CN102820042A - 光拾取器装置和光盘装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光拾取器装置和光盘装置，在对具有多个信息记录层的光盘进行记录和再现的情况下，能够生成稳定的伺服信号，并且能够低成本、小型化。衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，第三分割区域包含衍射元件的中心，第一分割区域位于通过衍射元件的大致中心且在与光盘的轨道大致平行的方向上延伸的直线上，第二分割区域位于通过衍射元件的大致中心且在与光盘的轨道大致垂直的方向上延伸的直线上，且至少被分为4部分，第一分割区域、第二分割区域、第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，对在第一分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部，在与光盘的轨道大致垂直的方向上排列。

Description

光拾取器装置和光盘装置

技术领域

本发明涉及光拾取器装置和光盘装置，例如适用于支持多层光盘的光拾取器装置和光盘装置。

背景技术

在对光盘进行信息的读取和写入时，一般使用搭载了光拾取器装置的光盘装置。该光盘装置，为了将光斑准确地照射到光盘内的规定轨道上，除了基于由光检测器的受光部检测到的聚焦误差信号，使物镜在聚焦方向上移位而进行聚焦调整外，还基于跟踪误差信号使物镜在光盘半径方向（以下称为径向方向）上位移而进行跟踪调整。现有的光盘装置中，基于根据该聚焦误差信号和跟踪误差信号得到的伺服信号，进行物镜的位置控制。

然而，近年来随着光盘的大容量化的推进，开始出现了具有多个信息记录层的多层光盘。在对这样的由3层以上的信息记录层构成的多层光盘进行信息的读取和写入时，现有的光拾取器装置中，在信息记录层上反射的信号光和在其他的信息记录层上反射的杂散光可能会入射到光检测器的同一个受光部上，这样的情况下，存在该信号光与该杂散光干涉而导致不能够检测出正确的跟踪误差信号、不能够进行稳定的跟踪控制的问题。

作为用于解决该问题的技术，例如专利文献1公开了这样的方法，即，将跟踪误差信号检测用的受光部配置在远离杂散光的位置上，并且在光盘轨道的切线的延长线方向（以下称为切线方向）上配置一部分受光部，在与轨道切线方向垂直的光盘半径方向（径向方向）上配置其余受光部，由此回避在其他信息记录层上反射的杂散光，检测稳定的跟踪误差信号。

专利文献1：日本特开平2008-135151号公报

发明内容

但是，根据上述专利文献1中公开的方法，跟踪误差信号检测用的受光部所需的光检测器的面积会增大，光检测器的尺寸会增大，所以存在光检测器的制造成本升高的问题，以及光拾取器整体的尺寸增大的问题。

本发明考虑以上各点，提出一种在对具有多个信息记录层的光盘进行记录和再现的情况下，能够生成稳定的伺服信号，并且能够低成本、小型化的光拾取器装置和搭载了该光拾取器装置的光盘装置。

为了解决该问题，本发明提供光拾取器装置，包括：出射激光的半导体激光器；用于使从上述半导体激光器出射的光束会聚而照射到光盘上的物镜；将从上述光盘反射的光束分束的衍射元件；和具有接收由上述衍射元件分束后的光束的多个受光部的光检测器，其中，上述衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，上述第三分割区域是包含上述衍射元件的中心的区域，上述第一分割区域是位于通过上述衍射元件的大致中心且在与上述光盘的轨道大致平行的方向上延伸的直线上的区域，上述第二分割区域是位于通过上述衍射元件的大致中心且在与上述光盘的轨道大致垂直的方向上延伸的直线上的区域，上述第一分割区域或上述第二分割区域的衍射光至少被分割为4部分，以入射到至少4个受光部，上述第一分割区域、上述第二分割区域和上述第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，在与上述光盘的轨道大致垂直的方向上，排列有对在上述第一分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部。

此外，本发明提供另一光拾取器装置，包括：出射激光的半导体激光器；用于使从上述半导体激光器出射的光束会聚而照射到光盘上的物镜；将从上述光盘反射的光束分束的衍射元件；和具有接收由上述衍射元件分束后的光束的多个受光部的光检测器，上述衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，上述第三分割区域是包含上述衍射元件的中心的区域，上述第一分割区域是位于通过上述衍射元件的大致中心且在与上述光盘的轨道大致平行的方向上延伸的直线上的区域，上述第二分割区域是位于通过上述衍射元件的大致中心且在与上述光盘的轨道大致垂直的方向上延伸的直线上的区域，上述第一分割区域或上述第二分割区域的衍射光至少被分割为4部分，以入射到至少4个受光部，上述第一分割区域、上述第二分割区域、上述第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，在与上述光盘的轨道大致平行的方向上，排列有对在上述第二分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部。

此外，本发明提供另一光拾取器装置，包括：出射激光的半导体激光器；用于使从上述半导体激光器出射的光束会聚而照射到光盘上的物镜；将从上述光盘反射的光束分束的衍射元件；和具有接收由上述衍射元件分束后的光束的多个受光部的光检测器，上述衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，因上述光盘上的轨道而衍射的光盘衍射光中，光盘0级衍射光入射到上述第一分割区域，光盘0级、光盘±1级衍射光入射到上述第二分割区域，上述第一分割区域或上述第二分割区域的衍射光至少被分割为4部分，以入射到至少4个受光部，上述第一分割区域、上述第二分割区域和上述第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，在与上述光盘的轨道大致垂直的方向上，排列有对在上述第一分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部。

此外，本发明提供另一光拾取器装置，包括：出射激光的半导体激光器；用于使从上述半导体激光器出射的光束会聚而照射到光盘上的物镜；将从上述光盘反射的光束分束的衍射元件；和具有接收由上述衍射元件分束后的光束的多个受光部的光检测器，上述衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，因上述光盘上的轨道而衍射的光盘衍射光中，光盘0级衍射光入射到上述第一分割区域，光盘0级、光盘±1级衍射光入射到上述第二分割区域，上述第一分割区域或上述第二分割区域的衍射光至少被分割为4部分，以入射到至少4个受光部，上述第一分割区域、上述第二分割区域、上述第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，在与上述光盘的轨道大致平行的方向上，排列有对在上述第二分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部。

此外，本发明提供另一光拾取器装置，包括：出射激光的半导体激光器；用于使从上述半导体激光器出射的光束会聚而照射到光盘上的物镜；将从上述光盘反射的光束分束的衍射元件；和具有接收由上述衍射元件分束后的光束的多个受光部的光检测器，上述衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，上述第三分割区域是包含上述衍射元件的中心的区域，上述第一分割区域是包含上述衍射元件的四角的规定区域，上述第二分割区域是上述第一分割区域和上述第三分割区域以外的区域，上述第一分割区域或上述第二分割区域的衍射光至少被分割为4部分，以入射到至少4个受光部，上述第一分割区域、上述第二分割区域和上述第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，在与上述光盘的轨道大致垂直的方向上，排列有对在上述第一分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部。

此外，本发明提供另一光拾取器装置，包括：出射激光的半导体激光器；用于使从上述半导体激光器出射的光束会聚而照射到光盘上的物镜；将从上述光盘反射的光束分束的衍射元件；和具有接收由上述衍射元件分束后的光束的多个受光部的光检测器，上述衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，上述第三分割区域是包含上述衍射元件的中心的区域，上述第一分割区域是包含上述衍射元件的四角的规定区域，上述第二分割区域是上述第一分割区域和上述第三分割区域以外的区域，上述第一分割区域或上述第二分割区域的衍射光至少被分割为4部分，以入射到至少4个受光部，上述第一分割区域、上述第二分割区域、上述第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，在与上述光盘的轨道大致平行的方向上，排列有对在上述第二分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部。

此外，本发明提供一种光盘装置，包括：以上述的光拾取器装置；驱动上述光拾取器装置内的上述半导体激光器的激光器发光驱动电路；使用从上述光拾取器装置内的上述光检测器检测到的信号，生成聚焦误差信号和跟踪误差信号的伺服信号生成电路；和对光盘中记录的信息信号进行再现的信息信号再现电路。

根据本发明，能够实现一种在对具有多个信息记录层的光盘进行记录和再现的情况下，能够生成稳定的伺服信号，并且能够低成本、小型化的光拾取器装置和搭载了该光拾取器装置的光盘装置。

附图说明

图1是表示第一实施方式的光盘装置的结构例的框图。

图2是表示第一实施方式的光拾取器装置的结构例的俯视图。

图3是表示第一实施方式中的全息元件的结构例的俯视图。

图4是表示光检测器的受光部的配置方式的一例的俯视图。

图5（A）是从沿着光轴方向的方向观看离焦状态下入射到受光部h1的光束的概要俯视图，（B）是从沿着光轴方向的方向观看恰好聚焦（just focus）状态下入射到受光部h1的光束的概要俯视图，（C）是从沿着光轴方向的方向观看离焦状态下入射到受光部h1的光束的概要俯视图。

图6（A）是从沿着光轴方向的方向观看离焦状态下入射到受光部d1的光束的概要俯视图，（B）是从沿着光轴方向的方向观看恰好聚焦状态下入射到受光部d1的光束的概要俯视图，（C）是从沿着光轴方向的方向观看离焦状态下入射到受光部d1的光束的概要俯视图。

图7是表示入射到光检测器的光束引起的最大层间杂散光的状况的概要俯视图。

图8是从沿着光轴方向的方向观看入射到受光部a1、b1、c1和d1的光束L1的概要俯视图。

图9（A）是表示在切线方向上扩大第三区域的情况下的变形例的图，（B）是在切线方向上将第三区域扩大为与第二区域相同的情况下的变形例的图，（C）是表示使第三区域成为圆弧形状的情况下的变形例的图，（D）是表示使第三区域成为山谷形状的情况下的变形例的图。

图10（A）是表示第一实施方式的光检测器的受光部配置方式的变形例的图，（B）是表示第一实施方式的光检测器的受光部配置方式的变形例的图。

图11是表示第二实施方式的光检测器的受光部的配置方式的一例的俯视图。

图12是表示入射到光检测器的光束引起的最大层间杂散光的状况的概要俯视图。

图13是从沿着光轴方向的方向观看入射到受光部e1、f1、g1和h1的光束L1的概要俯视图。

图14是表示第二实施方式的光检测器的受光部配置方式的变形例的图。

图15是表示第三实施方式的光检测器的受光部的配置方式的一例的俯视图。

图16是表示入射到光检测器的光束引起的最大层间杂散光的状况的概要俯视图。

图17是从沿着光轴方向的方向观看入射到受光部a1、b1、c1和d1的光束L1的概要俯视图。

图18（A）是表示第三实施方式的光检测器的受光部配置方式的变形例的图，（B）是表示第三实施方式的光检测器的受光部配置方式的变形例的图，（C）是表示第三实施方式的光检测器的受光部配置方式的变形例的图。

图19是表示第四实施方式的光检测器的受光部的配置方式的一例的俯视图。

图20是表示入射到光检测器的光束引起的最大层间杂散光的状况的概要俯视图。

图21是从沿着光轴方向的方向观看入射到受光部e1、f1、g1和h1的光束L1的概要俯视图。

图22（A）是表示第四实施方式的光检测器的受光部配置方式的变形例的图，（B）是表示第四实施方式的光检测器的受光部配置方式的变形例的图。

图23是表示第五实施方式的光拾取器装置的结构例的俯视图。

图24是表示第五实施方式的光检测器的受光部的配置方式的一例的俯视图。

图25是表示入射到光检测器的光束引起的最大层间杂散光的状况的概要俯视图。

图26（A）是表示在切线方向上扩大第三区域的情况下的变形例的图，（B）是在切线方向上将第三区域扩大为与第二区域相同的情况下的变形例的图，（C）是表示使第三区域成为圆弧形状的情况下的变形例的图，（D）是表示使第三区域成为山谷形状的情况下的变形例的图。

图27是表示第五实施方式的光检测器的受光部配置方式的变形例的图。

图28是表示第六实施方式的光检测器的受光部的配置方式的一例的俯视图。

图29是表示入射到光检测器的光束引起的最大层间杂散光的状况的概要俯视图。

图30（A）是表示第六实施方式的光检测器的受光部配置方式的变形例的图，（B）是表示第六实施方式的光检测器的受光部配置方式的变形例的图。

图31是表示第七实施方式的光拾取器装置的结构例的俯视图。

图32是表示第七实施方式的光检测器的受光部的配置方式的一例的俯视图。

图33是表示第八实施方式的光检测器的受光部的配置方式的一例的俯视图。

图34是表示第九实施方式的光检测器的受光部的配置方式的一例的俯视图。

图35是表示第十实施方式的光检测器的受光部的配置方式的一例的俯视图。

图36是表示第十一实施方式的光检测器的受光部的配置方式的一例的俯视图。

图37是表示第十二实施方式的光检测器的受光部的配置方式的一例的俯视图。

图38是表示第十三实施方式的光盘装置的结构例的框图。

附图标记说明

1、480……光盘装置；10……物镜；20、414……半导体激光器；5、130、170、230、280、350、400、430、440、450、460、470……光拾取器装置；27、281……全息元件；28……检测透镜；29、131、171、231、282、351、413、441、451、461、471……光检测器。

具体实施方式

以下参照附图详细叙述本发明的实施方式。

（1）第一实施方式

（1-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图1中，1表示本实施方式的光盘装置的整体。该光盘装置1，具备主轴电机2、主轴电机驱动电路4、光拾取器5、激光器发光驱动电路6、信息信号再现电路7、伺服信号再现电路8、致动器驱动电路9、物镜10、球面像差修正元件驱动电路11、访问控制电路12、控制电路13和信息信号记录电路14。

光盘3是圆盘状的信息记录体，其中心固定在主轴电机2的旋转轴上。该主轴电机2通过由主轴电机驱动电路4供给电力而对旋转轴进行旋转驱动。

此外，光拾取器5是对光盘3以光学方式记录和再现信息的光学部件。通过从激光器发光驱动电路6对组装入光拾取器5内的后述半导体激光器供给激光器驱动电流，而在进行再现时以规定的光量从该半导体激光器出射激光。其中，激光器发光驱动电路6也能够组装入光拾取器5内。

