CN103176279A - 同光路准直器及其准直方法 - Google Patents

同光路准直器及其准直方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103176279A
CN103176279A CN2011104343524A CN201110434352A CN103176279A CN 103176279 A CN103176279 A CN 103176279A CN 2011104343524 A CN2011104343524 A CN 2011104343524A CN 201110434352 A CN201110434352 A CN 201110434352A CN 103176279 A CN103176279 A CN 103176279A
Authority
CN
China
Prior art keywords
light path
same light
adjustment rack
dimension adjustment
same
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2011104343524A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103176279B (zh
Inventor
季朝华
陆衍
刘理
姚建波
管海兵
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pavilion Integration Suzhou Co Ltd
Original Assignee
Pavilion Integration Suzhou Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pavilion Integration Suzhou Co Ltd filed Critical Pavilion Integration Suzhou Co Ltd
Priority to CN201110434352.4A priority Critical patent/CN103176279B/zh
Publication of CN103176279A publication Critical patent/CN103176279A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103176279B publication Critical patent/CN103176279B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

本发明揭示了一种同光路准直器，包括一水平检测台，所述水平检测台上设有第一五维调整架和第二五维调整架，所述第一五维调整架上设有基准激光光源，所述第二五维调整架上设有用于模拟待测激光器的同光路座，所述同光路座的同一轴向上设有两个中空的圆筒，所述两个圆筒相对的端面为开口，相反的端面为封闭的，且所述端面上分别开设有一个小孔，所述基准激光光源的出光口正对所述小孔。本发明利用同光路座模拟待测激光器的出光位置进行准直，无需调整基准激光光源和光束扫描仪即可适用于不同类型的激光器产品的检测，结构简单，操作方便，体积小、成本低。

