CN102947728B - 用于金属检测中的滑动门图形取消的方法和系统 - Google Patents

Abstract

一种用于在金属检测系统中减少金属门的信号干扰效应的方法和系统。该系统包括：发射器，可操作用于发射被用来检测在检测区内的临时金属物品的询问信号；接收器，可操作用于接收代表在金属检测系统的工作期间的电磁场扰动并且包含归因于金属门的运动的电磁场扰动的即时信号。该系统还包括用于确定代表在金属检测系统的工作期间接收到的即时信号与代表当不存在临时金属物品时由检测区内的金属门的运动模式引起的电磁场扰动的所记录的信号图形之间的差异的生成波形的金属检测模块。记录图形被从生成波形中消除，只留下来自临时金属物品的信号。

Description

用于金属检测中的滑动门图形取消的方法和系统

技术领域

本发明一般地涉及金属检测系统，并且更具体地涉及用于减少金属门对金属检测系统的金属检测能力的信号干扰效应的方法和系统。

背景技术

金属检测系统可用于检测金属品在非授权的情况下被从保护区内移出，以及检测可能被带入保护区内的金属物品。尤其是在零售环境中，金属检测系统通过防止未付款物品在非授权的情况下被从商店中移出而为商店挽救了数十万美元。在诸如学校、机场和体育场之类的地方，金属检测器起着防止顾客带入武器或者能够对他人造成伤害的物品或者带着他们还没购买的物品离开的作用。

金属检测系统通常与电子物品监测（“EAS”）系统结合。EAS系统通常用于零售店和其他场合，以防止货物被非授权地移出保护区。典型地，该系统被配置于保护区的出口处。该系统包括一个或多个发射器、接收器和天线，保存于能够在出口两侧产生电磁场（称为“询问区”或“检测区”）的框架（例如，EAS基座）内。受保护的商品被贴上EAS标记物，该EAS标记物（激活时）在穿过该询问区时会产生响应信号。在同一或另一“基座”内的天线和接收器检测到该响应信号，并且产生警报和/或给监控人员发送警报信息。结合的EAS/金属检测系统使用基座来检测货物在非授权的情况下被移走，以及金属物品进入或离开询问区。

用于将金属检测功能结合于EAS系统内的一个原因是由于EAS系统所遇到的问题：EAS系统在标签被放置于屏蔽的环境中时（例如，当EAS标签被包含于金属内衬的袋子中时）无法检测出带标签的物品被非授权地移走。通常，不道德的购物者会将金属内衬的袋子带入商店，怀有将具有EAS标签的物品放置于袋子内的念头，并且企图不被检测到地走出商店。通过使用这种方法可以挫败不具有金属检测能力的EAS检测系统。因此，为了防止这种情况发生，EAS系统使用了金属检测能力。随着集成有EAS技术的金属检测的出现，EAS系统在按照客户的损失预防需求来给客户提供全面的解决方案方面变得越来越稳健和无缝。新的“结合”系统使用现有的EAS基座，从而在系统的成本、空间和整体美观性方面使效率最大化。

但是，金属检测系统，无论它们是独立的系统还是结合的EAS/金属检测系统都并非没有它们固有的问题。当金属检测系统或结合的EAS/金属检测系统紧靠着某类型的大金属物品（例如，金属门框）安装时就会产生问题。金属门（例如，滑动金属门）在许多零售商店的环境中是常见的。这些滑动金属门倾向于降低金属检测的性能。这是因为：当被安装于金属门框附近时，作为金属检测的要素的电磁场梯度由于门在运动而受到损害，从而导致误报警。同样，与存在于诸如标签屏蔽物（例如，箔内衬的袋子）之类的临时金属物品的金属量相比，门的金属量会产生来自门的金属检测响应信号比来自临时金属物品（例如，金属袋的屏蔽物）的响应强多个数量级。虽然这些金属门对EAS检测没有影响，但是由这些门的打开和关闭以及门的金属量引起的对系统的金属检测能力的干扰可能是相当严重的。

其他减少或消除金属检测区内的金属门的影响的尝试已经证明是不够充分的。这些尝试中的某些包括：屏蔽并使门与基座电隔离，推荐“安全的”距离；以及研发独立于EAS系统来工作的全新的独立式金属检测系统。由于滑动金属门对金属检测系统具有极大的影响，因而屏蔽门使其不被天线检测到并不是一种实用的选择。结合的EAS/金属检测系统的金属检测部分对场梯度的任何变化都是极度敏感的，并且因此，当金属滑动门在运动时，没有合理的金属屏蔽物的大小适用于防止场梯度的变化。将系统布置于“安全”的距离外，或者使用非EAS的独立的金属检测系统都不是高效的，因为这些方法使将金属检测集成到EAS系统内的目的变得无效，这些EAS系统时常紧靠着滑动金属门来安装。

因此，所需要的是用于取消金属检测询问区内的运动金属门的影响的系统和方法。

发明内容

本发明有利地提供了用于在金属检测系统中减少金属门的信号干扰效应的方法和系统。该系统包括：发射器，可操作用于发射被用来检测在检测区内的临时金属物品的询问信号；接收器，可操作用于接收代表着在金属检测系统的工作期间的电磁场扰动并且包含归因于金属门的运动的电磁场扰动的即时信号。该系统还包括用于确定代表着在金属检测系统的工作期间接收到的即时信号与代表着在不存在临时金属物品时由检测区内的金属门的运动模式引起的电磁场扰动的所记录的信号图形之间的差异的生成波形的金属检测模块。记录图形被从生成波形中消除，只留下来自在金属检测区内检测到的临时金属物品的信号，没有来自金属门的信号干扰。

在本发明的一个方面，本发明提供了一种用于在金属检测系统中减少金属门的信号干扰效应的方法。该方法包括记录代表着在不存在临时金属物品时由检测区内的金属门的运动模式引起的电磁场随时间的扰动的信号图形。该方法还包括接收代表着在金属检测系统的工作期间的电磁场扰动的即时信号。即时信号包含归因于金属门的运动的电磁场扰动，其中金属门在金属检测系统的工作期间的运动与金属门在信号图形的记录期间的运动模式基本上相同。该方法还包括确定生成波形，其中生成波形代表着在金属检测系统的工作期间接收到的即时信号与所记录的信号图形之间的差异。

在另一个方面，本发明提供了一种金属检测系统。该金属检测系统包括可操作用于发射询问信号的发射器，其中询问信号建立起检测区，并且被用来检测在检测区内的临时金属物品；可操作用于接收响应于询问信号的即时信号的接收器，其中即时信号代表着在金属检测系统的工作期间的电磁场扰动，即时信号包含归因于金属门的运动的电磁场扰动；以及金属检测模块。金属检测模块确定生成波形，其中生成波形代表着在金属检测系统的工作期间接收到的即时信号与所记录的信号图形之间的差异，该所记录的信号图形代表着在不存在临时金属物品时由检测区内的金属门的运动模式引起的电磁场随时间的扰动。金属门在金属检测系统的工作期间的运动与金属门在信号图形的记录期间的运动模式基本上相同。金属检测模块可操作用于基于生成波形来确定在检测区内是否存在金属物品。

根据又一个方面，本发明提供了一种集成的EAS/金属检测系统。该集成的EAS/金属检测系统包括：可操作用于发射询问信号的发射器，询问信号建立起询问区并且被用来检测在询问区内的EAS标记物和临时金属物品；以及可操作用于接收响应于询问信号的即时信号的接收器。即时信号代表着在金属检测系统的工作期间的电磁场扰动，即时信号包含归因于金属门的运动的电磁场扰动。该系统还包括可操作用于确定生成波形的金属检测模块，生成波形代表着在在金属检测系统的工作期间接收到的即时信号与代表着在不存在临时金属物品时由检测区内的金属门的运动模式引起的电磁场随时间的扰动的所记录的信号图形之间的差异。金属门在金属检测系统的工作期间的运动与金属门在信号图形的记录期间的运动模式基本上相同。金属检测模块可操作用于基于生成波形来确定在检测区内是否存在金属物品。

