CN102970086A - 一种用于切换测试信号通道的装置、系统及切换方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于切换测试信号通道的装置、系统及切换方法。其装置包括I2C通讯单元、指令缓存单元、通道切换单元、待测产品接口单元和电源管理单元；I2C通讯单元、指令缓存单元、通道切换单元、待测产品接口单元依次连接。本发明通过计算机发出控制指令经过I2C通讯单元、指令缓存单元传输至通道切换单元，控制指令在通道切换单元中选择相应的测试信号通道进行连接，从而将待测产品的测试值通过装置传输至计算机中进行判断，根据判断的结果执行切换测试信号通道、或者进行其他测试，其切换速度快，可同时测试多个待测产品，提高了工作效率。

Description

一种用于切换测试信号通道的装置、系统及切换方法

技术领域

本发明涉及移动通信领域，特别涉及一种用于切换测试信号通道的装置、系统及切换方法。 

背景技术

现有的产品测试在不同功能测试项目（如：射频、音频、基带测试）中因不具备执行条件：如一个产品在不同功能项目之间不能相互转换进行测试，多个待测产品不能使用同一个仪器或设备进行连续地读取同一项功能测试项目中的测试值。目前，一般采用将不同的功能测试项目分散在不同测试站进行独立测试，或一个测试站只能并行测试一个产品，这属于产品测试项离散分布型。这种方式不仅测试效率低，而且需要投入大量的仪器、设备以及人力进行测试站的搭建和控制，增加了生产运营成本和维护成本，无法为交货能力提供有力保障。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种用于切换测试信号通道的装置、系统及切换方法，能根据控制指令选择在不同的测试信号通道之间进行切换连接。

为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：

一种用于切换测试信号通道的装置，其包括：

用于转换计算机发出的控制指令的数据格式、传输至指令缓存单元的I2C通讯单元；

用于对获取的控制指令按照其输入的先后顺序进行判定、就位、缓存，并传输的指令缓存单元；

用于将获取的控制指令进行信号放大，根据放大后的控制指令选择连接或切换相应的测试信号通道，使仪器与待测产品接口单元间接连接，传输待测产品的测试值的通道切换单元；

用于与待测产品连接，获取并传输待测产品的测试值的待测产品接口单元；

用于对I2C通讯单元、指令缓存单元、通道切换单元、待测产品接口单元供电的电源管理单元； 

所述I2C通讯单元、指令缓存单元、通道切换单元、待测产品接口单元依次连接，所述I2C通讯单元、指令缓存单元、通道切换单元、待测产品接口单元分别连接电源管理单元；

所述控制指令包括多个控制命令和一个中断信号。

所述的用于切换测试信号通道的装置，其中，所述电源管理单元包括插座、保险丝、开关、开关电源和滤波电容；所述插座的第1脚连接开关电源的第1脚，插座的第2脚依次通过保险丝、开关连接开关电源的第2脚，开关电源的第3脚连接滤波电容的正极和电源管理单元的供电端，插座的第3脚、开关电源的第5脚和滤波电容的负极均接地。

所述的用于切换测试信号通道的装置，其中，所述I2C通讯单元包括USB连接器、晶振和第一芯片；所述第一芯片的型号为USB2I2C；所述USB连接器的第1脚和第一芯片的VCC端连接电源管理单元的供电端，USB连接器的第2脚、第3脚分别连接第一芯片的UD+端、UD-端，第一芯片的XI端、XO端分别连接晶振的两端，第一芯片的SCL端、SDA端连接指令缓存单元。

所述的用于切换测试信号通道的装置，其中，所述指令缓存单元包括第二芯片和第三芯片；所述第二芯片的型号为PCF8574T，第三芯片的型号为74HC240；所述第二芯片的SDA端、SCL端分别连接第一芯片的SDA端、SCL端，第二芯片的VDD端连接电源管理单元的供电端，第二芯片的P0端、P1端、P2端、P3端、P4端、P5端、P6端、P7端分别连接第三芯片的1A1端、1A2端、1A3端、1A4端、2A1端、2A2端、2A3端、2A4端，第三芯片的VCC端连接电源管理单元的供电端，第三芯片的1Y1端、1Y2端、1Y3端、1Y4端、2Y1端、2Y2端、2Y3端、2Y4端连接通道切换单元。

