CN103163390A - Usb接口测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种USB接口测试装置，包括多个子电路，分别连接至相应的待测USB接口；控制电路，连接至所述多个子电路，用以依次选通其中一个子电路；热插拔电路，连接至该多个子电路，并在选通的子电路的控制下，使得一USB设备分别与该第一USB接口建立连接或断开连接；电压测试电路，连接至该多个子电路，用以分别当所述USB设备与该第一USB接口建立连接或断开连接时，测试与所述第一USB接口相邻的第二USB接口的抗干扰能力。本发明的USB接口测试装置的测试效率较高。

Description

USB接口测试装置
技术领域
本发明涉及一种电子设备质量测试装置，尤其涉及一种用于测试USB接口的测试装置。
背景技术
目前，带有通用串行总线（universal serial bus，USB）端口的电子设备（例如电脑）越来越多。为保证USB接口能正常工作，在电子设备出厂检验及日常维护时需要经常测试USB接口的品质，例如测试当在其中一USB接口上不断地插拔鼠标、键盘、移动硬盘、打印机等USB设备时，该待测USB接口的连接质量以及对其他USB接口的干扰情况。然而，当需要进行测试的USB接口的数量较多时，需要将测试装置逐一连接至各个USB接口，进而分别对每一USB接口进行测试。由于测试时需要频繁地插拔测试装置，使得测试时间较长，效率较低。
发明内容
鉴于上述内容，有必要提供一种测试效率较高的USB接口测试装置。
一种USB接口测试装置，连接至一电子设备，该电子设备包括多组待测USB接口，每一组待测USB接口均包括第一USB接口及第二USB接口；该USB接口测试装置包括多个子电路，该多个子电路分别连接至相应的待测USB接口；控制电路，连接至所述多个子电路，用以依次选通其中一个子电路；热插拔电路，连接至该多个子电路，并在选通的子电路的控制下，使得一USB设备分别与该第一USB接口建立连接或断开连接；及电压测试电路，连接至该多个子电路，用以分别当所述USB设备与该第一USB接口建立连接或断开连接时，测试与所述第一USB接口相邻的第二USB接口的抗干扰能力。
上述USB接口测试装置通过该控制电路分别选通不同的子电路，进而依次对多组待测USB接口的性能进行测试。本发明的USB接口测试装置不需将该USB接口测试装置频繁地在各个待测USB接口上进行物理插拔，其测试时间较短，效率更高。
附图说明
图1为本发明较佳实施方式的USB接口测试装置的功能框图。
图2为图1所示USB接口测试装置中控制电路的电路图。
图3为图1所示USB接口测试装置中子电路的电路图。
主要元件符号说明
USB接口测试装置 100
电子设备 200
控制电路 11
子电路 12-15
热插拔电路 16
电压测试电路 17
负载电路 18
控制芯片 111
电阻 R0-R4
发光二极管 D0-D3
选通控制端 PC0-PC3
指示控制端 PA0-PA3
开关控制端 PB
控制开关 S
第一端口 121
第二端口 122
第一切换开关 123
第二切换开关 124
输入端 Vin
第一输出端 Vout1
第二输出端 Vout2
选通端 sel
待测USB接口 21-24
第一USB接口 211
第二USB接口 212
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1，本发明较佳实施方式提供一种通用串行总线（universal serial bus，USB）接口测试装置100，连接至一电子设备200上。该电子设备200可以为电脑主板，包括多组待测USB接口（本实施方式中为四组待测USB接口21-24）。每一组待测USB接口均包括第一USB接口及第二USB接口。例如，该待测USB接口21包括第一USB接口211及第二USB接口212（见图3）。该USB接口测试装置100包括控制电路11、多个子电路（本实施例中为四个子电路12-15）、热插拔电路16、电压测试电路17及负载电路18。该多个子电路12-15分别连接至相应的待测USB接口。该多个子电路12-15中的每一个均分别连接至该控制电路11、热插拔电路16、电压测试电路17及负载电路18。该多个子电路用以在该控制电路11的控制下，分别连接至该热插拔电路16、电压测试电路17及负载电路18，进而分别测试每一组待测USB接口中的第一USB接口及第二USB接口之间的抗干扰能力。例如当插设于第一USB接口211上的U盘、鼠标、键盘、打印机、扫描仪等USB设备分别与该第一USB接口211建立连接或断开连接时，所述第二USB接口212的电压是否处于稳定状态。
