CN102768389B - 光模块光有源耦合系统和方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种光模块光有源耦合系统和方法，所述系统包括：被耦合光模块和耦合光模块；所述耦合光模块中包括：光接收单元，其光电二极管探测到被耦合光模块发射的光信号后产生相应的响应电流；响应电流检测模块，用以接收从光电二极管输出的响应电流，并根据输入的响应电流从其电压输出端输出相应的电压；MCU，检测响应电流检测模块输出的电压，并根据检测的电压计算出被耦合光模块的激光发射光源发射的光信号的光功率，作为被耦合光模块的发射光进行光有源耦合的依据。由于利用耦合光模块的激光接收功能来测试被耦合光模块发射的激光的光功率，从而在耦合过程中节省了光功率计，并且不用进行光纤插拔、连接功率计等繁琐操作，操作简单。

Description

光模块光有源耦合系统和方法

技术领域

本发明涉及光纤通信技术，尤其涉及一种光模块光有源耦合系统和方法。

背景技术

目前的国内市场以及国际市场，高带宽、高速率和多种业务融合的光纤通信方向已经开始应用。光模块为光网络中关键的器件，例如，4通道并行光学QSFP+收发模块在40G以太网中得到广泛应用。

耦合是光模块的关键工艺之一，耦合的效果直接影响着光模块出射光的性能。并行光收发模块的耦合过程为：让光发射单元（VCSEL Array）、光接收单元（pin-PD Array）与光传输路径（主要是光纤）有较佳的光传输路径，从而进行光纤与光发射单元的位置对准，或光纤与光接收单元的位置对准的过程。

光有源耦合为通过光在路径传输后的特点来判断耦合的好坏。现有技术的光有源耦合方法如图1所示，需要采用光功率计测量待耦合光模块的光发射单元中的激光发射光源（图1中的VCSEL）发射的激光的光功率，根据光功率计测量的光功率来调整光纤与光发射单元的相对位置，以确认“发射光路”是否合适，达到发射光耦合的目的；现有技术的光有源耦合方法中，还采用电流表测量光电二极管（图1中的PD）探测到光信号后所产生的电流，根据电流表测量的电流来调整光纤与光接收单元的相对位置，以确认“接收光路”是否合适，达到接收光耦合的目的。

对于多路并行光收发的光模块进行测试，则如图2所示，需要在与待耦合光模块连接的多路光纤中接入光功率计，以测量多路激光发射光源所发射的激光的光功率；并在其它与待耦合光模块连接的光纤中接入光源，光源发射的激光被送入到待耦合光模块的各路光电二极管，再通过电流表测量各路光电二极管探测到光信号后所产生的电流。

现有技术中，在对光模块进行光有源耦合的过程中，需要插拔光纤、接入光功率计以测量光功率、使用电流表一路一路地测量光电二极管产生的电流来进行光路的耦合，操作繁琐、复杂，导致测试效率低下。

发明内容

本发明的实施例提供了一种光模块光有源耦合系统和方法，用以更为方便地对光模块进行光有源耦合，提高光模块的光有源耦合效率。

根据本发明的一个方面，提供了一种光模块光有源耦合系统，包括：被耦合光模块和耦合光模块；所述耦合光模块与所述被耦合光模块通过光纤相连，所述被耦合光模块的激光发射光源发射的光信号通过所述光纤传输到所述耦合光模块；所述耦合光模块中包括：

光接收单元，其光电二极管探测到所述被耦合光模块发射的光信号后产生相应的响应电流；

响应电流检测模块，其电流输入端与所述光接收单元的光电二极管的阴极相连，用以接收从所述光电二极管输出的响应电流，并根据输入的响应电流从其电压输出端输出相应的电压；

MCU，其电压输入端与所述响应电流检测模块的电压输出端相连，用以检测所述响应电流检测模块输出的电压，并根据检测的电压计算出所述被耦合光模块的激光发射光源发射的光信号的光功率，作为所述被耦合光模块的发射光进行光有源耦合的依据。

进一步，所述耦合光模块还包括：

光发射单元，其激光发射光源发射的光信号经所述光纤传输到所述被耦合光模块；所述被耦合光模块中的光电二极管探测到光信号后产生相应的响应电流；

所述被耦合光模块中的光电二极管的阴极与所述被耦合光模块中的响应电流检测模块的电流输入端相连，所述被耦合光模块的光电二极管输出的响应电流流入到所述被耦合光模块的响应电流检测模块；所述被耦合光模块的响应电流检测模块用以接收响应电流后，根据输入的响应电流从其电压输出端输出相应的电压；