所述的用于切换测试信号通道的装置，其中，所述通道切换单元包括第四芯片、第五芯片、第一上拉电阻、第二上拉电阻、第三上拉电阻、第四上拉电阻、第一继电器、第二继电器、第三继电器、第四继电器、第五继电器、第六继电器、第七继电器和第八继电器；所述第四芯片和第五芯片的型号均为TLP521-4；所述第四芯片的Ca1端、Ca2端、Ca3端、Ca4端分别连接第三芯片的1Y4端、1Y3端、1Y2端、1Y1端，第四芯片的A1端、A2端、A3端、A4端分别连接第二上拉电阻的第1脚、第2脚、第3脚、第4脚；第四芯片的Co1端、Co2端、Co3端、Co4端分别连接第四继电器、第三继电器、第二继电器、第一继电器的第2脚，还分别连接第三上拉电阻的第4脚、第3脚、第2脚、第1脚；第五芯片的Ca1端、Ca2端、Ca3端、Ca4端分别连接第三芯片的2Y4端、2Y3端、2Y2端、2Y1端，第五芯片的A1端、A2端、A3端、A4端分别连接第一上拉电阻的第1脚、第2脚、第3脚、第4脚；第五芯片的Co1端、Co2端、Co3端、Co4端分别连接第八继电器、第七继电器、第六继电器、第五继电器的第2脚，还分别连接第四上拉电阻的第4脚、第3脚、第2脚、第1脚；所述第一继电器、第二继电器、第三继电器、第四继电器、第五继电器、第六继电器、第七继电器、第八继电器的第1脚均连接5V供电端，其第7脚均连接BUS端，其第3脚均连接待测产品接口单元。

所述的用于切换测试信号通道的装置，其中，所述待测产品接口单元包括第一接口电路和第二接口电路，第一接口电路的VVIB1端、CMD_LCD_BL1端、CMD_KB_BL1端、CH1AUDS端、CH1AUDHL端分别连接第一继电器K1的第3脚、第二继电器K2的第3脚、第三继电器K3的第3脚、第七继电器K7的第3脚、第八继电器K8的第3脚；第二接口电路的VVIB2端、CMD_LCD_BL2端、CMD_KB_BL2端分别连接第四继电器K4的第3脚、第五继电器K5的第3脚、第六继电器K6的第3脚。

一种用于切换测试信号通道的系统，用于在测试待测产品的各项功能测试项时，在不同测试信号通道之间切换，其包括：用于传输测试值的仪器，用于发出控制指令、中断信号、获取测试值并进行比较判断的计算机，以及任意一项所述的用于切换测试信号通道的装置；所述计算机、仪器、待测产品分别连接所述用于切换测试信号通道的装置，计算机与仪器通讯连接。 

一种采用所述系统的切换方法 ，其包括：

A、启动计算机中的测试软件，将待测产品与待测产品接口单元相连；

B、计算机发出控制指令开始测试，根据控制指令选择一个测试信号通道进行连接，获取该待测产品的测试值；

C、判断该测试值是否在测试指标的预定参数范围内、以及是否出现中断信号；当在预定参数范围内但没有中断信号，则根据控制指令切断当前的测试信号通道，选择另一个测试信号通道进行连接；当在预定参数范围内且出现中断信号，则返回执行步骤A，进入下一组待测产品的测试或功能测试项的测试；否则，暂停测试并在计算机中提示报错。

所述的切换方法，其中，所述步骤B具体包括：

B1、计算机根据启动的测试软件发出相应的控制指令，并传输至I2C通讯单元；

B2、I2C通讯单元转换控制指令的数据格式后传输到指令缓存单元中；

B3、指令缓存单元对获取的控制指令按照其输入的先后顺序进行判定、就位、缓存，并传输至通道切换单元；

B4、通道切换单元将获取的控制指令进行信号放大，根据放大后的控制指令选择相应的测试信号通道进行连接，使仪器与待测产品接口单元间接连接；

B5、待测产品接口单元从待测产品获取测试值，将该测试值传输至通道切换单元；

B6、通道切换单元将获取的测试值传输至仪器；

B7、仪器将测试值传输至计算机。

相较于现有技术，本发明提供的一种用于切换测试信号通道的装置、系统及切换方法，将待测产品与待测产品接口单元连接，通过计算机发出控制指令经过I2C通讯单元传输至指令缓存单元，在指令缓存单元中按照控制指令输入的先后顺序对控制指令进行判定、就位、缓存并传输至通道切换单元，通道切换单元将控制指令进行信号放大后，根据放大后的控制指令选择相应的测试信号通道进行连接，使仪器与待测产品接口单元间接连接，待测产品的测试值依次通过待测产品接口单元、通道切换单元传输至仪器中，再由仪器发送至计算机进行判断比较，在测试值符合设计要求时，根据控制指令切断当前连接的测试信号通道，选择另一测试信号通道进行连接，即实现了测试信号通道之间的切换，其切换速度快，可同时测试多个待测产品，提高了工作效率。