请一并参阅图2，该控制电路11包括控制芯片111、控制开关S及一组发光二极管D0-D3。其中，该控制芯片111的型号可以为MK7A20P，包括一组选通控制端PC0-PC3、一组指示控制端PA0-PA3及开关控制端PB。该选通控制端PC0-PC3分别连接至相应的子电路，用以分别选通或关闭相应的子电路，进而分别对相应的待测USB接口中的第一USB接口及第二USB接口进行测试。该组指示控制端PA0-PA3分别通过相应的电阻R0-R3连接至该发光二极管D0-D3的阳极，该组发光二极管D0-D3的阴极均接地。例如，指示控制端PA0通过电阻R0连接至发光二极管D0的阳极，该发光二极管D0的阴极接地。该开关控制端PB通过该控制开关S接地。该开关控制端PB还通过一电阻R4连接至一供电电源VCC。
请一并参阅图3，该子电路12包括第一端口121、第二端口122、第一切换开关123及第二切换开关124。该第一端口121可通过USB数据线连接至该待测USB接口21的第一USB接口211，该第二端口122可通过USB数据线连接至该待测USB接口21的第二USB接口212。该第一切换开关123及第二切换开关124均包括输入端Vin、第一输出端Vout1、第二输出端Vout2及选通端Sel。其中，该第一切换开关123的输入端Vin连接至该第一端口121。该第二切换开关124的输入端Vin连接至该第二端口122。该第一切换开关123的第一输出端Vout1连接至该热插拔电路16，用以输出相应的控制信号至所述热插拔电路16。该第二切换开关124的第一输出端Vout1连接至该电压测试电路17。该第一切换开关123及第二切换开关124的第二输出端Vout2均连接至该负载电路18。该第一切换开关123及第二切换开关124的选通端sel均连接至该选通控制端PC0。
该子电路13所包含的元件及元件之间的连接关系与该子电路12基本相同，其区别在于该子电路13中第一切换开关的输入端Vin是连接至待测USB接口22的第一USB接口。该第二切换开关的输入端Vin是连接至该待测USB接口22的第二USB接口。该第一切换开关及第二切换开关的选通端sel均连接至该选通控制端PC1。在此不再赘述。
该子电路14所包含的元件及元件之间的连接关系与该子电路12基本相同，其区别在于该子电路14中第一切换开关的输入端Vin是连接至待测USB接口23的第一USB接口。该第二切换开关的输入端Vin是连接至该待测USB接口23的第二USB接口。该第一切换开关及第二切换开关的选通端sel均连接至该选通控制端PC2。在此不再赘述。
该子电路15所包含的元件及元件之间的连接关系与该子电路12基本相同，其区别在于该子电路15中第一切换开关的输入端Vin是连接至待测USB接口24的第一USB接口。该第二切换开关的输入端Vin是连接至该待测USB接口24的第二USB接口。该第一切换开关及第二切换开关的选通端sel均连接至该选通控制端PC3。在此不再赘述。
该热插拔电路16连接至该第一切换开关的第一输出端Vout1，并连接至该USB设备及该组待测USB接口21-24之间，用以在该第一切换开关的控制下，将所述USB设备插入该待测USB接口21-24，或将所述USB设备与该待测USB接口断开连接。
该电压测试电路17可以为一示波器，其通过一测试探针连接至该第二切换开关的第一输出端Vout1。当与该第二USB接口相邻的第一USB接口与该USB设备建立连接或断开连接时，所述电压测试电路17用以测试此时该第二USB接口的电压输出状况，进而判断该第一USB接口与第二USB接口之间的抗干扰能力。例如，当所述第一USB接口与该USB设备建立连接或断开连接时，该电压测试电路17测得与该第一USB接口相邻的第二USB接口的电压满足预设的标准时，说明该第二USB接口对与其相邻的第一USB接口的抗干扰能力较强；反之，则较差。
该负载电路18用以为该第一USB接口及第二USB接口分别提供相应的负载。
下面详细介绍该USB接口测试装置100的工作原理。
