CN102890186A - 功率测试电路 - Google Patents

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Abstract

一种功率测试电路，用于测试中央处理器和内存储器的功率，该功率测试电路包括一第一开关单元、一第二开关单元、一显示单元和一处理模块，该处理模块与该中央处理器、该内存储器、该显示单元以及该第一和第二开关单元连。上述功率测试电路通过该处理模块自动测试该中央处理的功率或该内存储器的功率，效率高且误差小。

Description

功率测试电路
技术领域
本发明涉及一种功率测试电路，特别涉及一种中央处理器和内存储器的功率测试电路。
背景技术
主板系统测试包括中央处理器功率测试以及内存储器功率测试，现有技术一般通过万用表手动测试数据，再通过相关公式计算出中央处理器和内存储器的功率，该种方法误差大且效率低。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种可自动测试该中央处理器功率及内存储器功率的功率测试电路。
一种功率测试电路，应用于测试一中央处理器和一内存储器的功率，该功率测试电路包括：
一第一开关单元包括第一端和接地的第二端，当该第一开关单元的第一端与该第二端相连时，该功率测试电路测试该中央处理器的功率，当该第一开关单元的第一端与该第二端断开时，该功率测试电路测试该内存储器的功率；
一显示单元，用于显示该功率测试电路的待显示数据；以及
一处理模块，与该中央处理器、该内存储器、该显示单元以及该第一开关单元的第一端相连，该处理模块用于即时获取该中央处理器和该内存储器的电压和电流，并将所获取的该中央处理器的电压和电流处理后输出一第一功率显示信号至该显示单元以显示该中央处理器的功率，或将所获取的该内存储器的电压和电流处理后输出一第二功率显示信号至该显示单元以显示该内存储器的功率。
上述功率测试电路通过该处理模块自动测试该中央处理器的功率或该内存储器的功率，效率高且误差小。
附图说明
图1为本发明功率测试电路的较佳实施方式的电路图。
主要元件符号说明
功率测试电路 100
中央处理器 90
内存储器 80
处理模块 70
第一开关单元 60
第二开关单元 50
显示单元 40
单片机 75
电阻 R1、R2
电容 C1-C4
晶体振荡器 M
开关 SW1
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参考图1，本发明功率测试电路100应用于测试一中央处理器90和一内存储器80的功率，该功率测试电路100的较佳实施方式包括第一开关单元50、第二开关单元60、显示单元40以及处理模块70。
该第一开关单元50包括第一端和第二端，该第一开关单元50的第一端连接该处理模块70，该第一开关单元50的第二端接地。当该第一开关单元50的第一端与该第二端相连时，该功率测试电路100测试该中央处理器90的功率，当该第一开关单元50的第一端与该第二端断开时，该功率测试电路100测试该内存储器80的功率。本实施例中，该第一开关单元50为一滑动开关，该第一开关单元50的第一和第二端对应为滑动开关的不动端和动端。
该第二开关单元60包括第一端和第二端，该第二开关单元60的第一端连接该处理模块70，该第二开关单元60的第二端接地。当该第二开关单元60的第一端与该第二端相连时，该功率测试电路100工作，当该第二开关单元60的第一端与该第二端断开时，该功率测试电路100不工作。本实施例中，该第二开关单元60为一滑动开关，该第二开关单元60的第一和第二端对应为滑动开关的不动端和动端。
该显示单元40与该处理模块70相连，该显示单元40用于显示该功率测试电路100的待显示数据。本实施方式中，该显示单元40为一液晶显示器。