附图说明

通过参照下面结合附图考虑的详细描述，将会更容易更全面地理解本发明及其所具有的优点和特征，在附图中：

图1是根据本发明的原理构造的一个具有关闭的金属门的示例性的集成的电子物品监测（“EAS”）/金属检测系统的示意图；

图2是示出滑动金属门处于打开配置的图1的集成的EAS/金属检测系统的示意图；

图3是根据本发明的原理构造的一个示例性的集成的EAS/金属检测系统的框图；

图4是示出本发明用以在金属检测区内不存在金属物品时检测和消除由在金属检测区内的金属门的打开所引起的外来干扰的一个示例性过程的框图；

图5是示出本发明用以在金属检测区内存在金属物品时过滤掉由在金属检测区内的金属门的打开所引起的外来干扰的一个示例性过程的框图；以及

图6是在由本发明的金属检测系统检测到的代表着由滑动金属门引起的干扰的记录波形与代表着场扰动的即时波形之间的比较。

具体实施方式

在详细地描述根据本发明的示例性实施例之前，应当指出，这些实施例主要在于与实现用于在金属检测或集成的EAS/金属检测系统中减少由归因于金属检测询问区之内或附近的金属门的打开和关闭的场扰动引起的误报警的系统和方法相关的装置构件及处理步骤的组合。因此，该系统及方法的构件由附图内的常规符号适当地表示，仅示出与本发明的实施例的理解有关的那些具体细节，以免使本公开内容因对于获益于本文的描述的本领域技术人员来说为显而易见的细节而变得晦涩。

如同在此所使用的，例如“第一”和“第二”、“顶部”和“底部”等关系词可以仅用于将一个实体或元件与另一个实体或元件区分开，不一定要求或暗示在此类实体或元件之间的任何物理的或逻辑的关系或次序。

本发明的一种实施例有利地提供了用于减少由于在金属检测询问区附近的滑动金属门的打开和关闭所引起的场扰动而在金属检测系统中发生的误报警的方法和系统。滑动金属门的运动在电磁（“EM”）场内引入了外来信号，该外来信号会遮掩对正被带入或带出金属检测区的实际金属物品的检测。本发明在不存在其他金属物品的情况下测量由金属门的运动产生的信号，记录这些信号，并且将它们从在实际金属检测期间接收到的总的即时检测电磁（EM）能量中过滤掉，以便在没有由金属门的运动引起的潜在干扰形式的信号扰动的情况下更准确地确定是否已经检测到了金属物品。

现在参照附图，在附图中相同的参考符号指示相同的元件，在图1中示出了根据本发明的原理构造且位于例如零售设施入口处的集成的EAS/金属检测系统10的示例性配置。应当指出，本发明可如同集成的EAS/金属检测系统那样等同地适用于独立的金属检测系统。因而，术语“集成的EAS/金属检测系统”、“金属检测系统”和“检测系统”在整个说明书中可互用，并且对其中一个或另一个的排除不应以任何方式来限制本发明。

EAS检测系统10包括在门入口14的相对两侧的一对基座12a、12b（在此共同称为“基座12”）。用于检测系统10的一个或多个天线可以包含在位于已知的距离外的基座12a和12b内。位于基座12内的天线与用于控制检测系统10的操作的系统控制器16电耦接。用于检测在金属检测区内是否存在金属物品的金属检测模块18位于系统控制器16之内。金属检测模块18检测是否存在进入或离开由基座12内的天线建立的询问区的金属物品。金属检测模块18可以实现于硬件内和/或实现为在微处理器上运行的软件。金属检测模块18还可以是由微处理器来执行的保存于例如结合的EAS/金属检测系统的系统控制器的存储器内的软件模块。作为选择，金属检测模块18自身可以具有控制器或者用于执行金属检测功能的其他处理单元。

金属检测模块18操作用于检测在给定的金属检测区内是否存在金属物品。金属检测模块18包括以指定的频率（例如，56kHz）来发射金属检测询问信号的发射天线。发射器可以位于商店入口处的基座12之上、之内或附近，并且在指定的询问区内发出询问信号。询问区可以是例如金属物品可以被带入或移出该区域的商店的楼层。发射器还包括生成信号所必需的硬件和软件。金属检测模块18还包括天线，“监听”接收自金属物品的信号并且将这些信号向前传到金属检测模块18。在一种实施例中，如果所接收到的信号在给定的阈值之上，则金属检测警报会响起。

一种用于检测金属的方法基于在电磁（“EM”）激发期间检测所感生出的涡电流。所感生的涡电流耗散非常快，对于良好的导体为数十微妙的量级。耗散对于不良导体较差。即使对于良好导体，涡电流耗散也要比声学标记物的耗散短大约两个量级。

入口14包括一个或多个在顾客靠近滑动金属门20时打开或关闭的滑动金属门20。一个或多个门传感器22位于门20之上或附近，该一个或多个门传感器22检测门20在例如客户为了进入或离开商店而靠近门20时的运动（即，打开或关闭）。传感器22与系统控制器16，更特别地，与金属检测模块18在操作上通信，并且将信号发送给系统控制器16和/或检测模块18，指示门20是打开的还是关闭的，并且若是打开的，是打开到何种程度。传感器22可以是一个或多个传感器，取决于与金属门20及其设计有关的复杂度。本发明并不限制于具体数量或布置的传感器22。还应当指出，本所使用的术语“传感器”指的是能够检测出门20的位置的任何设备。换言之，可设想到的是，根据本发明所使用的传感器可以是接触开关、磁开关、电压变换器等。

如图1所示，门20处于关闭的配置，表明还没有顾客靠近门20。图2示出了具有打开趋向的门20。因而，一个或多个顾客靠近了门20，该门20如同本领域所熟知的那样被设计用于感测人的靠近并自动打开。门传感器22不仅检测出门20已经打开，而且检测出门20打开到了何种程度，即，门20与完全关闭的位置（如图1）相比所处的相对位置。有关门20的位置状态的信息经由有线连接或无线连接来发送给系统控制器16和/或金属检测模块18。

如上所述，本发明不仅适合用于独立的金属检测系统中，而且适合用于结合的EAS/金属检测系统中。现在参照图3，图中示出了一种示例性的集成的EAS/金属检测系统，该系统可以包括控制器24（例如，处理器或微处理器）、电源26、收发器28、存储器30（该存储器可以包括非易失性存储器、易失性存储器或者它们的结合）、通信接口32和警报器34。控制器24控制无线电通信、存储器30的数据存储、到其他设备的所存储数据的通信以及警报器34的激活。电源26（例如，电池或AC电源）给EAS系统控制器16供电。警报器34可以包括用于响应于在EAS/金属检测系统10的询问区内检测到EAS标记物和/或金属而提供视觉和/或听觉警报的软件和硬件。

收发器28可以包括与一个或多个发射天线38电耦接的发射器36以及与一个或多个接收天线42电耦接的接收器40。作为选择，可以将单个天线或天线对用作发射天线38和接收天线42。发射器36使用发射天线38发射射频信号，以对在EAS/金属检测系统10的询问区内的EAS标记物“赋予能量”。接收器40使用接收天线42来检测EAS标记物的响应信号。

在一种实施例中，金属检测模块18是保存于存储器30内的软件模块。但是，金属检测模块18还可以通过使用分立构件来实现，或者可以是硬件和软件元件的结合。例如，除控制器24外或者作为控制器24的代替，金属检测模块18自身可以具有控制器或者用于执行在此所描述的滤波和金属检测功能的其他处理单元。

传感器22给天线42发送信号，指示门20的相对位置。这些信号指示了在入口14内的门20的准确位置。天线42将该信息发送给系统控制器16。同样还将位置信息发送给金属检测模块18。金属门20的打开和关闭表现出对电磁（“EM”）场的可识别的干扰图形。有利地，本发明通过记录这些图形并将它们用作参考来使用该信息。例如，在没有针对金属检测目的而运行金属检测系统的情况下（即为了在基座12所建立的询问区不存在临时金属物品的情况下校准），能够记录与门20所引起的电磁场梯度扰动的大小相关的金属检测询问信号，并且门20从完全关闭的位置起移动并且朝着完全打开的位置逐渐打开。金属检测系统能够在金属检测区没有任何金属物品的情况下记录金属门20对电磁（EM）场的影响，以确定单独因金属门20的存在及运动所致的扰动。在门20向其完全打开的位置运动时，周期性地进行信号强度测量。测量的采样率可以基于系统控制16的处理速度和存储器。信号强度测量形成了图形。形成该图形的信号强度测量然后被记录，并且被用作用于图形识别和消除的参考，从而产生不受移动的门的影响的抵消金属检测信号。因而，作为仅接收来自天线42的信号并且处理这些信号以确定是否存在金属物品的金属检测模块18的替代，金属检测模块18现在还接收由传感器22获得的金属门位置信息。

