CN103002493B - 无源互调检测方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种无源互调检测方法和装置，该装置包括：信号源输入端，用于至少输入两次测试信号，各测试信号的频率不同；双工器，用于向天馈系统发送各测试信号，并接收天馈系统反馈的各测试信号对应的谐波信号；倍频器，用于对各测试信号进行倍频处理，获得测试信号的倍频信号；混频器，用于对各测试信号的倍频信号与对应的谐波信号进行混频处理，获得混频信号；检测器，用于根据各测试信号的混频信号，获取天馈系统的PIM检测结果。本发明实施例一次只需要发射一个频率信号，而且谐波信号和测试信号的频率相距很远，PIM检测装置的发射信号和接收信号的频率间隔较大，对双工器要求降低，减少了体积和重量，也降低了成本。

Description

无源互调检测方法和装置

技术领域

本发明实施例涉及通信技术，尤其涉及一种无源互调检测方法和装置。

背景技术

在移动通信网络中，天馈系统是基站的重要组成部分，天馈系统主要由天线、跳线和馈线等无源部件组成，无源部件具有非线性，当多个频率在这些无源部件中混合时会产生PIM（Passive Inter Modulation，无源互调）信号，当PIM信号不合格并处于基站接收机的接收频段内时，会被基站接收机接收，使得接收机的灵敏度降低，从而导致通信系统的容量减少和网络质量降低。因此，当检测PIM指标不合格时，需要定位造成PIM指标不合格的PIM故障点位置然后进行修复。

现有技术中，主要通过发射两个不同频率的信号，通过双工器将两个发射信号输入至天馈系统，发射信号在天馈系统中产生PIM产物，双工器再接收天馈系统输出的互调产物。同时，这两个信号的频率在一定频率范围内扫频，从而产生一系列PIM互调产物，根据这一系列的互调产物可以检测到PIM故障点位置。

在实现本发明实施例的过程中，发明人发现现有技术中需要两个发射信号，同时，由于互调产物距离发射信号的频率很近，双工器的发射信号和接收信号的频率间隔很小，需要增加双工器中滤波器的阶数，这会增加PIM检测设备的体积和重量，也会造成成本的增加。

发明内容

本发明实施例提供一种无源互调检测方法和装置，以减少PIM检测装置的体积和重量，降低成本。

第一方面，本发明实施例提供一种无源互调检测装置，包括：

信号源输入端，用于至少输入两次测试信号，各测试信号的频率不同；

双工器，与所述信号源输入端连接，用于向天馈系统发送所述信号源输入端输入的所述各测试信号，并接收所述天馈系统反馈的各测试信号对应的谐波信号；

倍频器，与所述信号源输入端连接，用于对所述信号源输入端输入的所述各测试信号进行倍频处理，获得所述测试信号的倍频信号；

混频器，与所述双工器和倍频器连接，用于对所述倍频器获得的所述各测试信号的倍频信号与所述双工器接收到的所述各测试信号对应的谐波信号进行混频处理，获得混频信号；

检测器，与所述混频器连接，用于根据所述混频器获得的所述各测试信号的混频信号，获取所述天馈系统的PIM检测结果。

结合第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，还包括：功率放大器PA和/或带通滤波器；

所述PA，与所述信号源输入端和双工器连接，用于对所述信号源输入端输入的测试信号进行功率放大处理；

所述带通滤波器，与所述信号源输入端和双工器连接，用于对所述信号源输入端输入的测试信号进行带通滤波处理。

结合第一方面，在第一方面的第二种可能的实现方式中，还包括：

低噪声放大器，与所述双工器和混频器连接，用于对所述双工器接收到的所述各测试信号对应的谐波信号进行放大处理。

结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式或第一方面的第二种可能的实现方式，在第一方面的第三种可能的实现方式中，所述检测器，具体用于对所述混频器获得的所述各测试信号的混频信号进行幅度检测，获得各混频信号对应的幅度值，对所述各混频信号对应的幅度值进行离散傅立叶变换，获得频域信号，根据所述频域信号，获取所述天馈系统的PIM检测结果。

结合第一方面的第三种可能的实现方式，在第一方面的第四种可能的实现方式中，所述检测器，具体用于确定所述频域信号中不为零的频域值所对应的故障点对应频率，根据所述故障点对应频率，获取所述天馈系统的PIM检测结果。

结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式或第一方面的第二种可能的实现方式或第一方面的第三种可能的实现方式或第一方面的第四种可能的实现方式，在第一方面的第五种可能的实现方式中，所述谐波信号为n次谐波信号，所述倍频器具体为n次倍频器，n为大于等于2的整数。

第二方面，本发明实施例提供一种无源互调检测方法，包括：

向天馈系统至少发送两次测试信号，各测试信号的频率不同；

接收所述天馈系统反馈的各测试信号对应的谐波信号；

对各测试信号的倍频信号与对应的谐波信号进行混频处理，获得混频信号；

根据所述各测试信号的混频信号，获取所述天馈系统的PIM检测结果。

结合第二方面，在第二方面的第一种可能的实现方式中，所述向天馈系统至少发送两次测试信号之前，还包括：

对输入的测试信号进行功率放大处理和/或带通滤波处理。

结合第二方面，在第二方面的第二种可能的实现方式中，所述对各测试信号的倍频信号与对应的谐波信号进行混频处理，获得混频信号之前，还包括：

对所述各测试信号对应的谐波信号进行放大处理。

结合第二方面或第二方面的第一种可能的实现方式或第二方面的第二种可能的实现方式，在第二方面的第三种可能的实现方式中，所述根据所述各测试信号的混频信号，获取所述天馈系统的PIM检测结果，包括：

对所述各测试信号的混频信号进行幅度检测，获得各混频信号对应的幅度值；

对所述各混频信号对应的幅度值进行离散傅立叶变换，获得频域信号；

根据所述频域信号，获取所述天馈系统的PIM检测结果。

结合第二方面的第三种可能的实现方式，在第二方面的第四种可能的实现方式中，所述根据所述频域信号，获取所述天馈系统的PIM检测结果，包括：

确定所述频域信号中不为零的频域值所对应的故障点对应频率；

根据所述故障点对应频率，获取所述天馈系统的PIM检测结果。

结合第二方面或第二方面的第一种可能的实现方式或第二方面的第二种可能的实现方式或第二方面的第三种可能的实现方式或第二方面的第四种可能的实现方式，在第二方面的第五种可能的实现方式中，所述谐波信号为n次谐波信号，所述倍频信号为n次倍频信号，n为大于等于2的整数。