Description

同光路准直器及其准直方法
技术领域
本发明涉及半导体激光器领域，尤其涉及一种激光器的同光路准直器及其准直方法。
背景技术
近年来，随着光电子技术的发展，半导体激光器得到了越来越广泛的应用，其具有光电转换效率高、覆盖波长范围广、使用寿命长、能高速调制、体积小、重量轻、价格便宜等特点。激光器在完成组装后需要用光束扫描仪进行扫描，以检测产品是否合格。不同类型的激光器产品的出光位置不尽相同，因此检测不同类型的激光器时需要重新调整光源和光束扫描仪，并重新校准两者之间的位置关系，操作繁琐。
发明内容
鉴于上述现有技术存在的缺陷，本发明的目的是提出一种简单易行的激光器的同光路准直器及其准直方法。
本发明的目的将通过以下技术方案得以实现：
一种同光路准直器，包括一水平检测台，所述水平检测台上设有第一五维调整架和第二五维调整架，所述第一五维调整架上设有基准激光光源，所述第二五维调整架上设有用于模拟待测激光器的同光路座，所述同光路座的同一轴向上设有两个中空的圆筒，所述两个圆筒相对的端面为开口，相反的端面为封闭的，且所述端面上分别开设有一个小孔，所述基准激光光源的出光口正对所述小孔。
优选的，上述的同光路准直器，其中：所述第二五维调整架和同光路座之间设有一基准垫块。
优选的，上述的同光路准直器，其中：所述作业平台为磁性平台，所述第一五维调整架和第二五维调整架上分别设有磁性开关。
一种根据上述的同光路准直器的准直方法，包括以下步骤：
步骤一：将所述基准激光光源和光束扫描仪进行准直；
步骤二：将与待测的激光器有相同的出光高度及边缘距离的所述同光路座置于所述第二五维调整架上，调整所述第二五维调整架，使所述同光路座距离光束扫描仪的最小距离等于待测的激光器的工作距离；
步骤三：调整所述第一五维调整架，使所述基准激光光源的激光通过所述小孔的光功率最大，将此时的光速扫描仪的位置归零；
步骤四：除去所述同光路座，在第二五维调整架上的同一位置用待测的激光器置换，即可开始检测。
本发明的突出效果为：本发明提供了一种激光器的同光路准直器及其准直方法，利用同光路座模拟待测激光器的出光位置进行准直，无需调整基准激光光源和光束扫描仪即可适用于不同类型的激光器产品的检测，结构简单，操作方便，体积小、成本低。
以下便结合实施例附图，对本发明的具体实施方式作进一步的详述，以使本发明技术方案更易于理解、掌握。
附图说明
图1是本发明实施例的结构示意图；
图2是本发明实施例的俯视图。
具体实施方式
实施例：
本实施例的一种同光路准直器，包括水平检测台，如图1和图2所示，水平检测台上设有第一五维调整架1和第二五维调整架2，作业平台为磁性平台，第一五维调整架1和第二五维调整架2上分别设有磁性开关（图中未标示）。第一五维调整架1上设有基准激光光源3，第二五维调整架2上设有用于模拟待测激光器的同光路座4，同光路座4的同一轴向上设有两个中空的圆筒5，两个圆筒5相对的端面为开口，相反的端面为封闭的，且端面上分别开设有一个小孔6，基准激光光源3的出光口正对小孔6，。第二五维调整架2和同光路座4之间设有基准垫块7。
一种上述的同光路准直器的准直方法，包括以下步骤：
步骤一：将基准激光光源3和光束扫描仪进行准直；
步骤二：将与待测的激光器有相同的出光高度及边缘距离的同光路座4置于第二五维调整架2上，调整第二五维调整架2，使同光路座4距离光束扫描仪的最小距离等于待测的激光器的工作距离；
步骤三：调整第一五维调整架1，使基准激光光源3的激光8通过小孔6的光功率最大，将此时的光速扫描仪的位置归零；
步骤四：除去同光路座4，在第二五维调整架2上的同一位置用待测的激光器置换，即可开始检测。
本实施例提供了一种激光器的同光路准直器及其准直方法，利用同光路座4模拟待测激光器的出光位置进行准直，无需调整基准激光光源3和光束扫描仪即可适用于不同类型的激光器产品的检测，结构简单，操作方便，体积小、成本低。
本发明尚有多种实施方式，凡采用等同变换或者等效变换而形成的所有技术方案，均落在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种同光路准直器，包括一水平检测台，其特征在于：所述水平检测台上设有第一五维调整架和第二五维调整架，所述第一五维调整架上设有基准激光光源，所述第二五维调整架上设有用于模拟待测激光器的同光路座，所述同光路座的同一轴向上设有两个中空的圆筒，所述两个圆筒相对的端面为开口，相反的端面为封闭的，且所述端面上分别开设有一个小孔，所述基准激光光源的出光口正对所述小孔。
2.根据权利要求1所述的同光路准直器，其特征在于：所述第二五维调整架和同光路座之间设有一基准垫块。
3.根据权利要求1所述的同光路准直器，其特征在于：所述作业平台为磁性平台，所述第一五维调整架和第二五维调整架上分别设有磁性开关。
4.一种根据权利要求1所述的同光路准直器的准直方法，其特征在于包括以下步骤：
步骤一：将所述基准激光光源和光束扫描仪进行准直；
步骤二：将与待测的激光器有相同的出光高度及边缘距离的所述同光路座置于所述第二五维调整架上，调整所述第二五维调整架，使所述同光路座距离光束扫描仪的最小距离等于待测的激光器的工作距离；
步骤三：调整所述第一五维调整架，使所述基准激光光源的激光通过所述小孔的光功率最大，将此时的光速扫描仪的位置归零；
步骤四：除去所述同光路座，在第二五维调整架上的同一位置用待测的激光器置换，即可开始检测。
CN201110434352.4A 2011-12-22 2011-12-22 同光路准直器及其准直方法 Active CN103176279B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110434352.4A CN103176279B (zh) 2011-12-22 2011-12-22 同光路准直器及其准直方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110434352.4A CN103176279B (zh) 2011-12-22 2011-12-22 同光路准直器及其准直方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103176279A true CN103176279A (zh) 2013-06-26
CN103176279B CN103176279B (zh) 2015-08-26