进而，来自光拾取器5的输出信号，被发送到信息信号再现电路7和伺服信号再现电路8。信息信号再现电路7基于来自光拾取器5的输出信号，再现光盘3中记录的信息信号即RF（Radio Frequency，射频）信号。在伺服信号再现电路8中，基于来自光拾取器5的输出信号生成聚焦误差信号和跟踪误差信号等伺服信号，根据这些信号，由致动器驱动电路9进行光拾取器中搭载的物镜10的位置控制。此外，球面像差修正元件驱动电路11基于该生成的伺服信号使光拾取器装置5中搭载的后述准直透镜在光轴方向上移动而修正球面像差。

另外，对光拾取器装置5，设置了用于沿光盘3的径向方向驱动光拾取器装置5的机构，根据来自访问控制电路12的访问信号进行位置控制。

控制电路13是具备未图示的CPU（Central Processing Unit，中央处理单元）和存储器等的微型计算机。控制电路13与主轴电机驱动电路4、激光器发光驱动电路6、信息信号再现电路7、伺服信号再现电路8、球面像差修正元件驱动电路11、访问控制电路12和信息信号记录电路14等连接，基于来自主轴电机驱动电路4、信息信号再现电路7、伺服信号再现电路8和访问控制电路12的信号，对主轴电机驱动电路4、激光器发光驱动电路6、伺服信号再现电路8、球面像差修正元件驱动电路11和访问控制电路12分别发送控制信号，进行使光盘3旋转的主轴电机2的旋转控制、光拾取器装置5的位置控制、物镜10的位置控制、球面像差修正和光拾取器装置5内的半导体激光器发光光量的控制等。

另外，在进行记录时，设置在控制电路13和激光器发光驱动电路6之间的信息信号记录电路14，基于来自控制电路13的记录控制信号，驱动激光器发光驱动电路6在光盘3中记录信息。

（1-2）本实施方式的光拾取器装置的结构。

接着说明图1的光盘装置1中搭载的光拾取器装置5的光学系统。如图2所示，光拾取器装置5具备半导体激光器20、分束器21、前端监测器22、准直透镜23、立起反射镜24、1/4波片25、致动器26、物镜10、全息元件27、检测透镜28和光检测器29。

以下说明在本实施方式的光拾取器装置5中对BD（Blu-Ray Disc，蓝光光盘）进行再现和记录的情况。但是，不限定于BD，也可以是其他的记录方式。

半导体激光器20由出射与BD规格对应的大致405[nm]波段的发散光光束L1的激光二极管构成，由上述激光器发光驱动电路6（图1），例如在记录动作时根据记录对象的数据相应地闪烁驱动，在再现动作时以一定的功率发光驱动。

此外，分束器21是使光束L1透射或将其分割为2束以上的光束的光学部件。驱动半导体激光器20时从该半导体激光器20出射的光束L1，被分割为透过分束器21而入射到前端监测器22的光束L1，和在分束器21上反射而入射到准直透镜23的光束L1。

前端监测器22是用于检测光束L1的光量的光学部件，在为了提高光盘3的记录再现动作的精度而将光束L1的光量控制为所要求的值时使用。具体而言，前端监测器22检测来自半导体激光器20的光束L1的光量变化，将检测结果反馈到控制电路13（图1）。由此，能够在控制电路13的控制下，控制对光盘3照射的光束L1的光量。

准直透镜23这一光学部件，由在光轴方向上驱动该准直透镜23的机构在光轴方向上对其进行驱动，而改变光束L1的发散和会聚状态，用于对因光盘3的保护层的厚度误差引起的球面像差进行补偿。然后，透过准直透镜23的光束L1被立起反射镜24反射，入射到1/4波片25。

1/4波片25是使直线偏振光成为圆偏振光的光学部件。具体而言，光束L1被1/4波片25变换为圆偏振光，通过搭载在致动器26上的物镜10聚焦在光盘3上。接着，光束L1被光盘3上的轨道衍射为3束光束（光盘0级衍射光、光盘+1级衍射光和光盘-1级衍射光）。

其中，物镜10是使光束L1的光束聚焦的光学元件，能够在驱动物镜10的致动器的作用下，在接近或远离光盘3的方向上移位，或在光盘3的径向方向上倾斜。

另一方面，在光盘3上反射的光束L1，被物镜10变换为平行光之后，顺序通过1/4波片25、立起反射镜24、准直透镜23和分束器21，入射到全息元件27。

全息元件27上，存在用于使入射的光束L1分别向不同的方向衍射的分割区域。被该全息元件27上的分割区域衍射的光束L1，入射到检测透镜28。另外，全息元件27使入射的光束L1向规定的方向衍射，并且还对光束L1附加像散。具体而言，对于入射到全息元件27的光盘-1级衍射光，由全息元件27衍射至规定方向并且附加规定的像散。对于入射到全息元件27的光盘+1级衍射光，由全息元件27衍射至规定方向并且附加与对光盘-1级衍射光附加的像散相反的像差。而对于透过全息元件27的光盘0级衍射光，不通过全息元件27附加像散。

检测透镜28是对由全息元件27衍射的光束L1附加像散的光学部件。具体而言，透过全息元件27的0级衍射光和-1级衍射光，在被检测透镜28附加了规定的像散的离焦状态下入射到光检测器29。而对于全息元件27的+1级衍射光，由检测透镜28附加与对0级衍射光附加的像散相反的像差，所以由全息元件27附加的像散被抑制，聚焦在光检测器29上。

此外，光检测器29是能够使光束L1聚焦的受光部结构，该光检测器29对入射到受光部的光束L1进行光电变换。光检测器29将得到的信号发送到信息信号再现电路7和伺服信号再现电路8，由信息信号再现电路7生成作为再现信号的RF信号，由伺服信号再现电路8生成作为伺服信号的聚焦误差信号和跟踪误差信号等。

图3是从沿着光轴方向的方向观看图2中的全息元件27的概要俯视图的一例。图3中的双点划线表示物镜10的焦点落在光盘3的期望的信息记录层上时全息元件27上的光束L1的光斑的外形。此外，斜线部表示被光盘3上的轨道衍射的光盘±1级衍射光与光盘0级衍射光的干涉区域（推挽图案）。

另外，实线表示区域的边界线，全息元件27包括在光盘3上的轨道上反射的0级衍射光入射到的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域），0级衍射光、±1级衍射光入射到的区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域），以及区域Di（第三分割区域），入射的光束L1按各区域分别向不同的方向衍射。其中，图3所示的全息元件27上的区域Di所处的规定区域，包含在切线方向上延伸的第一分割线30和在径向方向上延伸的第二分割线31所相交的全息元件27的中心部32；区域De、Df、Dg和Dh是包括全息元件27的四角的规定的区域，以关于第一分割线30大致对称的方式，位于该第一分割线30的直线上；区域Da、Db、Dc和Dd以关于第二分割线31大致对称的方式，位于该第二分割线31的直线上。或者换言之，全息元件27特征在于，具有第一、第二、第三分割区域，第三分割区域是包含全息元件27的中心的区域，第一分割区域是位于通过全息元件27的大致中心且在与光盘3的轨道大致平行的方向上延伸的第一分割线30上的区域，第二分割区域是位于通过全息元件的大致中心且在与光盘3的轨道大致垂直的方向上延伸的第二分割线31上的区域，并且，第二分割区域包括上述光盘3的轨道的0级衍射光与±1级衍射光相交的推挽区域，对在第一分割区域中衍射的光束L1进行检测的至少2个受光部，排列在与光盘3的轨道大致垂直的方向上，对在第二分割区域中衍射的光束L1进行检测的至少2个受光部，排列在与光盘3的轨道大致平行的方向上。此外，本实施方式还具有这样的特征，第一分割区域或第二分割区域至少被分割为4部分，通过组合受光部的配置而缩小光检测器29的尺寸。

其中，全息元件27的衍射效率例如是0级衍射光：+1级衍射光：-1级衍射光=7：3：0。从而，本实施方式中的光拾取器装置5的光检测器29，接收透过全息元件27的0级衍射光和在全息元件27上衍射的+1级衍射光。

图4表示光检测器29中的受光部的配置方式（配置布局）的一例。图中的斜线部和黑点表示信号光。此处，透过全息元件27的区域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh和Di的0级衍射光，分别入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）。根据从该光检测器29上的受光部a、b、c和d（第一受光部组）与光量相应地输出的信号A、B、C和D能够得到聚焦误差信号和RF信号。

本实施方式中，聚焦误差信号的检测例如使用像散方式。像散方式是利用了入射到光检测器29上的受光部a、b、c和d（第一受光部组）的光束L1的光斑形状随焦点位置而变化这一现象的方式。在光盘3的信息记录层的位置相对于物镜10的焦距为近或远的状态即离焦状态的情况下，受光部a、b、c和d（第一受光部组）中，入射到受光部a、c或受光部b、d的光量增大。取得由受光部a、c与受光部b、d检测到的信号的差，在差为0时，表示物镜10的焦点恰好聚焦在光盘3的信息记录层上的状态。从而，上述致动器驱动电路9控制物镜10以使该差为0。不过，由于像散方式是周知的技术，所以省略详细的说明。

使用上述像散方式，根据信号A、B、C和D按照下式生成聚焦误差信号FES：

[式1]

FES＝(A+C)-(B+D)

                 ……（1）

此外，根据信号A、B、C和D按照下式生成RF信号RF：

[式2]

RF＝A+B+C+D

            ……（2）

此外，在全息元件27的区域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1级衍射光，分别入射到图4所示的光检测器29的受光部a1、b1、c1、d1、e1、f1、g1和h1中。根据从该光检测器29上的受光部a1、b1、c1、d1、e1、f1、g1和h1与光量相应地输出的信号A1、B1、C1、D1、E1、F1、G1和H1，能够得到跟踪误差信号。另外，在区域Di中衍射的+1级衍射光（未图示）视为无用光，在径向方向上避开光检测器29的受光部入射。

本实施方式中，跟踪误差信号的检测例如使用单光束差动推挽方式（以下称为单光束DPP（Differential Push Pull）方式）。

单光束DPP方式，是在透镜移位（lens shift）时不会产生信号偏移（offset）的、根据推挽信号生成跟踪误差信号的方法。推挽信号例如能够通过利用全息元件27上的与切线方向大致平行且通过光束中心的分割线将被光盘3的信息记录层反射的光束分割为2部分，取左右光束的差而生成。但是，若仅使用包含推挽成分的信号，则当物镜在Rad方向上移位、即透镜移位时，会发生光量失衡而产生直流成分的偏移，导致跟踪误差信号变得不稳定。因此，通过使用包含偏移成分的信号，进行抵消偏移的运算，能够得到稳定的跟踪误差信号。采用单光束进行DPP法称为单光束DPP方式。不过，由于单光束DPP方式是公知的技术，所以省略进一步的说明。

使用上述单光束DPP方式，根据信号A1、B1、C1、D1、E1、F1、G1和H1按照下式生成跟踪误差信号TES：

[式3]

TES＝{(A1+B1)-(C1+D1)}-kt{(E1+F1)-(G1+H1)}

                                           ……（3）

式（3）中的kt，是用于在物镜10发生透镜移位时，修正式（3）中第一项的信号中所含的偏移成分和式（3）中第二项的信号中所含的偏移成分的系数。通过进行这样的运算，能够生成即使在物镜10发生透镜移位时也不会产生偏移的稳定的跟踪误差信号。

此外，以下使用图5～8说明对多层光盘3进行记录和再现的情况下在期望的信息记录层以外的信息记录层（以下称其为其他信息记录层）中产生的杂散光。在对多层光盘3进行记录和再现的情况下，至少需要考虑2种杂散光。光检测器29的受光部，需要配置成避开光盘3中邻接的信息记录层之间的层间隔较小时的杂散光（最小层间杂散光）。此外，光检测器29的受光部，还需要配置成避开对多层光盘3中距离光束的入射面最近的信息记录层（以下称其为最外信息记录层）进行记录和再现时来自多层光盘3中距离光束的入射面最远的信息记录层（以下称其为最内信息记录层）的杂散光（最大层间杂散光），和对最内信息记录层进行记录和再现时来自最外信息记录层的杂散光（最大层间杂散光）。

具体而言，在多层光盘3的情况下，与双层光盘3相比邻接的信息记录层的间隔更窄，所以光检测器29上以恰好聚焦的状态入射的光束L1与以离焦的状态入射的杂散光之间的间隔变窄，当为了减小光检测器29的面积而使与全息元件27上的区域分别对应的光检测器29的受光部彼此间的间隔变窄时，存在其他区域中衍射的杂散光进入的问题。此外，在3层以上的多层光盘3的情况下，与双层光盘3相比，层数越多，最外信息记录层与最内信息记录层的间隔越宽，所以光检测器29上以恰好聚焦的状态入射的光束L1与杂散光的间隔，与该信息记录层之间的间隔成比例地变宽，并且杂散光的大小也增大，所以不得不增大与全息元件27上的区域分别对应的光检测器29的受光部彼此间的间隔，由此存在光检测器29的面积增大的问题。

以下，说明在对多层光盘3进行记录和再现时，邻接的信息记录层之间的层间隔较小的情况下产生的杂散光（最小层间杂散光）。图5是从沿着光轴方向的方向观看在全息元件27的区域Dh中衍射而入射到受光部h1的光束L1的概要俯视图。图5（B）所示的黑点，表示接收了物镜10聚焦在光盘3上期望的信息记录层上的情况下的恰好聚焦状态的光束L1的受光部h1上的光斑。图5（A）所示的斜线部，表示接收了物镜10聚焦在信息记录层的外侧的情况下的离焦状态的光束L1的受光部h1上的光斑。图5（C）所示的斜线部，表示接收了物镜10聚焦在信息记录层的内侧的情况下的离焦状态的光束L1的受光部h1上的光斑。