所述被耦合光模块中的MCU的电压输入端与所述被耦合光模块的响应电流检测模块的电压输出端相连，用以检测所述被耦合光模块的响应电流检测模块输出的电压，并根据从其电压输入端检测的电压计算出所述被耦合光模块中的光电二极管输出的响应电流，作为所述被耦合光模块的接收光进行光有源耦合的依据。

所述系统还包括：

测量数据获取装置，与所述耦合光模块中的MCU相连，用以获取所述耦合光模块中的MCU计算出的光功率，并对所述耦合光模块中的MCU计算出的光功率进行记录、显示或统计。

所述测量数据获取装置还与所述被耦合光模块中的MCU相连，用以获取所述被耦合光模块中的MCU计算出的响应电流，并对所述被耦合光模块中的MCU计算出的响应电流进行记录、显示或统计。

较佳地，所述被耦合光模块为多路并行光收发模块；以及

所述耦合光模块中的光接收单元和响应电流检测模块为多路，所述耦合光模块中的各路光接收单元中的光电二极管分别探测所述多路并行光收发模块的各路激光发射光源发射的光信号；

所述耦合光模块中的MCU根据检测的每个响应电流检测模块的电压输出端输出的电压，分别计算出光功率，各光功率分别作为所述多路并行光收发模块的各路发射光进行光有源耦合的依据。

所述耦合光模块中的光发射单元也为多路的，以及

所述多路并行光收发模块中的各路光电二极管分别探测所述耦合光模块中的各路光发射单元的激光发射光源发射的光信号；

所述多路并行光收发模块中的MCU根据检测的每个响应电流检测模块的电压输出端输出的电压，分别计算出响应电流，各响应电流分别作为所述多路并行光收发模块的各路接收光进行光有源耦合的依据。

根据本发明的另一个方面，提供了一种光模块光有源耦合方法，包括：

耦合光模块的MCU通过其电压输入端检测所述耦合光模块中的响应电流检测模块输出的电压，并根据检测的电压计算出被耦合光模块的激光发射光源发射的光信号的光功率，作为所述被耦合光模块的发射光进行光有源耦合的依据；

其中，所述被耦合光模块的激光发射光源发射的光信号通过光纤传输到所述耦合光模块；所述耦合光模块中的光接收单元的光电二极管探测到所述被耦合光模块发射的光信号后产生相应的响应电流；

所述耦合光模块中的响应电流检测模块的电流输入端与所述耦合光模块的光接收单元的光电二极管的阴极相连，用以接收从该光电二极管输出的响应电流，并根据输入的响应电流从其电压输出端输出相应的电压。

进一步，在所述耦合光模块的MCU根据检测的电压计算出被耦合光模块的激光发射光源发射的光信号的光功率之后，还包括：

测量数据获取装置获取所述耦合光模块中的MCU计算出的光功率，并对所述耦合光模块中的MCU计算出的光功率进行显示或统计。

进一步，所述方法还包括：

被耦合光模块中的MCU通过其电压输入端检测所述被耦合光模块的响应电流检测模块输出的电压，并根据从其电压输入端检测的电压计算出所述被耦合光模块中的光电二极管输出的响应电流；

所述测量数据获取装置获取所述被耦合光模块中的MCU计算出的响应电流，并对所述被耦合光模块中的MCU计算出的响应电流进行显示或统计。

根据本发明的另一个方面，提供了一种光模块光有源耦合方法，包括：

被耦合光模块中的MCU通过其电压输入端检测所述被耦合光模块的响应电流检测模块输出的电压，并根据从其电压输入端检测的电压计算出所述被耦合光模块中的光电二极管输出的响应电流，作为所述被耦合光模块的接收光进行光有源耦合的依据；

测量数据获取装置获取所述被耦合光模块中的MCU计算出的响应电流进行显示或统计；

其中，所述被耦合光模块中的光电二极管在探测到耦合光模块的光发射单元中的激光发射光源发射的光信号后输出响应电流；

所述被耦合光模块中的光电二极管的阴极与所述被耦合光模块中的响应电流检测模块的电流输入端相连，所述被耦合光模块的光电二极管输出的响应电流流入到所述被耦合光模块的响应电流检测模块；所述被耦合光模块的响应电流检测模块用以接收响应电流后，根据输入的响应电流从其电压输出端输出相应的电压。

