CN102928642A - 电流测试系统 - Google Patents

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冯岚毅
付迎宾
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Abstract

一种电流测试系统，用于对一CPU电源进行测试，该CPU电源输出的各相电流值存储于一电源控制模块内的寄存器中，该电流测试系统包括一显示设备及一均与该电源控制模块与显示设备相连的控制电路，该控制电路包括一微处理器，该微处理器用于获取存储于该电源控制模块中CPU电源输出的各相电流值及对各相电流值运算以得到相差值，该显示设备用于显示控制电路得到的各相电流值及相差值。本发明电流测试系统通过控制电路获取该电源控制模块中存储的各相电流值，并将获取得到电流值与计算得到的相差值的值通过该显示设备显示出来，如此提高了电流测试的准确度。

Description

电流测试系统
技术领域
本发明涉及一种电流测试系统，尤其涉及一种中央处理器电源的电流测试系统。
背景技术
在对主板的CPU（Central Processing Unit，中央处理器）电源测试中，有一项为电流平衡的验证，即通过测试得到CPU电源输出的各相电流的大小，之后，对各相电流值进行一定的运算得到一相差值，并根据该相差值与该CPU电源的数据手册中的值进行比较，从而可判断该CPU电源是否符合要求。现在对CPU电源的核心电压进行验证时，一般都是通过一电感连接于该CPU电源的输出端，并通过一电阻与一电容串联之后再并联至该电感的两端，之后通过一电压表跨接至该电容的两端来测量该电容两端的电压，并根据测量得到的电压值与该电感的电感阻值来计算出该单相电流的大小。这种方式虽简单，但由于使用电压表测量得到的电压值非常小，如此可能增大计算得到的单相电流值误差，从而使得单相电源的电流测试不准确，进而影响到整个电流平衡的测试结果。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种可提高CPU电源的电流测试准确度的电流测试系统。
一种电流测试系统，用于对一CPU电源进行测试，该CPU电源输出的各相电流值存储于一电源控制模块内的寄存器中，该电流测试系统包括：
一控制电路，包括一微处理器，该微处理器用于获取存储于该电源控制模块中CPU电源输出的各相电流值及对各相电流值运算以得到相差值；以及
一显示设备，该显示设备与该微处理器相连，用于显示控制电路得到的各相电流值及相差值。
上述电流测试系统通过控制电路获取该电源控制模块中存储的各相电流值，并将获取得到电流的大小与计算得到的相差值的值通过该显示设备显示出来，如此提高了电流测试的准确度。
附图说明
图1是本发明电流测试系统的较佳实施方式的电路图。
主要元件符号说明
显示设备 10
电源控制模块 20
控制电路 30
微处理器 300
电源 P5V
电阻 R1
电容 C1-C4
晶振 X1
按键开关 SW1
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
请参考图1，本发明电流测试系统用于对一CPU电源进行测试，该CPU电源输出的各相电流值存储于一电源控制模块20内的寄存器中，该电流测试系统的较佳实施方式包括一显示设备10及一与该显示设备10、电源控制模块20均相连的控制电路30，该控制电路30用于获取该电源控制模块20所存储的CPU电源输出的各相电流值，并通过该显示设备10将各相电流值显示出来。
本实施方式中，该电源控制模块20为一支持VR12平台处理器的电源控制芯片。根据VR12平台电源控制模块的工作原理可知，该VR12平台的CPU电源控制模块20设有一SMBus（System Management Bus，系统管理总线）接口。因此，本发明中的该控制电路30可通过SMBus直接获取该电源控制模块20内存储的各相电流值。
该控制电路30包括一微处理器300、一电阻R1、四个电容C1-C4、一晶振X1及一按键开关SW1。该微处理器300的接脚VDD与一电源P5V相连。该电源P5V依次通过该电阻R1、电容C1接地，还直接通过该电容C2接地。该微处理器300的接脚VPP连接于该电阻R1与电容C1之间的节点处，接脚OSC1与OSC2分别与该电容C3、C4以及晶振X1组成的时钟电路相连，接脚RC1与该按键开关SW1的一端相连，该按键开关SW1的另一端接地，该微处理器300的接脚VSS1、VSS2接地，接脚RB7、RB8与该电源控制模块20的SMBus接口相连，该微处理器300的接脚RA1-RA5分别与显示设备10的接脚CS、RST、A0、A1及A2相连，该微处理器300的接脚RA0及RC0分别与该显示设备 10的接脚SCK及SDA相连，接脚GND接地。
工作时，合上该按键开关SW1，该微处理器300的接脚RC1接收到低电平，此时，该微处理器300经由与其接脚RB7、RB8相连的电源控制模块20通过SMBus接口直接寻址至用于存储CPU电源各相电流大小的寄存器地址，之后，通过SMBus读取各个寄存器地址中的值，并通过一定运算计算出CPU电源的各相电流之间的相差值。例如CPU电源由四相输出电源组成，该微处理器300获得的四相电流大小分别为I1，I2，I3，及I4，其中I1最大，则其相差值=[I1-(I1+I2+I3+I4)/4]/[(I1+I2+I3+I4)/4]。之后，该微处理器300通过其接脚RA0-RA5与RC0将获取得到的各相电流值与计算得到的相差值显示在该显示设备10上。
上述电流测试系统通过控制电路30获取该电源控制模块20中存储的各相电流值，并将获取得到电流的大小与计算得到的相差值的值通过该显示设备10显示出来，如此避免了直接使用电压表的测量而影响该CPU电源的电流测试的准确度。

Claims (4)

1.一种电流测试系统，用于对一CPU电源进行测试，该CPU电源输出的各相电流值存储于一电源控制模块内的寄存器中，该电流测试系统包括：
一控制电路，包括一微处理器，该微处理器用于获取存储于该电源控制模块中CPU电源输出的各相电流值及对各相电流值运算以得到相差值；以及
一显示设备，该显示设备与该微处理器相连，用于显示控制电路得到的各相电流值及相差值。
2.如权利要求1所述的电流测试系统，其特征在于：该控制电路还包括一按键开关，当该按键开关按下时，该微处理器开始获取该电源控制模块中存储的CPU电源输出的各相电流值。
3.如权利要求1所述的电流测试系统，其特征在于：该电流测试系统还包括一时钟电路，该时钟电路为该控制电路提供工作时钟。
4.如权利要求1所述的电流测试系统，其特征在于：该电路测试系统还包括一电阻、一第二电容及一第二电容，该第二电容的一端与一电源相连，另一端接地，该电容依次通过该第一电阻及第一电容接地，该微处理器与该第一电阻及第一电容之间的节点相连。
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US5768079A (en) * 1996-09-25 1998-06-16 Cooper Industries, Inc. Adaptive ground and phase fault detection for a power distribution system
US6404655B1 (en) * 1999-12-07 2002-06-11 Semikron, Inc. Transformerless 3 phase power inverter
KR100425851B1 (ko) * 2001-05-10 2004-04-03 엘지산전 주식회사 하나의 전류센서를 이용한 삼상 교류전류 측정 방법

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PB01 Publication
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WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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