附图说明

图1为本发明用于切换测试信号通道的系统较佳实施例的结构框图。

图2为本发明用于切换测试信号通道的装置中电源管理单元的电路图。

图3为本发明用于切换测试信号通道的装置中I2C通讯单元的电路图。

图4为本发明用于切换测试信号通道的装置中指令缓存单元的电路图。

图5Ａ为本发明用于切换测试信号通道的装置中通道切换单元一部分电路图。

图5B为本发明用于切换测试信号通道的装置中通道切换单元另一部分电路图。

图6为本发明用于切换测试信号通道的装置中待测产品接口单元的电路图。

图7为本发明用于切换测试信号通道的切换方法的流程图。

具体实施方式

本发明提供一种用于切换测试信号通道的装置、系统及切换方法。为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

请参阅图1，其为本发明用于切换测试信号通道的系统较佳实施例的结构框图。如图1所示，该系统用于在测试待测产品的各项功能测试项时，在不同测试信号通道之间切换，其包括仪器、计算机和用于切换测试信号通道的装置10。所述计算机、仪器、待测产品分别连接所述用于切换测试信号通道的装置10；计算机与仪器通讯连接，在本实施例中，计算机与仪器之间采用GPIB数据线连接，仪器将装置10获取的待测产品的测试值按照GPIB协议传输至计算机中进行相应的处理。计算机发出的控制指令包括多个控制命令和一个中断信号。

所述用于切换测试信号通道的装置10包括I2C通讯单元110、指令缓存单元120、通道切换单元130、待测产品接口单元140和电源管理单元150。所述I2C通讯单元110、指令缓存单元120、通道切换单元130、待测产品接口单元140依次连接，所述I2C通讯单元110、指令缓存单元120、通道切换单元130、待测产品接口单元140分别连接电源管理单元150。

所述电源管理单元150用于对I2C通讯单元110、指令缓存单元120、通道切换单元130、待测产品接口单元140供电。请同时参阅图2，电源管理单元150包括插座J1、保险丝F1、开关K1、开关电源P1和滤波电容C1；所述插座J1的第1脚连接开关电源P1的第1脚，插座J1的第2脚依次通过保险丝F1、开关K1连接开关电源P1的第2脚，开关电源P1的第3脚连接滤波电容C1的正极和电源管理单元150的供电端VCC，插座J1的第3脚、开关电源P1的第5脚和滤波电容C1的负极均接地。其中，所述插座J1的第1脚、第2脚和第3脚分别为零线、火线和地线。插座J1接通市电AC200V，当按下开关K1时，市电AC200V输入开关电源P1中、转换成直流工作电压经过滤波电容C1滤波后从供电端VCC输出，给装置10中的I2C通讯单元110、指令缓存单元120、通道切换单元130、待测产品接口单元140供电。

所述I2C通讯单元110用于与计算机进行通讯、将计算机发出的控制指令传输至指令缓存单元120。请同时参阅图3，I2C通讯单元110包括USB连接器P2、晶振Y1和第一芯片U1；所述第一芯片U1的型号为USB2I2C。所述USB连接器P2的第1脚、第一芯片U1的VCC端均连接电源管理单元150的供电端VCC，USB连接器P1的第2脚、第3脚分别连接第一芯片U1的UD+端、UD-端，第一芯片U1的XI端、XO端分别连接晶振Y1的两端，第一芯片U1的SCL端、SDA端连接指令缓存单元120。USB连接器P2通过USB数据线与计算机的USB接口连接，计算机发出的控制指令通过USB数据线传输到USB连接器P2中，USB连接器P2的第2脚、第3脚输出的DM信号和DP信号输入第一芯片U1的UD+端、UD-端，晶振Y1触发第一芯片U1工作，将DM信号和DP信号处理形成SCL信号和SDA信号传输至指令缓存单元120中。即控制指令在I2C通讯单元110被转换为SCL信号和SDA信号，后面对SCL信号和SDA信号进行的处理即是对控制指令进行相应的数据格式转换，也就是根据控制指令的内容控制相应的单元工作。

所述指令缓存单元120用于对获取的控制指令按照其输入的先后顺序进行判定、就位、缓存、并传输，请同时参阅图4，其包括第二芯片U2和第三芯片U3；所述第二芯片U2的型号为PCF8574T，第三芯片U3的型号为74HC240；所述第二芯片U2的SDA端、SCL端分别连接第一芯片U1的SDA端、SCL端，这样就把控制指令传输至第二芯片U2中。第二芯片U2的VDD端连接电源管理单元150的供电端VCC。第二芯片U2的P0端、P1端、P2端、P3端、P4端、P5端、P6端、P7端分别连接第三芯片U3的1A1端、1A2端、1A3端、1A4端、2A1端、2A2端、2A3端、2A4端，第三芯片U3的VCC端连接电源管理单元150的供电端VCC，第三芯片U3的1Y1端、1Y2端、1Y3端、1Y4端、2Y1端、2Y2端、2Y3端、2Y4端连接通道切换单元130。第二芯片U2通过其地址输入端：A0端、A1端、A2端进行地址识别，输入低电平时有效，即在焊接过程中将A0端、A1端、A2端任意一端焊接地时，该地址输入端为0。通过是否焊接地来控制A0端、A1端、A2端输入不同的高低电平、可区分不同的第二芯片与I2C通讯单元110之间的控制指令传输。输入的控制指令和地址信号经过第二芯片U2处理后转换成8个信号（即控制指令携带的控制内容）分别从P0端-P7端输出至第三芯片U3。第三芯片U3对这8个信号进行缓存，其采用先进先执行的原则。有信号输入时即可开始判定，输出1Y1信号、1Y2信号、1Y3信号、1Y4信号、2Y1信号、2Y2信号、2Y3信号、2Y4信号至通道切换单元130，并将输入的信号缓存；无信号进入时处于就位状态。

请同时参阅图5A和图5B，所述通道切换单元130用于将获取的控制指令进行信号放大，根据放大后的控制指令选择相应的测试信号通道进行连接或切换，使仪器与待测产品接口单元140间接连接，以传输待测产品的测试值；其包括第四芯片U4、第五芯片U5、第一上拉电阻R1、第二上拉电阻R2、第三上拉电阻R3、第四上拉电阻R4、第一继电器K1、第二继电器K2、第三继电器K3、第四继电器K4、第五继电器K5、第六继电器K6、第七继电器K7和第八继电器K8；所述第四芯片U4和第五芯片U5的型号均为TLP521-4；所述第四芯片U4的Ca1端、Ca2端、Ca3端、Ca4端分别连接第三芯片U3的1Y4端、1Y3端、1Y2端、1Y1端，第四芯片U4的A1端、A2端、A3端、A4端分别连接第二上拉电阻R1的第1脚、第2脚、第3脚、第4脚；第四芯片U4的Co1端、Co2端、Co3端、Co4端分别连接第四继电器K4、第三继电器K3、第二继电器K2、第一继电器K1的第2脚，还分别连接第三上拉电阻R3的第4脚、第3脚、第2脚、第1脚；第五芯片U5的Ca1端、Ca2端、Ca3端、Ca4端分别连接第三芯片U3的2Y4端、2Y3端、2Y2端、2Y1端，第五芯片U5的A1端、A2端、A3端、A4端分别连接第一上拉电阻R1的第1脚、第2脚、第3脚、第4脚；第五芯片U5的Co1端、Co2端、Co3端、Co4端分别连接第八继电器K8、第七继电器K7、第六继电器K6、第五继电器K5的第2脚，还分别连接第四上拉电阻R4的第4脚、第3脚、第2脚、第1脚；所述第一继电器K1、第二继电器K2、第三继电器K3、第四继电器K4、第五继电器K5、第六继电器K6、第七继电器K7、第八继电器K8的第1脚均连接5V供电端，继电器的第7脚均连接BUS端，继电器的第3脚均连接待测产品接口单元140。当继电器导通时，待测产品接口单元140采集到的不同功能测试项，如DVM+（充电功能）、AUDIO_IN（音频功能）等的测试值即可通过BUS端输出至仪器中。在本实施例中，所述5V供电端即是电源管理单元150的供电端VCC，该供电端VCC输出的电压为5V。

其中，所述第一上拉电阻R1、第二上拉电阻R2、第三上拉电阻R3、第四上拉电阻R4均为排阻，其第1脚、第2脚、第3脚、第4脚相当于一个普通电阻的一端；其第5脚、第6脚、第7脚、第8脚在本实施例中均连接供电端VCC，相当于普通电阻的另一端。采用排阻可以方便焊接，节省封装空间。第四芯片U4和第五芯片U5也叫控制指令放大驱动芯片。第四芯片U4的Co1端、Co2端、Co3端、Co4端分别输出Bufprot_3信号、Bufprot_2信号、Bufprot_1信号、Bufprot_0信号至第四继电器K4、第三继电器K3、第二继电器K2、第一继电器K1的第2脚。第五芯片U5的Co1端、Co2端、Co3端、Co4端分别输出Bufprot_7信号、Bufprot_6信号、Bufprot_5信号、Bufprot_4信号至第八继电器K8、第七继电器K7、第六继电器K6、第五继电器K5的第2脚。所述第一继电器K1、第二继电器K2、第三继电器K3、第四继电器K4、第五继电器K5、第六继电器K6、第七继电器K7、第八继电器K8的第2脚也分别对应叫做第一继电器K1的CH1AMCTR1端、第二继电器K2的CH1AMCTR2端、第三继电器K3的CH1AMCTR3端、第四继电器K4的CH2AMCTR1端、第五继电器K5的CH2AMCTR2端、第六继电器K6的CH2AMCTR3端、第七继电器K7的CH1AUDSCTR端、第八继电器K8的CH1AUDHLCTR端。Bufprot_0信号-Bufprot_7信号为低电平时才能使继电器导通，传输数据，且只有一个Bufprot信号为低电平，其余保持高电平。上述继电器的第3脚、第7脚、第8脚均为输入输出脚。当继电器的第2脚输入低电平时，其第3脚与第7脚连接，而第3脚又连接的是待测产品接口单元140，第3脚输入的待测产品的测试值就传输到继电器中，再从第7脚的BUS输出至仪器中。控制指令经过多个芯片转换处理后得到继电器第2脚的输入电平，根据这个电平的高低即可控制其中一个继电器导通，其余继电器截止。继电器即是测试信号通道切换的执行器件，可以采用型号规格为TLP521、G6K-2F-Y以及其他类型的继电器。在继电器中选择不同的继电器使其导通，即实现了测试信号通道的切换，导通的继电器可以传输测试值。

所述待测产品接口单元140用于与待测产品连接，获取并传输待测产品的测试值，其为接口电路，其引脚连接第一继电器、第二继电器、第三继电器、第四继电器、第五继电器、第六继电器、第七继电器和第八继电器的第3脚。所述接口电路可设置一个或多个、根据待测产品的个数可适当扩展。由于接口电路中有很多引脚，不同的引脚代表检测不同的功能测试项，将相应引脚与继电器的第3脚连接即可对相应的功能进行测试，将采集到的待测产品的相应测试值输入到继电器的第3脚，再通过导通的继电器将测试值通过BUS端传输到仪器中。在本实施例中，接口电路为两个，分别是第一接口电路J5和第二接口电路J11。第一接口电路J5的VVIB1端、CMD_LCD_BL1端、CMD_KB_BL1端、CH1AUDS端、CH1AUDHL端分别连接第一继电器K1的第3脚、第二继电器K2的第3脚、第三继电器K3的第3脚、第七继电器K7的第3脚、第八继电器K8的第3脚；第二接口电路J11的VVIB2端、CMD_LCD_BL2端、CMD_KB_BL2端分别连接第四继电器K4的第3脚、第五继电器K5的第3脚、第六继电器K6的第3脚。待测产品接口单元140可以采用各种引脚数的连接器、插座、排针等。

    基于上述系统，本发明对应提供了一种切换测试信号通道的切换方法。请参阅图7，所述切换方法包括：

S100、启动计算机中的测试软件，将待测产品与待测产品接口单元相连。

所述测试软件有多款，是根据需要测试的功能测试项目划分的，可以实现对不同功能测试项目的测试。如一款测试软件用于进行射频测试，另一款测试软件用于进行基带测试等。这里的待测产品接口单元为多个，可同时测试多个待测产品。一款测试软件也可以对同一个待测产品的不同功能测试项目进行测试。

S200、计算机发出控制指令开始测试，根据控制指令选择一个测试信号通道进行连接，获取该待测产品的测试值。

测试时可以多个待测产品的一项功能测试项目进行测试，也可以在一个待测产品中测试不同的功能测试项目。其已经编辑好了需要测试的内容。运行一款测试软件后，即可从用于切换测试信号通道的装置处获取相对应的测试值。一款测试软件测试一种测试值。其中，步骤S200具体包括：

S201、计算机根据启动的测试软件发出相应的控制指令，并传输至I2C通讯单元。计算机与I2C通讯单元之间采用USB数据线连接。

S202、I2C通讯单元转换控制指令的数据格式后传输到指令缓存单元中。在I2C通讯单元中，将控制指令转换成SCL信号和SDA信号，将这两个信号输入到指令缓存单元中进行后续处理，也相当于将控制指令传输至指令缓存单元中。

S203、指令缓存单元对获取的控制指令按照其输入的先后顺序进行判定、就位，并传输至通道切换单元。

在指令缓存单元中对控制指令进行进一步的信号转换，形成8个信号后缓存并输入通道切换单元中，这8个信号也相当于控制指令，只是控制指令的数据格式被转化了而已。在本实施例中控制指令中包括多个控制命令和一个中断信号，中断信号出现在最后一个控制命令的后面。例如，控制命令可以为：对第一个待测产品的基带进行测试，对第三个待测产品的基带进行测试等。先测试哪个待测产品由仪器的系统响应来决定，这个仪器忙时，就暂时跳过，测试下一个，这些控制命令组合成控制指令。比如对不同待测产品测试同一功能测试项目，则多个控制命令分别对应一个待测产品进行测试，直至所有待测产品测试完成才算一个控制指令的结束。该控制指令也可以为对一个产品测试不同的功能测试项目，则该控制命令就包括了对不同功能测试项目的选择。哪个控制命令先输入，就优先执行这个控制命令。

S204、通道切换单元将获取的控制指令进行信号放大，根据放大后的控制指令选择相应的测试信号通道进行连接，使仪器与待测产品接口单元间接连接。

在通道切换单元中，根据控制指令从多个继电器中选择一个使其导通，该继电器将相对应的待测产品接口单元与通道切换单元连接。选择哪个继电器导通即为选择出需要连接的测试信号通道。

S205、待测产品接口单元从待测产品获取测试值，将该测试值传输至通道切换单元。

S206、通道切换单元将获取的测试值传输至仪器；

由于通道切换单元外接仪器，待测产品、待测产品接口单元、导通的继电器、仪器就组成了一个测试值的传输通道。从待测产品处采集到的测试值经过这个传输通道后传输到仪器中。

S207、仪器将测试值传输至计算机。

S300、判断该测试值是否在测试指标的预定参数范围内、以及是否出现中断信号；当在预定参数范围内但没有中断信号，则根据控制指令切断当前的测试信号通道，选择另一个测试信号通道进行连接；当在预定参数范围内且出现中断信号，则返回执行步骤S100，进入下一组待测产品的测试或功能测试项的测试；否则，暂停测试并在计算机中提示报错。

计算机对输入的测试值进行判断，与已存储的测试指标的预定参数范围进行比较。测试的是哪项功能测试项目，就与该项目对应的预定参数范围进行比较。若测试值在预定参数范围内，证明该项目的测试结果符合要求，但没有中断信号，则需继续比较，将后面的控制命令连通的继电器获取的测试值进行比较；如果在预定参数范围内且出现中断信号，则表示该控制指令已完成，可进入下一组待测产品的测试或功能测试项的测试，重复步骤S100-S300，直至所有需要测试的内容均测试完成后停止；若测试值不在预定参数范围内则在计算机中提示报错，如在计算机的屏幕上显示NG、或发出声音报警等。由于本发明采用硬件电路，其控制指令在切换测试信号通道，即选择继电器导通的速度很快。