该处理模块70连接待测中央处理器90和内存储器80，该处理模块70用于即时获取该中央处理器90和该内存储器80的电压和电流，并将所获取的该中央处理器90的电压和电流处理后输出一第一功率显示信号至该显示单元40以显示该中央处理器90的功率，和将所获取的该内存储器80的电压和电流处理后输出一第二功率显示信号至该显示单元40以显示该内存储器80的功率。
该处理模块70包括单片机75、晶体振荡器M、电容C1-C4、电阻R1和一包括不动端和动端的开关SW1。一直流电源VPP_5V依次通过该电阻R1和该电容C2接地，该电容C1的一端连接该直流电源VPP_5V，另一端接地。该单片机75的引脚VPP连接该电阻R1与该电容C2之间的节点，该单片机75的引脚RA0-RA5和引脚RC0与该显示单元40相连，该单片机75的引脚OSC1和OSC2分别连接该晶体振荡器M的两端，该晶体振荡器M的两端还分别通过电容C3和C4接地，该单片机75的引脚VDD与该直流电源VPP_5V相连，该单片机75的引脚RB7和RB6通过系统管理总线（SMBUS, System Management Bus）连接该中央处理器90，该单片机75的引脚RB5和RB4通过系统管理总线连接该内存储器80，该单片机75的RB3引脚连接该开关SW1的动端，该开关SW1的不动端接地，该单片机75的引脚VSS1和VSS2均接地，该单片机75的引脚RC1和RB2分别连接该第二开关单元60和该第一开关单元50的不动端。其中，该电阻R1、该电容C1和C2组成滤波电路以令该直流电源VPP_5V提供稳定的电压给该单片机75，该晶体振荡器M、该电容C3和C4组成振荡电路以提供时钟信号给该单片机75。
该单片机75存储一处理程序，该处理程序用于读取该中央处理器90的电压V1和电流I1以及该内存储器80的电压V2和电流I2，并分别通过公式一P1=(V1-R2*I1)*I1+V1*I1和公式二P2=V2*I2算出该中央处理器90的功率P1和该内存储器80的功率P2，其中R2为该中央处理器90的电源负载电阻。该单片机75再将运算结果输出至该显示单元40以显示该中央处理器90的功率P1或该内存储器80的功率P2。
本实施例中，该中央处理器90和该内存储器80符合Intel VR12串行处理器供电标准，对应该供电标准有LGA1156和LGA2011两种插槽，则该负载电阻R2也对应两个阻值0.0014欧姆及0.0008欧姆，当该负载电阻R2的阻值为0.0014欧姆时，将该开关SW1的动端连接不动端，即使得该单片机75的引脚RB3接收一低电平信号，从而使得该处理程序选择0.0014欧姆作为该公式一的R2的阻值，当该负载电阻0.0008欧姆时，将该开关SW1的动端与该不动端断开，即使得该单片机75的引脚RB3接收一高电平信号，从而使得该处理程序选择0.0008欧姆作为该公式一的R2的阻值。其他实施例中，该单片机75还可为其他的微处理器如DSP（Digital Signal Processing，数字信号处理）芯片。
下面对本发明的较佳实施方式的工作原理进行说明：
首先，将该第二开关单元60的第一端连接第二端以使得该功率测试电路100处于工作状态。
若需测试该中央处理器90的功率P1，则将该第一开关单元50的第一端连接第二端以发送一低电平信号至该单片机75的引脚RB2，使得该单片机75通过该处理程序读取该中央处理器90的电压和电流，若该负载电阻R2的阻值为0.0014欧姆，则将该开关SW1的动端连接不动端，若该负载电阻的阻值为0.0008欧姆，则断开该开关SW1的动端与不动端的连接，一时间段后，该单片机75将对应的运算结果输出至该显示单元40以显示该中央处理器90的功率P1，则完成对中央处理器90的功率P1的测试。
若需测试该内存储器80的功率P2，则将该第一开关单元50的第一端连接第二端以发送一高电平信号至该单片机75的引脚RB2，使得该单片机75通过该处理程序读取该内存储器80的电压和电流，一时间段后，该单片机75将运算结果输出至该显示单元40以显示该内存储器80的功率P2，则完成对该内存储器80的功率P2的测试。