本发明实施例的光模块光有源耦合系统中由于采用了也具有激光接收功能的耦合光模块来辅助进行耦合，从而可以利用耦合光模块的激光接收功能来测试被耦合光模块发射的激光的光功率，由此在耦合过程中可以节省光功率计，并且不用进行光纤插拔、连接功率计等繁琐操作，只需用光纤将被耦合光模块与耦合光模块进行连接。事实上，被耦合光模块与耦合光模块上都可具备光纤插口，可以方便地使用两端具有插头的光纤进行连接。

本发明实施例的光模块光有源耦合系统中由于采用了也具有激光发射功能的耦合光模块来辅助进行耦合，从而可以利用耦合光模块的激光发射功能作为光源来辅助测试被耦合光模块接收激光后产生的电流大小，而被耦合光模块接收激光后产生的电流大小可以通过被耦合光模块自身的MCU读取出来，由此在耦合过程中可以节省电流表，并且不用进行连接电流表等繁琐操作。

附图说明

图1、2为现有技术的对光模块进行光有源耦合的示意图；

图3为本发明实施例的光模块光有源耦合系统的示意图；

图4为本发明实施例的耦合光模块的内部电路框图；

图5为本发明实施例的测量光功率，并根据测量的光功率进行有源耦合的方法流程图；

图6为本发明实施例的测量光电二极管探测到光信号后所产生的电流，并根据测量的电流进行有源耦合的方法流程图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举出优选实施例，对本发明进一步详细说明。然而，需要说明的是，说明书中列出的许多细节仅仅是为了使读者对本发明的一个或多个方面有一个透彻的理解，即便没有这些特定的细节也可以实现本发明的这些方面。

本申请使用的“模块”、“系统”等术语旨在包括与计算机相关的实体，例如但不限于硬件、固件、软硬件组合、软件或者执行中的软件。例如，模块可以是，但并不仅限于：处理器上运行的进程、处理器、对象、可执行程序、执行的线程、程序和/或计算机。

下面结合附图详细说明本发明实施例的技术方案。本发明实施例提供的光模块光有源耦合系统，如图3所示，包括：被耦合光模块301、耦合光模块302和测量数据获取装置303。

被耦合光模块301与耦合光模块302通过光纤相连；测量数据获取装置303与被耦合光模块301的MCU相连，用以和被耦合光模块301的MCU通信。

耦合光模块302的内部结构如图4所示，包括：光发射单元411、光接收单元412、响应电流检测模块413、MCU（Microprogrammed Control Unit，微程序控制单元）414。

根据被耦合光模块301的激光发射光源所发射的激光的光功率进行有源耦合方法的流程图，如图5所示，包括如下步骤：

S501：被耦合光模块301的激光发射光源发射光信号后，被耦合光模块301的激光发射光源发射的光信号经光纤传输到达耦合光模块302。

S502：光接收单元412中的光电二极管探测到光信号产生相应的响应电流Ipd。

具体地，耦合光模块302的光接收单元412中包括有光电二极管；耦合光模块302接收到被耦合光模块301发射的光信号后，光接收单元412中的光电二极管探测到光信号产生相应的响应电流Ipd。

S503：响应电流检测模块413接收Ipd，并根据输入的Ipd从其电压输出端输出相应的电压。

具体地，光接收单元412中的光电二极管的阴极与响应电流检测模块413的电流输入端相连，光电二极管输出的Ipd流入到响应电流检测模块413。响应电流检测模块413用以接收Ipd，并根据输入的Ipd从其电压输出端输出相应的电压。也就是说，响应电流检测模块413输出的电压随输入的Ipd的改变而改变，具体地，两者可以是成正比例关系。换言之，响应电流检测模块413输出的电压可以反映出输入的Ipd，进而也就可以反映出光电二极管探测的光信号的功率，也就反映出被耦合光模块301的激光发射光源发射的光信号的光功率。

响应电流检测模块413的具体电路可采用本领域技术人员所常用的电路，比如，响应电流检测模块413具体可以是一个电阻，电阻的一端接电源地，另一端与光接收单元412中的光电二极管的阴极相连，并且，与光接收单元412中的光电二极管的阴极相连的一端可以作为响应电流检测模块413的电压输出端。