本发明实施例提供的无源互调检测方法和装置，通过向天馈系统至少发送两次测试信号，各测试信号的频率不同；接收天馈系统反馈的各测试信号对应的谐波信号；对各测试信号的倍频信号与对应的谐波信号进行混频处理，获得混频信号；根据各测试信号的混频信号，获取天馈系统的PIM检测结果。从而根据该PIM检测结果找到PIM故障点并进行修复，而且，本发明实施例一次只需要发射一个频率信号就能实现对PIM故障点位置的检测，同时，由于谐波信号和测试信号的频率相距很远，PIM检测装置中发射信号和接收信号的频率间隔较大，对双工器要求降低，减少了PIM检测装置的体积和重量，也降低了成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明无源互调检测方法实施例一的流程图；

图2为本发明无源互调检测方法实施例二的流程图；

图3为本发明无源互调检测装置实施例一的结构示意图；

图4为本发明无源互调检测装置实施例二的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1为本发明无源互调检测方法实施例一的流程图，如图1所示，本实施例的方法可以包括：

步骤101、向天馈系统至少发送两次测试信号，各测试信号的频率不同。

在本发明实施例中，PIM检测装置可以将测试信号输入到基站的天馈系统中，在一个实施场景中，测试信号在本发明实施例中为模拟信号，而且该测试信号只包括一个频率成分f，测试信号的强度可以足够大，以使天馈系统产生的谐波信号幅度足够大，能够被检测到。

在一个实施场景中，向天馈系统至少发送两次测试信号，各测试信号的频率f不同；其中，相邻两次输入的测试信号的频率间隔步进频率Δf，每次输入的测试信号中的频率按照预设的步进频率递增或递减，这个预设的步进频率称为扫频步进频率，或简称为扫频步进。相邻两次输入的测试信号可以间隔一定时间，对上述间隔一定时间的长短，本发明在此不做限制。

步骤102、接收天馈系统反馈的各测试信号对应的谐波信号。

在一个实施场景中，天馈系统主要由天线、跳线、馈线这些无源部件组成的，无源部件的非线性通常很弱。但是，天馈系统的这种很弱的非线性，在大功率信号通过时，还是会产生一定的非线性产物，产生干扰。PIM反映的就是天馈系统的非线性。一种比较简单和常用的描述非线性的方法是多项式模型，设输入天馈系统的信号为a(t)，经过天馈系统后的信号为b(t)，可采用多项式描述两者间的关系，即为公式一：b(t)=c₁a(t)+c₂a²(t)+c₃a³(t)+…。

如果天馈系统是理想线性的，那么公式一中除c₁以外的系数全部为0，输入信号a(t)如果包含f₁和f₂两个频率成分时，输出信号b(t)仍包含f₁和f₂两个频率成分，频率成分没有增加。但实际的天馈系统都存在一定的非线性，上式中c₂、c₃等高阶项系数不为0，这种情况下，当a(t)包含f₁和f₂两个频率成分时，根据公式一进行计算，就可以发现b(t)中出现了f₁和f₂组合而成的各种新的频率成分，可以统一描述为|m₁×f₁+/-m₂×f₂|，m₁、m₂为正整数，m₁与m₂之和称为互调产物的阶次。当m₁为0时，|m₂×f₂|称为f₂的谐波；同样，当m₂为0时，|m₁×f₁|称为f₁的谐波。

在本实施例中，测试信号只包括一个频率成分f，所以在天馈系统中PIM故障点处会产生测试信号对应的f的谐波，即谐波信号，而且该谐波信号的频率为正整数倍的f，因此谐波信号与测试信号的频率f相距很远，相应地，PIM检测装置可以容易地将测试信号与谐波信号区分开，并接收天馈系统中反馈的各测试信号对应的谐波信号，由于各测试信号对应的谐波信号是在PIM故障点处产生的，所以该各测试信号对应的谐波信号中具有PIM故障点的位置信息。

步骤103、对各测试信号的倍频信号与对应的谐波信号进行混频处理，获得混频信号。

PIM检测装置可以对各测试信号进行倍频处理，获得各测试信号的倍频信号，然后对各测试信号的倍频信号与所接收到的各测试信号对应的谐波信号进行混频处理，从而获得有关PIM故障点的位置信息的信号，该信号称为各测试信号的混频信号。

PIM检测装置向天馈系统至少发送两次测试信号，接收到各测试信号对应的谐波信号，获得各测试信号的混频信号后，再执行步骤104。

步骤104、根据各测试信号的混频信号，获取天馈系统的PIM检测结果。

在一个实施场景中，PIM检测装置可以根据获得的各测试信号的混频信号，检测获得各混频信号的幅度，将各混频信号的幅度进行傅立叶变换，获得各混频信号对应的信息，进而获取到天馈系统的PIM检测结果。其中，该PIM检测结果具体可以为PIM故障点的位置与PIM检测装置和天馈系统的连接处之间的距离。

本发明实施例提供的无源互调检测方法，通过向天馈系统至少发送两次测试信号，各测试信号的频率不同；接收天馈系统反馈的各测试信号对应的谐波信号；对各测试信号的倍频信号与对应的谐波信号进行混频处理，获得混频信号；根据各测试信号的混频信号，获取天馈系统的PIM检测结果。从而根据该PIM检测结果找到PIM故障点并进行修复，而且，本发明实施例一次只需要发射一个频率信号就能实现对PIM故障点位置的检测，同时，由于谐波信号和测试信号的频率相距很远，PIM检测装置中发射信号和接收信号的频率间隔较大，对双工器要求降低，减少了PIM检测装置的体积和重量，也降低了成本。

图2为本发明无源互调检测方法实施例二的流程图，如图2所示，本实施例的方法可以包括：

步骤201、对输入的测试信号进行功率放大处理和/或带通滤波处理。

在一个实施场景中，输入的测试信号为至少输入两次的测试信号，PIM检测装置在进行PIM故障点位置检测时，会至少输入两次测试信号，各测试信号的频率f不同，即PIM检测装置会输入K次测试信号，K为大于等于2的整数，相应地，PIM检测装置会对输入的K次测试信号进行功率放大处理和/或带通滤波处理；其中，相邻两次输入的测试信号的频率间隔步进频率Δf，每次输入的测试信号中的频率按照预设的步进频率递增或递减，这个预设的步进频率称为扫频步进频率，或简称为扫频步进。相邻两次输入的测试信号可以间隔一定的时间，对上述间隔一定的时间长短，本发明在此不做限制。本实施例中，输入的测试信号为模拟信号，假设该测试信号为x(t)，该测试信号可以采用公式二进行表示，其中，公式二为：x(t)=A₁cos(2πft+θ₁)，其中，A₁为测试信号的振幅，f为测试信号的频率，t为测试信号的时间变量，θ₁为测试信号的初始相位。

在一种可实现的方式中，如果输入的测试信号的强度太小，直接将该测试信号发送至基站的天馈系统中，天馈系统产生的PIM信号或谐波信号强度也很小，导致PIM检测装置无法准确检测谐波信号，因此，需要对输入的测试信号进行功率放大处理，增强测试信号的强度。在另一种可实现的方式中，如果输入的测试信号的强度足够使天馈系统产生的谐波信号能被PIM检测装置准确检测到，则不需要对输入的测试信号进行功率放大处理。

进一步地，在上述两种可实现的方式的基础上，还可以对输入的测试信号进行带通滤波处理，带通滤波处理的作用是允许特定频段的信号通过同时抑制其他频段信号，即抑制掉噪声和干扰信号，以免噪声和干扰信号发送至天馈系统，对PIM故障点位置的检测造成干扰，其中，特定频段可以设置为935~960MHz，本发明在此不做限制，即只要输入的测试信号的频率落在特定频段的范围内即可将该测试信号发送至天馈系统。

需要说明的是，在本实施例中，由于信号的频率才是用于PIM故障点检测的参数，所以为了方便说明，只要信号的频率没有发生变化，即可认为是同一信号。其中，经过放大处理和/或带通滤波处理后的测试信号也为模拟信号，假设经过处理后的测试信号为s(t)，该测试信号可以采用公式三进行表示，公式三为：s(t)＝A₂cos(2πft+θ₂)，其中，A₂为该测试信号的振幅，f为该测试信号的频率，t为该测试信号的时间变量，θ₂为该测试信号的初始相位。经过处理后的测试信号与输入的测试信号相比，振幅由A₁转变为A₂，这是由于对测试信号进行功率放大处理和/或带通滤波处理，从而使得信号的振幅发生变化；f保持不变；初始相位由θ₁转变为θ₂，这是由于对测试信号进行功率放大处理和/或带通滤波处理的过程中，会产生时延，表现在信号上就会出现相移，该相移即为θ₂-θ₁。需要说明的是，A₂-A₁和θ₂-θ₁由功率放大处理和/或带通滤波处理来决定，本发明在此不做限制。

需要说明的是，本发明实施例一次只需要发送一个频率信号，所以与现有技术相比，功率放大处理和/或带通滤波处理均相应地减少，从而使得PIM检测装置的体积和重量均会减少，同时也降低了成本。

步骤202、向天馈系统至少发送两次测试信号，各测试信号的频率不同。

在将输入的至少两次的测试信号进行功率放大处理和/或带通滤波处理之后，测试信号的频率落在PIM检测装置的发射频段内时，则将经过处理后的测试信号发送至天馈系统，由于输入了至少两次的测试信号，所以相应地应向天馈系统至少发送两次处理后的测试信号，各测试信号的频率f可以不同。

在PIM检测装置将测试信号发送至天馈系统后，天馈系统接收到该测试信号后，测试信号可以在天馈系统中进行传播，假设天馈系统的PIM故障点与PIM检测装置和天馈系统的连接处之间的距离为d米。假设到达PIM故障处的测试信号为v(t)，该测试信号可以采用公式四进行表示，其中，公式四为：v(t)=A₃cos(2πft+θ₂+2πd/λ)，其中，A₃为该测试信号的振幅，f为该测试信号的频率，t为该测试信号的时间变量，θ₂+2πd/λ为该测试信号的初始相位，λ为测试信号在天馈系统中传播时的波长。测试信号的振幅由A₂变为A₃，这是由于测试信号在传播过程中，会有一定衰减，所以振幅发生了变化；f保持不变；初始相位由θ₂转变为θ₂+2πd/λ，这是由于测试信号由PIM检测装置传输至PIM故障点时，即测试信号在天馈系统中传输了d米，会产生时延，表现在信号上就会出现相移，该相移即为2πd/λ，下面对如何获得该相移进行说明，由于测试信号的波长为λ米，则测试信号传输d米，需要经历d/λ个波长，一个波长的相移为2π，则d/λ个波长对应的相移为2πd/λ，从而可得测试信号到达PIM故障点时产生的相移为2πd/λ。

由于PIM故障点的非线性，PIM故障点会对到达该故障点的各测试信号产生n次谐波作用，从而得到各测试信号的多个n次谐波信号，n为大于等于2的整数。n=2时，则PIM故障点对各测试信号产生了2次谐波作用，得到各测试信号对应的2次谐波信号；n=3时，则PIM故障点对各测试信号产生了3次谐波作用，得到各测试信号对应的3次谐波信号；以此类推，还可得到各测试信号对应的n次谐波信号。因此，在PIM故障点可以得到各测试信号对应的多个n次的谐波信号。

假设各测试信号对应的n次谐波信号为p(t)，该n次谐波信号可以采用公式五进行表示，其中，公式五为：p(t)=A₄cos(2π×nft+nθ₂+n×2πd/λ)，其中，A₄为n次谐波信号的振幅，nf为n次谐波信号的频率，t为n次谐波信号的时间变量，nθ₂+n×2πd/λ为n次谐波信号的初始相位。n次谐波信号与测试信号相比，振幅由A₃转变为A₄，这是由于PIM故障点对测试信号产生n次谐波作用的同时也会对测试信号产生衰减作用，降低了信号的强度，从而使得信号的振幅减小；频率由f变为nf以及初始相位由θ₂+2πd/λ转变为nθ₂+n×2πd/λ，这是由于信号在PIM故障点产生了n次谐波作用，相应的频率就变为nf，相应的初始相位就变为n×(θ₂+2πd/λ)。以2次谐波信号为例，2次谐波信号为A₄cos(2π×2ft+2θ₂+4πd/λ)。

由于向天馈系统发送K次测试信号，K为大于等于2的整数，各测试信号的频率f不同，所以在PIM故障点处可以得到各测试信号对应的n次谐波信号。

步骤203、接收天馈系统反馈的各测试信号对应的n次谐波信号。

在一个实施场景中，PIM故障点对各测试信号产生n次谐波作用得到各测试信号对应的n次谐波信号后，各测试信号对应的n次谐波信号会通过天馈系统传播至PIM检测装置中，相应地，PIM检测装置会接收天馈系统反馈的各测试信号对应的n次谐波信号。