其中，图5（A）所示的离焦状态的光束L1，是在光检测器29的内侧（更靠里）聚焦的光束L1，所以受光部h1上的光斑，是与在直接对全息元件27映射（投影）的方向上通过区域Dh的光束L1的光斑外形相似形状的光斑。此外，图5（C）所示的离焦状态的光束L1，是在光检测器29的外侧（更靠前）聚焦的光束L1，所以受光部h1上的光斑表现为对全息元件27点对称地倒转映射的方向。从而，在光检测器29上，光束关于图5（B）所示的会聚位置点对称地散焦（变模糊），所以如图5（A）～（C）和箭头40所示，在区域Dh中衍射的光束L1因离焦而在切线方向上移动。

此处针对离焦进行了说明，是因为来自多层光盘中其他层的杂散光能够解释为在并非焦点位置的位置上反射的离焦状态的光束L1。具体而言，图5（A）所示的离焦状态的光束L1，能够解释为聚焦在2个记录层中的内侧的记录层上的情况下来自外侧的记录层的杂散光。而图5（C）所示的离焦状态的光束L1，能够解释为聚焦在2个记录层中外侧的记录层上的情况下来自内侧的记录层的杂散光。

图6是从沿着光轴方向的方向观看在全息元件27的区域Dd中衍射而入射到受光部d1的光束L1的概要俯视图。图6（B）所示的黑点，表示接收了物镜10聚焦在光盘3上期望的信息记录层上的情况下的恰好聚焦状态的光束L1的受光部d1上的光斑。图6（A）所示的斜线部，表示接收了物镜10聚焦在信息记录层的内侧的情况下的离焦状态的光束L1的受光部d1上的光斑。图6（C）所示的斜线部，表示接收了物镜10聚焦在信息记录层的外侧的情况下的离焦状态的光束L1的受光部d1上的光斑。

其中，图6（A）所示的离焦状态的光束L1，是在光检测器29的外侧聚焦的光束L1，所以受光部d1上的光斑表现为对全息元件27点对称地倒转映射的方向。此外，图6（C）所示的离焦状态的光束L1，是在光检测器29的内侧聚焦的光束L1，所以受光部d1上的光斑，是与在直接对全息元件27映射（投影）的方向上通过区域Dd的光束L1的光斑外形相似形状的光斑。从而，光束关于图6（B）所示的会聚位置点对称地散焦（变模糊），所以如图6（A）～（C）和箭头41所示，在区域Dd中衍射的光束L1因离焦而在径向方向上移动。

此处，比较图5和图6可知，入射到受光部的光束L1因离焦而移动的方向不同。例如，在区域Dh中衍射的光束L1因离焦而在切线方向上移动，在区域Dd中衍射的光束L1因离焦而在径向方向上移动。从而，杂散光的回避方式也要根据区域而区分，这一点是相当重要的。例如，全息元件27的区域中，对于在切线方向上离开中心部32的区域De、Df、Dg、Dh（第一分割区域），优选使杂散光在切线方向上回避。通过这样回避杂散光，能够形成即使物镜10为了追踪光盘3上的轨道而在径向方向上移位，杂散光也不会入射到光检测器29的受光部的结构。另一方面，如果对在区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域）中衍射的光束L1进行检测的受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）在切线方向上排列，对于层间隔较小的光盘3的最小层间杂散光，由于在光检测器29上以恰好聚焦的状态入射的光束L1与以离焦状态入射的杂散光的间隔较窄，所以会产生在其他区域中衍射的光束L1的杂散光入射到受光部的问题。因此，通过在径向方向上排列光检测器27上的受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组），能够将处于最小层间隔关系的信息记录层之间产生的杂散光的影响抑制在最小限度。

此外，全息元件27的区域中，对于在径向方向上离开中心部32的区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域），优选使杂散光在径向方向上回避。通过这样回避杂散光，能够形成即使物镜10为了追踪光盘3上的轨道而在径向方向上移位，杂散光也不会入射到光检测器29的受光部的结构。另一方面，如果对在区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的光束L1进行检测的受光部a1、b1、c1和d1（第三受光部组）在径向方向上排列，对层间隔较小的光盘3的最小层间杂散光，由于在光检测器29上以恰好聚焦的状态入射的光束L1与以离焦状态入射的杂散光的间隔较窄，所以会产生在其他区域中衍射的光束L1的杂散光入射到受光部的问题。因此，通过在切线方向上排列光检测器27上的受光部a1、b1、c1和d1（第三受光部组），能够将处于最小层间隔关系的信息记录层之间产生的杂散光的影响抑制在最小限度。

接着说明对多层光盘3进行记录和再现时，信息记录层的层间隔较大的情况下产生的杂散光（最大层间杂散光）。图7是从沿着光轴方向的方向观看在全息元件29的各区域Da～Dh中衍射而入射到光检测器29的受光部a1～h1的光束L1的概要俯视图。图7所示的黑点和斜线部，分别表示接收了物镜10聚焦在光盘3中期望的信息记录层上的情况下的光束L1的受光部上的光斑。图7所示的虚线部表示最大层间杂散光。

在说明最大层间杂散光时，必须针对物镜10聚焦在多层光盘3的最外信息记录层上的情况下产生的来自最内信息记录层的杂散光（最大层间杂散光），和物镜10聚焦在最内信息记录层上的情况下产生的来自最外信息记录层的杂散光（最大层间杂散光）进行说明。但是，为了简化说明，以下在图7中表示聚焦在最外侧记录层上时来自最内侧记录层的杂散光的情况进行说明。

离焦状态的光束L1产生的杂散光的光斑，按照层间隔最大的处于最大层间隔关系的最外信息记录层与最内信息记录层的距离，在径向方向和切线方向上扩大，并且光斑的大小也增大。

具体而言，例如在双层光盘3的情况下，最外信息记录层与最内信息记录层的层间隔通常定义为25±5微米，最小为20微米，最大为30微米，所以其他层的信息记录层上产生的杂散光在光检测器29上形成的光斑的大小一定程度上被限制。但是，在3层以上的光盘3的情况下，例如层间隔最大的最外信息记录层与最内信息记录层的层间隔可能会比双层的情况下的层间隔更长。当层间隔变长时，在物镜10聚焦在最外信息记录层上的情况下，来自最内信息记录层的杂散光的焦点与光检测器29的距离变长，由此在光检测器29上，相对于以恰好聚焦的状态入射的光束L1，杂散光在径向方向和切线方向上扩大，进而光斑也增大。

从而，光检测器29的受光部中，为了得到稳定的跟踪误差信号，且为了回避上述最大层间杂散光，需要将受光部a、b、c和d（第一受光部组）、受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）和受光部a1、b1、c1和d1（第三受光部组）配置在各杂散光不会进入的充分远离的位置上。

为了形成在对上述多层光盘3进行记录和再现的情况下，使其他信息记录层中产生的最小层间杂散光和最大层间杂散光不会入射到光检测器29的受光部中的结构，专利文献1所示的现有的光拾取器装置中的光检测器，通过在远离杂散光的位置上配置受光部，即使在多层光盘中也可以检测到稳定的跟踪误差信号。

专利文献1所示的现有的光拾取器装置的情况下，实际上光检测器中用于检测跟踪误差信号的第二和第三受光部组，为了回避因0级衍射光入射到第一受光部组而产生的最大层间杂散光50（图7），配置在充分远离0级衍射光的光轴的位置上。并且，由多个受光部构成的第二受光部组，相对于光轴在径向方向上排列配置。此外，第三受光部组在切线方向上排列配置，第二受光部组和第三受光部组在相对于光轴呈约90度的方向上配置，由此第二和第三受光部组能够回避因0级衍射光引起的最大层间杂散光40，并且第一受光部组和第二受光部组能够分别回避在径向方向和切线方向上产生的最小层间杂散光和最大层间杂散光。

但是，该现有光检测器中，第二和第三受光部组与光盘的记录层的最大层间隔成比例地扩大，相应地受光部需要的光检测器29的面积增大，存在光检测器29的大小增大的问题。

于是，本实施方式的光盘装置1中，为了防止这样的问题，如图8所示，将受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）和a1、b1、c1和d1（第三受光部组）配置在不会接收因0级衍射光入射到第一受光部组而产生的0级衍射光的最大层间杂散光50（图7）的位置上。此外，使受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）和a1、b1、c1和d1（第三受光部组）相对于第一受光部组在相同方向即切线方向上集中配置。并且，使受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）在径向方向上排列配置，使a1、b1、c1和d1（第三受光部组）在切线方向上排列。由此，能够有效回避最小层间杂散光和最大层间杂散光，减小光检测器29上的受光部的面积。

图8是从沿着光轴方向的方向观看在全息元件27中衍射而入射到受光部a1、b1、c1和d1的光束L1的概要俯视图。另外，以下为了简化说明，仅在图8中表示在全息元件区域Da、Db、Dc和Dd中衍射的杂散光进行说明。

图8中的黑点表示信号光，虚线表示对最内层进行记录和再现时来自最外层的杂散光，点划线表示对最外层进行记录和再现时来自最内层的杂散光。虽然虚线和点划线不会同时产生，但为了便于说明而将它们在同一图中表示。

此外，箭头60表示根据期望的信息记录层与其他信息记录层间的间隔而变化的杂散光的移动方向。在期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔较小的情况下，最小层间杂散光配置在箭头60的长度较小的位置上，间隔较大的情况下，最大层间杂散光配置在箭头60的长度较大的位置上。

此处，例如在全息元件区域Da中衍射的杂散光，在根据期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔的不同而在径向方向上移动的同时，在切线方向上逐渐扩大。此时，在切线方向上扩大的杂散光，如图6所示，依赖于全息元件27的区域。因此，本实施方式中将受光部a1配置成使得在全息元件27的区域Da中衍射的最大层间杂散光和最小层间杂散光不会入射到在径向方向上排列的受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）中。并且，将受光部b1、c1和d1配置成使得在全息元件区域Db、Dc和Dd中衍射的最大层间杂散光和最小层间杂散光也同样不会入射到受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）中。由此，在全息元件27的区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的最大层间杂散光和最小层间杂散光不会入射到受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）。

此外，在全息元件27的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域）中衍射的最大层间杂散光，根据期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔的不同而在切线方向上移动，所以不会入射到受光部a1、b1、c1和d1（第三受光部组）中。但是，在全息元件27的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域）中衍射的杂散光，与层间隔相应地在光检测器29上在径向方向上扩大，所以使在径向方向上排列的受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）与在切线方向上排列的受光部a1和b1以及受光部c1和d1在径向方向上离开规定量，配置在避开杂散光的位置上。由此，光检测器29的各受光部能够完全回避最大层间杂散光和最小层间杂散光。

（1-3）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式，在对具有多个信息记录层的光盘3进行记录和再现的情况下，通过在考虑到杂散光的前提下组合配置光检测器29的受光部，即使在较小的区域中配置受光部也能够回避最小层间杂散光和最大层间杂散光，相比于现有的根据与光盘的最大层间隔成比例增大的最大层间杂散光而相应地增大光检测器29的受光部的大小的情况相比，能够实现低成本且小型化的光拾取器装置5。

（1-4）第一实施方式的变形例

此外，上述第一实施方式中，叙述了全息元件27的结构为如图3所示的结构的情况，但本发明不限于此，例如也可以如图9（A）、图9（B）、图9（C）和图9（D）所示，只要全息元件27中区域De、Df、Dg和Dh各区域分别关于第一分割线30对称，区域Da、Db、Dc和Dd各区域分别关于第二分割线31对称即可，该情况下，Di（第三分割区域）可以是任意的结构。

此外，上述第一实施方式中，叙述了使光检测器29的受光部的配置方式为如图4所示的结构的情况，但本发明不限于此，例如也可以如图10（A）和图10（B）所示，用于检测跟踪误差信号的受光部的配置方式，只要配置在能够回避入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）的0级衍射光引起的最大层间杂散光的位置上即可。

（2）第二实施方式

（2-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图1中，130表示本实施方式的光拾取器装置。该光拾取器装置130与第一实施方式的光拾取器装置5的不同之处仅在于光检测器131的受光部结构。

实际上，第一实施方式中，说明了相对于光检测器29的受光部a、b、c和d（第一受光部组），在切线方向上配置由受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）与a1、b1、c1和d1（第三受光部组）构成的用于检测跟踪误差信号的受光部组的情况，但本实施方式的光检测器131中，说明相对于受光部a、b、c和d（第一受光部组），在径向方向上配置由受光部e2、f2、g2和h2（第四受光部组）与受光部a2、b2、c2和d2（第五受光部组）构成的用于检测跟踪误差信号的受光部组的情况。由此，与第一实施方式的光拾取器装置5同样地，本实施方式的光拾取器装置130中也能够有效地回避最小层间杂散光和最大层间杂散光，减小光检测器131上的受光部的面积。

图11表示第二实施方式的光拾取器装置130中使用的光检测器131的受光部结构的一例。本实施方式的光检测器131中，透过第一实施方式的全息元件27（图3）的区域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh和Di的0级衍射光，入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）。根据从该光检测器131上的受光部a、b、c和d（第一受光部组）与光量相应地输出的信号A、B、C和D能够得到聚焦误差信号和RF信号。

本实施方式中，使用像散方式，根据信号A、B、C、D按照下式生成聚焦误差信号FES：

[式4]

FES＝(A+C)-(B+D)

                ……（4）

此外，根据信号A、B、C和D按照下式生成RF信号RF：

[式5]

RF＝A+B+C+D

            ……（5）

此外，在全息元件27的区域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1级衍射光，分别入射到图11所示的光检测器131的受光部a2、b2、c2、d2、e2、f2、g2和h2中。根据从该光检测器131上的受光部a2、b2、c2、d2、e2、f2、g2和h2与光量相应地输出的信号A2、B2、C2、D2、E2、F2、G2和H2，能够得到跟踪误差信号。另外，在区域Di中衍射的+1级衍射光（未图示）视为无用光，在径向方向上避开光检测器131的受光部入射。

本实施方式中，使用单光束DPP方式，根据信号A2、B2、C2、D2、E2、F2、G2和H2按照下式生成跟踪误差信号TES：

[式6]

TES＝{(A2+B2)-(C2+D2)}-kt{(E2+F2)-(G2+H2)}

                                        ……（6）

式（6）中的kt，是用于在物镜10发生透镜移位时，修正式（6）中第一项的信号中所含的偏移成分和式（6）中第二项的信号中所含的偏移成分的系数。通过进行这样的运算，能够生成即使在物镜10发生透镜移位时也不会产生偏移的稳定的跟踪误差信号。