上述功率测试电路100通过该处理模块70自动测试该中央处理器90的功率P1或该内存储器80的功率P2，效率高且误差小。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替代，皆涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种功率测试电路，应用于测试一中央处理器和一内存储器的功率，该功率测试电路包括：
一第一开关单元包括第一端和接地的第二端，当该第一开关单元的第一端与该第二端相连时，该功率测试电路测试该中央处理器的功率，当该第一开关单元的第一端与该第二端断开时，该功率测试电路测试该内存储器的功率；
一显示单元，用于显示该功率测试电路的待显示数据；以及
一处理模块，与该中央处理器、该内存储器、该显示单元以及该第一开关单元的第一端相连，该处理模块用于即时获取该中央处理器和该内存储器的电压和电流，并根据所获取的该中央处理器的电压和电流计算出该中央处理器的功率并通过该显示单元显示，或根据所获取的该内存储器的电压和电流计算出该内存储器的功率并通过显示单元显示。
2.如权利要求1所述的功率测试电路，其特征在于：该功率测试电路还包括一包括第一端和第二端的第二开关单元，该第二开关单元的第一端连接该处理模块，该第二开关单元的第二端接地，当该第二开关单元的第一端与该第二端相连时，该功率测试电路工作，当该第二开关单元的第一端与该第二端断开时，该功率测试电路不工作。
3.如权利要求2所述的功率测试电路，其特征在于：该第二开关单元为一滑动开关，该第二开关单元的第一和第二端对应滑动开关的不动端和动端。
4.如权利要求1所述的功率测试电路，其特征在于：该第一开关单元为一滑动开关，该第一开关单元的第一和第二端对应滑动开关的不动端和动端。
5.如权利要求1所述的功率测试电路，其特征在于：该处理模块包括一单片机、一滤波电路、一振荡电路和一包括不动端和动端的开关；该单片机的第一引脚通过该滤波电路连接一直流电源，该单片机的第二至第八引脚与该显示单元相连，该单片机的第九和第十引脚连接该振荡电路，该单片机的第十一引脚与该直流电源相连，该单片机的第十二和第十三引脚通过系统管理总线连接该中央处理器，该单片机的第十四和第十五引脚通过系统管理总线连接该内存储器，该单片机的第十六引脚连接该开关的动端，该开关的不动端接地，该单片机的第十七和第十八引脚均接地，该单片机的第十九和第二十引脚分别连接该第一开关单元和该第二开关单元的不动端。
6.如权利要求5所述的功率测试电路，其特征在于：该滤波电路包括第一电容、第二电容和一电阻，该第一电容的一端连接该直流电源，另一端接地，该直流电源还依次通过该电阻和该第二电容接地，该单片机的第一引脚与该第二电容和电阻之间的节点相连。
7.如权利要求5所述的功率测试电路，其特征在于：该振荡电路包括一晶体振荡器、第三电容和第四电容，该单片机的第九和第十引脚分别连接该晶体振荡器的两端，该晶体振荡器的两端还分别通过该第三和第四电容接地。
8.如权利要求5所述的功率测试电路，其特征在于：该单片机存储一处理程序，该处理程序用于读取该中央处理器的电压和电流以及该内存储器的电压和电流，并分别通过公式P1=(V1-R2*I1)*I1+V1*I1和公式P2=V2*I2算出该中央处理器的功率P1和该内存储器的功率P2，其中R2为该中央处理的电源负载电阻的阻值，V1和I1分别为该中央处理器的电压值和电流值，V2和I1分别为该内存储器的电压值和电流值。
9.如权利要求8所述的功率测试电路，其特征在于：当该开关的动端与该不动端相连时，该电源负载电阻的阻值R2为第一电阻值。
10.如权利要求8所述的功率测试电路，其特征在于：当该开关的动端与该不动端断开时，该电源负载电阻的阻值R2为第二电阻值。
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