如同下文所描述的，金属检测模块18比较接收自天线42的一系列即时信号，其中这些信号指示着在金属检测阶段期间接收到的电磁场扰动。信号包括来自所询问的金属物品的响应，以及归因于金属门20的运动的信号。金属检测模块18将这些接收到的信号与专门和由金属门20的运动引起的电磁（EM）扰动相关的预先记录的信号图形进行比较，以便提供生成的抵消信号，指示在没有金属门20的干扰影响的情况下在金属检测区内是否存在金属物品。

图4是示出本发明用以检测并记录由门20的打开引起的对系统10的金属检测能力的干扰的图形的以及如何能够过滤掉并消除由门20引起的干扰，从而允许在没有外来金属门信号干扰的情况下进行金属检测的一个示例性过程的框图。在图4中，代表着与由金属门20的运动能够引起的电磁（EM）扰动相关的信号的图形44在开始时被采样并被记录，以便建立起基本的参考图形。因而，例如，测量在金属门20被打开时进行。这些测量在金属检测模块18不工作并且不存在其他任何临时金属物品（例如，箔内衬的袋子）的情况下跟踪由门20的打开和关闭引起的电磁（EM）场随时间的扰动。因而，所记录的波形代表着在不发生任何金属检测的情况下单独由门20引起的电磁（EM）扰动。在一种实施例中，门20打开的样本被反复获取和记录，直到检测到一致的图形。

当系统10的金属检测部分工作时，天线42正在接收指出在金属检测区内存在或不存在金属物品的信号。这些即时信号包括由金属门20的打开以及任何临时金属物品引起的干扰信号，并且提供随时间而变的即时信号，从而产生波形46。由于金属门20的影响，所检测到的信号46可以遮掩接收自临时金属物品的实际小信号。但是，因为波形44代表着单独由门20的打开和关闭引起的扰动，所以这些信号被减去或消除，从而产生抵消信号，由波形48表示。图4示出了在检测区内没有检测到的金属物品的情况。换言之，由门20的打开在没有金属检测的情况下创建的扰动图形引起的所记录的波形44以及在金属检测操作期间检测到的即时波形46实际上是相同的，因为在检测区内没有临时金属物品，并且所检测到的信号全都由于金属门20。因而，生成波形48显示为基本上平直的线，表明没有随时间的扰动，因为波形46和波形44相互消除了。

应当指出，虽然波形48在图4中由基本上水平的直线来表示，但是该直线并不暗示着从即时信号46中减去所记录的图形44（或者相反）的结果将是0。可设想到，基本上水平的直线能够偏离“y轴”的零点。所生成的抵消信号48然后由金属检测器处理块49来处理，不受金属门的影响和干扰，以确定是否有金属物品穿过系统10。在图4所示的实例中，金属检测器处理块49根据波形48确定了在金属检测区内不存在临时金属物品。

由合成波形48表示的信号对应于在金属检测区内没有临时金属物品的情形。该信号被传递通过低通滤波器（“LPF”）50，以过滤掉可能指出在区域内存在金属的任何外来信号。因为所记录的波形44会由于环境变化而随时间改变，所以本发明包括用于为了相应地考虑这些变化而更新波形44的布局。可能随时间出现的变化被称为“漂移”。当漂移落在某一预定的范围之内或者超过了预定的阈值时，该漂移保证了记录图形44的更新。低通滤波器50被用来确保该漂移是“真实的”且满足两个条件：渐变漂移和永久漂移。