以下用图12～13说明本实施方式中的多层光盘3的杂散光回避方法。

首先说明本实施方式的最小层间杂散光回避方法。

本实施方式中的光检测器131的受光部中，也会因为离焦入射到受光部的光束L1而产生与图5和图6所示的受光部上产生的杂散光同样的杂散光。从而，光检测器131中，在径向方向上排列对在全息元件27的区域De、Dh、Dg和Df（第一分割区域）中衍射的光束进行检测的受光部e2和h2以及受光部f2和g2，在切线方向上排列对在区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的光束进行检测的受光部a2、b2、c2和d2（第五受光部组），由此将最小层间杂散光的影响抑制在最小限度。

这样，光检测器131中，对于全息元件27的区域中在切线方向上离开中心部32的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域），使杂散光在切线方向上回避，对于全息元件27的区域中在径向方向上离开中心部32的区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域），使杂散光在径向方向上回避。由此，光检测器131能够有效地回避最小层间杂散光。

接着说明本实施方式的最大层间杂散光回避方法。图12是从沿着光轴方向的方向观看在全息元件27的各区域Da～Dh中衍射而入射到光检测器131的受光部a～h2的光束L1的概要俯视图。图12所示的黑点和斜线部表示接收物镜10聚焦在光盘3中期望的信息记录层上的情况下的光束L1的受光部上的光斑。图12所示的虚线部表示最大层间杂散光。

在说明最大层间杂散光时，必须针对物镜10聚焦在多层光盘3的最外信息记录层上的情况下产生的来自最内信息记录层的杂散光（最大层间杂散光），和物镜10聚焦在最内信息记录层上的情况下产生的来自最外信息记录层的杂散光（最大层间杂散光）进行说明。但是，为了简化说明，以下在图12中表示聚焦在最内侧记录层上时来自最外侧记录层的杂散光的情况进行说明。

本实施方式中的光检测器131中，将由受光部e2、f2、g2和h2（第四受光部组）与受光部a2、b2、c2和d2（第五受光部组）构成的用于检测跟踪误差信号的受光部组相对于第一受光部组配置在径向方向的位置上，并回避因0级衍射光入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）而产生的最大层间杂散光140。由此，光检测器131能够回避因0级衍射光而产生的最大层间杂散光140。

此外，光检测器131中，对在全息元件27的区域De、Dh、Dg和Df（第一分割区域）中衍射的光束L1进行检测的受光部f2和g2以及受光部e2和h2在径向方向上排列，并使受光部e2和h2以及受光部f2和g2以夹着对在区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的光束L1进行检测的、在切线方向上排列的受光部a2、b2、c2和d2（第五受光部组）的方式配置。由此，光检测器131能够回避最大层间杂散光。

图13是从沿着光轴方向的方向观看在全息元件27中衍射而入射到受光部e2、f2、g2和h2（第四受光部组）的光束L1的概要俯视图。另外，以下为了简化说明，仅在图13中表示在全息元件区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域）中衍射的杂散光进行说明。

图13中的黑点表示信号光，虚线表示对最内层进行记录和再现时来自最外层的杂散光，点划线表示对最外层进行记录和再现时来自最内层的杂散光。虽然虚线和点划线不会同时产生，但为了便于说明而将它们在同一图中表示。

此外，箭头150表示随期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔而变化的杂散光的移动方向。在期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔较小的情况下，最小层间杂散光配置在箭头150的长度较小的位置上，间隔较大的情况下，最大层间杂散光配置在箭头150的长度较大的位置上。

此处，例如在全息元件27的区域De中衍射的杂散光，在根据期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔的不同而在切线方向上移动的同时，在径向方向上扩大。此时，在径向方向上扩大的方向，如图5所示依赖于全息元件27的区域。因此，本实施方式中将受光部e2配置成使得在全息元件27的区域De中衍射的最大层间杂散光和最小层间杂散光不会入射到在切线方向上排列的受光部a2、b2、c2和d2（第五受光部组）中。并且，将受光部f2、g2和h2配置成使得在全息元件27的区域Df、Dg和Dh中衍射的最大层间杂散光和最小层间杂散光也同样不会入射到受光部a2、b2、c2和d2（第五受光部组）中。由此，在全息元件27的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域）中衍射的最大层间杂散光和最小层间杂散光不会入射到受光部a2、b2、c2和d2（第五受光部组）。

此外，在全息元件27的区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的最大层间杂散光，根据期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔的不同而在径向方向上移动，所以不会入射到受光部e2、f2、g2和h2（第四受光部组）中。但是，在全息元件27的区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的杂散光，与层间隔相应地在光检测器131上在切线方向上扩大，所以使在径向方向上排列的受光部f2和g2以及受光部e2和h2与在切线方向上排列的受光部a2、b2、c2和d2在切线方向上离开规定量，配置在避开杂散光的位置上。由此，光检测器131的各受光部能够完全回避最大层间杂散光和最小层间杂散光。

（2-2）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式的光拾取器装置130，可以得到与第一实施方式的光拾取器装置5同样的效果。

（2-3）第二实施方式的变形例

此外，上述第二实施方式中，叙述了使光检测器131的受光部的配置方式为如图11所示的结构的情况，但本发明不限于此，例如也可以如图14所示，用于检测跟踪误差信号的受光部的配置方式，只要配置在能够回避入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）的0级衍射光引起的最大层间杂散光的位置上即可。

（3）第三实施方式

（3-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图1中，170表示本实施方式的光拾取器装置。该光拾取器装置170与第一实施方式的光拾取器装置5的不同之处仅在于光检测器171的受光部结构。

实际上，第一实施方式中，说明了对在全息元件27上的区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的光束L1进行检测的光检测器29的受光部a1和b1以及受光部c1和d1分别在切线方向上排列，并使受光部a1和b1以及受光部c1和d1以夹着对在区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域）中衍射的光束L1进行检测的、在径向方向上排列的受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）的方式配置的情况，但本实施方式的光检测器171中，说明对在全息元件27上的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域）中衍射的光束L1进行检测的受光部e3、f3、g3和h3（第六受光部组）在径向方向上排列，并且对在区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的光束L1进行检测的光检测器171的受光部a3、b3、c3和d3（第七受光部组）在切线方向上排列于同一延长线上配置的情况。由此，与第一实施方式的光拾取器装置5同样，本实施方式的光拾取器装置170中也能够有效地回避最小层间杂散光和最大层间杂散光，减小光检测器171上的受光部的面积。

图15表示第三实施方式的光拾取器装置170中使用的光检测器171的受光部结构的一例。本实施方式的光检测器171中，透过第一实施方式的全息元件27（图2）的区域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh和Di的0级衍射光，入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）。根据从该光检测器171上的受光部a、b、c和d（第一受光部组）与光量相应地输出的信号A、B、C和D能够得到聚焦误差信号和RF信号。

本实施方式中，使用像散方式，根据信号A、B、C、D按照下式生成聚焦误差信号FES：

[式7]

FES＝(A+C)-(B+D)

                ……（7）

此外，根据信号A、B、C和D按照下式生成RF信号RF：

[式8]

RF＝A+B+C+D

            ……（8）

此外，在全息元件27的区域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1级衍射光，分别入射到图15所示的光检测器171的受光部a3、b3、c3、d3、e3、f3、g3和h3中。根据从该光检测器171上的受光部a3、b3、c3、d3、e3、f3、g3和h3与光量相应地输出的信号A3、B3、C3、D3、E3、F3、G3和H3，能够得到跟踪误差信号。另外，在区域Di中衍射的+1级衍射光（未图示）视为无用光，在径向方向上避开光检测器171的受光部入射。

本实施方式中，使用单光束DPP方式，根据信号A3、B3、C3、D3、E3、F3、G3和H3按照下式生成跟踪误差信号TES：

[式9]

TES＝{(A3+B3)-(C3+D3)}-kt{(E3+F3)-(G3+H3)}

                                    ……（9）

式（9）中的kt，是用于在物镜10发生透镜移位时，修正式（9）中第一项的信号中所含的偏移成分和式（9）中第二项的信号中所含的偏移成分的系数。通过进行这样的运算，能够生成即使在物镜10发生透镜移位时也不会产生偏移的稳定的跟踪误差信号。

以下用图16～17说明本实施方式中的多层光盘3的杂散光回避方法。

首先说明本实施方式的最小层间杂散光回避方法。

本实施方式中的光检测器171的受光部中，也会因为离焦入射到受光部的光束L1而产生与图5和图6所示的受光部上产生的杂散光同样的杂散光。从而，光检测器171中，在径向方向上排列对在全息元件27的区域De、Dh、Dg和Df（第一分割区域）中衍射的光束进行检测的受光部e3、h3、f3和g3（第六受光部组），在切线方向上排列对在区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的光束进行检测的受光部a3、b3、c3和d3（第七受光部组），由此将最小层间杂散光的影响抑制在最小限度。

这样，光检测器171中，对于全息元件27的区域中在切线方向上离开中心部32的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域），使杂散光在切线方向上回避，对于全息元件27的区域中在径向方向上离开中心部32的区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域），使杂散光在径向方向上回避。由此，光检测器171能够有效地回避最小层间杂散光。

接着说明本实施方式的最大层间杂散光回避方法。图16是从沿着光轴方向的方向观看在全息元件27的各区域Da～Dh中衍射而入射到光检测器171的受光部a～h3的光束L1的概要俯视图。图16所示的黑点和斜线部表示接收物镜10聚焦在光盘3中期望的信息记录层上的情况下的光束L1的受光部上的光斑。图16所示的虚线部表示最大层间杂散光。

在说明最大层间杂散光时，必须针对物镜10聚焦在多层光盘3的最外信息记录层上的情况下产生的来自最内信息记录层的杂散光（最大层间杂散光），和物镜10聚焦在最内信息记录层上的情况下产生的来自最外信息记录层的杂散光（最大层间杂散光）进行说明。但是，为了简化说明，以下在图16中表示聚焦在最内侧记录层上时来自最外侧记录层的杂散光的情况进行说明。

本实施方式中的光检测器171中，将由受光部e3、f3、g3和h3（第六受光部组）和受光部a3、b3、c3和d3（第七受光部组）构成的用于检测跟踪误差信号的受光部组相对于第一受光部组配置在切线方向的位置上，并回避因0级衍射光入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）而产生的最大层间杂散光180。由此，光检测器171能够回避因0级衍射光而产生的最大层间杂散光180。

此外，光检测器171中，在径向方向上排列对在全息元件27的区域De、Dh、Dg和Df（第一分割区域）中衍射的光束L1进行检测的受光部e3、f3、g3和h3（第六受光部组），在切线方向上排列对在区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的光束L1进行检测的受光部a3、b3、c3和d3（第七受光部组）地配置。而且，如图17所示，各受光部配置为使得受光部e3、f3、g3和h3（第六受光部组）的径向方向的延长线与受光部a3、b3、c3和d3（第七受光部组）的切线方向的延长线呈约90度。由此，光检测器171能够回避最大层间杂散光。

图17是从沿着光轴方向的方向观看在全息元件27中衍射而入射到受光部a3、b3、c3和d3（第七受光部组）的光束L1的概要俯视图。另外，以下为了简化说明，仅在图17中表示在全息元件区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的杂散光进行说明。

图17中的黑点表示信号光，虚线表示对最内层进行记录和再现时来自最外层的杂散光，点划线表示对最外层进行记录和再现时来自最内层的杂散光。虽然虚线和点划线不会同时产生，但为了便于说明而将它们在同一图中表示。

此外，箭头190表示随期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔而变化的杂散光的移动方向。在期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔较小的情况下，最小层间杂散光配置在箭头190的长度较小的位置上，间隔较大的情况下，最大层间杂散光配置在箭头190的长度较大的位置上。

此处，例如在全息元件区域Da中衍射的杂散光，在根据期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔的不同而在径向方向上移动的同时，在切线方向上扩大。此时，在切线方向上扩大的杂散光，如图6所示依赖于全息元件27的区域。因此，本实施方式中将受光部a3配置成使得在全息元件27的区域Da中衍射的最大层间杂散光和最小层间杂散光不会入射到在径向方向上排列的受光部e3、f3、g3和h3（第六受光部组）中。并且，将受光部b3、c3和d3配置成使得在全息元件区域Db、Dc和Dd中衍射的最大层间杂散光和最小层间杂散光也同样不会入射到受光部e3、f3、g3和h3（第六受光部组）中。由此，在全息元件27的区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的最大层间杂散光和最小层间杂散光不会入射到受光部e3、f3、g3和h3（第六受光部组）。此外，本实施方式的光检测器171中，将受光部a3和受光部c3配置成，使得在区域Da中衍射的杂散光对受光部a3的入射方向，与在关于中心部32与区域Da大致点对称的区域Dc中衍射的杂散光对受光部c3的入射方向一致。而关于全息元件27的中心部32成大致点对称关系的区域Db和区域Dc，与它们对应的受光部b3和d3，也同样配置成使得杂散光的入射方向一致。

此外，在全息元件27的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域）中衍射的最大层间杂散光，根据期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔的不同而在切线方向上移动，所以不会入射到受光部a3、b3、c3和d3（第七受光部组）。但是，在全息元件27的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域）中衍射的杂散光，与层间隔相应地在光检测器171上在径向方向上扩大，所以使在径向方向上排列的受光部e3、f3、g3和h3（第六受光部组）与在切线方向上排列的受光部a3和c3以及受光部b3和d3在径向方向上离开规定量，配置在避开杂散光的位置上。由此，光检测器171的各受光部能够完全回避最大层间杂散光和最小层间杂散光。

（3-2）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式的光拾取器装置170，可以得到与第一实施方式的光拾取器装置5同样的效果。

（3-3）第三实施方式的变形例

此外，上述第三实施方式中，叙述了使光检测器29的受光部的配置方式为如图15所示的结构的情况，但本发明不限于此，例如也可以如图18所示，用于检测跟踪误差信号的受光部的配置方式，只要配置在能够回避入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）的0级衍射光引起的最大层间杂散光的位置上即可。