假设PIM检测装置接收的各测试信号对应的n次谐波信号为q(t)，该n次谐波信号信号可以采用公式六进行表示，其中，公式六为：q(t)=A₅cos(2π×nft+nθ₂+n×2πd/λ+2πd/(λ/n))，其中，A₅为n次谐波信号的振幅，nf为n次谐波信号的频率，t为n次谐波信号的时间变量，nθ₂+n×2πd/λ+2πd/(λ/n)为n次谐波信号的初始相位，λ/n为n次谐波信号在天馈系统中传输时的波长。n次谐波信号的振幅由A₄变为A₅，这是由于信号在天馈系统的传播过程中，信号的强度会衰减，从而会使得波形的振幅减小；频率nf保持不变；初始相位由nθ₂+n×2πd/λ转变为nθ₂+n×2πd/λ+2πd/(λ/n)，这是由于n次谐波信号由PIM故障点传播至PIM检测装置时，即n次谐波信号在天馈系统中传输了d米，会产生时延，表现在信号上就会出现相移，该相移即为2πd/(λ/n)，下面对如何获得该相移进行说明，由于频率为f时，波长为λ，则当n次谐波信号的频率为nf时，n次谐波信号的波长为λ/n米，则n次谐波信号传输d米，需要经历d/(λ/n)个波长，一个波长的相移为2π，则d/(λ/n)个波长对应的相移为2πd/(λ/n)，从而可得到各测试信号对应的n次谐波信号到达PIM检测装置时产生的相移为2πd/(λ/n)。以2次谐波信号为例，到达PIM检测装置的2次谐波信号为q(t)=A₅cos(2π×2ft+2θ₂+4πd/λ+2πd/(λ/2))=A₅cos(2π×2ft+2θ₂+8πd/λ)。

本发明实施例可以采用各测试信号对应的n次谐波信号用于检测PIM故障点，n为大于等于2的整数。由于天馈系统反馈至PIM检测装置的一共有2次谐波信号、3次谐波信号等n次谐波信号，假设以2次谐波信号用于检测PIM故障点时，为了使PIM检测装置的只接收2次谐波信号，则应该使2次谐波信号的频率落在PIM检测装置的接收频段内。例如：当PIM检测装置的发射频段为935~960MHz时，即各测试信号的频率落935~960MHz范围内，则可设置PIM检测装置的接收频段为1870~1920MHz，即各测试信号对应的2次谐波信号的频率落1870~1920MHz的范围内，因此，只有2次谐波信号的频率才会落在PIM检测装置的接收频段内，而其它3次以上谐波信号的频段均不会落在PIM检测装置的接收频段内，即不会被PIM检测装置接收。同理，如果采用3次谐波信号用于检测PIM故障点，则可设置PIM检测装置的接收频段为2805MHz~2880MHz；以此类推，如果采用n次谐波信号用于检测PIM故障点，则可设置PIM检测装置的接收频段为n×935~n×960MHz。由此可知，PIM检测装置发送的各测试信号的频率与接收的各测试信号对应的n次谐波信号的频率相差较大，所以PIM检测装置的发射信号和接收信号的频率过渡带较大，不需要增加PIM检测装置中滤波器、双工器的阶数，因而可以放宽PIM检测装置的指标，即可减少PIM检测装置的体积和重量，从而使得PIM检测装置的体积和重量均会减少，同时也降低了成本。

步骤204、对各测试信号对应的n次谐波信号进行放大处理。

在一个实施场景中，在接收到天馈系统反馈的各测试信号对应的n次谐波信号后，由于n次谐波信号的强度较小，所以需要对接收到的各测试信号对应的n次谐波信号进行放大处理；假设放大处理后各测试信号对应的n次谐波信号w(t)，该放大处理后的n次谐波信号可以用公式七来表示，其中，公式七为：w(t)=A₆cos(2π×nft+nθ₂+n×2πd/λ+2πd/(λ/n))，其中，A₆为该n次谐波信号的振幅，nf为该n次谐波信号的频率，t为该n次谐波信号的时间变量，nθ₂+n×2πd/λ+2π2/(λ/n)为该n次谐波信号的初始相位，经过放大处理后的n次谐波信号的振幅由A₅变为A₆，这是由于对n次谐波信号进行放大处理，从而使得信号的振幅增加。

步骤205、对各测试信号的n次倍频信号与对应的n次谐波信号进行混频处理，获得混频信号。

本发明实施例还以最初输入的测试信号为基波信号进行倍频处理，获得测试信号的倍频信号，由于输入了至少两次的测试信号，因此，经过倍频处理后，可以得到各测试信号的倍频信号。在一个实施场景中，PIM检测装置接收的谐波信号为n次谐波信号，相应地，PIM检测装置还对测试信号进行n次倍频处理，得到测试信号的n次倍频信号，需要说明的是，测试信号对应的n次谐波信号与测试信号的n倍频信号中的n为同样的整数，n为大于等于2的整数。其中，该n次倍频信号也为模拟信号，假设各测试信号的n次倍频信号为y(t)，该n次倍频信号可以采用公式八进行表示，公式八为：y(t)=A₇cos(2π×nft+nθ₁)，其中，A₇为n次倍频信号的振幅，nf为n次倍频信号的频率，t为n次倍频信号的时间变量，nθ₁为n次倍频信号的初始相位。n次倍频信号与测试信号相比，振幅由A₁变为A₆，这是由于对测试信号进行了n次倍频处理，会放大信号的强度，相应地使得信号的振幅增大；频率由f变为nf，初始相位由θ₁变为nθ₁，这是由于对测试信号进行n次倍频处理，相应地，频率变为nf，初始相位由θ₁变为nθ₁；需要说明的是，对测试信号进行多少次倍频处理应与本发明实施例采用多少次谐波信号进行PIM故障点位置检测一一对应，也就是，如果采用各测试信号对应的2次谐波信号进行PIM故障点位置检测，则应对各测试信号进行2次倍频处理，得到各测试信号的2次倍频信号；如果采用各测试信号对应的3次谐波信号进行PIM故障点位置检测，则应对各测试信号进行3次倍频处理；以此类推，如果采用各测试信号的n次谐波信号进行PIM故障点位置检测，则应对各测试信号进行n次倍频处理。