所过滤的信号被检查以确定实际的信号漂移是否已经超过了阈值量（步骤S52）。如果漂移超过了预定的阈值量，则确定该漂移是否是真实的并且不是因系统内的其他因素（如异常值或“峰值”）而致的（步骤S54）。步骤S52和S54能够由硬件、软件或者硬件和软件在例如系统控制器16内的结合来执行。如果实际的漂移已经发生，则系统控制器16通过例如使用最新的即时图形（即，在滤波器50已经处理了波形48之后产生的波形）或者通过提示管理人员建立用以在系统内不存在临时金属的情况下有意识地获得记录图形44的校准过程来更新所保存的图形44。因而，当发生过量的漂移时，系统10有利地更新所保存的记录图形44。这为使用本发明的将来的金属物品检测提供了更精确的基准。如果确定该漂移不是实际的漂移，而是由于外来的异常值，或者如果该漂移尚未超过预定的阈值，则不更新记录图形44，并且继续使用当前记录的图形44。因此，系统10包括用于确定是否已经发生了漂移的模块。该模块（可以包括滤波器50）可以包括为确定该漂移是否是实际漂移以及是否由异常值引起，以及由金属门20的运动引起的所记录的信号图形是否需要更新所必需的硬件和软件的任意结合。

图5是示出其中临时金属物品存在于金属检测区内的布局的示意图。在本实施例中，代表着因金属门20的运动所致的电磁（EM）扰动的波形44被从即时信号56的波形中减去，该即时信号56的波形代表着接收自天线42的即时信号，如图4那样。但是，现在，被发送给金属检测器处理块49的生成波形58代表着在金属检测区内存在临时金属物品，由于波形58所代表的抵消信号不再是平直的，如图4那样。因而，生成波形58代表着在包含由门20的运动引起的扰动图形的实际即时信号56与单独基于门20的记录波形44之间的差异。生成波形58由金属检测器处理块49处理，该金属检测处理块49在图4的实施例的情形中确定在检测区内是否存在金属物品。有利地，生成信号58没有因金属门20的影响而降级，因为因门20所致的扰动图形是已知的，并且被从即时信号56中去除了。如同在图4中，可以是低通滤波器的滤波器50连同在步骤S52和S54执行的功能一起确定任何已觉察的漂移是否超过了预定的阈值，以及该漂移是否是“实际的”漂移以及是否不是由任何异常值引起的。如果已觉察的漂移被确定是实际的漂移，则原先记录的扰动图形44被当前的生成波形58代替，并且被用于后续的金属检测分析。在一种实施例中，低通滤波器50是具有大量抽头（tap）（例如，500-1000抽头）的慢滤波器，以由此消除短期变化（即，脉冲），以免促发漂移阈值重记录过程。

图6示出了代表着金属门的电磁（EM）场扰动的示例性记录图形60以及代表着由应用本发明的金属检测系统测得的即时场扰动的示例性即时信号62。每个波形测量扰动的电平（纵轴）-时间（横轴），其中金属门20从完全关闭的位置开始，并且逐渐分离，变得越来越分开，直到完全打开。上波形（即，在图6中的记录图形60）代表着由从完全关闭的位置向完全打开的位置运动的门20产生的扰动信号的记录波形。该波形60代表着仅由于门20的，而没有由于其他任何金属物品的扰动信号。被示出为即时信号62的波形代表着由天线42接收到的所测得的即时金属检测信号，并且包含门20的扰动信号以及由天线42响应于金属检测询问信号而检测到的任何其他信号。

在图6所示的实例中，在记录图形60与实际即时信号62之间存在着很小的差异，从而指出在金属检测区内不存在临时金属物品，如图4中的情形所示。在该情形中，由于除了金属门20的运动外没有其他临时金属物品在促成电磁（EM）场扰动的事实，生成的抵消波形将是基本上水平的直线，例如，在图4中的所抵消的生成波形48，或者指示着波形60与波形62实际上相同的另一种可视图像。但是，如果金属物品处于金属检测区内，则生成波形将是可识别地不同于抵消的生成波形48，可能显示为“峰”和/或“谷”。取决于轴的标尺，在波形58中的这些变化能够看起来较大或较小。这些变化将指出在检测区内实际存在临时金属物品，并且在即时信号62的波形与记录图形60的波形之间的差异将是不同于如同在没有检测到的金属物品时那样基本上水平的直线的图形。有利地，一旦归因于金属门20的运动的波形被从复合波形中消除，剩余的波形就能够由金属检测处理块49来处理，在该金属检测处理块49中确定金属物品是否处于金属检测区内，没有金属门20的干扰。