Family

ID=48636253

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201110434352.4A Active CN103176279B (zh) 2011-12-22 2011-12-22 同光路准直器及其准直方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103176279B (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106229799A (zh) * 2016-09-13 2016-12-14 深圳大学 一种小型激光器系统
WO2018049599A1 (zh) * 2016-09-14 2018-03-22 深圳大学 一种小型激光器系统
CN108508617A (zh) * 2017-02-24 2018-09-07 中国科学院半导体研究所 激光器准直装置及准直方法
CN108873293A (zh) * 2018-07-10 2018-11-23 长沙健金电子技术有限公司 一种具有四个激光的光镊捕获粒子或细胞的装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005008235A2 (en) * 2003-07-08 2005-01-27 Applera Corporation Electrophoretic system with multi-notch filter and laser excitation source
CN201222112Y (zh) * 2008-05-23 2009-04-15 北京中视中科光电技术有限公司 一种光学元件的磁性调节装置
CN202383363U (zh) * 2011-12-22 2012-08-15 维林光电(苏州)有限公司 同光路准直器

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005008235A2 (en) * 2003-07-08 2005-01-27 Applera Corporation Electrophoretic system with multi-notch filter and laser excitation source
CN201222112Y (zh) * 2008-05-23 2009-04-15 北京中视中科光电技术有限公司 一种光学元件的磁性调节装置
CN202383363U (zh) * 2011-12-22 2012-08-15 维林光电(苏州)有限公司 同光路准直器

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
毕谦 等: ""激光准直检测仪的研制及其应用开发"", 《实验力学》 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106229799A (zh) * 2016-09-13 2016-12-14 深圳大学 一种小型激光器系统
WO2018049599A1 (zh) * 2016-09-14 2018-03-22 深圳大学 一种小型激光器系统
CN108508617A (zh) * 2017-02-24 2018-09-07 中国科学院半导体研究所 激光器准直装置及准直方法
CN108873293A (zh) * 2018-07-10 2018-11-23 长沙健金电子技术有限公司 一种具有四个激光的光镊捕获粒子或细胞的装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN103176279B (zh) 2015-08-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101922974B (zh) 一种激光参数性能测试自动标定装置及其方法
CN103176279A (zh) 同光路准直器及其准直方法
CN104316001B (zh) 一种无基准孔系同轴度误差测量系统及其测量方法
CN103308903B (zh) 一种激光测距机的测距精度测试装置及方法
CN101915756B (zh) 高真空针尖增强拉曼装置
CN103528676B (zh) 一种半导体激光器光强分布测试方法及其装置
CN109856054A (zh) 一种腔衰荡光谱的检测装置
CN202734770U (zh) 基于等厚干涉原理检测全反射棱镜胶合面平行度的装置
CN202916196U (zh) 基于单束光分束的激光诱导击穿光谱分析装置
CN102749037B (zh) 光电式抱杆挠度检测装置及其检测方法
CN103399413A (zh) 基于双螺旋光束的样品轴向漂移检测及补偿方法和装置
CN101701804B (zh) 准直光束检测装置
CN202383363U (zh) 同光路准直器
Belotelov et al. Simulation of misalignment scenarios for CMS tracking devices
CN102841097B (zh) 基于高精度复位技术的损伤阈值测量方法及测量装置
CN102954839B (zh) 一种时域泵浦探测的光学延迟扫描装置及方法
CN106197950A (zh) 一种米级尺度多光轴平行检测装置及检测方法
CN103926001B (zh) 一种高速多光谱无限远动态目标发生方法与装置
CN205808675U (zh) 一种米级尺度多光轴平行检测装置
CN202002626U (zh) 光纤连接器的激光角度检测装置
CN102213585B (zh) 单光源双光路并行共焦测量系统
CN104502067A (zh) 一种傅里叶变换平面光栅相对衍射效率测试仪
CN203824653U (zh) 一种基于分子电离探测的飞秒激光脉冲宽度测量仪
CN206683841U (zh) 空气动力学透镜聚焦颗粒束宽及发散角检测装置
CN202793991U (zh) 一种采用折叠光路的激光粒度仪

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant