CN102930903B - 一种内存测试方法及设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种内存测试方法及设备，该方法包括：执行内存测试程序对第一部分内存进行测试，并在所述第一部分内存测试完毕之后重启设备，其中，所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试时，所述第一部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，所述内存测试程序运行在第二部分内存中；所述设备重启后，执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试，其中，所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时，所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，所述内存测试程序运行在所述第一部分内存中。本发明能够实现快速全覆盖的内存测试。
Description
技术领域
本发明涉及计算机领域，具体涉及一种内存测试方法及设备。
背景技术
内存是计算机最重要的部件之一，计算机中所有程序的运行都是在内存中进行的。鉴于内存的重要性，计算机运行过程中必须要保证内存可靠，因此内存测试是必不可少的。目前，常见的内存测试方法主要有两种：
一是在操作系统（Operation system，OS）中执行内存测试程序测试内存。内存测试必须要改写内存中的数据，如果内存已经在使用，测试过程中修改已使用部分的内存将导致不可预知的后果，因此，内存测试一般在内存被使用前进行。但由于OS运行在内存中，OS本身会占用部分的内存，因此即使在内存被使用前进行测试，这种测试方法也无法实现内存的全覆盖测试。
另一种测试方法是在基本输入输出系统（Basic Input Output System，BIOS）中执行内存测试程序测试内存。这种测试方法在系统开机后内存使用前进行内存测试，此时代码尚未在内存中（还在ROM中），因此能够实现内存的全覆盖测试，但由于代码在ROM中运行，执行性能远低于在内存中运行，测试时间长。随着技术的不断发展，内存容量越来越大，这种测试方法测试速度慢，运行效率低的缺点将更加突出。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种内存测试方法及设备，用于解决现有技术内存测试无法实现全覆盖测试，测试速度慢，运行效率低的问题。
本申请第一方面提供一种内存测试方法，所述内存被划分成第一部分内存和第二部分内存，所述方法包括：
执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试，并在所述第一部分内存测试完毕之后重启设备，其中，所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试时，所述第一部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，所述内存测试程序运行在所述第二部分内存中；
所述设备重启后，执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试，其中，所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时，所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，所述内存测试程序运行在所述第一部分内存中。
在本申请第一方面的第一种可能的实现方式中，所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试包括：
所述内存测试程序获取所述第一部分内存的地址和长度，并根据所述第一部分内存的地址和长度对所述第一部分内存进行测试。
在本申请第一方面的第二种可能的实现方式中，执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试包括：
所述内存测试程序获取所述第二部分内存的地址和长度，并根据所述第二部分内存的地址和长度对所述第二部分内存进行测试。
在本申请第一方面的第三种可能的实现方式中，若所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试时出现异常，则停止执行所述内存测试程序并重启设备，从而执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试，其中，所述执行内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时，所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留。
本申请第二方面提供一种内存测试设备，包括存储器，处理器，输入单元，输出单元，所述存储器包括内存，所述内存被划分成第一部分内存和第二部分内存，所述处理器用于执行以下操作：
执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试，并在所述第一部分内存测试完毕之后重启设备，其中，所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试时，所述第一部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，所述内存测试程序运行在所述第二部分内存中；
所述设备重启后，执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试，其中，所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时，所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，所述内存测试程序运行在所述第一部分内存中。
在本申请第二方面的第一种可能的实现方式中，所述执行内存测试程序对第一部分内存进行测试包括：
所述内存测试程序获取所述第一部分内存的地址和长度，并根据所述第一部分内存的地址和长度对所述第一部分内存进行测试。
在本申请第二方面的第二种可能的实现方式中，执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试包括：
所述内存测试程序获取所述第二部分内存的地址和长度，并根据所述第二部分内存的地址和长度对所述第二部分内存进行测试。
在本申请第二方面的第三种可能的实现方式中，若所述执行内存测试程序对第一部分内存进行测试时出现异常，则停止执行所述内存测试程序并重启设备，从而执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试，其中，所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时，所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留。
本申请系统开机后首先将内存分成两部分，并将第一部分内存的属性设置为保留，第二部分内存的属性设置为可用，然后对保留部分内存进行测试；对第一部分内存的测试完成后重启设备，设备重启后系统再次对内存进行与上次的划分区域相同的划分，区别在于将上次可用的第二部分内存的属性设置为保留，上次保留的第一部分内存属性设置为可用，然后再次执行内存测试程序对保留部分内存进行测试。通过这种方法能够实现内存的全覆盖测试，而且由于内存测试程序的代码是在内存中运行的，测试速度快、代码的运行效率高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请第一实施例提供的一种内存测试方法的流程图；
图2是本申请第二实施例提供的一种内存测试方法的流程图；
图3是本申请第三实施例提供的一种内存测试装置的结构图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
现有技术中计算机开机后，BIOS开始运行，此时BIOS运行在ROM中，BIOS会按流程完成基本硬件初始化，再完成内存初始化，内存初始化完成后，内存就可以被软件读写了。为了避免内存使用混乱而导致问题，BIOS中有专门的内存管理程序，根据内存的不同属性来区分管理内存，后续程序都通过内存管理程序来申请、释放内存。BIOS在完成内存初始化后会对内存进行分块并对每块设置属性，提供给内存管理程序使用。
请参考图1，图1是本申请第一实施例提供的一种内存测试方法的流程图，包括：
S101、执行内存测试程序对第一部分内存进行测试，并在第一部分内存测试完毕之后重启设备，其中，执行内存测试程序对第一部分内存进行测试时，第一部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，内存测试程序运行在第二部分内存中。
S102、设备重启后，OS执行内存测试程序对第二部分内存进行测试，其中，OS执行内存测试程序对第二部分内存进行测试时，第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，内存测试程序运行在第一部分内存中。
在BIOS对内存进行分块并对每块设置属性阶段，BIOS将内存分为两部分，包括第一部分内存和第二部分内存，这两部分内存可以是均等划分，也可以是不均等划分，本实施例优选均等的划分方式。
当设备（这里的设备指计算机或者其它开机时需要进行内存测试的设备）开机时BIOS首次对内存进行划分，并将第一部分内存的属性设置为保留，第二部分内存的属性设置为可用。BIOS按常规方式对第二部分内存进行分块并对每块设置属性，从而提供给内存管理程序使用。接下来BIOS会在第二部分内存中运行，OS也运行在第二部分内存中，进行内存测试时，可以由BIOS运行内存测试程序对第一部分内存进行测试。由于第一部分内存的属性设置为保留时程序不会加载到这部分内部中，BIOS可以安全地对该部分内存进行测试。BIOS执行内存测试程序首先对第一部分内存进行测试，并在第一部分内存测试完毕之后重启设备，如步骤S101中描述。设备重启后会再次运行到BIOS对内存进行分块并对每块设置属性阶段，这时BIOS再次对内存进行划分，内存区域的划分与首次划分一样，区别在于这次划分是将第二部分内存的属性设置为保留，将第一部分内存的属性设置为可用，BIOS按常规方式对第一部分内存进行分块并对每块设置属性，从而提供给内存管理程序使用。接下来BIOS会在第一部分内存中运行，OS也运行在第一部分内存中，BIOS执行内存测试程序对第二部分内存进行测试。由于此时第二部分内存的属性被设置为保留，程序不会加载到这部分内部中，BIOS可以安全地对该部分内存进行测试，如步骤S102中描述。通过执行两次内存测试，分别对第一部分内存和第二部分内存进行测试可以实现全覆盖的测试内存的目的。
其中，执行内存测试程序对第一部分内存进行测试时，先获取第一部分内存的地址和长度，然后根据第一部分内存的地址和长度对第一部分内存进行测试。执行内存测试程序对第二部分内存进行测试时，先获取第二部分内存的地址和长度，然后根据第二部分内存的地址和长度对第二部分内存进行测试。
其中，如果在对第一部分内存进行测试时出现异常，则说明第二部分内存问题可能存在问题，此时停止执行当前的内存测试程序并重启设备，从而使BIOS重新运行到对内存进行分块并对每块设置属性的阶段，将可能存在问题的第二部分内存的属性设备为保留，并对第二部分内存进行测试，达到快速无遗漏的测试效果。
本实施例中设备开机后首先将内存分成两部分，并将第一部分内存的属性设置为保留，第二部分内存的属性设置为可用，然后对保留部分内存进行测试；对第一部分内存的测试完成后重启设备，设备重启后系统再次对内存进行与上次的划分区域相同的划分，区别在于将上次可用的第二部分内存的属性设置为保留，上次保留的第一部分内存属性设置为可用，然后再次执行内存测试程序对保留部分内存进行测试。通过这种方法能够实现内存的全覆盖测试，而且由于内存测试程序的代码是在内存中运行的，测试速度快、代码的运行效率高。
请参考图2，图2是本申请第二实施例提供的一种内存测试方法的流程图，包括：
S201、开机。
S202、内存初始化。
S203、将内存划分为第一部分内存和第二部分内存。
S204、判断内存区域标志是否为待切换。
S205、将第一部分内存属性设置为保留，将第二部分内存的属性设置为可用。若步骤S204中内存区域标志不是待切换，则BIOS将第一部分内存属性设置为保留，将第二部分内存的属性设置为可用。
S206、修改内存区域标志为待切换。
S207、代码加载到第二部分内存。此时第二部分内存的属性为可用，BIOS按常规方式对第二部分内存进行分块并对每块设置属性，从而提供给内存管理程序使用。BIOS和OS会运行在第二部分内存，接下来BIOS会执行内存测试程序首先对第一部分内存进行测试。
S208、将第二部分内存属性设置为保留，将第一部分内存的属性设置为可用。若步骤S204中内存区域标志为待切换，则BIOS将第二部分内存属性设置为保留，将第一部分内存的属性设置为可用。
S209、修改内存区域标志为已切换。
S210、代码加载到第一部分内存。此时第一部分内存的属性为可用，BIOS按常规方式对第一部分内存进行分块并对每块设置属性，从而提供给内存管理程序使用。BIOS和OS会运行在第一部分内存，接下来BIOS会执行内存测试程序对第二部分内存进行测试。
S211、执行内存测试。对内存属性为保留的那部分内存进行内存测试。其中，内存测试可以为单线程也可以为多线程。
S212、判断内存区域标志是否为已切换。
S213、重启设备。若内存区域标志不是已切换，则重启设备，从而可以对内存重新划分并重新设置属性，以将原来未进行测试的第二部分内存设置为保留，从而对其进行测试，实现全覆盖测试的目的。
S214、输出内存测试结果。
本实施例通过两次内存测试，实现了内存的全覆盖测试，中间重启等过程自动完成，用户无感知且无需参与，真正实现了快速全覆盖的内存测试。以IntelSandyBridge–EP(2.1GHz，8核)CPU，三星DDR3-1333(ECC)内存条，4通道插满为例，比较BIOS中用现有技术和本实施例方法的内存测试效率（指写一遍内存的速度，与内存测试算法无关），当测试程序在ROM中执行时（参考背景技术中描述），其速率是0.18GB/s；当测试程序在内存中执行时（本实施例方法），单核执行内存测试，速率是6.5GB/s，多核（7个）同时执行内存测试，速率是16.4GB/s。
请参考图3，图3是本申请第三实施例提供的一种内存测试装置的结构图，包括：存储器301、处理器302、输入单元303、输出单元304，其中，存储器301中包括内存，内存被划分成第一部分内存和第二部分内存，处理器302执行以下操作：
执行内存测试程序对第一部分内存进行测试，并在第一部分内存测试完毕之后重启设备，其中，执行内存测试程序对第一部分内存进行测试时，第一部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，内存测试程序运行在第二部分内存中；
设备重启后，执行内存测试程序对第二部分内存进行测试，其中，执行内存测试程序对第二部分内存进行测试时，第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，内存测试程序运行在第一部分内存中。
其中，执行内存测试程序对第一部分内存进行测试时，内存测试程序获取第一部分内存的地址和长度，并根据第一部分内存的地址和长度对第一部分内存进行测试。执行内存测试程序对第二部分内存进行测试时，内存测试程序获取第二部分内存的地址和长度，并根据第二部分内存的地址和长度对第二部分内存进行测试。
其中，若执行内存测试程序对第一部分内存进行测试时出现异常，则停止执行内存测试程序并重启设备，从而执行内存测试程序对第二部分内存进行测试，其中，执行内存测试程序对第二部分内存进行测试时，第二部分内存的属性被设置为保留。