值得注意的是，虽然本发明使用其中门20从完全关闭的位置开始到完全打开的位置的实例来讨论和描述，但是本发明并不限制于此。可设想到，一系列不同的图形能够被记录，在该图形中门20在被完全关闭之前开始打开。这样的情况会发生于例如顾客触发门在完全关闭之前打开的情形中。通过记录这一系列的图形，当打开被触发时，即时信号能够与对应于门20的关闭状态的记录图形比较。例如，能够记录门打开在门20仅关闭50%时被触发的图形。如果确定即时信号基于50%关闭的图形，则对应于50%关闭的记录图形被用于比较。

本发明有利地考虑了归因于金属检测区内的金属门20的打开和关闭的电磁（EM）信号扰动，否则该电磁（EM）信号扰动会遮掩在金属检测区内对实际物品的检测。通过预先记录门20随时间的影响，创造出波形44。由于询问响应信号接收自金属检测区内的物品，该波形44被从天线42所接收到的实际的、检测到的即时信号中减去。生成波形被分析以确定在金属检测区内是否真实存在临时金属物品，其中生成信号不再包括金属门20的影响。应当指出，对于金属检测系统以及集成的EAS/金属检测系统两者，本发明都适用。因而，能够在已经使用EAS技术来防止货物在不授权的情况下被移出保护区的系统中完成金属箔检测。本发明的方法和系统通过减少滑动金属门对金属检测能力的影响而增强了EAS的能力，以便在金属物品（例如，金属箔的袋子）被带入检测区（为了从EAS和金属检测区中移走物品）时更有效地且更准确地检测出。

本发明能够被实现于硬件、软件或者硬件和软件的组合中。任何类型的计算系统或者适用于执行本文所描述的方法的其他装置都适用于执行本文所描述的功能。

硬件和软件的典型结合能够是具有一个或多个处理元件以及存储于存储介质上的计算机程序的专用的或通用的计算机系统，该计算机程序在被装载并被执行时控制着计算机系统，使得它执行本文所描述的方法。本发明同样能够嵌入计算机程序产品中，该计算机程序产品包括允许本文所描述的方法的实现方式的所有特征，并且在被装载到计算系统中时能够执行这些方法。存储介质指的是任何易失性的或非易失性的存储设备。

在本文中的计算机程序或应用意指指令集以任何语言、代码或符号进行的任何表示，该指令集旨在促使系统具有信息处理能力，以直接地或者在a）转换成另一种语言、代码或符号和/或b）以不同的材料形式复制之后执行特定的功能。

另外，除非另有说明，否则应当指出，并非所有附图都是按比例的。值得注意地，在不脱离本发明的精神或本质属性的情况下，本发明能够以其他特定的形式来实现，并且因此在指示本发明的范围时应当参考所附的权利要求书，而不是前面的说明书。

Claims (20)

1.一种用于在金属检测系统中减少金属门的信号干扰效应的方法，所述方法包括：

记录代表当不存在临时金属物品时由检测区内的所述金属门的运动模式引起的随时间的电磁场扰动的信号图形；

接收代表在所述金属检测系统的工作期间的电磁场扰动的即时信号，所述即时信号包含归因于所述金属门的运动的电磁场扰动，所述金属门在所述金属检测系统的工作期间的所述运动与所述金属门在所述信号图形的记录期间的所述运动模式基本上相同；以及

确定生成波形，所述生成波形代表在所述金属检测系统的工作期间接收到的所述即时信号与所记录的信号图形之间的差异。

2.根据权利要求1所述的方法，其中当不存在临时金属物品时获得的所记录的信号图形在所述金属门从基本上关闭的位置向基本上打开的位置运动时被随时间采样并且记录。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括：在所述金属门从基本上关闭的位置向基本上打开的位置运动时感测所述金属门的相对位置。

4.根据权利要求1所述的方法，还包括：确定在代表当不存在临时金属物品时由检测区内的所述金属门的所述运动模式引起的随时间的电磁场扰动的所述信号图形中信号漂移的存在性。