在本实施例上述测试中的控制指令包括多个控制命令，一个控制命令对应的测试值符合要求后，会继续传输判断第二个控制命令的测试值，直至所有测试值都判断比较后，控制指令才算完成，才会返回步骤S100，进行第二轮的测试。例如，控制指令中包括2个控制命令，第一个控制命令选择第一继电器进行连接，则连接了第一测试信号通道，第一待测产品的测试值传输至计算机中进行比较；在比较的同时，第二个控制命令选择第二继电器进行连接，则连接了第二测试信号通道，实现了在第一测试信号通道和第二测试信号通道之间的切换，第二待测产品的测试值也传输至计算机中进行比较，这2个控制命令都执行完后，控制指令完成，轮到执行中断信号，当计算机接收到该中断信号，即表示第一轮测试完成。

进行第二轮的测试时，步骤S100中可启动另一款测试软件测试其他待测的功能测试项目，则步骤S200中发出的控制指令不同，可选择另一个测试信号通道进行连接，即实现了不同测试信号通道之间的切换。当然，步骤S100中也可以继续启动前一次的测试软件，将待测产品换成另一批进行测试。

需要理解的是，本实施例中的控制指令包括多个控制命令，可以实现多次在不同测试信号通道之间的切换。控制指令也可以只为一个控制命令，发出不同的控制指令也可以实现在不同测试信号通道之间的切换。计算机获取一个测试值判断符合要求后，可以返回步骤S200，由计算机发出另一个控制指令进行测试信号通道的切换，上述的步骤S300就需要对应修改。这样就可以根据实际需要设置有多种切换方法。在本实施例中，用于切换测试信号通道的系统包括一仪器，若待测产品在测试时不需要仪器，该仪器可取消，则通道切换单元直接与计算机通讯，进行数据传输。

可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (9)

1.一种用于切换测试信号通道的装置，其特征在于，包括：

用于转换计算机发出的控制指令的数据格式、传输至指令缓存单元的I2C通讯单元；

用于对获取的控制指令按照其输入的先后顺序进行判定、就位、缓存，并传输的指令缓存单元；

用于将获取的控制指令进行信号放大，根据放大后的控制指令选择连接或切换相应的测试信号通道，使仪器与待测产品接口单元间接连接，传输待测产品的测试值的通道切换单元；

用于与待测产品连接，获取并传输待测产品的测试值的待测产品接口单元；

用于对I2C通讯单元、指令缓存单元、通道切换单元、待测产品接口单元供电的电源管理单元； 

所述I2C通讯单元、指令缓存单元、通道切换单元、待测产品接口单元依次连接，所述I2C通讯单元、指令缓存单元、通道切换单元、待测产品接口单元分别连接电源管理单元；

所述控制指令包括多个控制命令和一个中断信号。

2.根据权利要求1所述的用于切换测试信号通道的装置，其特征在于，所述电源管理单元包括插座、保险丝、开关、开关电源和滤波电容；所述插座的第1脚连接开关电源的第1脚，插座的第2脚依次通过保险丝、开关连接开关电源的第2脚，开关电源的第3脚连接滤波电容的正极和电源管理单元的供电端，插座的第3脚、开关电源的第5脚和滤波电容的负极均接地。

3.根据权利要求2所述的用于切换测试信号通道的装置，其特征在于，所述I2C通讯单元包括USB连接器、晶振和第一芯片；所述第一芯片的型号为USB2I2C；所述USB连接器的第1脚和第一芯片的VCC端连接电源管理单元的供电端，USB连接器的第2脚、第3脚分别连接第一芯片的UD+端、UD-端，第一芯片的XI端、XO端分别连接晶振的两端，第一芯片的SCL端、SDA端连接指令缓存单元。

4.根据权利要求3所述的用于切换测试信号通道的装置，其特征在于，所述指令缓存单元包括第二芯片和第三芯片；所述第二芯片的型号为PCF8574T，第三芯片的型号为74HC240；所述第二芯片的SDA端、SCL端分别连接第一芯片的SDA端、SCL端，第二芯片的VDD端连接电源管理单元的供电端，第二芯片的P0端、P1端、P2端、P3端、P4端、P5端、P6端、P7端分别连接第三芯片的1A1端、1A2端、1A3端、1A4端、2A1端、2A2端、2A3端、2A4端，第三芯片的VCC端连接电源管理单元的供电端，第三芯片的1Y1端、1Y2端、1Y3端、1Y4端、2Y1端、2Y2端、2Y3端、2Y4端连接通道切换单元。