PIM检测装置将各测试信号的n次倍频信号与各测试信号对应的n次谐波信号进行混频处理，获得各测试信号的混频信号；其中，各测试信号的n次倍频信号为y(t)=A₇cos(2π×nft+nθ₁)，各测试信号对应的n次谐波信号为q(t)=A₆cos(2π×nft+nθ₂+n×2πd/λ+2πd/(λ/n))。假设各测试信号的混频信号为D(t)，该混频信号可以采用公式九进行表示，公式九为：D(t)=A₈cos(n×4πd/λ+nθ₂-nθ₁)=A₈cos(4nπdf/V_P+θ)，其中，A₈为混频信号的振幅，A₈＝kA₆A₇，这是由于混频信号是由n次倍频信号与n次谐波信号进行混频处理得到的，所以混频信号的振福为n次倍频信号的振幅与n次谐波信号的振幅以及系数k的乘积，系数k由混频处理所决定，本发明在此不做限制；n×4πd/λ+nθ₂-nθ₁即4nπdf/V_P+θ为混频信号的相位，这是由于混频信号是由n次倍频信号与n次谐波信号进行混频处理得到的，所以混频信号的相位为n次倍频信号的相位与n次谐波信号的相位之差，即得n×4πd/λ+nθ₂-nθ₁，将nθ₂-nθ₁用θ进行表示，而且波长为λ的信号对应的频率为f，即V_p＝f×λ，则λ＝V_P/f，V_p为天馈系统中信号的传输速率，如果天馈系统中的介质为空气，则V_p的大小即是真空中的光速，因此，n×4πd/λ+nθ₂-nθ₁可以用4nπdf/V_P+θ来表示。由公式八：D(t)=A₈cos(4nπdf/V_P+θ)可以获得混频信号D(t)包含了PIM故障点与PIM检测装置和天馈系统连接处之间的距离d。

由于至少输入了两次测试信号，各测试信号的频率f不同；其中，相邻两次输入的测试信号的频率间隔步进频率Δf，每次输入的测试信号中的频率按照预设的步进频率递增或递减，所以可以将频率f作为变量，在某一频段范围内进行扫频时，即将频率f看作变量，则混频信号D(t)就是一个频率为2nd/V_P的正弦波。

如果以各测试信号对应的2次谐波信号用于检测PIM故障点，则混频处理器将各测试信号的2次倍频信号与各测试信号对应的2次谐波信号进行混频处理，得到的各测试信号的混频信号的即为D(t)=A₈cos(8πdf/V_P+θ)，将频率f看作变量，则各测试信号的混频信号就是一个频率为4d/V_P的正弦波。

步骤206、对各测试信号的混频信号进行幅度检测，获得各混频信号对应的幅度值。

在一个实施场景中，首先检测各测试信号的混频信号的幅度，由于输入了共K次的测试信号，K为大于等于2的整数，相应地可以获得K个混频信号，即D₁(t)、D₂(t)、D₃(t)…D_K(t)，检测这K个混频信号的幅度，可获得这K个混频信号对应的幅度值，即D1、D2、…、Dk。需要说明的是，获得D₁(t)时，则对D₁(t)进行幅度检测，从而获得D1；获得D₂(t)时，则对D₂(t)进行幅度检测，从而获得D2；以此类推，获得D_K(t)时，则对D_K(t)进行幅度检测，从而获得Dk。

步骤207、对各混频信号对应的幅度值进行离散傅立叶变换，获得频域信号。

在获得各混频信号对应的幅度值后，将D1、D2、…、Dk这K个幅度值一起进行DFT（Discrete Fourier Transform，离散傅立叶变换），从而可以得到K个频域信号，需要说明的是，在D1、D2、…、Dk都得到之后，才能将D1、D2、…、Dk一起进行DFT；而且这K个频域信号包括K个频域值、K个DFT频率号和K个频率值，这K个频域值与K个DFT频率号一一对应，每个DFT频率号对应着一个故障点对应频率，因此，每个频域值对应着一个故障点对应频率。需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解，进行离散傅立叶变换的过程为现有技术，本发明在此不做详细介绍。然后根据所获取的频域信号，获取天馈系统的PIM检测结果，进一步地，在具体实现时可以通过执行步骤208和步骤209来实现。

步骤208、确定频域信号中不为零的频域值所对应的故障点对应频率。

PIM检测装置在获得上述频域信号后，可以从K个频域信号的K个频域值中确定出不为零的频域值，由不为零的频域值确定对应的DFT频率号，根据DFT频率号即可确定不为零的频域值所对应的故障点对应频率。

步骤209、根据故障点对应频率，获取天馈系统的PIM检测结果。

在一个实施场景中，由于不为零的频域值所对应的故障点对应频率的大小等于D(t)的频率2nd/V_P，从而获取PIM故障点的位置与PIM检测装置和天馈系统的连接处之间的距离d，即获取天馈系统的PIM检测结果。如果只存一个PIM故障点，则不为零的频域值为一个；如果存在两个PIM故障点，则不为零的频域值为两个；以此类推。下面以存在两个PIM故障点为例进行说明，根据两个不为零的频域值确定这两个频域值所对应的DFT频率号，假设为N和N′，N对应的故障点对应频率为F，N′对应的故障点对应频率为F′，若一个PIM故障点的距离为d，另一个PIM故障点的距离为d′，则F的值等于2nd/V_P的值，即d＝FV_p/2n，由于V_p、F和n均是已知的，从而可以得出d值的大小，同理可以得出d′值的大小，即从而得出两个PIM故障点分别与PIM检测装置和天馈系统连接处之间的距离。