（4）第四实施方式

（4-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图1中，230表示本实施方式的光拾取器装置。该光拾取器装置230与第一实施方式的光拾取器装置5的不同之处仅在于光检测器231的受光部结构。

实际上，第一实施方式中，说明了相对于受光部a、b、c和d（第一受光部组）在切线方向上配置由受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）与a1、b1、c1和d1（第三受光部组）构成的检测跟踪误差信号的受光部组，进而使受光部a1和b1以及受光部c1和d1分别在切线方向上排列，并且受光部a1和b1以及受光部c1和d1以夹着受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）的方式配置的情况，但本实施方式的光检测器231中，说明相对于受光部a、b、c和d（第一受光部组）在径向方向上配置由受光部e4、f4、g4和h4（第八受光部组）与受光部a4、b4、c4和d4（第九受光部组）构成的检测跟踪误差信号的受光部组，受光部e4、f4、g4和h4（第八受光部组）在径向方向上排列，受光部a4、b4、c4和d4（第九受光部组）在切线方向上排列于同一延长线上配置的情况。由此，与第一实施方式的光拾取器装置5同样，本实施方式的光拾取器装置230中也能够有效地回避最小层间杂散光和最大层间杂散光，减小光检测器231上的受光部的面积。

图19表示第四实施方式的光拾取器装置230中使用的光检测器231的受光部结构的一例。本实施方式的光检测器231中，透过第一实施方式的全息元件27（图2）的区域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh和Di的0级衍射光，入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）。根据从该光检测器231上的受光部a、b、c和d（第一受光部组）与光量相应地输出的信号A、B、C和D能够得到聚焦误差信号和RF信号。

本实施方式中，使用像散方式，根据信号A、B、C、D按照下式生成聚焦误差信号FES：

[式10]

FES＝(A+C)-(B+D)

                ……（10）

此外，根据信号A、B、C和D按照下式生成RF信号RF：

[式11]

RF＝A+B+C+D

            ……（11）

此外，在全息元件27的区域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1级衍射光，分别入射到图19所示的光检测器231的受光部a4、b4、c4、d4、e4、f4、g4和h4中。根据从该光检测器231上的受光部a4、b4、c4、d4、e4、f4、g4和h4与光量相应地输出的信号A4、B4、C4、D4、E4、F4、G4和H4，能够得到跟踪误差信号。另外，在区域Di中衍射的+1级衍射光（未图示）视为无用光，在径向方向上避开光检测器231的受光部入射。

本实施方式中，使用单光束DPP方式，根据信号A4、B4、C4、D4、E4、F4、G4和H4按照下式生成跟踪误差信号TES：

[式12]

TES＝{(A4+B4)-(C4+D4)}-kt{(E4+F4)-(G4+H4)}

                                        ……（12）

式（12）中的kt，是用于在物镜10发生透镜移位时，修正式（12）中第一项的信号中所含的偏移成分和式（12）中第二项的信号中所含的偏移成分的系数。通过进行这样的运算，能够生成即使在物镜10发生透镜移位时也不会产生偏移的稳定的跟踪误差信号。

以下用图20～21说明本实施方式中的多层光盘3的杂散光回避方法。

首先说明本实施方式的最小层间杂散光回避方法。

本实施方式中的光检测器231的受光部中，也会因为离焦入射到受光部的光束L1而产生与图5和图6所示的受光部上产生的杂散光同样的杂散光。从而，光检测器231中，在径向方向上排列对在全息元件27的区域De、Dh、Dg和Df（第一分割区域）中衍射的光束进行检测的受光部e4、h4、f4和g4（第八受光部组），在切线方向上排列对在区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的光束进行检测的受光部a4、b4、c4和d4（第九受光部组），由此将最小层间杂散光的影响抑制在最小限度。

因此，光检测器231中，在径向方向上排列配置对在全息元件27的区域De、Dh、Dg和Df（第一分割区域）中衍射的光束L1进行检测的受光部e4、f4、g4和h4（第八受光部组），在切线方向上排列配置对在区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的光束L1进行检测的受光部a4、b4、c4和d4（第九受光部组）。其中，如图20所示，各受光部中，使受光部e4、f4、g4和h4（第八受光部组）的径向方向的延长线与受光部a4、b4、c4和d4（第九受光部组）的切线方向的延长线成约90度地配置。

光检测器231中，对于全息元件27的区域中在切线方向上离开中心部32的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域），使杂散光在切线方向上回避，对于全息元件27的区域中在径向方向上离开中心部32的区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域），使杂散光在径向方向上回避。由此，光检测器171能够有效地回避最小层间杂散光。

接着说明本实施方式的最大层间杂散光回避方法。图20是从沿着光轴方向的方向观看在全息元件27的各区域Da～Dh中衍射而入射到光检测器231的受光部a～h4的光束L1的概要俯视图。图21所示的黑点和斜线部表示接收物镜10聚焦在光盘3中期望的信息记录层上的情况下的光束L1的受光部上的光斑。图21所示的虚线部表示最大层间杂散光。

在说明最大层间杂散光时，必须针对物镜10聚焦在多层光盘3的最外信息记录层上的情况下产生的来自最内信息记录层的杂散光（最大层间杂散光），和物镜10聚焦在最内信息记录层上的情况下产生的来自最外信息记录层的杂散光（最大层间杂散光）进行说明。但是，为了简化说明，以下在图20中表示聚焦在最内侧记录层上时来自最外侧记录层的杂散光的情况进行说明。

本实施方式中的光检测器231中，将由受光部e4、f4、g4和h4（第八受光部组）和受光部a4、b4、c4和d4（第九受光部组）构成的检测跟踪误差信号的受光部组相对于第一受光部组配置在径向方向的位置上，并回避因0级衍射光入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）而产生的最大层间杂散光240。由此，光检测器231能够回避因0级衍射光而产生的最大层间杂散光240。

图21是从沿着光轴方向的方向观看在全息元件27中衍射而入射到受光部e4、f4、g4和h4（第八受光部组）的光束L1的概要俯视图。另外，以下为了简化说明，仅在图21中表示在全息元件区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域）中衍射的杂散光进行说明。

图21中的黑点表示信号光，虚线表示对最内层进行记录和再现时来自最外层的杂散光，点划线表示对最外层进行记录和再现时来自最内层的杂散光。虽然虚线和点划线不会同时产生，但为了便于说明而将它们在同一图中表示。

此外，箭头250表示随期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔而变化的杂散光的移动方向。在期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔较小的情况下，最小层间杂散光配置在箭头250的长度较小的位置上，间隔较大的情况下，最大层间杂散光配置在箭头250的长度较大的位置上。

此处，例如在全息元件27的区域De中衍射的杂散光，根据期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔的不同而在切线方向上移动的同时，在径向方向上扩大。此时，在径向方向上扩大的方向，如图5所示依赖于全息元件27的区域。因此，本实施方式中将受光部e4配置为使得在全息元件27的区域De中衍射的最大层间杂散光和最小层间杂散光不会入射到在切线方向上排列的受光部a4、b4、c4和d4（第九受光部组）中。并且，将受光部f4、g4和h4配置为使得在全息元件27的区域Df、Dg和Dh中衍射的最大层间杂散光和最小层间杂散光也同样不会入射到受光部a4、b4、c4和d4（第九受光部组）中。由此，在全息元件27的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域）中衍射的最大层间杂散光和最小层间杂散光不会入射到受光部a4、b4、c4和d4（第九受光部组）中。此外，本实施方式的光检测器231中，受光部e4和受光部g4配置成，使得在区域De中衍射的杂散光对受光部e4的入射方向，与在关于中心部32与区域De大致点对称的区域Dg中衍射的杂散光对受光部g4的入射方向一致。而关于全息元件27的中心部32成大致点对称关系的区域Df和区域Dh，与它们对应的受光部h4和f4也同样配置成使得杂散光的入射方向一致。

此外，在全息元件27的区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的最大层间杂散光，根据期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔的不同而在径向方向上移动，所以不会入射到受光部e4、f4、g4和h4（第八受光部组）。但是，在全息元件27的区域Da、Db、Dc和Dd（第二分割区域）中衍射的杂散光，与层间隔相应地在光检测器29上在切线方向上扩大，所以使在径向方向上排列的受光部f4和g4以及受光部e4和h4与在切线方向上排列的受光部a4、b4、c4和d4在切线方向上离开规定量，配置在避开杂散光的位置上。由此，光检测器231的各受光部能够完全回避最大层间杂散光和最小层间杂散光。

（4-2）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式的光拾取器装置230，可以得到与第一实施方式的光拾取器装置5同样的效果。

（4-3）第四实施方式的变形例

此外，上述第四实施方式中，叙述了使光检测器231的受光部的配置方式为如图19所示的结构的情况，但本发明不限于此，例如也可以如图22（A）和图22（B）所示，用于检测跟踪误差信号的受光部的配置方式，只要配置在能够回避入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）的0级衍射光引起的最大层间杂散光的位置上即可。

（5）第五实施方式

（5-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图1中，280表示本实施方式的光拾取器装置280。该光拾取器装置280与第一实施方式的光拾取器装置5的不同之处仅在于全息元件281和光检测器282的受光部结构

实际上，第一实施方式中，说明了全息元件27上的区域Da、Db、Dc和Dd关于第二分割线31对称地位与在径向方向上延伸的第二分割线31的直线上的情况，但本实施方式的全息元件281中，说明将区域Da和Db统一成为一个区域Dab，将区域Dc和Dd统一成为一个区域Dcd，且区域Dab和区域Dcd关于在径向方向上延伸的第二分割线31对称的情况。

此外，第一实施方式中，说明了光检测器29中，相对于受光部a、b、c和d（第一受光部组）在切线方向上配置由受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）以及a1、b1、c1和d1（第三受光部组）构成的用于检测跟踪误差信号的受光部组的情况，但本实施方式的光检测器282中，说明相对于受光部a、b、c和d（第一受光部组）在径向方向上配置由受光部e5、f5、g5和h5（第十受光部组）以及受光部ab5和cd5（第十一受光部组）构成的用于检测跟踪误差信号的受光部组的情况。由此，与第一实施方式的光拾取器装置5同样，本实施方式的光拾取器装置280中也能够有效地回避最小层间杂散光和最大层间杂散光，减小光检测器282上的受光部的面积。

图23是从沿着光轴方向的方向观看第五实施方式的光拾取器装置280中使用的全息元件281的概要俯视图的一例。图23中的双点划线表示物镜10聚焦在光盘3中期望的信息记录层上时的全息元件281上的光束L1的光斑的外形。此外，斜线部表示被光盘3上的轨道衍射的光盘±1级衍射光与光盘0级衍射光的干涉区域（推挽图案）。

另外，实线表示区域的边界线，全息元件281包括在光盘3上的轨道上反射的0级衍射光入射到的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域），光盘0级衍射光、光盘±1级衍射光入射到的区域Dab和Dcd（第四分割区域），和区域Di（第三分割区域），入射的光束L1按各区域分别向不同的方向衍射。其中，图23所示的全息元件281上的区域Di所处的规定区域，包含在切线方向上延伸的第一分割线30和在径向方向上延伸的第二分割线31相交的全息元件281的中心部32；区域De、Df、Dg和Dh是包括全息元件281的四角的规定的区域，以关于第一分割线30大致对称的方式，位于该第一分割线30的直线上；区域Dab和Dcd以关于第二分割线31大致对称的方式，位于该第二分割线31的直线上。或者换言之，全息元件281特征在于，具有第一、第三和第四分割区域，第三分割区域是包含全息元件281的中心的区域，第一分割区域是位于通过全息元件281的大致中心且在与光盘3的轨道大致平行的方向上延伸的第一分割线30上的区域，第四分割区域是位于通过全息元件281的大致中心且在与光盘3的轨道大致垂直的方向上延伸的第二分割线31上的区域，并且第四分割区域包括上述光盘3的轨道的0级衍射光与±1级衍射光相交的推挽区域，对在第一分割区域中衍射的光束L1进行检测的至少2个受光部，在与光盘3的轨道大致垂直的方向上排列，对在第二分割区域中衍射的光束L1进行检测的至少2个受光部，在与光盘3的轨道大致平行的方向上排列。

其中，全息元件281的衍射效率例如是0级衍射光：+1级衍射光：-1级衍射光=7：3：0。从而，本实施方式中的光拾取器装置280的光检测器282，接收透过全息元件281的0级衍射光和在全息元件281中衍射的+1级衍射光。

图24表示第五实施方式的光拾取器装置280中使用的光检测器282的受光部结构的一例。本实施方式的光检测器282中，透过全息元件281（图23）的区域Dab、Dcd、De、Df、Dg、Dh和Di的0级衍射光，入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）。根据从该光检测器282上的受光部a、b、c和d（第一受光部组）与光量相应地输出的信号A、B、C和D能够得到聚焦误差信号和RF信号。

本实施方式中，使用像散方式，根据信号A、B、C和D按照下式生成聚焦误差信号FES：

[式13]

FES＝(A+C)-(B+D)

                ……（13）

此外，根据信号A、B、C和D按照下式生成RF信号RF：

[式14]

RF＝A+B+C+D

            ……（14）

此外，在全息元件281的区域Dab、Dcd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1级衍射光，分别入射到图24所示的光检测器282的受光部ab5、cd5、e5、f5、g5和h5中。根据从该光检测器282上的受光部ab5、cd5、e5、f5、g5和h5与光量相应地输出的信号AB5、CD5、E5、F5、G5和H5，能够得到跟踪误差信号。另外，在区域Di中衍射的+1级衍射光（未图示）视为无用光，在切线方向上避开光检测器282的受光部入射。

本实施方式中，使用单光束DPP方式，根据信号AB5、CD5、E5、F5、G5和H5按照下式生成跟踪误差信号TES：

[式15]

TES＝(AB5-CD5)-kt{(E5+F5)-(G5+H5)}

                                    ……（15）

式（15）中的kt，是用于在物镜10发生透镜移位时，修正式（15）中第一项的信号中所含的偏移成分和式（15）中第二项的信号中所含的偏移成分的系数。通过进行这样的运算，能够生成即使在物镜10发生透镜移位时也不会产生偏移的稳定的跟踪误差信号。