首先，通过USB数据线将所述第一端口分别连接至所述电子设备200上相应的第一USB接口，将该第二端口通过USB数据线分别连接至电子设备200上相应的第二USB接口，进而使得所述USB接口测试装置100通过所述第一端口及第二端口与电子设备200建立通信。操作该控制开关S，使得所述控制芯片111通过选通控制端PC0-PC3输出相应的控制信号，例如1000，进而选通该子电路12，而关闭子电路13-15。此时，该子电路12的第一切换开关123及第二切换开关124正常工作，使得所述第一USB接口211通过第一端口121及第一切换开关123连接至相应的负载电路18；该第二USB接口212通过第二端口122及第二切换开关124连接至负载电路18。此时，该第一切换开关123通过第一输出端Vout1输出相应的控制信号至所述热插拔电路16，使得所述热插拔电路16控制将该USB设备与该第一USB接口211建立连接或断开连接。而该电压测试电路17则在该第一USB接口211与该USB设备建立连接或断开连接时，分别测试该第二USB接口212的电压状况，进而判断该第二USB接口212对该第一USB接口211的抗干扰能力。
可以理解，当所述控制芯片111通过选通控制端PC0-PC3选通相应的子电路12时，还可通过该指示控制端PA0-PA3输出相应的控制信号（例如1000），进而使得该发光二极管D0发光，以提示操作者此时正测试该待测USB接口21的性能。
当所述待测USB接口21测试完成后，所述操作者可再次按压该控制开关S，以对所述待测USB接口22进行测试，其测试原理与所述待测USB接口21的测试原理相同，在此不再赘述。然后再依次测试其余待测USB接口，直至所有的待测USB接口测试完毕。
显然，上述USB接口测试装置100通过该控制电路11分别选通不同的子电路，进而依次对多组待测USB接口的性能进行测试。本发明的USB接口测试装置100不需将该USB接口测试装置100频繁地在各个待测USB接口上进行物理插拔，其测试时间较短，效率更高。
另外，本领域技术人员还可在本发明权利要求公开的范围和精神内做其他形式和细节上的各种修改、添加和替换。当然，这些依据本发明精神所做的各种修改、添加和替换等变化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。

Claims (9)

1.一种USB接口测试装置，连接至一电子设备，该电子设备包括多组待测USB接口，每一组待测USB接口均包括第一USB接口及第二USB接口；其特征在于：该USB接口测试装置包括：
多个子电路，该多个子电路分别连接至相应的待测USB接口；
控制电路，连接至所述多个子电路，用以依次选通其中一组子电路；
热插拔电路，连接至该多个子电路，并在选通的子电路的控制下，使得一USB设备分别与该第一USB接口建立连接或断开连接；及
电压测试电路，连接至该多个子电路，用以分别当所述USB设备与该第一USB接口建立连接或断开连接时，测试与所述第一USB接口相邻的第二USB接口的抗干扰能力。
2.如权利要求1所述的USB接口测试装置，其特征在于：每一子电路包括第一端口及第二端口，该第一端口连接至相应的第一USB接口，该第二端口连接至相应的第二USB接口。
3.如权利要求2所述的USB接口测试装置，其特征在于：每一子电路包括第一切换开关及第二切换开关，该第一切换开关及第二切换开关均包括输入端、第一输出端及选通端，该第一切换开关的输入端连接至该第一端口，该第二切换开关的输入端连接至该第二端口，该第一切换开关的第一输出端连接至该热插拔电路，用以输出相应的控制信号至所述热插拔电路，该第二切换开关的第一输出端连接至该电压测试电路，该第一切换开关及第二切换开关的选通端均连接至该控制电路。
4.如权利要求3所述的USB接口测试装置，其特征在于：该控制电路包括控制芯片，该控制芯片包括一组选通控制端，该第一切换开关及第二切换开关的选通端分别连接至相应的选通控制端。
5.如权利要求3所述的USB接口测试装置，其特征在于：该USB接口测试装置包括负载电路，该负载电路连接至该多组子电路，用以通过该子电路为相应的待测USB接口提供相应的负载。
6.如权利要求5所述的USB接口测试装置，其特征在于：该第一切换开关及第二切换开关均包括第二输出端，该第一切换开关及第二切换开关的第二输出端均连接至该负载电路。
7.如权利要求4所述的USB接口测试装置，其特征在于：该控制电路包括控制开关，该控制芯片包括开关控制端，该开关控制端通过该控制开关接地，该开关控制端还通过一电阻连接至一供电电源，通过操作该控制开关，以分别选通相应的子电路。
8.如权利要求4所述的USB接口测试装置，其特征在于：该控制电路包括一组发光二极管，该发光二极管连接至所述控制芯片，当所述控制芯片选通相应的子电路时，所述控制芯片还输出相应的控制信号，进而控制相应的发光二极管发光。
9.如权利要求8所述的USB接口测试装置，其特征在于：该控制芯片包括一组指示控制端，该组指示控制端分别通过相应的电阻连接至该发光二极管的阳极，该组发光二极管的阴极均接地。
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