需要说明的是，采用本发明实施例的无源互调检测方法，可检测的PIM故障点的距离精度为Δd，用公式十表示：Δd＝V_p/2nB，其中，B为测试信号的扫频带宽，n为谐波信号的次数，假设两个不为零的频域值对应的DFT频率号为两个相邻的DFT频率号，则得出来的这两个PIM故障点的距离之差即为距离精度Δd。由于D₁(t)、D₂(t)、D₃(t)…D_K(t)这K个频率信号的采样周期为Δf，因此这K个信号的采样频率即为1/Δf。D₁(t)、D₂(t)、D₃(t)…D_K(t)的幅度值经离散傅立叶变换之后，第1个DFT频率号与第K个DFT频率号对应的频率值的差即为1/Δf，从而两个相邻的DFT频率号对应的频率值之差为1/(K-1)Δf；举例说明，如果两个不为零的频域数据值对应的DFT频率号为1号和2号，1号对应的故障点对应频率为F₁，2号对应的故障点对应频率为F₂，则得出的d₁=F₁V_p/2n，d₂=F₂V_p/2n；d₁-d₂=Δd=V_P(F₁-F₂)/2n，由于ΔF=F₁-F₂=1/(K-1)Δf，而且(K-1)Δf=B，所以Δd=V_P/2nB。同时，本发明实施例可检测到的PIM故障点的最大距离为d_max，用公式十一表示：d_max=V_p/4nΔf，其中，n为谐波信号的次数，Δf为测试信号的步进频率，由于以频率f作为变量，在f₀~f₀+(K-1)Δf这一频段范围内进行扫频时，可以得到D₁(t)、D₂(t)、D₃(t)…D_K(t)，即可将频率f看作变量，各测试信号的频率信号D(t)就是一个频率为2nd/V_P的正弦波，这个过程可以称为D(t)的采样过程，D(t)的采样周期为Δf，采样频率即为1/Δf，由采样定理可以获知，为了获取原始D(t)中的信息，则采样频率1/Δf必须大于等于2倍的D(t)频率2nd/V_P，即1/Δf≥2×2nd/V_P，从而可以得到d≤V_P/4nΔf，即得出d_max=V_P/4nΔf。需要说明的是，Δf的取值大小可以决定最远能检测到的PIM故障点的距离，Δf的取值大小根据实际的应用场景来决定，本发明在此不做限制。

以900M频段为例，PIM检测装置的发射频段为935~960MHz，因此，PIM检测装置可以将频率为935~960MHz的信号发送至天馈系统中，则天馈系统中产生2次谐波信号的频率为1870~1920MHz，PIM检测装置要接收到1870~1920MHz这个频率范围内的2次谐波信号，则PIM检测装置的接收频段为1870~1920MHz，由此可知，PIM检测装置可接收的频率和可发射的频率相差很远，所以，PIM检测装置的接收信号和发射信号的频率间隔比较大，不需要增加PIM检测装置中滤波器、双工器的阶数，在这个基础上，信号源发射的测试信号可以在PIM检测装置的整个发射频段内扫频，即可将整个发射频段的带宽都用上，即测试信号的扫频带宽B最大可以为25MHz，从而由2次谐波对应的距离精度公式Δd＝V_P/4B可以确定出检测的PIM故障点的距离精度为6米，即最小可分辨的两个故障点的间距为6米。而现有技术中，采用互调产物检测PIM故障点时，可检测的PIM故障点的距离精度为V_P/2B，如果扫频带宽也为25MHz，从而由V_P/2B可以确定出检测的PIM故障点的距离精度为12米。由此可见，采用本发明实施例的无源互调检测方法，可以提高PIM故障点的检测精度。

本发明实施例提供的无源互调检测方法，通过对输入的测试信号进行功率放大处理和/或带通滤波处理；向天馈系统至少发送两次测试信号，各测试信号的频率不同；接收天馈系统反馈的各测试信号对应的n次谐波信号；对各测试信号对应的n次谐波信号进行放大处理；对各测试信号的n次倍频信号与对应的n次谐波信号进行混频处理，获得混频信号；对各测试信号的混频信号进行幅度检测，获得各混频信号对应的幅度值；对各混频信号对应的幅度值进行离散傅立叶变换，获得频域信号；确定频域信号中不为零的频域值所对应的故障点对应频率；根据故障点对应频率，获取天馈系统的PIM检测结果。进而根据该PIM检测结果定位PIM故障点并进行修复，而且，本发明实施例一次只需要发射一个频率信号就能实现对PIM故障点位置的检测，同时，由于n次谐波信号和测试信号的频率相距很远，PIM检测装置发射信号和接收信号的频率间隔较大，对双工器要求降低，因而可以放宽PIM检测装置的指标，减少了PIM检测装置的体积和重量，也降低了成本，还提高了PIM故障点的检测精度。

图3为本发明无源互调检测装置实施例一的结构示意图，如图3所示，本实施例的无源互调检测装置可以包括：信号源输入端11、双工器12、倍频器13、混频器14和检测器15，各设备之间的连线表示通信连接。

信号源输入端11，用于至少输入两次测试信号，各测试信号的频率不同，其中，相邻两次输入的测试信号的频率间隔步进频率Δf，每次输入的测试信号中的频率按照预设的步进频率递增或递减，这个预设的步进频率称为扫频步进频率，或简称为扫频步进，相邻两次输入的测试信号可以间隔一定的时间，对上述间隔一定的时间长短，本发明在此不做限制。

双工器12，与信号源输入端11连接，用于向天馈系统发送信号源输入端11输入的各测试信号，并接收天馈系统反馈的各测试信号对应的谐波信号。

在本实施例中，测试信号为模拟信号，而且该测试信号只包括一个频率成分f，测试信号的强度可以足够大，以使天馈系统产生的谐波信号幅度足够大，能够被检测到。双工器12接收到信号源输入端11输入的至少两次测试信号后向天馈系统发送各测试信号，测试信号只包括一个频率成分f，所以在天馈系统中PIM故障点处会产生测试信号对应的f的谐波，即谐波信号，而且该谐波信号的频率为正整数倍的f，因此谐波信号与测试信号的频率f相距很远，相应地，双工器12可以容易地将测试信号与谐波信号区分开，并接收天馈系统中反馈的各测试信号对应的谐波信号，由于各测试信号对应的谐波信号是在PIM故障点处产生的，所以该各测试信号对应的谐波信号中具有PIM故障点的位置信息。

倍频器13，与信号源输入端11连接，用于对信号源输入端11输入的各测试信号进行倍频处理，获得测试信号的倍频信号。

本实施例中，倍频器13可以对信号源输入端11输入的各测试信号进行倍频处理，获得各测试信号的倍频信号。

混频器14，与双工器12和倍频器13连接，用于对倍频器13获得的各测试信号的倍频信号与双工器12接收到的各测试信号对应的谐波信号进行混频处理，获得混频信号。

本实施例中，混频器14对倍频器13获得的各测试信号的倍频信号与双工器12所接收到的各测试信号对应的谐波信号进行混频处理，从而获得有关PIM故障点的位置信息的信号，该信号称为各测试信号的混频信号。