或者，响应电流检测模块413的具体电路可以是包括电流镜像电路和电阻的电路。电流镜像电路的电流输入端与光接收单元412中的光电二极管的阴极相连，电流镜像电路的镜像电流输出端通过电阻接入电源地；电流镜像电路的镜像电流输出端可以作为响应电流检测模块413的电压输出端。

S504：MCU414根据从其电压输入端检测的电压计算出光电二极管输出的响应电流Ipd，也可以计算出光电二极管探测的光信号的功率。

具体地，MCU414的一个电压输入端与响应电流检测模块413的电压输出端相连接，用以检测响应电流检测模块413输出的电压。由于响应电流检测模块413输出的电压可以反映出输入的Ipd，亦即可以反映出被耦合光模块301的激光发射光源发射的光信号的光功率；因此，MCU414可以根据从其电压输入端检测的电压计算出光电二极管输出的响应电流Ipd，也可以计算出光电二极管探测的光信号的功率。由于在测试的时候，被耦合光模块301与耦合光模块302之间连接的光纤并不长，通常在1m之内，因此，光功率在光纤传输中的损耗几乎可以忽略不计，因此，MCU414计算出的光电二极管探测的光信号的光功率亦即被耦合光模块301的激光发射光源所发射的光信号的光功率。

MCU414计算出的光功率可以作为后续调整被耦合光模块301的光发射单元中的激光发射光源与光纤的相对位置的依据。也就是说，根据MCU414计算出的光功率进行被耦合光模块301的光发射单元中的激光发射光源与光纤的相对位置的调整；MCU414计算出的光功率作为被耦合光模块的发射光进行光有源耦合的依据，以使得被耦合光模块301的发射光可以较好地耦合到光纤中。由于如何根据测量的光功率进行被耦合光模块301的激光发射光源与光纤的相对位置的调整，为本领域技术人员所熟知的技术，此处不再赘述。

S505：测量数据获取装置303从MCU414获取MCU414计算出的响应电流或光功率进行记录、显示、存储或统计。

具体地，测量数据获取装置303与耦合光模块302的MCU414相连，用以和耦合光模块302的MCU414通信，例如，通过IIC总线或其它总线与MCU414通信。测量数据获取装置303可以从MCU414获取MCU414计算出的响应电流或光功率进行显示、存储或统计。测量数据获取装置303可以是运行进程、对象、可执行程序、执行的线程、程序的处理器和/或计算机。

测量数据获取装置303可以对MCU414计算出的响应电流或光功率进行记录、显示、存储或统计，以作为光模块的调试人员在进行光模块的有源耦合过程中，调整被耦合光模块301的激光发射光源与光纤的相对位置的依据。

S506：根据MCU414计算出的光功率，或测量数据获取装置303获取的光功率，调整被耦合光模块301的激光发射光源与光纤的相对位置，以对耦合光模块301的发射光进行有源耦合。

被耦合光模块301的光电二极管探测到光信号后所产生的电流的测量方法的流程，如图6所示，包括如下步骤：

S601：耦合光模块302的光发射单元411中的激光发射光源发射光信号后，耦合光模块302的激光发射光源发射的光信号经光纤传输到达被耦合光模块301。

S602：被耦合光模块301接收到耦合光模块302发射的光信号后，被耦合光模块301中的光电二极管探测到光信号产生相应的响应电流Ipd；

S603：被耦合光模块301中的响应电流检测模块检测Ipd，并根据输入的Ipd从其电压输出端输出相应的电压。

具体地，被耦合光模块301中的光电二极管的阴极与被耦合光模块301中的响应电流检测模块的电流输入端相连，光电二极管输出的Ipd流入到响应电流检测模块。被耦合光模块301中的响应电流检测模块用以接收Ipd，并根据输入的Ipd从其电压输出端输出相应的电压。

S604：被耦合光模块301中的MCU根据从其电压输入端检测的电压计算出被耦合光模块301中的光电二极管输出的响应电流Ipd。

具体地，被耦合光模块301中的MCU的一个电压输入端与被耦合光模块301中的响应电流检测模块的电压输出端相连接，用以检测被耦合光模块301中的响应电流检测模块输出的电压。被耦合光模块301中的MCU根据从其电压输入端检测的电压计算出被耦合光模块301中的光电二极管输出的响应电流Ipd，亦即被耦合光模块301的光电二极管探测到光信号后所产生的电流。