5.根据权利要求4所述的用于切换测试信号通道的装置，其特征在于，所述通道切换单元包括第四芯片、第五芯片、第一上拉电阻、第二上拉电阻、第三上拉电阻、第四上拉电阻、第一继电器、第二继电器、第三继电器、第四继电器、第五继电器、第六继电器、第七继电器和第八继电器；所述第四芯片和第五芯片的型号均为TLP521-4；所述第四芯片的Ca1端、Ca2端、Ca3端、Ca4端分别连接第三芯片的1Y4端、1Y3端、1Y2端、1Y1端，第四芯片的A1端、A2端、A3端、A4端分别连接第二上拉电阻的第1脚、第2脚、第3脚、第4脚；第四芯片的Co1端、Co2端、Co3端、Co4端分别连接第四继电器、第三继电器、第二继电器、第一继电器的第2脚，还分别连接第三上拉电阻的第4脚、第3脚、第2脚、第1脚；第五芯片的Ca1端、Ca2端、Ca3端、Ca4端分别连接第三芯片的2Y4端、2Y3端、2Y2端、2Y1端，第五芯片的A1端、A2端、A3端、A4端分别连接第一上拉电阻的第1脚、第2脚、第3脚、第4脚；第五芯片的Co1端、Co2端、Co3端、Co4端分别连接第八继电器、第七继电器、第六继电器、第五继电器的第2脚，还分别连接第四上拉电阻的第4脚、第3脚、第2脚、第1脚；所述第一继电器、第二继电器、第三继电器、第四继电器、第五继电器、第六继电器、第七继电器、第八继电器的第1脚均连接5V供电端，其第7脚均连接BUS端，其第3脚均连接待测产品接口单元。

6. 根据权利要求5所述的用于切换测试信号通道的装置，其特征在于，所述待测产品接口单元包括第一接口电路和第二接口电路，第一接口电路的VVIB1端、CMD_LCD_BL1端、CMD_KB_BL1端、CH1AUDS端、CH1AUDHL端分别连接第一继电器K1的第3脚、第二继电器K2的第3脚、第三继电器K3的第3脚、第七继电器K7的第3脚、第八继电器K8的第3脚；第二接口电路的VVIB2端、CMD_LCD_BL2端、CMD_KB_BL2端分别连接第四继电器K4的第3脚、第五继电器K5的第3脚、第六继电器K6的第3脚。

7.一种用于切换测试信号通道的系统，用于在测试待测产品的各项功能测试项时，在不同测试信号通道之间切换，其特征在于，包括：用于传输测试值的仪器，用于发出控制指令、中断信号、获取测试值并进行比较判断的计算机，以及权利要求1-6任意一项所述的用于切换测试信号通道的装置；所述计算机、仪器、待测产品分别连接所述用于切换测试信号通道的装置，计算机与仪器通讯连接。

8. 一种采用权利要求7所述系统的切换方法 ，其特征在于，包括：

A、启动计算机中的测试软件，将待测产品与待测产品接口单元相连；

B、计算机发出控制指令开始测试，根据控制指令选择一个测试信号通道进行连接，获取该待测产品的测试值；

C、判断该测试值是否在测试指标的预定参数范围内、以及是否出现中断信号；当在预定参数范围内但没有中断信号，则根据控制指令切断当前的测试信号通道，选择另一个测试信号通道进行连接；当在预定参数范围内且出现中断信号，则返回执行步骤A，进入下一组待测产品的测试或功能测试项的测试；否则，暂停测试并在计算机中提示报错。

9.根据权利要求8所述的切换方法，其特征在于，所述步骤B具体包括：

B1、计算机根据启动的测试软件发出相应的控制指令，并传输至I2C通讯单元；

B2、I2C通讯单元转换控制指令的数据格式后传输到指令缓存单元中；

B3、指令缓存单元对获取的控制指令按照其输入的先后顺序进行判定、就位、缓存，并传输至通道切换单元；

B4、通道切换单元将获取的控制指令进行信号放大，根据放大后的控制指令选择相应的测试信号通道进行连接，使仪器与待测产品接口单元间接连接；

B5、待测产品接口单元从待测产品获取测试值，将该测试值传输至通道切换单元；

B6、通道切换单元将获取的测试值传输至仪器；

B7、仪器将测试值传输至计算机。

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