信号源输入端11向天馈系统至少发送两次测试信号，双工器12接收到各测试信号对应的谐波信号，混频器14获得各测试信号的混频信号后，再开启检测器15。

检测器15，与混频器14连接，用于根据混频器14获得的各测试信号的混频信号，获取天馈系统的PIM检测结果。

在本实施例中，检测器15可以根据获得的各测试信号的混频信号，检测获得各混频信号的幅度，将各混频信号的幅度进行傅立叶变换，获得各混频信号对应的信息，进而获取到天馈系统的PIM检测结果。其中，该PIM检测结果具体可以为PIM故障点的位置与PIM检测装置和天馈系统的连接处之间的距离。

本实施例的无源互调检测装置，可以用于执行图1所示方法实施例的技术方案，其实现原理类似，详细可以参见上述实施例中的记载，此处不再赘述。

本发明实施例提供的无源互调检测装置，通过信号源输入端至少输入两次测试信号，各测试信号的频率不同；双工器向天馈系统发送各测试信号，并接收天馈系统反馈的各测试信号对应的谐波信号；倍频器对各测试信号进行倍频处理，获得测试信号的倍频信号；混频器对各测试信号的倍频信号与对应的谐波信号进行混频处理，获得混频信号；检测器根据各测试信号的混频信号，获取天馈系统的PIM检测结果。从而根据该PIM检测结果找到PIM故障点并进行修复，而且，本发明实施例只需要一个信号源端入端，一次只发射一个频率信号就能实现对PIM故障点位置的检测，同时，由于谐波信号和测试信号的频率相距很远，双工器中发射信号和接收信号的频率间隔较大，对双工器要求降低因而可以放宽PIM检测装置的指标，从而减少了PIM检测装置的体积和重量，也降低了成本。

图4为本发明无源互调检测装置实施例二的结构示意图，如图4所示，本实施例的PIM检测装置在图3所示结构的基础上，还包括：PA（PowerAmplifier，功率放大器）16和/或带通滤波器17以及LNA（Low NoiseAmplifier，低噪声放大器）18，各设备之间的连线表示通信连接；在本实施例中，双工器12可以包括发射滤波器和接收滤波器，信号源输入端11、PA16、带通滤波器17、双工器12的发射滤波器可以统称为PIM检测装置的发射通道，双工器12的接收滤波器和LNA18、倍频器13、混频器14和检测器15可以统称为PIM检测装置的接收通道。

PA16，与信号源输入端11和双工器12连接，用于对信号源输入端11输入的测试信号进行功率放大处理。

本实施例中，信号源输入端11会输入K次测试信号，K为大于等于2的整数，如果信号源输入端11输入的测试信号的强度太小，直接将该测试信号发送至基站的天馈系统中，天馈系统产生的PIM信号或谐波信号强度也很小，导致双工器12无法准确检测谐波信号，因此，需要通过PA16对输入的测试信号进行功率放大处理，增强测试信号的强度。

带通滤波器17，与信号源输入端11和双工器12连接，用于对信号源输入端11输入的测试信号进行带通滤波处理，带通滤波器17的频段可以与移动通信的标准频段划分对应的。

进一步地，本实施例中，还可以通过带通滤波器17对输入的测试信号进行带通滤波处理，带通滤波处理的作用是允许特定频段的信号通过同时抑制其他频段信号，即抑制掉噪声和干扰信号，以免噪声和干扰信号发送至天馈系统，对PIM故障点位置的检测造成干扰，其中，特定频段可以设置为935~960MHz，本发明在此不做限制，即只要输入的测试信号的频率落在特定频段的范围内即可将该测试信号发送至天馈系统。

需要说明的是，本发明实施例一次只需要发送一个频率信号，所以与现有技术相比，PA和/或带通滤波器均相应地减少，从而使得PIM检测装置的体积和重量均会减少，同时也降低了成本。

双工器12的发射滤波器，可以用于向天馈系统发送各测试信号，其中，双工器12的发射滤波器的频段可以与移动通信的标准频段划分对应的；在将输入的至少两次的测试信号进行功率放大处理和/或带通滤波处理之后，测试信号的频率落在双工器12的发射滤波器的发射频段内时，则将经过处理后的测试信号发送至天馈系统，由于输入了至少两次的测试信号，所以相应地应向天馈系统至少发送两次处理后的测试信号，各测试信号的频率f可以不同。在天馈系统中PIM故障点处会产生测试信号对应的f的谐波，即谐波信号，该谐波信号为n次谐波信号时，n为大于等于2的整数，因此谐波信号与测试信号的频率f相距很远，相应地，双工器12的接收滤波器可以容易地将测试信号与谐波信号区分开，并接收天馈系统中反馈的各测试信号对应的谐波信号。

LNA18，用于对各测试信号对应的n次谐波信号进行放大处理。

本实施例中，进一步地，在双工器12接收到天馈系统反馈的各测试信号对应的n次谐波信号后，由于n次谐波信号的强度较小，所以需要通过LNA18对接收到的各测试信号对应的n次谐波信号进行放大处理。

倍频器13具体为n次倍频器，该n次倍频器用于对各测试信号进行n次倍频处理，获得测试信号的n次倍频信号。

本实施例中，双工器12接收的谐波信号为n次谐波信号，相应地，倍频器13为n次倍频器，对测试信号进行n次倍频处理，得到测试信号的n次倍频信号，需要说明的是，测试信号对应的n次谐波信号与测试信号的n倍频信号中的n为同样的整数，n为大于等于2的整数。

混频器14具体用于对各测试信号的n次倍频信号与对应的n次谐波信号进行混频处理，获得混频信号。

本实施例中，混频器14将n次倍频器获得的各测试信号的n次倍频信号与LNA18获得的各测试信号对应的n次谐波信号进行混频处理，获得各测试信号的混频信号；由于至少输入了两次测试信号，各测试信号的频率f不同；其中，相邻两次输入的测试信号的频率间隔步进频率Δf，每次输入的测试信号中的频率按照预设的步进频率递增或递减，所以可以将频率f作为变量，在某一频段范围内进行扫频时，即将频率f看作变量，则混频信号就是一个正弦波。

进一步地，检测器15具体用于对混频器14获得的各测试信号的混频信号进行幅度检测，获得各混频信号对应的幅度值，对各混频信号对应的幅度值进行离散傅立叶变换，获得频域信号，根据频域信号，获取天馈系统的PIM检测结果。