被耦合光模块301中的MCU计算出的响应电流可以作为后续调整被耦合光模块301的光接收单元中的光电二极管与光纤的相对位置的依据。也就是说，根据被耦合光模块301中的MCU计算出的响应电流进行被耦合光模块301的光接收单元中的光电二极管与光纤的相对位置的调整；被耦合光模块301中的MCU计算出的响应电流作为所述被耦合光模块的接收光进行光有源耦合的依据以使得被耦合光模块301可以较好地接收从光纤中传输过来的光信号。由于如何根据测量的电流进行被耦合光模块301的光接收单元中的光电二极管与光纤的相对位置的调整，为本领域技术人员所熟知的技术，此处不再赘述。

S605：测量数据获取装置303从被耦合光模块301的MCU获取MCU计算出的响应电流进行记录、显示、存储或统计。

具体地，测量数据获取装置303与被耦合光模块301的MCU相连，用以和被耦合光模块301的MCU通信，例如，通过IIC总线与被耦合光模块301的MCU通信。测量数据获取装置303可以从被耦合光模块301的MCU获取MCU计算出的响应电流进行显示、存储或统计。

测量数据获取装置303可以对被耦合光模块301中的MCU计算出的响应电流进行记录、显示、存储或统计，以作为光模块的调试人员在进行光模块的有源耦合过程中，调整被耦合光模块301的光接收单元中的光电二极管与光纤的相对位置的依据。

S606：根据被耦合光模块301中的MCU计算出的响应电流，或测量数据获取装置303获取的响应电流，调整被耦合光模块301的光接收单元中的光电二极管与光纤的相对位置，以对被耦合光模块301的接收光进行有源耦合。

事实上，耦合光模块302的内部电路可以与被耦合光模块301完全一样，而被耦合光模块301的内部电路与现有无源光网络中常用的光模块的内部电路相同，此处不再赘述。

若被耦合光模块为多路收发的光模块，如多路并行光收发模块，则耦合光模块302中可以包括多路光发射单元411、光接收单元412、响应电流检测模块413。其中，耦合光模块302中的各路光发射单元411与被耦合光模块中的各路光接收单元分别对应；耦合光模块302中的各路光接收单元412与被耦合光模块中的各路光发射单元分别对应。

耦合光模块302中的每路光接收单元412中的光电二极管的阴极都与一个响应电流检测模块413的电流输入端相连，每个响应电流检测模块413的电压输出端连接到耦合光模块302的MCU414。MCU414根据检测的每个响应电流检测模块413的电压输出端输出的电压，分别计算出被耦合光模块中的各路光发射单元的激光发射光源发射的激光的光功率；计算出的各光功率分别作为被耦合光模块301的各路发射光进行光有源耦合的依据。

被耦合光模块301中的每路光接收单元中的光电二极管的阴极都与一个被耦合光模块301中响应电流检测模块的电流输入端相连，每个响应电流检测模块的电压输出端连接到被耦合光模块301中的MCU。被耦合光模块301中的MCU根据检测的每个响应电流检测模块的电压输出端输出的电压，分别计算出被耦合光模块301中的每路光接收单元中的光电二极管产生的响应电流；计算出的各响应电流分别作为被耦合光模块301的各路接收光进行光有源耦合的依据。

测量被耦合光模块301的每路激光发射光源所发射的光信号，并根据测量的光功率进行耦合的方法为：

被耦合光模块301中的各路激光发射光源所发射的光信号经光纤传输到达耦合光模块302；

耦合光模块302中的各路光接收单元412中的光电二极管分别探测被耦合光模块301中的各路激光发射光源所发射的光信号，并产生相应的响应电流Ipd。

对于其中一路光接收单元412中的光电二极管探测被耦合光模块301中的激光发射光源所发射的光信号的光功率的测量方法与上述步骤S501-S505相同，此处不再赘述。

根据测量的被耦合光模块301中的每路激光发射光源所发射的光信号的光功率，调整被耦合光模块301中的每路光发射单元中的激光发射光源与光纤的相对位置，以对被耦合光模块301的每路发射光进行有源耦合。