以下说明本实施方式中的多层光盘3的杂散光回避方法。

首先说明本实施方式的最小层间杂散光回避方法。

在本实施方式中的光检测器282的受光部的情况下，由于只是使全息元件281的区域Da和Db成为一个区域Dab，使区域Dc和Dd成为一个区域Dcd，所以第一方式的光检测器29上因离焦入射到受光部的光束L1产生的图5和图6所示的杂散光，与光检测器282上的杂散光在同样的方向上产生。从而，光检测器282中，在径向方向上排列对在全息元件281的区域De、Dh、Dg和Df（第一分割区域）中衍射的光束进行检测的受光部e5、h5、f5、g5（第十受光部组），在切线方向上排列对在区域Dab和Dcd（第四分割区域）中衍射的光束进行检测的受光部ab5和cd5（第十一受光部组），由此将最小层间杂散光的影响抑制在最小限度。

因此，本实施方式的光检测器282，如图24所示，在径向方向上排列对在全息元件281的区域De、Dh、Dg和Df（第一分割区域）中衍射的光束L1进行检测的受光部e5、f5、g5和h5（第十受光部组），以夹着对在区域Dab和Dcd（第四分割区域）中衍射的光束L1进行检测的在切线方向上排列的受光部ab5和cd5（第十一受光部组）的方式配置。

光检测器282中，对于全息元件281的区域中在切线方向上离开中心部32的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域），使杂散光在切线方向上回避，对于全息元件281的区域中在径向方向上离开中心部32的区域Dab和Dcd（第四分割区域），使杂散光在径向方向上回避。由此，光检测器282能够有效地回避最小层间杂散光。

接着说明本实施方式的最大层间杂散光回避方法。图25是从沿着光轴方向的方向观看在全息元件281的各区域Dab～Dh中衍射而入射到光检测器282的受光部ab～h5的光束L1的概要俯视图。图25所示的黑点和斜线部表示接收物镜10聚焦在光盘3中期望的信息记录层上的情况下的光束L1的受光部上的光斑。图25所示的虚线部表示最大层间杂散光。

在说明最大层间杂散光时，必须针对物镜10聚焦在多层光盘3的最外信息记录层的情况下产生的来自最内信息记录层的杂散光（最大层间杂散光），和物镜10聚焦在最内信息记录层的情况下产生的来自最外信息记录层的杂散光（最大层间杂散光）进行说明。但是，为了简化说明，以下在图25中表示聚焦在最内侧记录层上时来自最外侧记录层的杂散光的情况进行说明。

本实施方式中的光检测器282中，将由受光部e5、f5、g5和h5（第十受光部组）与受光部ab5和cd5（第十一受光部组）构成的用于检测跟踪误差信号的受光部组相对于第一受光部组配置在径向方向的位置上，并回避因0级衍射光入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）而产生的最大层间杂散光290。由此，光检测器282能够回避因0级衍射光而产生的最大层间杂散光290。

此外，在全息元件281的区域Dab和Dcd（第四受光部组）中衍射的杂散光，根据期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔的不同而在径向方向上移动，所以不会入射到相对于受光部ab5和cd5配置在大致切线方向上的受光部e5、f5、g5和h5（第十受光部组）中。但是，在全息元件281的区域Dab和Dcd（第四受光部组）中衍射的杂散光，与层间隔相应地在光检测器282上在切线方向上扩大，所以使在径向方向上排列的受光部f5和g5以及受光部e5和h5与在切线方向上排列的受光部ab5和cd5配置于在切线方向上离开规定量的位置上。由此，光检测器282的各受光部能够完全回避最大层间杂散光。

（5-2）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式的光拾取器装置280，可以得到与第一实施方式的光拾取器装置5同样的效果。

（5-3）第五实施方式的变形例

此外，上述第五实施方式中，叙述了使全息元件281的结构为如图23所示的结构的情况，但本发明不限于此，例如也可以如图26（A）、图26（B）、图26（C）和图26（D）所示，只要区域De、Df、Dg和Dh各区域分别关于第一分割线30对称，区域Dab和Dcd各区域分别关于第二分割线31对称即可，该情况下，Di（第三分割区域）可以是任意的结构。

此外，上述第五实施方式中，叙述了使光检测器281的受光部的配置方式为如图24所示的结构的情况，但本发明不限于此，例如也可以如图27所示，用于检测跟踪误差信号的受光部的配置方式，只要配置在能够回避入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）的0级衍射光引起的最大层间杂散光的位置上即可。

（6）第六实施方式

（6-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图1中，350表示本实施方式的光拾取器装置。该光拾取器装置350与第五实施方式的光拾取器装置280的不同之处仅在于光检测器351的受光部结构。

实际上，第五实施方式中，说明了用于检测跟踪误差信号的受光部组中的受光部a1和b1以及受光部c1和d1分别在切线方向上排列，并使受光部a1和b1以及受光部c1和d1夹着受光部e1、f1、g1和h1（第二受光部组）配置的情况，但本实施方式的光检测器351中，说明用于检测跟踪误差信号的受光部组中的受光部e6、f6、g6和h6（第十二受光部组）在径向方向上排列，进而受光部ab6和cd6（第十三受光部组）在切线方向排列于同一延长线上配置的情况。由此，与第五实施方式的光拾取器装置280同样，本实施方式的光拾取器装置350中也能够有效地回避最小层间杂散光和最大层间杂散光，减小光检测器351上的受光部的面积。

图28是表示第六实施方式的光拾取器装置350中使用的光检测器351的受光部结构的一例。本实施方式的光检测器351中，透过第五实施方式的全息元件281（图23）的区域Dab、Dcd、De、Df、Dg、Dh和Di的0级衍射光，入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）。根据从该光检测器351上的受光部a、b、c和d（第一受光部组）与光量相应地输出的信号A、B、C和D能够得到聚焦误差信号和RF信号。

本实施方式中，使用像散方式，根据信号A、B、C和D按照下式生成聚焦误差信号FES：

[式16]

FES＝(A+C)-(B+D)

                ……（16）

此外，根据信号A、B、C和D按照下式生成RF信号RF：

[式17]

RF＝A+B+C+D

            ……（17）

此外，在全息元件281的区域Dab、Dcd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1级衍射光，分别入射到图28所示的光检测器351的受光部ab6、cd6、e6、f6、g6和h6中。根据从该光检测器351的受光部ab6、cd6、e6、f6、g6和h6与光量相应地输出的信号AB6、CD6、E6、F6、G6和H6，能够得到跟踪误差信号。另外，在区域Di中衍射的+1级衍射光（未图示）视为无用光，在切线方向上避开光检测器351的受光部入射。

本实施方式中，使用单光束DPP方式，根据信号AB6、CD6、E6、F6、G6和H6按照下式生成跟踪误差信号TES：

[式18]

TES＝(AB6-CD6)-kt{(E6+F6)-(G6+H6)}

                                    ……（18）

式（18）中的kt，是用于在物镜10发生透镜移位时，修正式（18）中第一项的信号中所含的偏移成分和式（18）中第二项的信号中所含的偏移成分的系数。通过进行这样的运算，能够生成即使在物镜10发生透镜移位时也不会产生偏移的稳定的跟踪误差信号。

以下说明本实施方式中的多层光盘3的杂散光回避方法。

首先说明本实施方式的最小层间杂散光回避方法。

本实施方式中的光检测器351的受光部中，也会因为离焦入射到受光部的光束L1而产生与图5和图6所示的受光部上产生的杂散光同样的杂散光。从而，光检测器351中，在径向方向上排列对在全息元件281的区域De、Dh、Dg和Df（第一分割区域）中衍射的光束进行检测的受光部e6、h6、f6和g6（第十二受光部组），在切线方向上排列对在区域Dab和Dcd（第四分割区域）中衍射的光束进行检测的受光部ab6和cd6（第十三受光部组），由此将最小层间杂散光的影响抑制在最小限度。

因此，本实施方式的光检测器351，如图28所示，在径向方向上排列对在全息元件281的区域De、Dh、Dg和Df（第一分割区域）中衍射的光束L1进行检测的受光部e6、f6、g6和h6（第十二受光部组），并使在径向方向上排列的受光部f6和g6以及受光部e6和h6与在切线方向上排列的受光部ab6和cd6在切线方向上离开规定量，配置在避开杂散光的位置上。

光检测器282中，对于全息元件281的区域中在切线方向上离开中心部32的区域De、Df、Dg和Dh（第一分割区域），使杂散光在切线方向上回避，对于全息元件281的区域中在径向方向上离开中心部32的区域Dab和Dcd（第四分割区域），使杂散光在径向方向上回避。由此，光检测器282能够有效地回避最小层间杂散光。

接着说明本实施方式的最大层间杂散光回避方法。图29是从沿着光轴方向的方向观看在全息元件281的各区域Dab～Dh中衍射而入射到光检测器351的受光部ab～h6的光束L1的概要俯视图。图29所示的黑点和斜线部表示接收物镜10聚焦在光盘3中期望的信息记录层上的情况下的光束L1的受光部上的光斑。图29所示的虚线部表示最大层间杂散光。

在说明最大层间杂散光时，必须针对物镜10聚焦在多层光盘3的最外信息记录层的情况下产生的来自最内信息记录层的杂散光（最大层间杂散光），和物镜10聚焦在最内信息记录层的情况下产生的来自最外信息记录层的杂散光（最大层间杂散光）进行说明。但是，为了简化说明，以下在图29中表示聚焦在最内侧记录层上时来自最外侧记录层的杂散光的情况进行说明。

本实施方式中的光检测器351中，将由受光部e6、f6、g6和h6（第十二受光部组）与受光部ab6和cd6（第十三受光部组）构成的用于检测跟踪误差信号的受光部组相对于第一受光部组配置在径向方向的位置上，并回避因0级衍射光入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）而产生的最大层间杂散光370。由此，光检测器351能够回避因0级衍射光而产生的最大层间杂散光370。

此外，在全息元件281的区域Dab和Dcd（第四受光部组）中衍射的杂散光，根据期望的信息记录层与其他信息记录层的间隔的不同而在径向方向上移动，所以不会入射到相对于受光部ab6和cd6配置在大致切线方向上的受光部e6、f6、g6和h6（第十二受光部组）中。但是，在全息元件281的区域Dab和Dcd（第四受光部组）中衍射的杂散光，与层间隔相应地在光检测器282上在切线方向上扩大，所以使在径向方向上排列的受光部f6和g6以及受光部e6和h6与在切线方向上排列的受光部ab6和cd6配置于在切线方向上离开规定量的位置上。由此，光检测器282的各受光部能够完全回避最大层间杂散光。

（6-2）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式的光拾取器装置230，可以得到与第一实施方式的光拾取器装置5同样的效果。

（6-3）第六实施方式的变形例

此外，上述第六实施方式中，叙述了使光检测器351的受光部的配置方式为如图28所示的结构的情况，但本发明不限于此，例如也可以如图30（A）和图30（B）所示，用于检测跟踪误差信号的受光部的配置方式，只要配置在能够回避入射到受光部a、b、c和d（第一受光部组）的0级衍射光引起的最大层间杂散光的位置上即可。

（7）第七实施方式

（7-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图31表示第七实施方式的光拾取器装置400，其中，与图2的对应部分标注相同符号表示。该光拾取器装置400，不仅对应BD（Blu-rayDisc，蓝光光盘），也对应DVD（Digital Versatile Disc，数字多用途光盘）和CD（Compact Disc光盘），所以与第一实施方式的光拾取器装置5的不同之处在于光拾取器装置400中的光学系统的结构和光检测器414的受光部结构。

实际上，第一实施方式中，说明了光拾取器装置5对BD进行再现和记录的情况，但本实施方式中的光拾取器装置400中，为了除BD外还能对DVD和CD进行再现和记录，在第一实施方式中的光拾取器装置5的光学系统的结构上增加用于对DVD和CD以光学的方式再现和记录数据的结构，由此，光检测器414的结构也在第一实施方式的光检测器29的结构中增加用于接收DVD和CD上反射的光束L1的结构。

图31表示图1的光盘装置1上搭载的光拾取器装置400的光学系统。光拾取器装置400，如图31所示，在第一实施方式中的用于对BD以光学方式读写数据的光学系统之外，还具备用于对CD或DVD以光学方式读写数据的光学系统20。

其中，用于对BD以光学方式读写数据的光学系统，具备半导体激光器20、分束器410、分束器21、前端监测器411、准直透镜23、立起反射镜24、1/4波片25、致动器412、物镜10、全息元件27、检测透镜28和光检测器413。

半导体激光器20由出射与BD规格对应的大致405[nm]波段的发散光光束L1的激光二极管构成，由上述激光器发光驱动电路6（图1），例如在记录动作时根据记录对象的数据相应地闪烁驱动，在再现动作时以一定的功率发光驱动。

此外，分束器410和分束器21是使光束L1透射或将其分割为2束以上的光束的光学部件。驱动半导体激光器20时从该半导体激光器20出射的光束L1，透过分束器410入射到分束器21。然后，光束L1被分割为透过分束器21而入射到前端监测器411的光束L1，和在分束器21上反射而入射到准直透镜23的光束L1。

前端监测器411是用于检测光束L1的光量的光学部件，在为了提高光盘3的记录再现动作的精度而将光束L1的光量控制为所要求的值时使用。具体而言，前端监测器411检测来自半导体激光器20的光束L1的光量变化，将检测结果反馈到控制电路13（图1）。由此，能够在控制电路13的控制下，控制对光盘3照射的光束L1的光量。

准直透镜23这一光学部件，由在光轴方向上驱动该准直透镜23的机构在光轴方向上对其进行驱动，而改变光束L1的发散和会聚状态，用于对因光盘3的保护层的厚度误差引起的球面像差进行补偿。然后，透过准直透镜23的光束L1被立起反射镜24反射，入射到1/4波片25。

1/4波片25是使直线偏振光成为圆偏振光的光学部件。具体而言，光束L1被1/4波片25变换为圆偏振光，通过搭载在致动器412上的物镜10聚焦在光盘3上。接着，光束L1被光盘3上的轨道衍射为3束光束（光盘0级衍射光、光盘+1级衍射光和光盘-1级衍射光）。