本实施例中，首先检测器15检测各测试信号的混频信号的幅度，由于输入了共K次的测试信号，K为大于等于2的整数，相应地可以获得K个混频信号，检测这K个混频信号的幅度，可获得这K个混频信号对应的幅度值。在获得各混频信号对应的幅度值后，将这K个幅度值一起进行DFT（DiscreteFourier Transform，离散傅立叶变换），从而可以得到K个频域信号，需要说明的是，在K个幅度值都得到之后，才能将K个幅度值一起进行DFT；而且这K个频域信号包括K个频域值、K个DFT频率号和K个频率值，这K个频域值与K个DFT频率号一一对应，每个DFT频率号对应着一个故障点对应频率，因此，每个频域值对应着一个故障点对应频率。需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解，进行离散傅立叶变换的过程为现有技术，本发明在此不做详细介绍。然后根据所获取的频域信号，获取天馈系统的PIM检测结果。

更进一步地，检测器15具体用于确定频域信号中不为零的频域值所对应的故障点对应频率，根据故障点对应频率，获取天馈系统的PIM检测结果。

本实施例中，检测器15在获得上述频域信号后，可以从K个频域信号的K个频域值中确定出不为零的频域值，由不为零的频域值确定对应的DFT频率号，根据DFT频率号即可确定不为零的频域值所对应的故障点对应频率。由于不为零的频域值所对应的故障点对应频率的大小等于混频信号对应的频率，从而获取PIM故障点的位置与PIM检测装置和天馈系统的连接处之间的距离，即获取天馈系统的PIM检测结果。

本实施例的无源互调检测装置，可以用于执行图2所示方法实施例的技术方案，其实现原理类似，详细可以参见上述实施例中的记载，此处不再赘述。

本发明实施例提供的无源互调检测装置，通过信号源输入端至少输入两次测试信号，各测试信号的频率不同；PA对输入的测试信号进行功率放大处理和/或带通滤波器对输入的测试信号进行带通滤波处理；双工器的发射滤波器向天馈系统发送各测试信号；双工器的接收滤波器接收天馈系统反馈的各测试信号对应的次谐波信号；LNA对各测试信号对应的n次谐波信号进行放大处理；n次倍频器对各测试信号进行n次倍频处理，获得测试信号的n次倍频信号；混频器对各测试信号的n次倍频信号与对应的n次谐波信号进行混频处理，获得混频信号；检测器对各测试信号的混频信号进行幅度检测，获得各混频信号对应的幅度值，对各混频信号对应的幅度值进行离散傅立叶变换，获得频域信号，确定频域信号中不为零的频域值所对应的故障点对应频率，根据故障点对应频率，获取天馈系统的PIM检测结果。进而根据该PIM检测结果定位PIM故障点并进行修复，而且，本发明实施例只需要一个信号源端入端，一次只发射一个频率信号就能实现对PIM故障点位置的检测，同时，由于n次谐波信号和测试信号的频率相距很远，双工器中发射滤波器发射信号和接收滤波器接收信号的频率间隔较大，对双工器要求降低，因而可以放宽PIM检测装置的指标，从而减少了PIM检测装置的体积和重量，也降低了成本，还提高了PIM故障点的检测精度。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时，执行包括上述各方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种无源互调PIM检测装置，其特征在于，包括：

信号源输入端，用于至少输入两次测试信号，所述测试信号只包括一个频率成分f，各测试信号的频率不同；

双工器，与所述信号源输入端连接，用于向天馈系统发送所述信号源输入端输入的所述各测试信号，并接收所述天馈系统反馈的各测试信号对应的谐波信号；

倍频器，与所述信号源输入端连接，用于对所述信号源输入端输入的所述各测试信号进行倍频处理，获得所述测试信号的倍频信号；

混频器，与所述双工器和倍频器连接，用于对所述倍频器获得的所述各测试信号的倍频信号与所述双工器接收到的所述各测试信号对应的谐波信号进行混频处理，获得混频信号；

检测器，与所述混频器连接，用于根据所述混频器获得的所述各测试信号的混频信号，获取所述天馈系统的PIM检测结果；

其中，所述谐波信号为n次谐波信号，所述倍频器具体为n次倍频器，n为大于等于2的整数。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：功率放大器PA和/或带通滤波器；

所述PA，与所述信号源输入端和双工器连接，用于对所述信号源输入端输入的测试信号进行功率放大处理；

所述带通滤波器，与所述信号源输入端和双工器连接，用于对所述信号源输入端输入的测试信号进行带通滤波处理。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：

低噪声放大器LNA，与所述双工器和混频器连接，用于对所述双工器接收到的所述各测试信号对应的谐波信号进行放大处理。

4.根据权利要求1～3任一项所述的装置，其特征在于，

所述检测器，具体用于对所述混频器获得的所述各测试信号的混频信号进行幅度检测，获得各混频信号对应的幅度值，对所述各混频信号对应的幅度值进行离散傅立叶变换，获得频域信号，根据所述频域信号，获取所述天馈系统的PIM检测结果。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述检测器，具体用于确定所述频域信号中不为零的频域值所对应的故障点对应频率，根据所述故障点对应频率，获取所述天馈系统的PIM检测结果。

6.一种无源互调PIM检测方法，其特征在于，包括：

向天馈系统至少发送两次测试信号，所述测试信号只包括一个频率成分f，各测试信号的频率不同；

接收所述天馈系统反馈的各测试信号对应的谐波信号；

对各测试信号的倍频信号与对应的谐波信号进行混频处理，获得混频信号；

根据所述各测试信号的混频信号，获取所述天馈系统的PIM检测结果；

其中，其中，所述谐波信号为n次谐波信号，所述倍频器具体为n次倍频器，n为大于等于2的整数。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述向天馈系统至少发送两次测试信号之前，还包括：

对输入的测试信号进行功率放大处理和/或带通滤波处理。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述对各测试信号的倍频信号与对应的谐波信号进行混频处理，获得混频信号之前，还包括：

对所述各测试信号对应的谐波信号进行放大处理。

9.根据权利要求6～8任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述各测试信号的混频信号，获取所述天馈系统的PIM检测结果，包括：

对所述各测试信号的混频信号进行幅度检测，获得各混频信号对应的幅度值；

对所述各混频信号对应的幅度值进行离散傅立叶变换，获得频域信号；

根据所述频域信号，获取所述天馈系统的PIM检测结果。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述根据所述频域信号，获取所述天馈系统的PIM检测结果，包括：

确定所述频域信号中不为零的频域值所对应的故障点对应频率；

根据所述故障点对应频率，获取所述天馈系统的PIM检测结果。