一般采用以下方法生产胶带，先让离型纸或离型膜通过胶槽，使离型纸或离型膜的一面粘上胶层，然后再把带胶层的离型纸或离型膜贴附在基材的一侧，即可得到单面胶带，通过相同的方法把基材的另一侧也贴附上胶层，即可得到双面胶带。
由于胶层的厚度直接影响胶带的粘贴性能，因此在生产的过程中实时监控离型纸或离型膜上的胶层的厚度显得尤为重要。目前胶带生产行业，测量胶层厚度的方法一般是采用割口测试的方法，即是在生产过程中，从带胶的离型纸或离型膜的边沿割出一小块，然后进行厚度检测，再把测得的厚度减去离型纸或离型膜的厚度，即可得到胶层的厚度。
采用上述的方法虽然简单，但存在以下问题，边沿带有割口的胶带基材再给基材的另一面粘附胶带时，割口过对边机的时候，由于对边机的测检装置检测不到胶带的边沿，无法对边，为强制对边，设备会发出错误的指令，致使材料跑偏，从而使双面胶打皱，造成良品率下降。
发明内容
本发明为了解决目前双面胶生产过程中由于采用割口检测的方法，导致双面胶打皱，造成良品率下降的问题，而提供的一种胶层厚度测量方法。
为达到上述功能，本发明提供的技术方案是：
一种胶层厚度测量方法，所述测量方法包括以下步骤：
（1）、取出部分原膜，把所述原膜裁剪为原膜片；
（2）、把所述原膜片粘附于离型纸或离型膜带胶表面；
（3）、扯下所述原膜片，此时所述原膜片上粘有胶层，得到胶层原膜片；
（4）、测量所述胶层原膜片的厚度，再减去所述原膜片的厚度，得到胶层厚度。
优选地，所述原膜为厚度为80um～120um的PET原膜。
优选地，所述原膜片的宽度为15mm～25mm，所述原膜片的长度为80mm～120mm。
优选地，所述PET原膜的厚度为100um。
优选地，所述原膜片的宽度为20mm，所述原膜片的长度为
100mm。
本发明的有益效果在于：一种胶层厚度测量方法，通过从原膜上裁剪出原膜片再把所述原膜片，粘附于离型纸或离型膜带胶表面，接着扯下所述原膜片，此时所述原膜片上粘有胶层，得到胶层原膜片，再测量所述胶层原膜片的厚度，再减去所述原膜片的厚度，即可得到胶层厚度，本发明的测量方法，适用于随机检测，在检测过程中不需停机，且由于不需要采用传统的割口的方法，因此可有效防止材料跑偏，导致双面胶打皱的问题，有效提高了工作效率和产品的成品率。
具体实施方式
本实施例的胶层厚度测量方法，包括以下步骤：
（1）、取出部分厚度为100um的PET原膜，把所述PET裁剪为原膜片，原膜片的宽度为20mm，原膜片的长度为100mm；
（2）、把原膜片粘附于离型纸或离型膜带胶表面；
（3）、扯下原膜片，此时原膜片上粘有胶层，得到胶层原膜片；
（4）、测量胶层原膜片的厚度，再减去原膜片的厚度，得到胶层厚度。
在实际使用过程中，PET原膜可以采用生产过程中产生的PET原膜边角料即可，且厚度为100um的PET原膜只是本实施例所采用的一种，我们可以跟据当时的生产实际情况，采用其它种类和厚度规格的原膜，实验表明，采用厚度为80um～120um的原膜，测量效果较佳。
原膜片的规格，我们也可以跟据需要进行裁剪，只要能带出胶层，且方便测量即可，一般原膜片的宽度为15mm～25mm，长度为80mm～120mm时，使用起来较为方便。
以上所述实施例，只是本发明的较佳实例，并非来限制本发明的实施范围，故凡依本发明申请专利范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均应包括于本发明专利申请范围内。
Claims (4)
1.一种胶层厚度测量方法，其特征在于：所述测量方法包括以下步骤：
（1）、取出部分原膜，把所述原膜裁剪为原膜片，所述原膜为厚度为80um～120um的PET原膜；
（2）、把所述原膜片粘附于离型纸或离型膜带胶表面；
（3）、扯下所述原膜片，此时所述原膜片上粘有胶层，得到胶层原膜片；
（4）、测量所述胶层原膜片的厚度，再减去所述原膜片的厚度，得到胶层厚度。
2.如权利要求1所述的胶层厚度测量方法，其特征在于：所述原膜片的宽度为15mm～25mm，所述原膜片的长度为80mm～120mm。
3.如权利要求1所述的胶层厚度测量方法，其特征在于：所述PET原膜的厚度为100um。
4.如权利要求2所述的胶层厚度测量方法，其特征在于：所述原膜片的宽度为20mm，所述原膜片的长度为100mm。
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