其中，物镜10是使光束L1的光束聚焦的光学元件，能够在驱动物镜10的致动器的作用下，在接近或远离光盘3的方向上移位，或在光盘3的径向方向上倾斜。

另一方面，在光盘3上反射的光束L1，被物镜10变换为平行光之后，顺序通过1/4波片25、立起反射镜24、准直透镜23和分束器21，入射到全息元件27。

全息元件27上，存在用于使入射的光束L1分别向不同的方向衍射的分割区域。被该全息元件27衍射的光束L1，在被检测透镜28附加像散后入射到光检测器413。

此外，光检测器413是能够使光束L1聚焦的受光部结构，该光检测器413对入射到受光部的光束L1进行光电变换。光检测器413将得到的信号发送到信息信号再现电路7和伺服信号再现电路8，由信息信号再现电路7生成作为再现信号的RF信号，由伺服信号再现电路8生成作为伺服信号的聚焦误差信号和跟踪误差信号等。

此外，用于对CD和DVD以光学方式读写数据的光学系统，具备半导体激光器414、衍射光栅415、分束器410、分束器21、前端监测器411、准直透镜23、立起反射镜416、1/4波片417、致动器412、物镜418、全息元件27、检测透镜28和光检测器413。

半导体激光器414由出射与CD规格对应的大致785[nm]波段的发散光光束L2和与DVD规格对应的大致660[nm]波段的发散光光束L3的激光二极管构成。从半导体激光器414出射的激光L2和L3，由上述激光器发光驱动电路6（图1），例如在记录动作时根据记录对象的数据相应地闪烁驱动，在再现动作时以一定的功率发光驱动。

此外，衍射光栅415是使光束L2和L3衍射为3束光束L2和L3（0级衍射光、+1级衍射光和-1级衍射光）的用于与CD和DVD兼容的光学元件。例如现有的DPP方式，需要在光盘3上使+1级衍射光和-1级衍射光相对于0级衍射光在半径方向上偏离1/2轨道间距。但是，例如DVD的情况下，存在轨道间距不同的DVD±R/RW（轨道间距0.74[μm]）、DVD-RAM1（轨道间距1.48[μm]）和DVD-RAM2（轨道间距1.23[μm]），存在用于进行与各规格分别对应的光斑的配置难以实现的问题。但是，通过使用衍射光栅415，使3束光束L2和L3中+1级衍射光和-1级衍射光在衍射光栅的半径方向具有相位差，由此即使在轨道间距不同的光盘3的同一轨道上DPP方式也成立。例如，采用日本特开2007-317331的衍射光栅。但是并不限定于该衍射光栅。

从半导体激光器414出射的激光L2和L3，在被衍射光栅415至少衍射为0级衍射光、+1级衍射光和-1级衍射光这3束光束之后，被分束器410反射而入射到分束器21。然后，光束L2和L3被分割为透过分束器21而入射到前端监测器411的光束L2和L3，和在分束器21上反射而入射到准直透镜23的光束L2和L3。

然后，入射到准直透镜23的光束L2，被准直透镜23变换为平行光，被立起反射镜416反射，通过1/4波片417，被致动器412上搭载的物镜10聚焦在光盘2上。这样，被衍射光栅415分割而成的0级衍射光、+1级衍射光和-1级衍射光，被物镜418分别独立地聚焦在光盘3的信息记录面上形成3个会聚光斑。

其中，立起反射镜416和1/4波片417，与用于对BD以光学方式读写数据的光学系统中的立起反射镜24和1/4波片25为同样的结构，所以省略详细说明。

另一方面，在光盘3上反射的光束L2，在被物镜418变换为平行光之后，顺序通过1/4波片417、立起反射镜416、准直透镜23和分束器21，入射到全息元件27。

全息元件27上，存在用于使入射的光束L2分别向不同的方向衍射的分割区域。被该全息元件27衍射的光束L2和L3，在被检测透镜28附加像散后入射到光检测器413。

此外，光检测器413是能够使光束L2聚焦的受光部结构，该光检测器413对入射到受光部的光束L2和L3进行光电变换。光检测器413将得到的信号发送到信息信号再现电路7和伺服信号再现电路8，由信息信号再现电路7生成作为再现信号的RF信号，由伺服信号再现电路8生成作为伺服信号的聚焦误差信号和跟踪误差信号等。

图32表示图30中的光检测器413中的受光部的配置方式的一例。图中的斜线部和黑点表示信号光。本实施方式的光检测器413，如图32所示，除图4所示的第一实施方式的光检测器29中的用于使来自BD的信息记录面的光束L1入射而检测信号的受光部的配置方式的结构外，还具备用于使来自CD或DVD的信息记录面的光束L2和L3入射而检测信号的受光部。

从而，本实施方式的光检测器413中用于回避杂散光、检测稳定的跟踪误差信号的受光部，与第一实施方式的光检测器29中用于检测跟踪误差信号的受光部的配置方式相同，所以本实施方式的最大层间杂散光和最小层间杂散光下的杂散光的回避方法，与第一实施方式相同。因此省略本实施方式中的最大层间杂散光和最小层间杂散光下的杂散光的回避方法的详细说明。

以下先说明BD的信号检测方法。

透过全息元件27的区域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh和Di的光束L1的0级衍射光，分别入射到受光部10a、10b、10c和10d（第十四受光部组）。根据从该光检测器413上的受光部10a、10b、10c和10d（第十四受光部组）与光量相应地输出的信号10A、10B、10C和10D能够得到聚焦误差信号和RF信号。

本实施方式中，使用像散方式，根据信号10A、10B、10C和10D按照下式生成聚焦误差信号FES：

[式19]

FES＝(10A+10C)-(10B+10D)

                        ……（19）

此外，根据信号10A、10B、10C和10D按照下式生成RF信号RF：

[式20]

RF＝10A+10B+10C+10D

                    ……（20）

此外，在全息元件27的区域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1级衍射光，分别入射到图32所示的光检测器413的受光部a1、b1、c1、d1、e1、f1、g1和h1中。根据从该光检测器413上的受光部a1、b1、c1、d1、e1、f1、g1和h1与光量相应地输出的信号A1、B1、C1、D1、E1、F1、G1和H1，能够得到跟踪误差信号。另外，在区域Di中衍射的+1级衍射光（未图示）视为无用光，在径向方向上避开光检测器413的受光部入射。

本实施方式中，使用单光束DPP方式，根据信号A1、B1、C1、D1、E1、F1、G1和H1按照下式生成跟踪误差信号TES：

[式21]

TES＝{(A1+B1)-(C1+D1)}-ktb{(E1+F1)-(G1+H1)}

                                        ……（21）

式（21）中的ktb，是用于在物镜10发生透镜移位时，修正式（21）中第一项的信号中所含的偏移成分和式（21）中第二项的信号中所含的偏移成分的系数。通过进行这样的运算，能够生成即使在物镜10发生透镜移位时也不会产生偏移的稳定的跟踪误差信号。

接着说明DVD的信号检测方法。

透过全息元件413的区域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh和Di的光束L2，入射到受光部10a、10b、10c和10d（第十四受光部组），受光部10e、10f、10g和10h（第十五受光部组），以及受光部10i、10j、10k和10l（第十六受光部组）。根据从该检测器413上受光部10a、10b、10c和10d（第十四受光部组），受光部10e、10f、10g和10h（第十五受光部组）和受光部10i、10j、10k和10l（第十六受光部组）与光量相应地输出的信号10A、10B、10C、10D、10E、10F、10G、10H、10I、10J、10K和10L能够得到聚焦误差信号和RF信号。

本实施方式中，使用像散方式，根据信号10A、10B、10C、10D、10E、10F、10G、10H、10I、10J、10K和10L按照下式生成聚焦误差信号FES：

[式22]

FES＝{(10A+10C)-(10B+10D)}

-kfd{(10E+10G+10I+10K)-(10F+10H+10J+10L)}

                                    ……（22）

式（22）的kfd是使聚焦误差信号中不会产生轨道槽横穿信号的系数。

此外，根据信号10A、10B、10C和10D按照下式生成RF信号RF：

[式23]

RF＝10A+10B+10C+10D

                    ……（23）

此外，根据从该检测器413上的受光部10a、10b、10c和10d（第十四受光部组），受光部10e、10f、10g和10h（第十五受光部组），以及受光部10i、10j、10k和10l（第十六受光部组）与光量相应地输出的信号10A、10B、10C、10D、10E、10F、10G、10H、10I、10J、10K和10L能够得到跟踪误差信号。

本实施方式中，CD和DVD的跟踪误差信号的检测例如使用3光束差动推挽方式（以下称其为3光束DPP（Differential Push Pull）方式）。

3光束DPP方式，是用3束光束进行DPP的方法，由于3光束DPP方式是周知的技术，故此处省略进一步说明。

本实施方式中，使用3光束DPP方式，根据信号10A、10B、10C、10D、10E、10F、10G、10H、10I、10J、10K和10L按照下式生成跟踪误差信号TES：

[式24]

TES＝{(10A+10D)-(10B+10C)}

-ktd{(10E+10F+10I+10J)-(10G+10H+10K+10L)}

                                    ……（24）

式（24）中的ktd，是用于在物镜10发生透镜移位时，修正式（24）中第一项的信号中所含的偏移成分和式（24）中第二项的信号中所含的偏移成分的系数。

接着，说明CD的信号检测方法。

透过全息元件413的区域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh和Di的光束L3，入射到受光部20a、20b、20c和20d（第十四受光部组），受光部20e、20f、20g和20h（第十七受光部组），以及受光部20i、20j、20k和20l（第十八受光部组）。根据从该检测器413上受光部20a、20b、20c和20d（第十四受光部组），受光部20e、20f、20g和20h（第十七受光部组），以及受光部20i、20j、20k和20l（第十八受光部组）与光量相应地输出的信号20A、20B、20C、20D、20E、20F、20G、20H、20I、20J、20K和20L能够得到聚焦误差信号和RF信号。

本实施方式中，使用像散方式，根据信号20A、20B、20C、20D、20E、20F、20G、20H、20I、20J、20K和20L按照下式生成聚焦误差信号FES：

[式25]

FES＝{(20A+20C)-(20B+20D)}

                            ……（25）

此外，根据信号20A、20B、20C、20D按照下式生成RF信号RF：

[式26]

RF＝20A+20B+20C+20D

                    ……（26）

此外，根据从该光检测器413上的受光部20a、20b、20c和20d（第十四受光部组），受光部20e、20f、20g和20h（第十七受光部组），以及受光部20i、20j、20k和20l（第十八受光部组）与光量相应地输出的信号20A、20B、20C、20D、20E、20F、20G、20H、20I、20J、20K和20L能够得到跟踪误差信号。

本实施方式中，使用3光束DPP方式，根据信号20A、20B、20C、20D、20E、20F、20G、20H、20I、20J、20K和20L按照下式生成跟踪误差信号TES：

[式27]

TES＝{(20A+20D)-(20B+20C)}

-ktd{(20E+20F+20I+20J)-(20G+20H+20K+20L)}

                                    ……（27）

式（27）中的ktd，是用于在物镜10发生透镜移位时，修正式（27）中第一项的信号中所含的偏移成分和式（27）中第二项的信号中所含的偏移成分的系数。

（7-2）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式的光拾取器装置400，可以得到与第一实施方式的光拾取器装置5同样的效果。

（8）第八实施方式

（8-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图31中，430表示本实施方式的光拾取器装置。该光拾取器装置430与第七实施方式的光拾取器装置400的不同之处仅在于光检测器431的受光部结构。

实际上，本实施方式的光检测器431的受光部的配置方式，如图33所示，在图11所示的第二实施方式的光检测器131中的用于使来自BD的信息记录面的光束L1入射而检测信号的受光部的配置方式的结构外，还具备用于使来自CD或DVD的信息记录面的光束L2和L3入射而检测信号的受光部。

其中，本实施方式中的光检测器431的受光部10a、10b、10c和10d，受光部e2、f2、g2和h2（第四受光部组），以及受光部a2、b2、c2和d2（第五受光部组），对应于第二实施方式的光检测器131的受光部a、b、c和d（第一受光部组），受光部e2、f2、g2和h2（第四受光部组），以及受光部a2、b2、c2和d2（第五受光部组）。

从而，本实施方式的光检测器431中用于回避杂散光、检测稳定的跟踪误差信号的受光部，与第二实施方式的光检测器131中用于检测跟踪误差信号的受光部配置方式相同，所以本实施方式的最大层间杂散光和最小层间杂散光下的杂散光的回避方法，与第二实施方式相同。因此省略本实施方式中的最大层间杂散光和最小层间杂散光下的杂散光的回避方法的详细说明。

（8-2）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式的光拾取器装置430，可以得到与第七实施方式的光拾取器装置400同样的效果。

（9）第九实施方式

（9-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图31中表示了对于与第七实施方式的光拾取器装置400对应的部分标注相同的符号表示的本实施方式的光拾取器装置440。该光拾取器装置440与第七实施方式的光拾取器装置400的不同之处仅在于光检测器441的受光部结构。

实际上，本实施方式的光检测器441的受光部的配置方式，如图34所示，在图15所示的第三实施方式的光检测器171中的用于使来自BD的信息记录面的光束L1入射而检测信号的受光部的配置方式的结构外，还具备用于使来自CD或DVD的信息记录面的光束L2和L3入射而检测信号的受光部。

其中，本实施方式中的光检测器441的受光部10a、10b、10c和10d，受光部e3、f3、g3和h3（第六受光部组），以及受光部a3、b3、c3和d3（第七受光部组），对应于第三实施方式的光检测器171的受光部a、b、c和d（第一受光部组），受光部e3、f3、g3和h3（第六受光部组），以及受光部a3、b3、c3和d3（第七受光部组）。

从而，本实施方式的光检测器441中用于回避杂散光、检测稳定的跟踪误差信号的受光部，与第三实施方式的光检测器171中用于检测跟踪误差信号的受光部的配置方式相同，所以本实施方式的最大层间杂散光和最小层间杂散光下的杂散光的回避方法，与第三实施方式相同。因此省略本实施方式中的最大层间杂散光和最小层间杂散光下的杂散光的回避方法的详细说明。