5.根据权利要求4所述的方法，还包括：确定所述信号漂移是否处于预定的范围内。

6.根据权利要求5所述的方法，还包括：确定所述信号漂移是否代表实际的信号漂移。

7.根据权利要求6所述的方法，还包括：如果确定实际信号漂移处于预定范围内，修正当不存在临时金属物品时获得的所记录的信号图形。

8.一种金属检测系统，包括：

可操作用于发射询问信号的发射器，所述询问信号建立检测区并且被用来检测在所述检测区内的临时金属物品；

可操作用于接收响应于所述询问信号的即时信号的接收器，所述即时信号代表在所述金属检测系统的工作期间的电磁场扰动，所述即时信号包含归因于金属门的运动的电磁场扰动；以及

金属检测模块，可操作用于：

确定生成波形，所述生成波形代表在所述金属检测系统的工作期间接收到的所述即时信号与代表当不存在临时金属物品时由所述检测区内的所述金属门的运动模式引起的随时间的电磁场扰动的记录的信号图形之间的差异，所述金属门在金属检测系统的工作期间的所述运动与所述金属门在所述信号图形的记录期间的所述运动模式基本上相同；以及

基于所述生成波形来确定在所述检测区内是否存在金属物品。

9.根据权利要求8所述的系统，其中当不存在临时金属物品时获得的所记录的信号图形在所述金属门从基本上关闭的位置向基本上打开的位置运动时被随时间采样并且记录。

10.根据权利要求8所述的系统，还包括：位于所述金属门附近的至少一个运动传感器，所述至少一个运动传感器与所述金属检测模块通信并且可操作用于在所述金属门从基本上关闭的位置向基本上打开的位置运动时感测所述金属门的相对位置。

11.根据权利要求8所述的系统，还包括：用于确定当不存在临时金属物品时由检测区内的所述金属门的运动模式引起的所记录的信号图形中信号漂移的存在性的模块。

12.根据权利要求11所述的系统，其中用于确定信号漂移的存在性的所述模块还确定所述信号漂移是否处于预定的范围内。

13.根据权利要求12所述的系统，其中用于确定信号漂移的存在性的所述模块还确定所述信号漂移是否代表实际的信号漂移。

14.根据权利要求13所述的系统，其中如果确定实际信号漂移处于预定范围内，所述模块修正当不存在临时金属物品时获得的所记录的信号图形。

15.一种集成的EAS/金属检测系统，包括：

可操作用于发射询问信号的发射器，所述询问信号建立起询问区并且被用来检测在所述询问区内的EAS标记物和临时金属物品；

可操作用于接收响应于所述询问信号的即时信号的接收器，所述即时信号代表在所述金属检测系统的工作期间的电磁场扰动，所述即时信号包含归因于金属门的运动的电磁场扰动；以及

金属检测模块，可操作用于：

确定生成波形，所述生成波形代表在所述金属检测系统的工作期间接收到的所述即时信号与代表当不存在临时金属物品时由所述检测区内的所述金属门的运动模式引起的随时间的电磁场扰动的所记录的信号图形之间的差异，所述金属门在金属检测系统的工作期间的所述运动与所述金属门在所述信号图形的记录期间的所述运动模式基本上相同；以及

基于所述生成波形来确定在所述检测区内是否存在金属物品。

16.根据权利要求15所述的集成的EAS/金属检测系统，其中当不存在临时金属物品时获得的所记录的信号图形在所述金属门从基本上关闭的位置向基本上打开的位置运动时被随时间采样并且记录。

17.根据权利要求15所述的集成的EAS/金属检测系统，还包括：位于所述金属门附近的至少一个运动传感器，所述至少一个运动传感器与所述金属检测模块通信并且可操作用于在所述金属门从基本上关闭的位置向基本上打开的位置运动时感测所述金属门的相对位置。

18.根据权利要求15所述的集成的EAS/金属检测系统，还包括：用于当不存在临时金属物品时确定由检测区内的所述金属门的运动模式引起的所记录的信号图形中信号漂移的存在性的模块。

19.根据权利要求18所述的集成的EAS/金属检测系统，其中用于确定信号漂移的存在性的所述模块还确定所述信号漂移是否处于预定的范围内。

20.根据权利要求19所述的集成的EAS/金属检测系统，其中如果确定信号漂移处于预定范围内，所述模块修正当不存在临时金属物品时获得的所记录的信号图形。