本实施例中设备开机后首先将内存分成两部分，并将第一部分内存的属性设置为保留，第二部分内存的属性设置为可用，然后对保留部分内存进行测试；对第一部分内存的测试完成后重启设备，设备重启后系统再次对内存进行与上次的划分区域相同的划分，区别在于将上次可用的第二部分内存的属性设置为保留，上次保留的第一部分内存属性设置为可用，然后再次执行内存测试程序对保留部分内存进行测试。通过这种方法能够实现内存的全覆盖测试，而且由于内存测试程序的代码是在内存中运行的，测试速度快、代码的运行效率高。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体（Read-Only Memory，ROM）或随机存取存储器（Random Access Memory，简称RAM）等。
以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明权利要求所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。
Claims (8)
1.一种内存测试方法，其特征在于，所述内存被划分成第一部分内存和第二部分内存，所述方法包括：
执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试，并在所述第一部分内存测试完毕之后重启设备，其中，所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试时，所述第一部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，所述内存测试程序运行在所述第二部分内存中；
所述设备重启后，执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试，其中，所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时，所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，所述内存测试程序运行在所述第一部分内存中。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试包括：
所述内存测试程序获取所述第一部分内存的地址和长度，并根据所述第一部分内存的地址和长度对所述第一部分内存进行测试。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试包括：
所述内存测试程序获取所述第二部分内存的地址和长度，并根据所述第二部分内存的地址和长度对所述第二部分内存进行测试。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试时出现异常，则停止执行所述内存测试程序并重启设备，从而执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试，其中，所述执行内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时，所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留。
5.一种内存测试设备，其特征在于，包括第一测试装置、第二测试装置、存储器，所述存储器包括内存，所述内存被划分成第一部分内存和第二部分内存；
第一测试装置，用于执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试，并在所述第一部分内存测试完毕之后重启设备，其中，所述执行内存测试程序对所述第一部分内存进行测试时，所述第一部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，所述内存测试程序运行在所述第二部分内存中；
第二测试装置，用于在所述设备重启后，执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试，其中，所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时，所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留，所述内存测试程序运行在所述第一部分内存中。
6.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，所述执行内存测试程序对第一部分内存进行测试包括：
所述内存测试程序获取所述第一部分内存的地址和长度，并根据所述第一部分内存的地址和长度对所述第一部分内存进行测试。
7.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试包括：
所述内存测试程序获取所述第二部分内存的地址和长度，并根据所述第二部分内存的地址和长度对所述第二部分内存进行测试。
8.根据权利要求5所述的设备，其特征在于，若所述执行内存测试程序对第一部分内存进行测试时出现异常，则停止执行所述内存测试程序并重启设备，从而执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试，其中，所述执行所述内存测试程序对所述第二部分内存进行测试时，所述第二部分内存的属性在BIOS程序执行阶段被设置为保留。
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