（9-2）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式的光拾取器装置440，可以得到与第七实施方式的光拾取器装置400同样的效果。

（10）第十实施方式

（10-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图31中表示了对于与第七实施方式的光拾取器装置400对应的部分标注相同的符号表示的本实施方式的光拾取器装置450。该光拾取器装置450与第七实施方式的光拾取器装置400的不同之处仅在于光检测器451的受光部结构。

实际上，本实施方式的光检测器451的受光部的配置方式，如图35所示，在图19所示的第四实施方式的光检测器231中的用于使来自BD的信息记录面的光束L1入射而检测信号的受光部的配置方式的结构外，还具备用于使来自CD或DVD的信息记录面的光束L2和L3入射而检测信号的受光部。

其中，本实施方式中的光检测器451的受光部10a、10b、10c和10d，受光部e4、f4、g4和h4（第八受光部组），以及受光部a4、b4、c4和d4（第九受光部组），对应于第四实施方式的光检测器231的受光部a、b、c和d（第一受光部组），受光部e4、f4、g4和h4（第八受光部组），以及受光部a4、b4、c4和d4（第九受光部组）。

从而，本实施方式的光检测器451中用于回避杂散光、检测稳定的跟踪误差信号的受光部，与第四实施方式的光检测器231中用于检测跟踪误差信号的受光部的配置方式相同，所以本实施方式的最大层间杂散光和最小层间杂散光下的杂散光的回避方法，与第四实施方式相同。因此省略本实施方式中的最大层间杂散光和最小层间杂散光下的杂散光的回避方法的详细说明。

（10-2）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式的光拾取器装置450，可以得到与第七实施方式的光拾取器装置400同样的效果。

（11）第十一实施方式

（11-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图31中，460表示本实施方式的光拾取器装置。该光拾取器装置460与第七实施方式的光拾取器装置400的不同之处仅在于光检测器461的受光部结构。

实际上，本实施方式的光检测器461的受光部的配置方式，如图36所示，在图24所示的第五实施方式的光检测器282中的用于使来自BD的信息记录面的光束L1入射而检测信号的受光部的配置方式的结构外，还具备用于使来自CD或DVD的信息记录面的光束L2和L3入射而检测信号的受光部。

其中，本实施方式中的光检测器461的受光部10a、10b、10c和10d，受光部e5、f5、g5和h5（第十受光部组），以及受光部a5、b5、c5和d5（第十一受光部组），对应于第五实施方式的光检测器282的受光部a、b、c和d（第一受光部组），受光部e5、f5、g5和h5（第十受光部组），以及受光部a5、b5、c5和d5（第十一受光部组）。

从而，本实施方式的光检测器461中用于回避杂散光、检测稳定的跟踪误差信号的受光部，与第五实施方式的光检测器282中用于检测跟踪误差信号的受光部的配置方式相同，所以本实施方式的最大层间杂散光和最小层间杂散光下的杂散光的回避方法，与第五实施方式相同。因此省略本实施方式中的最大层间杂散光和最小层间杂散光下的杂散光的回避方法的详细说明。

（11-2）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式的光拾取器装置460，可以得到与第七实施方式的光拾取器装置400同样的效果。

（12）第十二实施方式

（12-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图31中，470表示本实施方式的光拾取器装置。该光拾取器装置470与第七实施方式的光拾取器装置400的不同之处仅在于光检测器471的受光部结构。

实际上，本实施方式的光检测器471的受光部的配置方式，如图37所示，在图28所示的第六实施方式的光检测器351中的用于使来自BD的信息记录面的光束L1入射而检测信号的受光部的配置方式的结构外，还具备用于使来自CD或DVD的信息记录面的光束L2和L3入射而检测信号的受光部。

其中，本实施方式中的光检测器471的受光部10a、10b、10c和10d，受光部e6、f6、g6和h6（第十二受光部组），以及受光部a6、b6、c6和d6（第十三受光部组），对应于第六实施方式的光检测器351的受光部a、b、c和d（第一受光部组），受光部e6、f6、g6和h6（第十二受光部组），以及受光部a6、b6、c6和d6（第十三受光部组）。

从而，本实施方式的光检测器471中用于回避杂散光、检测稳定的跟踪误差信号的受光部，与第六实施方式的光检测器351中用于检测跟踪误差信号的受光部的配置方式相同，所以本实施方式的最大层间杂散光和最小层间杂散光下的杂散光的回避方法，与第六实施方式相同。因此省略本实施方式中的最大层间杂散光和最小层间杂散光下的杂散光的回避方法的详细说明。

（12-2）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式的光拾取器装置470，可以得到与第七实施方式的光拾取器装置400同样的效果。

（13）第十三实施方式

（13-1）本实施方式的光拾取器装置的结构

图38表示第十三实施方式的光盘装置480，其中与图1对应的部分标注相同的符号表示。该光盘装置480与第一～第十二实施方式的光盘装置1的不同之处在于，第一～第十二实施方式中的光盘装置1是具有对光盘3记录和再现信息的功能的光盘装置1，而本实施方式的光盘装置，仅对光盘3进行光学再现。

实际上，第一～第十二实施方式中的光盘装置1，说明了为了对光盘3记录和再现信息而具有信息信号记录电路14的情况，但本实施方式的光盘装置480，由于是仅对光盘3进行光学再现的结构，所以没有信息记录电路14。

从而，本实施方式的光盘装置480与第一～第十二实施方式的光盘装置1的不同之处仅在于没有信息记录电路14，所以省略其详细说明。

（13-2）本实施方式的效果

如上所述，根据本实施方式的光盘装置480，可以得到与第一～第十二实施方式的光盘装置1同样的效果。

（14）其他实施方式

此外，上述第一～第十三实施方式中，叙述了将全息元件27、281配置成使得在光盘3的信息记录层上反射的光束L1在透过分束器21后通过全息元件27、281的情况，但本发明不限于此，也可以使全息元件27、281为偏振全息元件等衍射光栅，配置在透过分束器之前。

此外，上述第一～第十三实施方式中，叙述了光检测器29、131、171、231、282、351、413、441、451、461、471检测被全息元件27、281衍射的+1级衍射光的情况，但本发明不限于此，也可以检测-1级衍射光，也可以是其他级数的例如±2级衍射光或±3级衍射光等。

进而，上述第一～第十三实施方式中，叙述了将跟踪误差信号的受光部配置在透过全息元件27、281的0级衍射光引起的最大层间杂散光之外的情况，但本发明不限于此，在杂散光的影响较小的情况下，不一定要回避最大层间杂散光。此外，也可以应用反射镜代替分束器21。该情况下，也可以利用全息元件对因反射镜产生的彗差和像散进行修正。

产业利用性

本发明能够广泛应用于支持具有多个信息记录层的光盘的光拾取器装置。

Claims (14)

1.一种光拾取器装置，其特征在于，包括：

出射激光的半导体激光器；

用于使从所述半导体激光器出射的光束会聚而照射到光盘上的物镜；

将从所述光盘反射的光束分束的衍射元件；和

具有接收由所述衍射元件分束后的光束的多个受光部的光检测器，其中，

所述衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，

所述第三分割区域是包含所述衍射元件的中心的区域，

所述第一分割区域是位于通过所述衍射元件的大致中心且在与所述光盘的轨道大致平行的方向上延伸的直线上的区域，

所述第二分割区域是位于通过所述衍射元件的大致中心且在与所述光盘的轨道大致垂直的方向上延伸的直线上的区域，

所述第一分割区域或所述第二分割区域的衍射光至少被分割为4部分，以入射到至少4个受光部，

所述第一分割区域、所述第二分割区域和所述第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，

在与所述光盘的轨道大致垂直的方向上，排列有对在所述第一分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部。

2.一种光拾取器装置，其特征在于，包括：

出射激光的半导体激光器；

用于使从所述半导体激光器出射的光束会聚而照射到光盘上的物镜；

将从所述光盘反射的光束分束的衍射元件；和

具有接收由所述衍射元件分束后的光束的多个受光部的光检测器，

所述衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，

所述第三分割区域是包含所述衍射元件的中心的区域，

所述第一分割区域是位于通过所述衍射元件的大致中心且在与所述光盘的轨道大致平行的方向上延伸的直线上的区域，

所述第二分割区域是位于通过所述衍射元件的大致中心且在与所述光盘的轨道大致垂直的方向上延伸的直线上的区域，

所述第一分割区域或所述第二分割区域的衍射光至少被分割为4部分，以入射到至少4个受光部，

所述第一分割区域、所述第二分割区域、所述第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，

在与所述光盘的轨道大致平行的方向上，排列有对在所述第二分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部。

3.一种光拾取器装置，其特征在于，包括：

出射激光的半导体激光器；

用于使从所述半导体激光器出射的光束会聚而照射到光盘上的物镜；

将从所述光盘反射的光束分束的衍射元件；和

具有接收由所述衍射元件分束后的光束的多个受光部的光检测器，

所述衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，

因所述光盘上的轨道而衍射的光盘衍射光中，光盘0级衍射光入射到所述第一分割区域，光盘0级、光盘±1级衍射光入射到所述第二分割区域，

所述第一分割区域或所述第二分割区域的衍射光至少被分割为4部分，以入射到至少4个受光部，

所述第一分割区域、所述第二分割区域和所述第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，

在与所述光盘的轨道大致垂直的方向上，排列有对在所述第一分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部。

4.一种光拾取器装置，其特征在于，包括：

出射激光的半导体激光器；

用于使从所述半导体激光器出射的光束会聚而照射到光盘上的物镜；

将从所述光盘反射的光束分束的衍射元件；和

具有接收由所述衍射元件分束后的光束的多个受光部的光检测器，

所述衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，

因所述光盘上的轨道而衍射的光盘衍射光中，光盘0级衍射光入射到所述第一分割区域，光盘0级、光盘±1级衍射光入射到所述第二分割区域，

所述第一分割区域或所述第二分割区域的衍射光至少被分割为4部分，以入射到至少4个受光部，

所述第一分割区域、所述第二分割区域、所述第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，

在与所述光盘的轨道大致平行的方向上，排列有对在所述第二分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部。

5.一种光拾取器装置，其特征在于，包括：

出射激光的半导体激光器；

用于使从所述半导体激光器出射的光束会聚而照射到光盘上的物镜；

将从所述光盘反射的光束分束的衍射元件；和

具有接收由所述衍射元件分束后的光束的多个受光部的光检测器，

所述衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，

所述第三分割区域是包含所述衍射元件的中心的区域，

所述第一分割区域是包含所述衍射元件的四角的规定区域，

所述第二分割区域是所述第一分割区域和所述第三分割区域以外的区域，

所述第一分割区域或所述第二分割区域的衍射光至少被分割为4部分，以入射到至少4个受光部，

所述第一分割区域、所述第二分割区域和所述第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，

在与所述光盘的轨道大致垂直的方向上，排列有对在所述第一分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部。

6.一种光拾取器装置，其特征在于，包括：

出射激光的半导体激光器；

用于使从所述半导体激光器出射的光束会聚而照射到光盘上的物镜；

将从所述光盘反射的光束分束的衍射元件；和

具有接收由所述衍射元件分束后的光束的多个受光部的光检测器，

所述衍射元件具有第一、第二、第三分割区域，

所述第三分割区域是包含所述衍射元件的中心的区域，

所述第一分割区域是包含所述衍射元件的四角的规定区域，

所述第二分割区域是所述第一分割区域和所述第三分割区域以外的区域，

所述第一分割区域或所述第二分割区域的衍射光至少被分割为4部分，以入射到至少4个受光部，

所述第一分割区域、所述第二分割区域、所述第三分割区域的0级衍射光由被至少分割为4部分的受光部检测，

在与所述光盘的轨道大致平行的方向上，排列有对在所述第二分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的至少2个受光部。

7.如权利要求1～6中任一项所述的光拾取器装置，其特征在于，包括：

接收所述第一分割区域、所述第二分割区域、所述第三分割区域的0级衍射光的第一受光部组；

对在所述第一分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的第二受光部组；和

对在所述第二分割区域中以1级以上的衍射级数衍射的光束进行检测的第三受光部组，

所述第二受光部组和所述第三受光部组，相对于所述第一受光部组，配置在大致同一个方向上。

8.如权利要求1～7中任一项所述的光拾取器装置，其特征在于：

所述第一分割区域，被通过所述衍射元件的大致中心且在与所述光盘的轨道大致平行的方向上延伸的直线和所述第二分割区域、所述第三分割区域分割为4部分。

9.如权利要求1～8中任一项所述的光拾取器装置，其特征在于：

所述第二分割区域，被通过所述衍射元件的大致中心且在与所述光盘的轨道大致垂直的方向上延伸的直线和所述第一分割区域、所述第三分割区域分割为4部分。

10.如权利要求1～9中任一项所述的光拾取器装置，其特征在于：

检测跟踪误差信号的受光部，配置在对多层光盘进行记录/再现时所述衍射元件的0级衍射光的杂散光的外侧。

11.如权利要求1～10中任一项所述的光拾取器装置，其特征在于：

根据对所述第一分割区域、所述第二分割区域、所述第三分割区域的0级衍射光进行检测而得的信号，生成像散方式的聚焦误差信号。

12.如权利要求1～11中任一项所述的光拾取器装置，其特征在于：

根据对所述第一分割区域、所述第二分割区域、所述第三分割区域的0级衍射光进行检测而得的信号，生成再现信号。

13.如权利要求1～12中任一项所述的光拾取器装置，其特征在于：

所述衍射元件，是具有对衍射光至少附加像散的功能的全息元件。

14.一种光盘装置，其特征在于，包括：

权利要求1～13中任一项所述的光拾取器装置；

驱动所述光拾取器装置内的所述半导体激光器的激光器发光驱动电路；

使用从所述光拾取器装置内的所述光检测器检测到的信号，生成聚焦误差信号和跟踪误差信号的伺服信号生成电路；和

对光盘中记录的信息信号进行再现的信息信号再现电路。

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