测量被耦合光模块301的每路光电二极管探测到光信号后所产生的电流，并根据测量的电流进行耦合的方法为：

耦合光模块302中的各路光发射单元411的激光发射光源所发射的光信号经光纤传输到达被耦合光模块301。

被耦合光模块301中的各路光电二极管分别探测各路光发射单元411所发射的光信号并产生相应的响应电流Ipd。

对于被耦合光模块301中的一路光电二极管探测到光发射单元411所发射的光信号所产生的电流的测量方法与上述步骤S601-S605相同，此处不再赘述。

根据测量的被耦合光模块301的每路光接收单元中的光电二极管所产生的电流，调整被耦合光模块301中的每路光接收单元中的光电二极管与光纤的相对位置，以对耦合光模块301的每路接收光进行有源耦合。

本领域技术人员可以根据上述公开的技术内容，轻而易举实现多路并行光收发模块的光有源耦合。

在实际应用中，被耦合光模块301通常被安装在工装设备上进行有源耦合，工装设备可以为被耦合光模块301提供电源，或者可以与被耦合光模块301上的MCU进行通信，以控制被耦合光模块301的工作状态或调整参数。

同样地，耦合光模块302也通常安装在工装设备上，工装设备可以为耦合光模块302提供电源，或者可以与耦合光模块302上的MCU进行通信，以控制耦合光模块302的工作状态或调整参数。

本发明实施例的光模块光有源耦合系统中由于采用了也具有激光接收功能的耦合光模块来辅助进行测试，从而可以利用耦合光模块的激光接收功能来测试被耦合光模块发射的激光的光功率，由此在耦合过程中可以节省光功率计，并且不用进行光纤插拔、连接功率计等繁琐操作，只需用光纤将被耦合光模块与耦合光模块进行连接，操作简单，可以更为方便地测试光模块，提高光模块的测试效率。事实上，被耦合光模块与耦合光模块上都可具备光纤插口，可以方便地使用两端具有插头的光纤（如图3所示）进行连接。

本发明实施例的光模块光有源耦合系统中由于采用了也具有激光发射功能的耦合光模块来辅助进行耦合，从而可以利用耦合光模块的激光发射功能作为光源来辅助测试被耦合光模块接收激光后产生的电流大小，而被耦合光模块接收激光后产生的电流大小可以通过被耦合光模块自身的MCU读取出来，由此在耦合过程中可以节省电流表，并且不用进行连接电流表等繁琐操作。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，如：ROM/RAM、磁碟、光盘等。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (12)

1.一种光模块光有源耦合系统，包括：被耦合光模块和耦合光模块；所述耦合光模块与所述被耦合光模块通过光纤相连，所述被耦合光模块的激光发射光源发射的光信号通过所述光纤传输到所述耦合光模块；所述耦合光模块中包括：

光接收单元，其光电二极管探测到所述被耦合光模块发射的光信号后产生相应的响应电流；

响应电流检测模块，其电流输入端与所述光接收单元的光电二极管的阴极相连，用以接收从所述光电二极管输出的响应电流，并根据输入的响应电流从其电压输出端输出相应的电压；

MCU，其电压输入端与所述响应电流检测模块的电压输出端相连，用以检测所述响应电流检测模块输出的电压，并根据检测的电压计算出所述被耦合光模块的激光发射光源发射的光信号的光功率，作为所述被耦合光模块的发射光进行光有源耦合的依据。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述耦合光模块还包括：

光发射单元，其激光发射光源发射的光信号经所述光纤传输到所述被耦合光模块；所述被耦合光模块中的光电二极管探测到光信号后产生相应的响应电流；

所述被耦合光模块中的光电二极管的阴极与所述被耦合光模块中的响应电流检测模块的电流输入端相连，所述被耦合光模块的光电二极管输出的响应电流流入到所述被耦合光模块的响应电流检测模块；所述被耦合光模块的响应电流检测模块用以接收响应电流后，根据输入的响应电流从其电压输出端输出相应的电压；

所述被耦合光模块中的MCU的电压输入端与所述被耦合光模块的响应电流检测模块的电压输出端相连，用以检测所述被耦合光模块的响应电流检测模块输出的电压，并根据从其电压输入端检测的电压计算出所述被耦合光模块中的光电二极管输出的响应电流，作为所述被耦合光模块的接收光进行光有源耦合的依据。

3.如权利要求1或2所述的系统，其特征在于，还包括：

测量数据获取装置，与所述耦合光模块中的MCU相连，用以获取所述耦合光模块中的MCU计算出的光功率，并对所述耦合光模块中的MCU计算出的光功率进行记录、显示或统计。

4.如权利要求3所述的系统，其特征在于，

所述测量数据获取装置还与所述被耦合光模块中的MCU相连，用以获取所述被耦合光模块中的MCU计算出的响应电流，并对所述被耦合光模块中的MCU计算出的响应电流进行记录、显示或统计。

5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述被耦合光模块为多路并行光收发模块；以及

所述耦合光模块中的光接收单元和响应电流检测模块为多路，所述耦合光模块中的各路光接收单元中的光电二极管分别探测所述多路并行光收发模块的各路激光发射光源发射的光信号；

所述耦合光模块中的MCU根据检测的每个响应电流检测模块的电压输出端输出的电压，分别计算出光功率，各光功率分别作为所述多路并行光收发模块的各路发射光进行光有源耦合的依据。

6.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述耦合光模块中的光发射单元也为多路的，以及

所述多路并行光收发模块中的各路光电二极管分别探测所述耦合光模块中的各路光发射单元的激光发射光源发射的光信号；

所述多路并行光收发模块中的MCU根据检测的每个响应电流检测模块的电压输出端输出的电压，分别计算出响应电流，各响应电流分别作为所述多路并行光收发模块的各路接收光进行光有源耦合的依据。

7.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述耦合光模块的响应电流检测模块具体为电阻；所述电阻的一端接电源地，其另一端与所述耦合光模块的光接收单元中的光电二极管的阴极相连；其中，与所述耦合光模块的光接收单元中的光电二极管的阴极相连的一端为所述耦合光模块的响应电流检测模块的电压输出端。

8.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述耦合光模块的响应电流检测模块具体包括电流镜像电路和电阻；

所述电流镜像电路的电流输入端与所述耦合光模块的光接收单元中的光电二极管的阴极相连，所述电流镜像电路的镜像电流输出端通过所述电阻接入电源地；所述电流镜像电路的镜像电流输出端为所述耦合光模块的响应电流检测模块的电压输出端。

9.一种光模块光有源耦合方法，包括：

耦合光模块的MCU通过其电压输入端检测所述耦合光模块中的响应电流检测模块输出的电压，并根据检测的电压计算出被耦合光模块的激光发射光源发射的光信号的光功率，作为所述被耦合光模块的发射光进行光有源耦合的依据；

其中，所述被耦合光模块的激光发射光源发射的光信号通过光纤传输到所述耦合光模块；所述耦合光模块中的光接收单元的光电二极管探测到所述被耦合光模块发射的光信号后产生相应的响应电流；

所述耦合光模块中的响应电流检测模块的电流输入端与所述耦合光模块的光接收单元的光电二极管的阴极相连，用以接收从该光电二极管输出的响应电流，并根据输入的响应电流从其电压输出端输出相应的电压。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，在所述耦合光模块的MCU根据检测的电压计算出被耦合光模块的激光发射光源发射的光信号的光功率之后，还包括：

测量数据获取装置获取所述耦合光模块中的MCU计算出的光功率，并对所述耦合光模块中的MCU计算出的光功率进行显示或统计。

11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，还包括：

被耦合光模块中的MCU通过其电压输入端检测所述被耦合光模块的响应电流检测模块输出的电压，并根据从其电压输入端检测的电压计算出所述被耦合光模块中的光电二极管输出的响应电流；

所述测量数据获取装置获取所述被耦合光模块中的MCU计算出的响应电流，并对所述被耦合光模块中的MCU计算出的响应电流进行显示或统计。

12.一种光模块光有源耦合方法，包括：

被耦合光模块中的MCU通过其电压输入端检测所述被耦合光模块的响应电流检测模块输出的电压，并根据从其电压输入端检测的电压计算出所述被耦合光模块中的光电二极管输出的响应电流，作为所述被耦合光模块的接收光进行光有源耦合的依据；

测量数据获取装置获取所述被耦合光模块中的MCU计算出的响应电流进行显示或统计；

其中，所述被耦合光模块中的光电二极管在探测到耦合光模块的光发射单元中的激光发射光源发射的光信号后输出响应电流；

所述被耦合光模块中的光电二极管的阴极与所述被耦合光模块中的响应电流检测模块的电流输入端相连，所述被耦合光模块的光电二极管输出的响应电流流入到所述被耦合光模块的响应电流检测模块；所述被耦合光模块的响应电流检测模块用以接收响应电流后，根据输入的响应电流从其电压输出端输出相应的电压。